专利名称：β射线吸收法粉尘浓度测量仪配套用滤膜夹的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种β射线吸收法粉尘浓度测量仪配套用滤膜夹。
背景技术：
现有的小型滤膜夹，包括前后两夹片，两夹片通过定位销叠放再一起，在两夹片上各设有一个采样测量孔，两采样测量孔正对设置，在两采样测量孔处的两夹片之间夹放有滤膜。利用低能β射线吸收法直接监测作业场所粉尘浓度时，利用现有的小型(小口径采样测量孔)滤膜夹，先将夹放有空白滤膜的滤膜夹放入仪器进行测量，测得空白滤膜的质量后，将滤膜夹取出，放在滤膜的进气口处通过负压抽气的方式抽取现场气体，使粉尘附着在滤膜上完成采样，再将带尘的滤膜夹取出，放置在测量处，通过现有的射线源和小口径探测器测出单位空气中粉尘含量。此种结构虽然可以有效地对粉尘的浓度进行采样、测量，但在使用时，由于小口径探测器的探测量程小和探测精度低使得测量结果不够理想。在换用大口径探测器进行工作时，需配套使用具有对应的大口径(大口径采样测量孔)的滤膜夹，但由于采样是在负压环境下进行，大口径采样测量孔使得滤膜的悬空面积过大，致使滤膜变形过大甚至被吸脱出采样测量孔，影响到探测精度甚至正常的使用。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种β射线吸收法粉尘浓度测量仪配套用滤膜夹，以能够配合大口径探测器进行正常的探测工作。
为了达到上述目的，本实用新型的技术方案在于采用了一种β射线吸收法粉尘浓度测量仪配套用滤膜夹，包括前后两夹片，两夹片通过定位销定位叠放在一起，在两夹片上各设有一个采样测量孔，两采样测量孔正对设置，在至少一个夹片的采样测量孔上设有用于撑托滤膜的挡撑。
所述的挡撑为蓖型挡撑。
所述的挡撑为网格型挡撑。
在夹片的采样测量孔上设置用于撑托滤膜的挡撑后，在配合大口径探测器进行探测工作时，滤膜被托起或夹持固定，滤膜不会被吸脱出采样测量孔，同时保证滤膜变形在一定范围内，有助于保障探测精度和装置的正常使用。
图1为本实用新型的一种典型实施例的结构示意图；图2为图1的后视图；图3为图1的A-A剖视图；图4为本实用新型的另一种典型实施例的结构示意图；图5为图4的后视图；图6为图4的B-B剖视图；图7为本实用新型的第三种典型实施例的结构示意图；图8为图7的后视图；图9为图7的C-C剖视图。
具体实施方式
实施例1如图1、图2、图3所示，该滤膜夹包括前后两夹片1、2，两夹片通过定位销3叠放在一起，在两夹片上各设有一个采样测量孔4，两采样测量孔正对设置，在夹片1的采样测量孔上设有用于撑托滤膜的蓖型挡撑5。
实施例2如图4、图5、图6所示，该滤膜夹包括前后两夹片1、2，两夹片通过定位销3叠放在一起，在两夹片上各设有一个采样测量孔4，两采样测量孔正对设置，在夹片1、2的采样测量孔上均设有用于撑托和夹持滤膜的十字交叉的蓖型挡撑6。
实施例3如图7、图8、图9所示，该滤膜夹包括前后两夹片1、2，两夹片通过定位销3叠放在一起，在两夹片上各设有一个采样测量孔4，两采样测量孔正对设置，在夹片1、2的采样测量孔上均设有用于撑托和夹持滤膜的网格型挡撑7。
权利要求1.一种β射线吸收法粉尘浓度测量仪配套用滤膜夹，包括前后两夹片，两夹片通过定位销定位叠放在一起，在两夹片上各设有一个采样测量孔，两采样测量孔正对设置，其特征在于在至少一个夹片的采样测量孔上设有用于撑托滤膜的挡撑。
2.根据权利要求1所述的滤膜夹，其特征在于所述的挡撑为蓖型挡撑。
3.根据权利要求1所述的滤膜夹，其特征在于所述的挡撑为网格型挡撑。
专利摘要本实用新型涉及一种β射线吸收法粉尘浓度测量仪配套用滤膜夹，包括前后两夹片，两夹片通过定位销定位叠放在一起，在两夹片上各设有一个采样测量孔，两采样测量孔正对设置，在至少一个夹片的采样测量孔上设有用于撑托滤膜的挡撑。在夹片的采样测量孔上设置用于撑托滤膜的挡撑后，在配合大口径探测器进行探测工作时，滤膜被托起或夹持固定，滤膜不会被吸脱出采样测量孔，同时保证滤膜变形在一定范围内，有助于保障探测精度和装置的正常使用。
文档编号G01N23/06GK2802501SQ200520030949
公开日2006年8月2日 申请日期2005年6月10日 优先权日2005年6月10日
发明者赵彤宇, 赵彤凯 申请人:郑州市光力科技发展有限公司