专利名称：外部组件互连延伸插槽的测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种插槽测试方法，尤其涉及一种外部组件互连延伸(PCIX)插槽的测试系统及方法。
技术背景目前一些新型主板的外部组件互连延伸(PCIX)插槽能够同时拥有外部组 件互连(PCI)信号和高速外部组件互连(PCI-E)信号，即主板支持普通的外 部组件互连设备也支持高速外部组件互连设备。在测试主板的外部组件互连延 伸(PCIX)插槽上的外部组件互连(PCI)信号和高速外部组件互连(PCI-E) 信号时，需在外部组件互连延伸(PCIX)插槽上提供相应的接口转向卡，以连 接外部组件互连卡或者高速外部组件互连卡，进而引出外部组件互连延伸 (PCIX)插槽的上述两种信号进行测试。但是，在上述外部组件互连延伸插槽的信号测试中，现有技术不能在一次 测试中同时测试到外部组件互连延伸插槽的全部插针。若想全面测试外部组件 互连延伸插槽的外部组件互连信号和高速外部组件互连信号，则必须先插入外 部组件互连(PCI)接口转向卡及外部组件互连测试卡至外部组件互连延伸 (PCIX)插槽中以进行测试，测试完毕后关机另换一套高速外部组件互连 (PCIE)接口转向卡及高速外部组件互连测试卡，再重新开机测试，或者反之。 因此，上述测试方法不仅花费时间和力气，而且还有可能忽略对某类信号的测 试。此外，在测试外部组件互连(PCI)和高速外部组件互连(PCI-E)的直接 内存存取(Direct Memory Access, DMA)的传输能力时，以往需要在操作系 统上开辟出两块较大的连续实体内部存储器以作为测试中介。由于外部组件互 连(PCI)和高速外部组件互连(PCI-E)本身规范的不同以及操作系统的牵制， 因此连续实体内部存储器的开辟较为困难。此外，这种测试方法还需要消耗大
量的实体内部存储器资源，且与其它需要占用大量内部存储器资源的测试项之 间存在冲突。为此，目前存在--种通过外部组件互连测试卡内建的静态内存进行测试的 方法，较上述现有测试方法，此测试方法可以少开辟一连续实体内部存储器。 但是，此测试方法受到操作系统的限制，无法分配出与测试卡内建内部存储器 相同大小的连续实体内部存储器，因此多采用多次搬移的方法进行实体内部存储器分配。但是目前测试程序只能分配64k的连续实体内部存储器，每次只搬 运64k则无法形成足够的测试压力，没有实现内部存储器所需的一次性直接内 存存取，而且浪费时间造成测试效率的降低。由于各测试项对内部存储器的竞 争，长时间的测试会导致无法分配符合要求的连续实体内部存储器，进而无法 进行正常测试。发明内容本发明所要解决的技术问题在于在于提供一种外部组件互连延伸插槽的 测试系统及方法，能够一次测试外部组件互连延伸(PCIX)插槽的全部外部组 件互连(PCI)信号与高速外部组件互连(PCIE)信号，节省测试时间且增加 测试程序的通用性。本发明的另一目的在于提供一种外部组件互连延伸插槽的测试系统及方 法，能够避免开辟连续实体内部存储器作为测试中介的瓶颈问题，而且可以实 现真正意义的直接内存存取(DMA)压力测试。为实现上述目的，本发明所提供的一种外部组件互连延伸插槽的测试系 统，用以连接于主板上的外部组件互连延伸(PCIX)插槽，可进行一外部组件 互连(PCI)测试卡与一高速外部组件互连(PCIE)测试卡的信号测试，其中 此测试系统包含有--接口转换模块以及一测试模块；于此，接口转换模块设 置有至少一外部组件互连(PCI)插槽与至少一高速外部组件互连(PCIE)插 槽，其中此外部组件互连(PCI)插槽连接有外部组件互连(PCI)测试卡，高 速外部组件互连(PCIE)插槽连接有高速外部组件互连(PCIE)测试卡；并且 接口转换模块系与主板上的外部组件互连延伸(PCIX)插槽连接，进而接口转 换模块转换外部组件互连(PCI)插槽的接口规格与高速外部组件互连(PCIE) 插槽的接口规格为外部组件互连延伸(PCIX)插槽的接口规格，以由外部组件
互连延伸(PCIX)插槽上引出外部组件互连(PCI)测试卡的信号与高速外部 组件互连(PCIE)测试卡的信号。测试模块则通过直接内存存取(DMA)的传 输以一次测试外部组件互连(PCI)测试卡与高速外部组件互连(PCIE)测试 卡的直接内存存取(DMA)传输功能。依照本发明的外部组件互连延伸插槽的测试系统，其中测试模块系通过外 部组件互连(PCI)测试卡内建的一第一静态内存(SRAM)与高速外部组件互 连(PCIE)测试卡内建的-一第二静态内存(SRAM)，于第一静态内存与第二静 态内存之间执行直接内存存取(DMA)的传输测试。或者，接口转换模块上设 置有一连续实体内部存储器，进而测试模块是通过外部组件互连(PCI)测试 卡内建的一第一静态内存(SRAM)或高速外部组件互连(PCIE)测试卡内建的 一第二静态内存(SRAM)，于此第一-静态内存与接口转换模块的连续实体内部 存储器之间或者第二静态内存与接口转换模块的连续实体内部存储器之间执 行直接内存存取(DMA)的传输测试。此外，本发明还提供的一种外部组件互连延伸插槽的测试方法，包含以下 步骤设置至少一外部组件互连(PCI)插槽与至少一高速外部组件互连(PCIE) 插槽于一接口规格转向卡上；通过此接口规格转向卡转换外部组件互连(PCI) 插槽的接口规格与高速外部组件互连(PCIE)插槽的接口规格为一外部组件互 连延伸(PCIX)的接口规格，进而由外部组件互连延伸(PCIX)插槽上引出--外部组件互连(PCI)信号与一高速外部组件互连(PCIE)信号；以及通过直 接内存存取(DMA)的传输以一次测试此外部组件互连(PCI)信号与此高速外 部组件互连(PCIE)的直接内存存取(DMA)传输功能。依照本发明的外部组件互连延伸插槽的测试方法，其中一次测试外部组件 互连(PCI)与高速外部组件互连(PCIE)直接内存存取(DMA)传输功能的步 骤，通过外部组件互连(PCI)插槽连接的一外部组件互连(PCI)测试卡内建 的 一第--静态内存(SRAM)，与高速外部组件互连(PCIE)插槽连接的一高速 外部组件互连(PCIE)测试卡内建的一第二静态内存(SRAM)，进而在第一静 态内存与第二静态内存之间执行直接内存存取(DMA)的传输测试。对于此优 选方案，当测试该外部组件互连(PCI)的直接内存存取(DMA)传输功能时， 设置外部组件互连(PCI)测试卡的直接内存存取(DMA)传输目的位地址为高 速外部组件互连(PCIE)测试卡的第二静态内存地址；以及搬运第一静态内存
的数据至该第二静态内存中；,测试该高速外部组件互连(PCIE)的直接内存 存取(DMA)传输功能时，设置高速外部组件互连(PCIE)测试卡的直接内存 存取(DMA)传输目的位地址为外部组件互连(PCI)测试卡的第一静态内存地 址；以及搬运第二静态内存的数据至第--静态内存中。或者，较佳地是于接口规格转向卡上设置有一连续实体内部存储器，进而 在一次测试外部组件互连(PCI)与髙速外部组件互连(PCIE)的直接内存存 取(DMA)传输功能的步骤中，通过外部组件互连(PCI)插槽连接的一外部组 件互连(PCI)测试卡内建的-第一静态内存(SRAM)或者高速外部组件互连 (PCIE)插槽连接的一高速外部组件互连(PCIE)测试卡内建的一第二静态内 存(SRAM)，于第一静态内存与接口规格转向卡的连续实体内部存储器之间或 者第二静态内存与接口规格转向卡的连续实体内部存储器之间执行直接内存 存取(DMA)的传输测试。本发明的外部组件互连延伸插槽的测试系统及方法通过一插槽接口规格 转换卡，能够在外部组件互连延伸(PCIX)插槽上弓I出多个外部组件互连(PCI) 插槽与高速外部组件互连(PCIE)插槽，实现外部组件互连(PCI)信号与高 速外部组件互连(PCIE)信号的同时测试，避免插拔测试卡及重启机器的麻烦。此外，本发明利用外部组件互连(PCI)测试卡与高速外部组件互连(PCIE) 测试卡内建的两块实体内部存储器，或者上述两种测试卡内建的实体内部存储 器分别与接口规格转向卡内部设置的连续实体内部存储器，以执行相互之间的 直接内存存取(DMA)测试传输，进而摆脱了需要单独分配实体内部存储器作 为测试中介的限制，不仅节省系统资源，避免与其它测试项抢夺内部存储器资 源的问题，还增加了测试的广度和可靠性。
图1为本发明的第一实施例的外部组件互连延伸插槽的测试系统的系统 方块图；图2为本发明的第二实施例的外部组件互连延伸插槽的测试系统的系统 方块图；以及图3、图4至图5为本发明的一实施例的外部组件互连延伸插槽的测试方 法的流程图。 其中，附图标记12:接口转换模块14:外部组件互连测试卡16:高速外部组件互连测试卡18:外部组件互连延伸插槽20:测试模块22:外部组件互连总线24:高速外部组件互连总线步骤101设置至少一外部组件互连插槽与至少一高速外部组件互连插槽—r---接口规格转向卡上步骤102检测接口规格转向卡上是否连接有外部组件互连测试卡和高速外部组件互连测试卡？步骤103提示未插入测试卡步骤104通过接口规格转向卡转换外部组件互连插槽的接口规格与高 速外部组件互连插槽的接口规格为一外部组件互连延伸的接口规格步骤105通过浏览外部组件互连的配置空间査找接口规格转向卡上此 外部组件互连测试卡的实体内部存储器地址步骤106通过浏览外部组件互连的配置空间査找接口规格转向卡上高 速外部组件互连测试卡的实体内部存储器地址步骤107设置外部组件互连测试卡的直接内存存取传输目的位地址为 高速外部组件互连测试卡的实体内部存储器地址步骤108向外部组件互连测试卡的内部存储器中写入可识别的数据步骤109开启外部组件互连测试卡的直接内存存取，以整块搬运此卡中 的内部存储器内容至高速外部组件互连测试卡的内部存储器中步骤IIO读取高速外部组件互连测试卡的内部存储器的数据，并与外部 组件互连测试卡的内部存储器的数据对比？步骤lll恢复外部组件互连测试卡的设置步骤112设置高速外部组件互连测试卡的直接内存存取传输目的位地 址为外部组件互连测试卡的实体内部存储器地址步骤113将高速外部组件互连测试卡的内部存储器数据取反写回
歩骤114开启高速外部组件互连测试卡的直接内存存取传输，并整块搬 运高速外部组件互连测试卡的内部存储器的内容至外部组件互连测试卡的体 内部存储器中步骤115读取外部组件互连测试卡的内部存储器的数据，并与高速外部 组件互连测试卡的内部存储器的数据对比？ 步骤116恢复相关设置步骤117恢复高速外部组件互连测试卡的设置具体实施方式
有关本发明的特征与实作，兹配合图示作最佳实施例详细说明如下。如图1所示，此图为本发明的第一实施例的外部组件互连延伸插槽的测试 系统的系统方块图。如图所示，本发明的外部组件互连延伸插槽的测试系统包 含-接口转换模块12，其中接口转换模块12上设置有至少—外部组件互连 (PCI)插槽与至少一高速外部组件互连(PCIE)插槽，并且此外部组件互连 (PCI)插槽中可连接有--外部组件互连(PCI)测试卡14，高速外部组件互 连(PCIE)插槽可连接有一高速外部组件互连(PCIE)测试卡16。本发明的外部组件互连延伸插槽的测试系统还包含一外部组件互连延伸 (PCIX)插槽18，设置于计算机主板上，并与接口转换模块12连接。此外， 外部组件互连延伸(PCIX)插槽18分别与外部组件互连(PCI)总线22及高 速外部组件互连(PCIE)总线24连接，因此外部组件互连延伸插槽18同时拥 有外部组件互连(PCI)信号与高速外部组件互连(PCIE)信号。接口转换模块12可以将外部组件互连(PCI)插槽的接口规格与高速外部 组件互连(PCIE)插槽的接口规格转换为外部组件互连延伸(PCIX)插槽的接 口规格，因此当接口转换模块12插入至外部组件互连延伸插槽18时，可以从 不同的信号插针独立地获取各自所需信号，进而使得转换的外部组件互连 (PCI)插槽与高速外部组件互连(PCIE)插槽可同时使用。本发明的外部组件互连延伸插槽的测试系统包含一测试模块20，通过直 接内存存取(DMA)的传输而--次测试外部组件互连(PCI)测试卡14的信号 与高速外部组件互连(PCIE)测试卡16的直接内存存取(DMA)传输功能。
因此，在测试外部组件互连延伸插槽时，可以同时在接口转换模块12的外部 组件互连(PCI)插槽中与高速外部组件互连(PCIE)插槽中分别插有外围组 件互连测试卡14与高速外部组件互连测试卡16，进而在测试过程无需重 启机器即能够完全测试外部组件互连延伸插槽的所有信号插针。另外，由于现有测试方法需要在操作系统上开辟连续的实体内部存储器作 为测试中介，其中外部组件互连(PCI)需要512K，高速外部组件互连(PCIE) 需要4M，这种现有测试方法不仅由于操作系统限制较难实现，而且还造成内 部存储器的浪费。因此，在此实施例中，本发明的测试模块20利用外部组件 互连测试卡14与高速外部组件互连测试卡16的内建实体内部存储器，利用各 自的静态内存(SRAM)进行测试，于外部组件互连测试卡14的静态内存与高 速外部组件互连测试卡16的静态内存之间执行直接内存存取(DMA)的传输测 试。依照上述实施例，在测试时，需要设置外部组件互连(PCI)测试卡14 的直接内存存取(DMA)传输目的位地址为高速外部组件互连(PCIE)测试卡 16的静态内存地址，或者设置高速外部组件互连(PCIE)测试卡16的直接内 存存取(DMA)传输目的位地址为外部组件互连(PCI)测试卡14的静态内存 地址。因此，如图中箭头所示，通过依次整块搬运各个测试卡的静态内存的数 据辛.对方的静态内存中，进而实现同时测试外部组件互连延伸插槽18的外部 组件互连(PCI)与高速外部组件互连(PCIE)的直接内存存取(DMA)传输功 能。此外，依照本发明还可以于接口转换模块12上设置有一连续实体内部存 储器，具体说明请参照图2，此图为本发明的第二实施例的外部组件互连延伸 插槽的测试系统的系统方块图。在此实施例中，图2中与图1相同的编号用以表示相同的组件及功能，因 此这里不再赘述。与图1不同的是，可以在接口转换模块12上设置一连续实 体内部存储器，因此测试模块20在执行测试时，通过接口转换模块12上所设 置的连续实体内部存储器与外部组件互连(PCI)测试卡14内建的静态内存， 以按照图标实线箭头的方向执行直接内存存取(DMA)传输；或者，通过接口 转换模块12上的连续实体内部存储器与高速外部组件互连(PCIE)测试卡16 内建的静态内存，并按照图标虚线箭头
进而一次测试外部组件互连(PCI)测试卡与高速外部组件互连(PCIE)测试 卡的直接内存存取(DMA)传输功能。以本发明的上述方式，能够实现较大内存，例如4M的一次搬运，完成真 正意义的直接内存存取压力测试，而不需要系统开辟另外的实体内部存储器， 进而摆脱了操作系统的束缚，增加测试项的兼容性，还节省系统的资源，避免 了与其它测试项，例如内存测试抢夺内部存储器资源的问题。需要指出的是，在接口转换模块12上设置有至少一外部组件互连(PCI) 插槽与至少--高速外部组件互连(PCIE)插槽的前提下，本发明的外部组件互 连延伸插槽的测试系统也可以利用现有测试方法通过开辟一块或两块连续内 部存储器，而实现外部组件互连(PCI)信号与高速外部组件互连(PCIE)信 号的同时测试。如图3、图4及图5所示，为本发明的一实施例的外部组件互连延伸插槽 的测试方法的流程图。如图所示，首先设置至少一外部组件互连(PCI)插槽与至少一高速外部 组件互连(PCIE)插槽于一接口规格转向卡上(步骤101)。在测试时，可以 先检测接口规格转向卡上是否连接有外部组件互连测试卡和高速外部组件互 连测试卡(步骤102)，以对测试操作进行提示。若没有连接对应测试卡，则 提示操作员未插入测试卡(步骤103)，然后前进至步骤116,恢复相关设备 (步骤116)，表示测试失败。如果检测到接口规格转向卡上己连接有外部组件互连测试卡和高速外部 组件互连测试卡，则通过接口规格转向卡对外部组件互连(PCI)插槽的接口 规格与高速外部组件互连(PCIE)插槽的接口规格进行转换，以得到外部组件 互连延伸(PCIX)的接口规格。因此，可以于外部组件互连延伸插槽上同时引 出外部组件互连(PCI)信号与高速外部组件互连(PCIE)信号(步骤104)。较佳地，本发明的外部组件互连延伸插槽的测试方法可通过外部组件互连 测试卡和高速外部组件互连测试卡自身所带的内部存储器，例如静态内存 (SRAM)进行直接内存存取(DMA)测试传输。这时，通过浏览外部组件互连 的配置空间，以査找接口规格转向卡上的外部组件互连测试卡的实体内部存储 器地址(步骤105),以及査找高速组件互连测试卡的实体内部存储器地址(步 骤106)。 接着，如果首先测试外部组件互连的直接内存存取(DMA)传输功能，则 设置外部组件互连测试卡的现场可程序化门阵列(Field Prograjimable Gate Array, FPGA)控制缓存器，将外部组件互连测试卡的直接内存存取传输目的 位地址设置为高速外部组件互连测试卡的内部存储器地址(步骤107)，并向 外部组件互连测试卡的内部存储器中写入可识别的数据(步骤108)，例如 0x55AA…。然后开启外部组件互连测试卡的直接内存存取，以整块搬运此卡的 内部存储器内容至高速外部组件互连测试卡至内部存储器中(步骤109)。读 取高速外部组件互连测试卡的内部存储器的数据，并与外部组件互连测试卡的 内部存储器的数据对比，以判断是否相同(步骤IIO)。若不相同，则恢复相 关设置(步骤116)，表示测试失败；否则，恢复外部组件互连测试卡的设置 (步骤lll)。接下来测试高速外部组件互连的直接内存存取(DMA)传输功能，则设置 高速外部组件互连测试卡的现场可程序化门阵列控制缓存器，以设置高速外部 组件互连测试卡的直接内存存取传输目的位地址为外部组件互连测试卡的实 体内部存储器地址(歩骤112)。然后，将高速外部组件互连测试卡的内部存 储器数据取反写回(步骤113)。随之开启高速外部组件互连测试卡的直接内 存存取传输，并整块搬运高速外部组件互连测试卡的内部存储器的内容，以传 输至外部组件互连测试卡的实体内部静态内存中(步骤114)。然后读取外部组件互连测试卡的内部静态内存的数据，并与高速外部组件 互连测试卡的内部静态内存的数据对比，以判断是否相同(步骤115)。若相 同，则恢复高速外部组件互连测试卡的设置(步骤117)，这时即表示外部组 件互连测试卡与高速外部组件互连测试卡通过测试否则，恢复相关设置(步 骤116)，表示对此卡的测试失败。此外，较佳的是，本发明的外部组件互连延伸插槽的测试方法还可以于接 口规格转向卡上设置有一连续实体内部存储器，进而可通过外部组件互连测试 卡内建的内部存储器与接口规格转向卡的连续实体内部存储器，或者高速外部 组件互连测试卡内建的内部存储器与接口规格转向卡的连续实体内部存储器， 依次分别执行直接内存存取(DMA)的传输测试，以同时一次地测试外部组件 互连延伸插槽的外部组件互连(PCI)与高速外部组件互连(PCIE)的直接内 存存取(DMA)传输功能。
这里，与上述实施例的利用外部组件互连拥试卡和高速外部组件互连測试 卡自身所带的内部存储器执行各自測试传输不同的是，在利用接口规格转向卡的连续实体内部存储器測试外部组件互连(PCI)的直接内存存取(DMA) 功能时，霱要设置外部组件互连(PCI)测试卡的直接内存存取(DMA)传输目 的位地址为接口规格转向卡的连续实体内部存储器地址；以及搬运外部组件互 连(PCI)的第一静态内存的数据至接口规格转向卡的连续实体内部存储器中。同样地，在利用接口规格转向卡的连续实体内部存储器測试高速外部组件 互连(PCIE〉的直接内存存取(DMA)传输功能时，需要设置高速外部组件互 连(PCIE)拥试卡的直接内存存取(DMA)传输目的位地址为接口规格转向卡 的连续实体内部存储器地址以及搬运高速外部组件互连(PCIE)测试卡的第 二静态内存的数据至接口规格转向卡的连续实体内部存储器中。当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明糖神及其实质的情 况F，熟悉本领域的普通技术人员当可根据本发明做出各种相应的改变和变 形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种外部组件互连延伸插槽的测试系统，用以连接于一主板上的一外部组件互连延伸插槽，可进行一外部组件互连测试卡与一高速外部组件互连测试卡的信号测试，其特征在于，该测试系统包含有一接口转换模块，设置有至少一外部组件互连插槽与至少一高速外部组件互连插槽，以分别连接有该外部组件互连测试卡与该高速外部组件互连测试卡；并且该接口转换模块与该主板上的该外部组件互连延伸插槽连接，进而该接口转换模块转换该外部组件互连插槽的接口规格与该高速外部组件互连插槽的接口规格为该外部组件互连延伸插槽的接口规格，以由该外部组件互连延伸插槽上引出该外部组件互连测试卡的信号与该高速外部组件互连测试卡的信号；以及一测试模块，通过直接内存存取的传输以一次测试该外部组件互连测试卡与该高速外部组件互连测试卡的直接内存存取传输功能。
2. 根据权利要求1所述的外部组件互连延伸插槽的测试系统，其特征在 于，该测试模块通过该外部组件互连测试卡内建的一第一静态内存与该高速外 部组件互连测试卡内建的一第二静态内存，在该第一静态内存与该第二静态内 存之间执行直接内存存取的传输测试。
3. 根据权利要求1所述的外部组件互连延伸插槽的测试系统，其特征在 于，该接口转换模块上设置有一连续实体内部存储器，进而该测试模块通过该 外部组件互连测试卡内建的一第一静态内存或该高速外部组件互连测试卡内 建的一第二静态内存，在该第一静态内存与该接口转换模块的该连续实体内部 存储器之间或者该第二静态内存与该接口转换模块的该连续实体内部存储器 之间执行直接内存存取的传输测试。
4. 一种外部组件互连延伸插槽的测试方法，其特征在于，该方法包含以下设置至少一外部组件互连插槽与至少一高速外部组件互连插槽于一接口 规格转向卡上；通过该接口规格转向卡转换该外部组件互连插槽的接口规格与该高速外 部组件互连插槽的接口规格为 一外部组件互连延伸的接口规格，进而由该外部 组件互连延伸插槽上引出-外部组件互连信号与一高速外部组件互连信号；以 及通过直接内存存取的传输以--次测试该外部组件互连与该高速外部组件 互连的直接内存存取传输功能。
5. 根据权利要求4所述的外部组件互连延伸插槽的测试方法，其特征在 于，该一次测试该外部组件互连与该高速外部组件互连的直接内存存取传输功 能的步骤，通过该外部组件互连插槽连接的一外部组件互连测试卡内建的--第 —静态内存，与该高速外部组件互连插槽连接的一高速外部组件互连测试卡内 建的一第二静态内存，进而在该第一静态内存与该第二静态内存之间执行该直 接内存存取的传输测试。
6. 根据权利要求5所述的外部组件互连延伸插槽的测试方法，其特征在于，当测试该外部组件互连的直接内存存取传输功能时，还包含下列步骤设置该外部组件互连测试卡的直接内存存取传输目的位地址为该高速外部组件互连测试卡的第二静态内存地址；以及搬运该第--静态内存的数据至该第二静态内存中。
7. 根据权利要求5所述的外部组件互连延伸插槽的测试方法，其特征在 于，当测试该高速外部组件互连的直接内存存取传输功能时，还包含下列步骤:设置该高速外部组件互连测试卡的直接内存存取传输目的位地址为该外 部组件互连测试卡的第一静态内存地址；以及搬运该第二静态内存的数据至该第一静态内存中。
8.根据权利要求4所述的外部组件互连延伸插槽的测试方法，其特征在于， 还包含有于该接口规格转向卡上设置有一连续实体内部存储器的步骤，进而在 该---次测试该外部组件互连与该高速外部组件互连的直接内存存取传输功能 的步骤中，通过该外部组件互连插槽连接的一外部组件互连测试卡内建的一第 一静态内存或者该高速外部组件互连插槽连接的一高速外部组件互连测试卡 内建的一第二静态内存，在该第--静态内存与该接口规格转向卡的该连续实体 内部存储器之间或者该第二静态内存与该接口规格转向卡的该连续实体内部 存储器之间执行直接内存存取的传输测试。
9.根据权利要求8所述的外部组件互连延伸插槽的测试方法，其特征在 于，当测试该外部组件互连的直接内存存取传输功能时，还包含下列步骤 设置该外部组件互连测试卡的直接内存存取传输目的位地址为该接口规格转向卡的该连续实体内部存储器地址；以及搬运该第一静态内存的数据至该接口规格转向卡的该连续实体内部存储器'r'。
10.根据权利要求8所述的外部组件互连延伸插槽的测试方法，其特征在 于，当测试该髙速外部组件互连的直接内存存取传输功能时，还包含下列步骤:设置该高速外部组件互连测试卡的直接内存存取传输目的位地址为该接 口规格转向卡的该连续实体内部存储器地址；以及搬运该第二静态内存的数据至该接口规格转向卡的该连续实体内部存储 器中。
全文摘要
本发明公开了一种外部组件互连延伸插槽的测试系统及方法，通过设置至少一外部组件互连插槽与至少一高速外部组件互连插槽于一接口规格转向卡上，以转换外部组件互连插槽的接口规格与高速外部组件互连插槽的接口规格为外部组件互连延伸的接口规格，进而由外部组件互连延伸插槽上引出外部组件互连信号与高速外部组件互连信号。进一步地，通过直接内存存取传输，以一次测试外部组件互连与高速外部组件互连的直接内存存取传输功能。
文档编号G01R31/04GK101118268SQ200610099159
公开日2008年2月6日 申请日期2006年7月31日 优先权日2006年7月31日
发明者涛 刘, 刘文涵, 段秋月, 陈玄同 申请人:英业达股份有限公司