专利名称：多功能联合测试行动组链装置的制作方法
多功能联合测试行动组链装置技米领城本发明涉及联合测试行动组(JTAG， Joint Test Action Group)连接技术， 尤其涉及一种多功能JTAG链装置。
技术背景JTAG是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试。目前，很多 比较复杂的器件都支持JTAG协议，如DSP、 FPGA等器件， 一般将这种支 持JTAG协议的器件称为JTAG器件。标准的JTAG接口是4线，包括测试 模式选择输入线(TMS)、测试时钟输入线(TCK)、测试数据输入线(TDI) 和测试数据输出线(TDQ )。通过调试连接器可以^艮方便^^j" JTAG器件进行 下栽和调试。图1所示的是调试连接器与JTAG器件连接的示意图。在图1中，表示 电路中包括3个JTAG器件，即JTAG器件101 、 JTAG器件103和JTAG器 件105，和3个相应的调试连接器，即调试连接器100、调试连接器102和调 试连接器104。每个JTAG器件都与相应的调试连接器进行连接，从而使外可以看出，如果为每个JTAG器件都单独设置一个调试连接器将大大增 加电路所占用的空间。 一种解决办法是将电路中的多个JTAG器件串联成 JTAG链，即，将JTAG器件的TDI引脚和TDO引脚用串联的方式连接，即 TDI连接TDO连接TDI的方式，形成一个非闭合的JTAG链。其中，该JTAG的首位JTAG器件，该JTAG链中未和其它JTAG器件的TDI引脚串联的JTAG 器件可以称为该JTAG链的末位JTAG器件。将该JTAG链的首位JTAG器件 的TDI引脚和调试连接器的TDI引脚连接，将该JTAG链的末位JTAG器件 的TDO引脚和调试连接器的TDO引脚连接；将该JTAG链上各JTAG器件 的TMS引脚并联到调试连接器的TMS引脚，将各JTAG器件的TCK引脚 并联到调试连接器的TCK引脚。下面以电路中有3个JTAG器件为例说明该 方法。将JTAG器件串联成JTAG链，如图2所示。JTAG器件201的TDO
引脚和JTAG器件202的TDI引脚连接，JTAG器件202的TOO引脚和JTAG 器件203的TDI引脚连接，形成一个非闭合的JTAG链。其中，JTAG器件 201由子没有和其它JTAG器件的TOO引脚进衧串联，所以是该JTAG链的 首位JTAG器件；JTAG器件203由于没有和其它JTAG器件的TDI引脚进 行串联，所以是该JTAG链的末位JTAG器件。JTAG器件201的TDI引脚 和调试连接器200的TDI引脚连接，JTAG器件203的TDO引脚和调试连接 器200的TDO引脚连接；JTAG器件201、 JTAG器件202和JTAG器件203 的TMS引脚、TCK引脚分别并联到调试连接器200的TMS引脚、TCK引脚；如果JTAG器件201、 JTAG器件202和JTAG器件203可以采用相同的 调试连接器进行下载调试，则通过一个调试连接器，即调试连接器200，就 可完成对各JTAG器件的下载和调试，并且还可以通过JTAG链测试各JTAG 器件之间的连通性，即，电路的边界扫描测试。如杲JTAG器件201 、 JTAG器件202和JTAG器件203不能采用相同的 调试连接器进行下载调试，则无法通过一个调试连接器对各JTAG器件进行 下载和调试，但仍然可以通过JTAG链进行电路的边界扫描测试。目前，缺少一种既支持电路的边界扫描测试，又支持对采用不同调试连 接器的JTAG器件进行下载调试的JTAG链。 发明内容有鉴于此，本发明解决的技术问题是提供一种多功能JTAG链装置，该 JTAG链装置既支持电路的边界扫描测试，又支持对采用不同调试连接器的 JTAG器件进行下载调试。本发明的装置包括用于边界扫描的边界扫描连接器和至少2个联合测 试行动组JTAG单元，各JTAG单元连接成JTAG链，并与边界扫描连接器 连接，其特征在于，所述装置还包括可控开关、开关控制装置和分别用于 下载调试各JTAG单元的调试连接器；在边界扫描连接器的测试数据输入TDI引脚和与其连接的JTAG单元的 TDI引脚之间、在JTAG链上各串联的测试数据输出TDO引脚和TDI引脚 之间、在边界扫描连接器的TDO引脚和与其连接的JTAG单元的TDO引脚 之间、在边界扫描连接器的测试模式选择输入TMS/测试时钟输入TCK引脚 与各JTAG单元的TMS/TCK引脚的各并联支路中，分别串联一个可控开关， 所有可控开关都受开关控制装置的控制；各JTAG单元的TDI、 TDO、 TMS和TCK引脚还分别与相应的调试连 接器的TDI、 TDO、 TMS和TCK引脚连接。其中，所述JTAG单元为JTAG器件，或者是JTAG链。其中，所述JTAG链由至少2个可以采用相同调试连接器进行下载调试 的JTAG器件连接而成。其中，当所述JTAG单元是由至少2个可以采用相同调试连接器进行下 载调试的JTAG器件连接的JTAG链时，所述JTAG单元的TDI引脚是所述 JTAG链的首位JTAG器件的TDI引脚，所述JTAG单元的TDO引脚是所述 JTAG链的末位JTAG器件的TDO引脚，所述JTAG单元的TMS/TCK引脚 是JTAG器件的TMS/TCK引脚。其中，在JTAG链上，当存在包括测试复位信号TRST、仿真0EMU0和 仿真1EMU1扩展功能引脚的JTAG单元时，该JTAG单元的TRST、 EMU0 和EMU1引脚分别与相应的调试连接器的TRST、EMU0和EMU1引脚连接；该JTAG单元的仿真0和仿真1引脚还分别通过上拉电阻与电源连接， 并分别通过控制开关和地连接，所述控制开关受所述开关控制装置的控制。其中，在JTAG链上，当存在包括TRST、低功耗请求QREQ、软件复 位SRESET、硬件复位HRESET和管理检查点输出CK—STPOUT扩展功能引 脚的JTAG单元时，该JTAG单元的TRST、 QREQ、 SRESET、 HRESET和 CK_STPOUT引脚分别与相应的调试连接器的TRST、 QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT引脚连接；该JTAG单元的QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT引脚还分 别通过上^i电阻与电源连"t妄。其中，所述可控开关是三态门。其中，所述开关控制装置是逻辑开关，或可编程逻辑器件。 在本发明中，通过在边界扫描连接器的TDI引脚和与其连接的JTAG单 元的TDI引脚之间、在JTAG链上各串联的测试数据输出TDO引脚和TDI 引脚之间、在边界扫描连接器的TDO引脚和与其连接的JTAG单元的TDO 引脚之间、在边界扫描连接器的TMS/TCK引脚与各JTAG单元的TMS/TCK 引脚的各并联支路中，分别串联一个可控开关，所有可控开关都受开关控制 装置的控制；各JTAG单元的TDI、 TDO、 TMS和TCK引脚还分别与相应 的调试连接器的TDI、 TDO、 TMS和TCK引脚连接。从而通过对可控开关 的控制，既可以通过该JTAG链进行电路的边界扫描，又可以对该JTAG链 上各JTAG器件进行下载调试。
图1是调试连接器与JTAG器件连接的示意图； 图2是将JTAG器件串联成JTAG链的示意图； 图3是本发明实施例1的多功能JTAG链装置的示意图； 图4是本发明实施例2的多功能JTAG链装置的示意图； 图5是本发明实施例3的多功能JTAG链装置的示意图； 图6是本发明实施例4的多功能JTAG链装置的示意图。
具体实施方式
本发明的核心在于在JTAG链上各JTAG器件的串联引脚之间，在JTAG 链与边界扫描连接器的连接电路之间，在JTAG链上各JTAG器件的 TMS/TCK各并联支路中，分别串联一个可控开关，并将各JTAG器件的TDI、 TDO、 TMS和TCK引脚分别与相应的调试连接器的TDI、 TDO、 TMS和 TCK引脚连接，从而可以通过对可控开关的控制，进行电路的边界扫描或 对该JTAG链上各JTAG器件进行下载调试。下面结合实施例1，以电路中共有3个JTAG器件为例，对本发明的多 功能JTAG链装置做进一步具体说明。将3个JTAG器件按照图3所示的方式连接成JTAG链。在图3中，调 试连接器304、调试连接器305和调试连接器306分别用于对JTAG器件301 、 JTAG器件302和JTAG器件303进行下载调试。连接器300用于将上述3 个JTAG器件连接成JTAG链，进行边界扫描，连接器300称为边界扫描连 接器。将各JTAG器件的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚分别与相应的调试连
接器的同名引脚进行连接。如图3所示，将JTAG器件301的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚分别 与调试连接器304的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚进行连接；将JTAG器 件302的TMS、TCK、TDI和TDO引脚分别与调试连接器305的TMS、TCK、 TDI和TDO引脚进行连接；将JTAG器件303的TMS、 TCK、 TDI和TDO 引脚分别与调试连接器306的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚进行连接。将各JTAG器件连接成的JTAG链与边界扫描连接器连接，并在边界扫 描连接器的TDI引脚和与之连接的JTAG器件的TDI引脚之间串联一个三态 门，即边界扫描连接器的TDI引脚与三态门的输入引脚连接，相应JTAG器 件的TDI引脚与三态门的输出引脚连接；在JTAG链上各串联的TDO引脚 和TDI引脚之间串联一个三态门，即前一个JTAG器件的TDO引脚与三态 门的输入引脚连接，后一个JTAG器件的TDI引脚与三态门的输出引脚连接； 在JTAG器件的TDO引脚和与之连接的边界扫描连接器的TOO引脚之间串 联一个三态门，即边界扫描连接器的TDO引脚与三态门的输出引脚连接， 相应JTAG器件的TOO引脚与三态门的输入引脚连接；在边界扫描连接器的 TMS/TCK引脚与各JTAG器件的TMS/TCK引脚的并联电路中，在各支路上 分别串联一个三态门，即边界扫描连接器的TMS/TCK引脚与各三态门的输 入引脚连接，各JTAG器件的TMS/TCK引脚分别与相应三态门的输出引脚 连接。如图3所示，将JTAG器件301 、 JTAG器件302和JTAG器件303连接 成的JTAG链与边界扫描连接器300连接，并在边界扫描连接器300的TDI 引脚和JTAG器件301的TDI引脚之间、JTAG器件301的TDO引脚和JTAG 器件302的TDI引脚之间、JTAG器件302的TDO引脚和JTAG器件303的 TDI引脚之间、以及JTAG器件303的TDO引脚和边界扫描连接器300的 TDO引脚之间分别串联一个三态门，即三态门Ul、三态门U2、三态门U3 和三态门U4;在边界扫描连接器300的TMS引脚与JTAG器件301、 JTAG 器件302和JTAG器件303的TMS引脚的并联电路中，在各支路上分别串联 一个三态门，即三态门U6、三态门U8和三态门U10;在边界扫描连接器300 的TCK引脚与JTAG器件301 、 JTAG器件302和JTAG器件303的TCK引 脚的并联电路中，在各支路上分别串联一个三态门，即三态门U5、三态门 U7和三态门U9。三态门的控制信号输入引脚与一个开关连接，当所述开关打开时，三态 门的控制信号输入为高电平；当所述开关闭合时，三态门的控制信号输入为 低电平。如图3所示，所有三态门的控制信号输入引脚都与开关K连接，当开关 K打开时，三态门的控制信号输入为高电平，此时三态门输入引脚上的信号 可以通过三态门到达输出引脚，即三态门处于导通状态；当开关K闭合时， 三态门的控制信号输入为低电平，此时三态门输入引脚上的信号无法通过三 态门，三态门的输出引脚将处于"高阻"状态，即三态门处于阻塞状态。当开关K打开时，三态门处于导通状态，各JTAG器件连接成为JTAG 链，此时可以通过边界扫描连接器对所述JTAG链进行电路的边界扫描，测 试各器件之间的连通性；当开关K闭合时，三态门处于阻塞状态，各JTAG 器件成为彼此独立的器件，此时可以通过与各JTAG器件相对应的调试连接 器分别对各JTAG器件进行下载和调试。可以看出，通过对开关的操作，可以对JTAG链上的各器件进行有选择 地操作，不仅可以通过该JTAG链完成电路的边界扫描测试，而且可以完成 对该JTAG链上各器件的下载和调试。在上述实施例中，采用一个开关对三态门进行控制，从而实现对JTAG 链的控制，实际情况中，对三态门的控制也可以通过其它方式进行，例如 将三态门的控制信号输入引脚与可编程逻辑器件连接，通过对可编程逻辑器 件的操作同样可以控制三态门，进而对JTAG链进行控制，这里就不再重复 举例说明了 。在实施例l中，每个JTAG器件都是单独器件，实际上，如果在电路中 存在多个可以采用相同调试连接器进行下载调试的JTAG器件，则可以先将 所述多个JTAG器件连接为一个JTAG链，然后可以将该JTAG链看作一个 "单独器件"，再将该"单独器件"与其它的JTAG器件连接成多功能的JTAG 链。下面结合实施例2，仍然以电路中共有3个JTAG器件为例，对本发明 的多功能JTAG链装置做进一步具体说明。其中，有2个JTAG器件可以采 用相同的调试连接器进行下载调试，另外一个则要通过其它的调试连接器进 行下栽调试。首先将2个可以采用相同的调试连接器进行下栽调试的JTAG器件连接 成一个JTAG链，然后将该链看作一个"单独器件"，再将该"单独器件，，与 另一个JTAG器件连接成一个多功能JTAG链，所述3个JTAG器件的连接 方式如图4所示。在图4中，JTAG器件402和JTAG器件403可以采用相同的调试连接器， 即调试连接器405，进行下载调试；JTAG器件401采用调试连接器404进行试连接器405连接，将JTAG器件401的TDO引脚通过三态门与该JTAG链 的首位JTAG器件，即JTAG器件402,的TDI引脚连接，将该JTAG链的 末位JTAG器件，即JTAG器件403 ，的TDO S1脚与边界扫描连接器400的 TDO引脚通过三态门连接；并将边界扫描连接器400的TMS/TCK引脚与该 JTAG链的首位JTAG器件的TMS/TCK引脚通过三态门连接。由于该JTAG 链上各JTAG器件的TMS引脚是并联在一起的，各JTAG器件的TCK引脚 也是并联在一起的，所以只要将边界扫描连接器400的TMS/TCK引脚通过 三态门与该JTAG链上任意一个TMS/TCK引脚连接，即可。当开关K打开时，三态门处于导通状态，各JTAG器件连接成为JTAG 链，此时可以通过边界扫描连接器对所述JTAG链进行电路的边界扫描，测 试各器件之间的连通性。当开关K闭合时，三态门处于阻塞状态，JTAG器 件401成为独立的器件，通过调试连接器404,可以对JTAG器件401进行 下载调试；通过调试连4妻器405，可以对JTAG链上的JTAG器件402和JTAG 器件403进行下载调试。在上述两个实施例中，电路中的器件都是支持标准JTAG协议的JTAG 器件，在实际情况中，有些JTAG器件，例如德州仪器(TI)公司的数字 信号处理器(DSP)，还包括扩展功能引脚，例如测试复位信号(TRST) 引脚、仿真o (EMUO)引脚、仿真l (EMU1)引脚和其它的扩展控制信号 引脚。对于具有扩展功能的JTAG器件，本发明同样适用。
下面结合实施例3，对将具有扩展功能引脚TRST、 EMU0和EMU1的 JTAG器件连接进多功能JTAG链的装置做进一步具体说明。将一个包括扩展功能引脚TRST、 EMU0和EMU1的JTAG器件和一个 标准的JTAG器件连接成多功能JTAG链，其连接方式如图5所示。在图5 中，调试连接器503和调试连接器504分别用于对JTAG器件501和JTAG 器件502进行下载调试。边界扫描连接器500用于将上述2个JTAG器件连 接成JTAG链，进行边界扫描。其中，边界扫描连接器500是具有扩展功能引脚TRST的连接器，器件 501是支持标准JTAG协议的JTAG器件，器件502是包括TRST、 EMUO和 EMU 1扩展功能引脚的JTAG器件，当EMUO和EMUl引脚都处于高电平时， JTAG器件处于下载调试模式，当EMU0和EMU1引脚都处于低电平时，JTAG 器件处于电路边界扫描模式。将各JTAG器件的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚分别与相应的调试连 接器的同名引脚进行连接，将各JTAG器件的扩展功能引脚分别与相应的调 试连接器的同名引脚进行连接，并将EMUO和EMU1引脚分别通过上拉电阻 与电源连接；将EMUO引脚与一个三态门的输出端连接，所述三态门的输入 端与地连接；将EMU1引脚与一个三态门的输出端连接，所述三态门的输入 端与地连接。如图5所示，将JTAG器件501的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚分别 与调试连接器503的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚进行连接；将JTAG器 件502的TMS、TCK、TDI和TDO引脚分别与调试连接器504的TMS、TCK、 TDI和TDO引脚进行连接。将JTAG器件502的TRST、 EMUO和EMU1扩 展功能引脚分别与调试连接器504的TRST、 EMUO和EMU1引脚进行连接， 并将JTAG器件502的EMUO和EMU1引脚分别通过上拉电阻R2和R3与 电源连接；将EMUO引脚与三态门U10的输出端连接，三态门U10的输入 端与地连接；将EMU1引脚与三态门U9的输出端连4矣，三态门U9的输入 端与地连接。将各JTAG器件连接成的JTAG链与边界扫描连接器连接，并在边界扫 描连接器的TDI引脚和与之连接的JTAG器件的TDI引脚之间串联一个三态
门，即边界扫描连接器的TDI引脚与三态门的输入引脚连接，相应JTAG器 件的TDI引脚与三态门的输出引脚连接；在JTAG链上各串联的TOO引脚 和TDI引脚之间串联一个三态门，即前一个JTAG器件的TDO引脚与三态 门的输入引脚连接,后一个JTAG器件的TDI引脚与三态门的输出引脚连接； 在JTAG器件的TDO引脚和与之连接的边界扫描连接器的TDO引脚之间串 联一个三态门，即边界扫描连接器的TDO引脚与三态门的输出引脚连接， 相应JTAG器件的TDO引脚与三态门的输入引脚连接；在边界扫描连接器的 TMS/TCK引脚与各JTAG器件的TMS/TCK引脚的并联电路中，在各支路上 分别串联一个三态门，即边界扫描连接器的TMS/TCK引脚与各三态门的输 入引脚连接，各JTAG器件的TMS/TCK引脚分别与相应三态门的输出引脚 连接。如图5所示，将JTAG器件501和JTAG器件502连接成的JTAG链与 边界扫描连接器500连接，并在边界扫描连接器500的TDI引脚和JTAG器 件501的TDI引脚之间、JTAG器件501的TDO引脚和JTAG器件502的 TDI引脚之间、以及JTAG器件502的TDO引脚和边^^3描连接器500的 TDO引脚之间分别串联一个三态门，即三态门Ul、三态门U2和三态门U3; 在边界扫描连接器500的TMS引脚与JTAG器件501和JTAG器件502的 TMS引脚的并联电路中，在各支路上分别串联一个三态门，即三态门U5和 三态门U7;在边界扫描连接器500的TCK引脚与JTAG器件501和JTAG 器件502的TCK引脚的并联电路中，在各支路上分别串联一个三态门，即 三态门U4和三态门U6。在边^43描连接器的TRST引脚与JTAG器件的TRST引脚之间串联一 个三态门，即边界扫描连接器的TRST引脚与三态门的输入引脚连接，JTAG 器件的TRST引脚与三态门的输出引脚连接。如图5所示，在边界扫描连接器500的TRST引脚与JTAG器件502的 TRST引脚之间串联一个三态门U8。三态门的控制信号输入引脚与一个开关连接，当所述开关打开时，三态 门的控制信号输入为高电平；当所述开关闭合时，三态门的控制信号输入为 低电平。
在上述电路结构中，当开关打开时，三态门处于导通状态，各JTAG器 件连接成为JTAG链，包括EMUO和EMU1扩展功能引脚的JTAG器件此时 处于电路边界扫描模式，这时可以通过边界扫描连接器对所述JTAG链进行 电路的边界扫描，测试各器件之间的连通性；当开关闭合时，三态门处于阻 塞状态，各JTAG器件成为彼此独立的器件，包括EMU0和EMU1扩展功能 引脚的JTAG器件此时处于下载调试才莫式，这时可以通过与各JTAG器件相 对应的调试连接器分别对各JTAG器件进行下栽和调试。可以看出，通过对开关的操作，可以对JTAG链上的各器件进行有选择 地操作，不仅可以通过该JTAG链完成电路的边界扫描测试，而且可以完成 对该JTAG链上各器件的下载和调试。有的JTAG器件包括扩展功能引脚TRST、 EMUO和EMU1 ，还有的JTAG器 件，例如飞思卡尔(Freescale)公司的微处理器控制单元(MCU),包括 TRST、低功耗请求(QREQ)、软件复位(SRESET)、硬件复位(HRESET) 和管理检查点输出(CK_STPOUT)这些扩展功能引脚。对于这样的JTAG 器件，本发明同样适用。下面结合实施例4,对将具有扩展功能引脚TRST、 QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT的JTAG器件连接进多功能JTAG链的装置做进一 步具体说明。将一个包括扩展功能引脚TRST、 QREQ、 SRESET、 HRESET和 CK—STPOUT的JTAG器件和一个标准的JTAG器件连接成多功能JTAG链， 其连接方式如图6所示。在图6中，调试连接器603和调试连接器604分别 用于对JTAG器件601和JTAG器件602进行下载调试。边界扫描连接器600, 用于将上述2个JTAG器件连接成JTAG链，进行边界扫描。其中，边^43描连接器600是具有扩展功能引脚TRST的连接器，器件 601是支持标准JTAG协议的JTAG器件，器件602是包括TRST、 QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT扩展功能引脚的JTAG器件。当引脚 QREQ、 CK—STPOUT、 SRESET和HRESET上的电平都为高电平时，JTAG 器件可以进行电路边界扫描；当引脚QREQ、 CK—STPOUT、 SRESET和 HRESET受控于调试连接器时，JTAG器件可以进行下载调试。
将各JTAG器件的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚分别与相应的调试连 接器的同名引脚进行连接，将JTAG器件的扩展功能引脚分别与相应的调试 连接器的同名引脚进行连接，并将所述JTAG器件中的QREQ、 SRESET、 HRESET和CK一STPOUT引脚分别通过上拉电阻与电源连接。如图6所示，将JTAG器件601的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚分别 与调试连接器603的TMS、 TCK、 TDI和TDO引脚进行连接；将JTAG器 件602的TMS、TCK、TDI和TDO引脚分别与调试连接器604的TMS、TCK、 TDI和TDO引脚进行连接。将JTAG器件602的TRST、 QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT扩展功能引脚分别与调试连接器604的TRST、 QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT引脚进行连接，并将QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT引脚分别通过上拉电阻R2、 R3、 R4和 R5与电源连才妄。将各JTAG器件连接成的JTAG链与边界扫描连接器连接，并在边界扫 描连接器的TDI引脚和与之连接的JTAG器件的TDI引脚之间串联一个三态 门，即边^H3描连接器的TDI引脚与三态门的输入引脚连接，相应JTAG器 件的TDI引脚与三态门的输出引脚连接；在JTAG链上各串联的TDO引脚 和TDI引脚之间串联一个三态门，即前一个JTAG器件的TDO引脚与三态 门的输入引脚连接，后一个JTAG器件的TDI引脚与三态门的输出引脚连接; 在JTAG器件的TDO引脚和与之连接的边界扫描连接器的TDO引脚之间串 联一个三态门，即边界扫描连接器的TDO引脚与三态门的输出引脚连接， 相应JTAG器件的TDO引脚与三态门的输入引脚连接；在边界扫描连接器的 TMS/TCK引脚与各JTAG器件的TMS/TCK引脚的并联电路中，在各支路上 分别串联一个三态门，即边界扫描连接器的TMS/TCK引脚与各三态门的输 入引脚连接，各JTAG器件的TMS/TCK引脚分别与相应三态门的输出引脚 连接。如图6所示，将JTAG器件601和JTAG器件602连接成的JTAG链与 边界扫描连接器600连接，并在边界扫描连接器600的TDI引脚和JTAG器 件601的TDI引脚之间、JTAG器件601的TDO引脚和JTAG器件602的 TDI引脚之间、以及JTAG器件602的TDO引脚和边^43描连接器600的 TOO引脚之间分别串联一个三态门，即三态门Ul、三态门U2和三态门U3; 在边界扫描连接器600的TMS引脚与JTAG器件601和JTAG器件602的 TMS引脚的并联电路中，在各支路上分别串联一个三态门，即三态门U5和 三态门U7;在边界扫描连接器600的TCK引脚与JTAG器件601和JTAG 器件602的TCK引脚的并联电路中，在各支路上分别串联一个三态门，即 三态门U4和三态门U6。在边界扫描连接器的TRST引脚与JTAG器件的TRST引脚之间串联一 个三态门，即边界扫描连接器的TRST引脚与三态门的输入引脚连接，JTAG 器件的TRST引脚与三态门的输出引脚连接。如图6所示，在边界扫描连接器600的TRST引脚与JTAG器件602的 TRST引脚之间串联一个三态门U8。三态门的控制信号输入引脚与一个开关连接，当所述开关打开时，三态 门的控制信号输入为高电平；当所述开关闭合时，三态门的控制信号输入为 低电平。在上述电路结构中，当开关打开时，三态门处于导通状态，各JTAG器 件连接成为JTAG链，包括QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT扩 展功能引脚的JTAG器件此时处于电路边界扫描模式，这时可以通过边界扫 描连接器对所述JTAG链进行电路的边界扫描，测试各器件之间的连通性； 当开关闭合时，三态门处于阻塞状态，各JTAG器件成为彼此独立的器件。 在外部JTAG控制器的控制下，包括QREQ、 SRESET、 HRESET和 CK—STPOUT扩展功能引脚的JTAG器件此时可以处于下栽调试模式，这时和调试。从上述两个实施例可以看出，本发明所述的多功能JTAG链装置同样适 用具有扩展功能引脚的JTAG器件，只需对该JTAG器件进行相应的控制即 可。可以看出，除上述两个实施例所述的具有扩展功能引脚的JTAG器件之 外，对于其它的具有扩展功能引脚的JTAG器件本发明同样适用，这里不再 重复举例说明。如果在电路中存在多个可以采用相同调试连接器进行下载调试的包括 扩展功能引脚的JTAG器件，可以先将所述多个包括扩展功能引脚的JTAG 器件连接为一个JTAG链，然后可以将该JTAG链看作一个"单独器件"，再 将该"单独器件"与其它的JTAG器件连接成多功能的JTAG链。将多个包 括扩展功能引脚的JTAG器件连接为一个JTAG链，其方式与实施例2所述 的方式相同；各JTAG器件的扩展功能引脚按照具体要求采用相同的连接方 式即可，这里不再重复举例说明。在本发明中，对三态门或JTAG器件的控制电路和装置有多种，由于本 发明的核心在于通过对三态门的控制可以对JTAG链进行选择操作，而不 是如何对三态门或JTAG器件进行控制，所以这里不再对控制三态门或JTAG 器件的电路和装置一一列举了 。可以看出，在本发明中，三态门的作用相当于一个可控开关，本领域技 术人员不经过创造性的劳动即得到其它具有可控开关功能的电路或装置，同样可以实现本发明的目的，这里不再对其它具有可控开关功能的电路或装置 做进一步具体说明。在上述实施例中，以电路中有2或3个JTAG器件为例对本发明的多功 能JTAG链装置进行说明，可以看出，本发明所述的多功能JTAG链装置对 JTAG器件的数量没有限制，这里不再重复举例说明。以上所述的实施例仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发 明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等， 均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1、一种多功能联合测试行动组链装置，包括用于边界扫描的边界扫描连接器和至少2个联合测试行动组JTAG单元，各JTAG单元连接成JTAG链，并与边界扫描连接器连接，其特征在于，所述装置还包括可控开关、开关控制装置和分别用于下载调试各JTAG单元的调试连接器；在边界扫描连接器的测试数据输入TDI引脚和与其连接的JTAG单元的TDI引脚之间、在JTAG链上各串联的测试数据输出TDO引脚和TDI引脚之间、在边界扫描连接器的TDO引脚和与其连接的JTAG单元的TDO引脚之间、在边界扫描连接器的测试模式选择输入TMS/测试时钟输入TCK引脚与各JTAG单元的TMS/TCK引脚的各并联支路中，分别串联一个可控开关，所有可控开关都受开关控制装置的控制；各JTAG单元的TDI、TDO、TMS和TCK引脚还分别与相应的调试连接器的TDI、TDO、TMS和TCK引脚连接。
2、 根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述JTAG单元为JTAG 器件，或者是JTAG链。
3、 根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述JTAG链由至少2个 可以采用相同调试连接器进行下载调试的JTAG器件连接而成。
4、 根据权利要求3所述的装置，其特征在于，当所述JTAG单元是由至 少2个可以采用相同调试连接器进行下载调试的JTAG器件连接的JTAG链 时，所述JTAG单元的TDI引脚是所述JTAG链的首位JTAG器件的TDI引 脚，所述JTAG单元的TDO引脚是所述JTAG链的末位JTAG器件的TDO 引脚，所述JTAG单元的TMS/TCK引脚是所述JTAG链上JTAG器件的 TMS/TCK引脚。
5、 根据权利要求1至4任意一项所述的装置，其特征在于，在JTAG链 上，当存在包括测试复位信号TRST、仿真0EMU0和仿真1EMU1扩展功能 引脚的JTAG单元时，该JTAG单元的TRST、 EMU0和EMU1引脚分别与 相应的调试连冲妾器的TRST、 EMU0和EMU1引脚连接；该JTAG单元的仿真0和仿真1引脚还分别通过上拉电阻与电源连接， 并分别通过控制开关和地连接，所述控制开关受所述开关控制装置的控制。
6、 根据权利要求1至4任意一项所述的装置，其特征在于，在JTAG链 上，当存在包括TRST、低功耗请求QREQ、软件复位SRESET、硬件复位 HRESET和管理检查点输出CK—STPOUT扩展功能引脚的JTAG单元时，该 JTAG单元的TRST、 QREQ、 SRESET、 HRESET和CK_STPOUT引脚分别 与相应的调试连4妄器的TRST、 QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT 引脚连接；该JTAG单元的QREQ、 SRESET、 HRESET和CK—STPOUT引脚还分 别通过上拉电阻与电源连接。
7、 根据权利要求1至4任意一项所述的装置，其特征在于，所述可控 开关是三态门。
8、 根据权利要求1至4任意一项所述的装置，其特征在于，所述开关 控制装置是逻辑开关，或可编程逻辑器件。
全文摘要
本发明公开一种多功能JTAG链装置，包括用于边界扫描的边界扫描连接器和至少2个JTAG器件，各JTAG器件连接成JTAG链，并与边界扫描连接器连接，所述装置还包括可控开关、开关控制装置和分别用于下载调试各JTAG器件的调试连接器；在边界扫描连接器的测试数据输入TDI引脚和与其连接的JTAG器件的TDI引脚之间、在JTAG链上各串联的测试数据输出TDO引脚和TDI引脚之间、在边界扫描连接器的TDO引脚和与其连接的JTAG器件的TDO引脚之间、在边界扫描连接器的测试模式选择输入TMS/测试时钟输入TCK引脚与各JTAG器件的TMS/TCK引脚的各并联支路中，分别串联一个可控开关，所有可控开关都受开关控制装置的控制；各JTAG器件的TDI、TDO、TMS和TCK引脚还分别与相应的调试连接器的TDI、TDO、TMS和TCK引脚连接。
文档编号G01R31/317GK101118274SQ20061008905
公开日2008年2月6日 申请日期2006年7月31日 优先权日2006年7月31日
发明者马卫国 申请人:大唐移动通信设备有限公司