专利名称：X射线衍射仪用旋转样品台的制作方法
技术领域：
本实用新型属X射线衍射仪用配件，尤其涉及X射线衍射仪的样品架的定位装置。
背景技术：
X射线衍射物相定性、定量分析过程中，是将样品置于样品架上，样品架插入样品台进行测试。就设计人所知，现在X射线衍射仪配置的样品台均为固定样品台。其缺陷是，测试时样品固定不动。这样，对晶粒粗大、微量样品或含量低的物相测试，衍射强度低、测量周期长、灵敏度降低、误差大；对择优取向的样品，其物相的衍射相对强度与标准物相相对强度相差很大，定性、定量分析困难，甚至导致测试失败。
发明内容
为了克服现有技术存在的缺陷，本发明的目的是提供一种X射线衍射仪用旋转样品台，在测试时，样品旋转，增加样品的测量面积和晶粒数量，增加晶粒参加衍射的几率，消除样品择优取向的影响，以提高分析精度。
一种X射线衍射仪用旋转样品台，装在X射线衍射仪的测角仪上，特点是转盘一侧设有定位样品架机构，另一侧设有旋转轴，旋转轴由带轴承的轴座支承与固定在电机支架上的电机相连接；轴座和电机支座固定在滑块上，滑块滑装在燕尾槽中，燕尾槽由定位销在台座上定位，并固定在台座上，台座固定在测角仪上。
使用时，样品架附着于转盘上，以定位销为圆心，转动燕尾槽，样品架可以左右转动，进行调整；滑块在燕尾槽中滑动，样品架可以前后调整。这样便将样品架面调至测角仪的最佳位置。电控装置由定时器控制旋转时间，由指示灯指示工作状态。接通电源，启动按钮，电机驱动旋转样品台，带动样品旋转。
本装置结构紧凑、合理，装卸样品方便、快捷；样品在测试过程中转动，增加了样品的测量面积和晶粒数量，增加了晶粒参加衍射的几率，消除了择优取向的影响，提高了物相的衍射强度、灵敏度，提高了分析精度。
结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
1.图1是X射线衍射仪用旋转样品台结构示意图。
2、图2是X射线衍射仪用旋转样品台结构侧视图
具体实施方式
X射线衍射仪用旋转样品台包括永久磁铁块10、转盘8、旋转轴9、轴座5、电机支座6、电机7、滑块4、燕尾槽2、及台座1。转盘8的一侧设有永久磁铁块10，以吸联样品架。转盘8另一侧设有旋转轴9，旋转轴9穿过带有铜轴瓦的轴座5，与固定在电机支座6上的电机7相连接，轴座5与电机支座6由螺栓固定在滑块4上。滑块4与燕尾槽2为滑动配合，滑块4为长条形体，其上设有螺栓孔，由螺栓定位；燕尾槽2为长条形凹槽，其上设有定位孔和安装孔，滑块4可沿燕尾槽2前后移动，位置确定后，由螺栓固定，燕尾槽2以定位销3为圆心，可在台座1上左右转动，并由螺栓固定在台座1上，台座1上设有定位销孔和安装孔，由螺栓固定在测角仪11上。电机7由包括开关、指示灯、定时器组成的电控装置控制，接通电源后，样品台便带着样品架一起转动。
采用相同的测试参数，分别使用旋转样品台和固定样品台，对Si片样品进行对比测试，测试结果列于表1表1
由表1可见，使用旋转台，测量Si片的衍射强度比固定Si片的高出3.05倍。
使用旋转样品台，对Si片进行衍射强度重现性进行测试，统计结果列于表2。
表2
由表2可见，使用旋转样品台测量Si片衍射强度重现性高，满足物相的定性、定量分析的要求，提高分析灵敏度和精度。
权利要求1.X射线衍射仪用旋转样品台，装在X射线衍射仪的测角仪上，其特征在于转盘(8)的一侧设置定位样品架机构，另一侧设有旋转轴(9)，旋转轴(9由带轴承的轴座(5)支承，与固定在电机支座(6)上的电机(7)相连接，轴座(5)与电机支座(6)固定在滑块(4)上，滑块(4)滑装在燕尾槽(2)中，燕尾槽(2)由定位销(3)在台座(1)上定位，并固定在台座(1)上。
2.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用旋转样品台，其特征在于所述滑块(4)与燕尾槽(2)为滑动配合，滑块(4)为长条形体，其上设有螺栓孔，由螺栓定位；燕尾槽(2)为长条形凹槽，其上设有定位孔和安装孔，由定位销(3)定位，由螺栓固定在台座(1)上。
3.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用旋转样品台，其特征在于转盘(8)定位样品架侧设置吸联样品架的永久磁铁块(10)。
专利摘要X射线衍射仪用旋转样品台，属X射线衍射仪用配件，尤其涉及X射线衍射仪的样品架的定位装置。装在X射线衍射仪的测角仪上，转盘一侧设有定位样品架机构，另一侧设有旋转轴，旋转轴由带轴承的轴座支承，与固定在电机支架上的电机相连接；轴座和电机支座固定在滑块上，滑块滑装在燕尾槽中，燕尾槽由定位销在托盘上定位，托盘固定在测角仪上。测试时，样品随旋转样品台旋转，增加了样品的测量面积和晶粒数量，增加晶粒参加衍射的几率，提高了分析精度；结构紧凑、合理，使用方便，缩短测试周期。
文档编号G01N23/20GK2840028SQ200520076390
公开日2006年11月22日 申请日期2005年10月17日 优先权日2005年10月17日
发明者赵明琦, 杨峥, 伏杰 申请人:马鞍山钢铁股份有限公司