专利名称：具测试架构的液晶显示装置及相关测试方法
技术领域：
本发明是有关于一种具测试架构的液晶显示装置及相关测试方法，尤指一 种可提供精确缺陷检测的具测试架构的液晶显示装置及相关测试方法。
背景技术：
液晶显示装置(Liquid Crystal Display; LCD)是目前广泛使用的一种平面显 示器，其具有外型轻薄、省电以及无辐射等特征。液晶显示装置的工作原理是 利用改变液晶层两端的电压差来改变液晶层内的液晶分子的排列状态，藉以改 变液晶层的透光性，再配合背光模块所提供的光源以显示影像。
在目前高分辨率显示设计的要求下，液晶显示装置中的组件尺寸不断地缩 小，期能提高组件积集度，所以微小缺陷或微粒对液晶显示装置的质量影响也 日趋严重，使得液晶显示装置的工艺越来越不容易达到高生产合格率的目标。 因此，为维持产品质量的稳定，通常在液晶显示装置的生产过程中，亦须针对 所生产的液晶显示装置进行缺陷检测， 一方面可淘汰不良品，另一方面可根据 检测结果来分析造成缺陷的原因，之后才能进一步地藉由工艺参数的调整或生 产环境的改善来避免或减少缺陷的产生。换句话说，能实时地对生产过程所产 生的缺陷做出分析，找出缺陷发生的原因，并加以排除，不但已成为品保技术 的核心能力之一，更是快速开发高质量液晶显示装置工艺的关键。
一般而言，为使液晶显示装置具有广视角的特性，在一个像素单元内会设 计两个子像素单元，相对应于两子像素单元的两条伽玛曲线(Gamma Curve, 亦称为灰阶曲线)，经由灰阶平均效应，可在不同视角产生最佳视觉效果，即 具有高质量广视角特性。通常液晶显示装置的短路缺陷发生在相邻子像素单元 之间，所以如何精确地检测出相邻子像素单元之间的短路缺陷实为生产过程的 重要关键技术之一。然而在习知的检测短路缺陷测试方法中，只能检测部分相 邻子像素单元之间的短路缺陷，因此无法提供完整的缺陷检测信息以及时淘汰 所有不良品，而缺陷检测结果的分析也难以提供足够信息以改良工艺提高合格率。
发明内容
依据本发明的实施例，其揭露一种液晶显示装置，包含多条数据线、多条 栅极线、多条共享电极线及多列像素单元。每一条数据线用以接收对应数据信 号。每一条栅极线用以接收对应栅极信号。多条奇数共享电极线用以接收第一 共享电压，多条偶数共享电极线用以接收第二共享电压。每一列像素单元包含 多个像素单元，奇数列像素单元的多个像素单元耦合于对应奇数共享电极线， 偶数列像素单元的多个像素单元耦合于对应偶数共享电极线。
依据本发明的实施例，其另揭露一种用以测试液晶显示装置的测试方法， 被测试的液晶显示装置包含多条第一栅极线、多条第二栅极线、多条数据线、 多条第一共享电极线、及多条第二共享电极线，此测试方法包含于第一时段， 供应栅极致能信号至该些第一栅极线及该些第二栅极线，供应第一测试电压至 该些数据线的一数据线，供应第一共享测试电压至该些第一共享电极线，供应 第二共享测试电压至该些第二共享电极线；于第二时段，供应栅极致能信号至 该些第一栅极线，供应栅极除能信号至该些第二栅极线，供应第二测试电压至 该数据线，供应第一共享测试电压至该些第一共享电极线，供应第二共享测试 电压至该些第二共享电极线；以及于第三时段，供应栅极除能信号至该些第一 栅极线及该些第二栅极线，供应第三共享测试电压至该些第二共享电极线。
图1为本发明第一实施例液晶显示装置的示意图2为依图1的液晶显示装置执行本发明第一测试方法的工作相关信号测 试波形示意图，其中横轴为时间轴；
图3为根据图2所示的相关信号以检测图1的液晶显示装置的第一测试方 法流程图4为图1的液晶显示装置在无缺陷状况下，经图2的波形测试后的子像 素电压示意表列；
图5为依图1的液晶显示装置执行本发明第二测试方法的工作相关信号测 试波形示意图，其中横轴为时间轴；图6为报据图5所示的相关信号以检测图1的液晶显小装置的第二测试方 法流程图7为图1的液晶显示装置在无缺陷状况下，经图5的波形测试后的子像 素电压示意表列；
图8为本发明第二实施例液晶显示装置的示意图。主要组件符号说明
400、 800 液晶显示装置 410、 810 栅极线 420、 820 430、 830
440、 840
441、 841 443、 843 445、 845 447、 847 460
470 480 600 812 832
890
891 893 895 897
899
900
Cll、 C21、 C31、 C41 C12、 C22、 C32、 C42
共享电极线 像素单元 第一开关 第二开关 第一像素电容 第二像素电容 电压产生器 栅极驱动电路 源极驱动电路 第一测试方法 辅助栅极线 辅助共享电极线 前置辅助像素单元 第一辅助开关 第一辅助电容 后置辅助像素单元 第二辅助开关 第二辅助电容 第二测试方法 第一像素电容 第二像素电容CU 、CUastl 、 CXn-CXn+3 CLA1 CLA2
DLm、 DLm+l
GLn画GLn+3
Plm、 P2m、
Pn—m-Pn+3—m
PA1
PA2
S605-S635、 S905-S935 SDm、 SDm+l SGeven SGn-SGn+3 SGodd Ta、 Td Tb、 Te Tc、 Tf
VI、 V2、 V3、 V4
Vcoml
Vcom2
Vctl
Vct2
Vtsl
Vts2
Vpii画Vp42
共享电极线
第一辅助共享电极线
第二辅助共享电极线
数据线
栅极线
像素单元
前置辅助像素单元 后置辅助像素单元 步骤
数据信号
偶数栅极信号
栅极信号
奇数栅极信号
第一时段
第二时段
第三时段
电压
第一共享电压
第二共享电压
第一共享测试电压
第二共享测试电压
第一测试电压
第二测试电压
子像素电压
具体实施例方式
为让本发明更显而易懂，下文依本发明具测试架构的液晶显示装置及相关测试方法，特举实施例配合所附图式作详细说明，但所提供的实施例并非用以 限制本发明所涵盖的范围，而方法流程步骤编号更非用以限制其执行先后次 序，任何由方法步骤重新组合的执行流程所产生具有均等功效的方法，皆为本 发明所涵盖的范围。
图1为本发明第一实施例液晶显示装置的示意图。如图1所示，液晶显示
装置400包含多条栅极线410、多条数据线420、多条共享电极线430、多列 像素单元、电压产生器460、栅极驱动电路470及源极驱动电路480。每一列 像素单元包含多个像素单元440。每一个像素单元440包含第一开关441、第 二开关443、第一像素电容445及第二像素电容447，其中第一开关441及第 一像素电容445组合为一子像素单元，第二开关443及第二像素电容447组合 为另一子像素单元。第一开关441及第二开关443可为金属氧化物半导体场效 晶体管(Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor)或薄膜晶体管(Thin Film Transistor)。
第一像素电容445包含第一端及第二端，其中第一端耦合于对应共享电极 线430。第二像素电容447包含第一端及第二端，其中第一端耦合于对应共享 电极线430。第一开关441包含第一端、第二端与门极端，其中第一端耦合于 对应第一像素电容445的第二端，第二端耦合于对应数据线420，栅极端耦合 于对应栅极线410。第二开关443包含第一端、第二端与门极端，其中第一端 耦合于对应第二像素电容447的第二端，栅极端耦合于对应栅极线410，第二 端耦合于相异像素单元440的第一开关441的第一端。奇数列像素单元的多个 像素单元440耦合于对应奇数共享电极线430以接收第一共享电压Vcoml， 偶数列像素单元的多个像素单元440耦合于对应偶数共享电极线430以接收第 二共享电压Vcom2。在另一实施例中，奇数共享电极线430用以接收第二共 享电压Vcom2，即奇数列像素单元的多个像素单元440接收第二共享电压 Vcom2，而偶数共享电极线430则用以接收第一共享电压Vcoml，即偶数列 像素单元的多个像素单元440接收第一共享电压Vcoml。
举例而言，在第n列像素单元(奇数列像素单元)的第m个像素单元Pn—m 中(m和n是大于0的整数)，第一像素电容Cll及第二像素电容C12的第一端 耦合于奇数共享电极线CLn，第一开关Tll及第二开关T12的栅极端耦合于 栅极线GLn，第一开关Tll的第一端耦合于第一像素电容Cll的第二端，第二开关T12的第一端耦合于第二像素电容C12的第二端，第一开关Tll的第
二端耦合于数据线DLm，第二开关T12的第二端耦合于第n+l列像素单元的 第m个像素单元Pn+1—m的第一开关T21的第一端，第--开关T21的第二端 耦合于数据线DLm。因此，第一开关Tll及第一开关T21的第二端均耦合于 数据线DLm，即第一像素电容Cll及第二像素电容C12均由数据线DLm所 提供的数据信号SDm进行充电。
在第n+l列像素单元(偶数列像素单元)的第m个像素单元Pn+1—m中，第 一像素电容C21及第二像素电容C22的第一端耦合于偶数共享电极线CLn+l ， 第一开关T21及第二开关T22的栅极端耦合于栅极线GLn+l，第一开关T21 的第一端耦合于第一像素电容C21的第二端，第二开关T22的第一端耦合于 第二像素电容C22的第二端，第一开关T21的第二端耦合于数据线DLm，第 二开关T22的第二端耦合于第n+2列像素单元的第m个像素单元Pn+2—m的 第一开关T31的第一端，第一开关T31的第二端耦合于数据线DLm。因此， 第一开关T21及第 一开关T31的第二端均耦合于数据线DLm，即第一像素电 容C21及第二像素电容C22均由数据线DLm所提供的数据信号SDm进行充 电。
由上述可知，每一个第一像素电容445经由对应数据线420及相同像素单 元440的第一开关441进行充电。每一个第二像素电容447经由对应数据线 420、相异像素单元440的第一开关441、及相同像素单元440的第二开关443 进行充电。举例而言，像素单元Pn—m的第一像素电容Cll由数据信号SDm 经数据线DLm及像素单元Pn—m的第一开关Tl 1进行充电，第二像素电容C12 由数据信号SDm经数据线DLm、像素单元Pn+l一m的第一开关T21 、及像素 单元Pn—m的第二开关T12进行充电。
电压产生器460包含第一输出端及第二输出端，其中第一输出端耦合于多 条奇数共享电极线430，第二输出端耦合于多条偶数共享电极线430，第一输 出端用以输出第一共享电压Vcoml至多条奇数共享电极线430，第二输出端 用以输出第二共享电压Vcom2至多条偶数共享电极线430。举例而言，奇数 共享电极线CLn及CLn+2耦合于电压产生器460的第一输出端以接收第一共 享电压Vcoml ，偶数共享电极线CLn+l及CLn+3耦合于电压产生器460的第 二输出端以接收第二共享电压Vcom2。图2为依图1的液晶显示装置400执行本发明第-测试方法的工作相关信
号测试波形示意图，其中横轴为时间轴。在执行液晶显示装置400的缺陷测试 中，多条奇数栅极线及多条偶数栅极线分别被馈入奇数栅极信号SGodd及偶 数栅极信号SGeven，多条奇数共享电极线及多条偶数共享电极线分别被馈入 第一共享电压Vcoml及第二共享电压Vcom2。在图2中，由上往下的信号分 别为奇数栅极信号SGodd、偶数栅极信号SGeven、数据信号SDm、第一共享 电压Vcoml、第二共享电压Vcom2、及对应于四个像素单元Pn—m-Pn+3—m的 子像素电压VP11-VP42，其中第一共享电压Vcoml保持于固定电压准位Vct3。
请参考第l、 2及3图，图3为根据图2所示的相关信号以检测图1的液 晶显示装置的第一测试方法流程图。如图3所示，第一测试方法600包含F列
歩骤
歩骤S605:于第一时段Ta内，将第二共享电压Vcom2及第一共享电压 Vcoml分别设为第一共享测试电压Vctl及第三共享测试电压Vct3，并将奇数 栅极信号SGodd及偶数栅极信号SGeven均设为高准位的致能信号，用以切换 多个第一开关Tl 1-T41及多个第二开关T12-T42至导通状态；
步骤S610:于第一时段Ta内，将数据信号SDm设为第一测试电压Vtsl， 用以对像素单元Pn一m-Pn+3—m的第一像素电容C11-C41及第二像素电容 C12-C42充电，使多个子像素电压Vpu-Vp42提升至电压VI;
步骤S615:于第二时段Tb内，将奇数栅极信号SGodd设为高准位的致 能信号，并将偶数栅极信号SGeven设为低准位的除能信号，用以切换第一开 关T21,T41及第二开关T22，T42至截止状态，及保持第一开关Tl 1,T31及第二 开关T12，T32于导通状态；
步骤S620:于第二时段Tb内，将数据信号SDm设为第二测试电压Vts2， 用以对像素单元Pn—m及Pn+2一m的第一像素电容Cll及C31充电，使子像素 电压VP11及VP31变更为电压V2;
步骤S625:在第二时段Tb后，将奇数栅极信号SGodd及偶数栅极信号 SGeven均设为低准位的除能信号，用以切换第一开关T11,T31及第二开关 T12,T32至截止状态，及保持第一开关T21，T41及第二开关T22，T42于截止状 态；
步骤S630:于第三时段Tc内，将第二共享电压Vcom2设为第二共享测
12试电压Vct2，用以使子像素电压VP21、 VP22、 Vm及Vp42变更为电压V3;以
及
步骤S635:于第三时段Tc内，根据子像素电压Vpn-Vp42的电压同异关系 以检测液晶显示装置400的像素单元Pn—m-Pn+3—m的相关短路缺陷。
在上述第一测试方法600的流程中，第一时段Ta、第二时段Tb及第三时 段Tc不互相重叠，第一测试电压Vtsl及第二测试电压Vts2为相异电压，第 一共享测试电压Vctl及第二共享测试电压Vct2也为相异电压。在歩骤S630 中，将第二共享电压Vcom2设为第二共享测试电压Vct2，用以使子像素电压 VP21、 VP22、 Vm及Vp42变更为电压V3，为利用第一像素电容C21，C41及第二 像素电容C22，C42的电容效应，于第二共享电压Vcom2从第一共享测试电压 Vctl变更为第二共享测试电压Vct2时，将子像素电压VP21、 VP22、 VP41& VP42 从电压V1变更为电压V3。在另一实施例中，步骤S630可包含将第一共享电 压Vcoml设为相异于第三共享测试电压Vct3的另一共享测试电压，用以变更
子像素电压Vpu、 VP12、 Vf^及Vp32。
图4为图1的液晶显示装置400在无缺陷状况下，经图2的波形测试后的 子像素电压示意表列。如图4所示，像素单元Pn+l一m的相邻子像素单元的子 像素电压V^及Vp22均为电压V3，且像素单元Pn+3一m的相邻子像素单元的 子像素电压VP41及Vw均为电压V3，其余相邻子像素单元的子像素电压均为 相异电压。因此，在检测短路缺陷的第一测试方法600中，只有像素单元 Pn+1—m的相邻子像素单元间的短路缺陷模式以及像素单元Pn+3—m的相邻子 像素单元间的短路缺陷模式无法被检测出来，其余相邻子像素单元间的短路缺 陷模式均可被检测出来。
图5为依图1的液晶显示装置400执行本发明第二测试方法的工作相关信 号测试波形示意图，其中横轴为时间轴。在图5中，由上往下的信号分别为奇 数栅极信号SGodd、偶数栅极信号SGeven、数据信号SDm、第一共享电压 Vcoml、第二共享电压Vcom2、及对应于四个像素单元Pn一m-Pn+3—m的子像 素电压Vpn-Vp42，其中第一共享电压Vcoml保持于固定电压准位Vct3。
请参考第1、 5及6图，图6为根据图5所示的相关信号以检测图1的液 晶显示装置的第二测试方法流程图。如图6所示，第二测试方法900包含下列 歩骤步骤S905:于第一时段Td内，将第一共享电压Vcom 1及第二共享电压 Vcom2分别设为第三共享测试电压Vct3及第一共享测试电压Vctl ，并将奇数 栅极信号SGodd及偶数栅极信号SGeven均设为高准位的致能信号，用以切换 多个第一开关T11-T41及多个第二开关T12-T42至导通状态；
歩骤S910:于第一时段Td内，将数据信号SDm设为第一测试电压Vtsl ， 用以对像素单元Pn一m-Pn+3—m的第一像素电容C11-C41及第二像素电容 C12-C42充电，使多个子像素电压Vpn-Vp42提升至电压VI;
步骤S915:于第二时段Te内，将偶数栅极信号SGeven设为高准位的致 能信号，并将奇数栅极信号SGodd设为低准位的除能信号，用以切换第一开 关Tl 1，T31及第二开关T12,T32至截止状态，及保持第一开关T21,T41及第二 开关T22,T42于导通状态；
步骤S920:于第二时段Te内，将数据信号SDm设为第二测试电压Vts2， 用以对像素单元Pn+1—m及Pn+3—m的第一像素电容C21及C41充电，使子 像素电压VP21及VP41变更为电压V2;
步骤S925:在第二时段Te后，将奇数栅极信号SGodd及偶数栅极信号 SGeven均设为低准位的除能信号，用以切换第一开关T21,T41及第二开关 T22,T42至截止状态，及保持第一开关T11,T31及第二开关T12，T32于截止状 态；
步骤S930:于第三时段Tf内，将第二共享电压Vcom2设为第二共享测
试电压Vct2，用以使子像素电压Vp22及Vp42变更为电压V3，及使子像素电压 Vp2,及Vpw变更为电压V4;以及
步骤S935:于第三时段Tf内，根据子像素电压Vp『Vp42的电压同异关系 以检测液晶显示装置400的像素单元Pn—m-Pn+3—m的相关短路缺陷。
在上述第二测试方法900的流程中，第一时段Td、第二时段Te及第三时 段Tf不互相重叠，第一测试电压Vtsl及第二测试电压Vts2为相异电压，第 一共享测试电压Vctl及第二共享测试电压Vct2也为相异电压。在步骤S930 中，将第二共享电压Vcom2设为第二共享测试电压Vct2，用以使子像素电压
Vp22及Vp42变更为电压V3，及使子像素电压Vp2i及Vp^变更为电压V4，为
利用第一像素电容C21,C41及第二像素电容C22,C42的电容效应，于第二共 享电压Vcom2从第一共享测试电压Vctl变更为第二共享测试电压Vct2时，将子像素电压Vf^及Vw从电压VI变更为电压V3，及将子像素电压Vp2,及
VP41从电压V2变更为电压V4。在另一实施例中，步骤S930可包含将第一共 享电压Vcoml设为相异于第三共享测试电压Vct3的另一共享测试电压，用以
变更子像素电压Vpu、 VP12、 Vpw及Vp32。
图7为图1的液晶显示装置400在无缺陷状况下，经图5的波形测试后的 子像素电压示意表列。如图7所示，像素单元Pn一m的相邻子像素单元的子像 素电压VP11及Vm均为电压VI，且像素单元Pn+2—m的相邻子像素单元的子 像素电压VP31及Vm为均电压VI，其余相邻子像素单元的子像素电压均为相 异电压。所以在检测短路缺陷的第二测试方法900中，只有像素单元Pn—m的 相邻子像素单元间的短路缺陷模式，及像素单元Pn+2一m的相邻子像素单元间 的短路缺陷模式无法被检测出来，其余相邻子像素单元间的短路缺陷模式均可 被检测出来。
由上述可知，第一测试方法600无法检测的短路缺陷模式可被第二测试方 法900检测出来，而第二测试方法卯0无法检测的短路缺陷模式可被第一测试 方法600检测出来，所以整合第一测试方法600及第二测试方法900的测试结 果，就可检测所有模式的短路缺陷。
图8为本发明第二实施例液晶显示装置的示意图。如图8所示，液晶显示 装置800包含多条栅极线810、多条辅助栅极线812、多条数据线820、多条 共享电极线830、多条辅助共享电极线832、多列像素单元、及多列辅助像素 单元。多列辅助像素单元包含第一列辅助像素单元及第二列辅助像素单元，第 一列辅助像素单元相邻于第一列像素单元，第二列辅助像素单元相邻于倒数第 一列像素单元。多条辅助栅极线812包含第一辅助栅极线GLA1及第二辅助栅 极线GLA2。多条辅助共享电极线832包含第一辅助共享电极线CLA1及第二 辅助共享电极线CLA2。第一条共享电极线CL1及第一辅助共享电极线CLA1 分别用以接收第一共享电压Vcoml及第二共享电压Vcom2。若倒数第一条共 享电极线CLlastl为偶数共享电极线，则如图所示，倒数第一条共享电极线 CLlastl及第二辅助共享电极线CLA2分别用以接收第二共享电压Vcom2及第 一共享电压Vcoml。在另一实施例中，若倒数第一条共享电极线CLlastl为奇 数共享电极线，则倒数第一条共享电极线CLlastl及第二辅助共享电极线CLA2 分别用以接收第一共享电压Vcoml及第二共享电压Vcom2。每一列像素单元包含多个像素单元840。每一个像素单元840包含第一开 关841、第二开关843、第一像素电容845及第二像素电容847。前述像素单 元的第二列像素单元至倒数第二列像素单元的像素单元耦合关系同于上述图 1的液晶显示装置400的像素单元耦合关系。
第一列辅助像素单元包含多个前置辅助像素单元890。第二列辅助像素单 元包含多个后置辅助像素单元895。前置辅助像素单元890包含第一辅助开关 891及第一辅助电容893。后置辅助像素单元895包含第二辅助开关897及第 二辅助电容899。第一开关841、第二开关843、第一辅助开关891及第二辅 助开关897可为金属氧化物半导体场效晶体管或薄膜晶体管。
第一辅助电容893包含第一端及第二端，其中第一端耦合于第一辅助共享 电极线CLA1。第一辅助开关891包含第一端、第二端与门极端，其中第一端 耦合于对应第一辅助电容893的第二端，栅极端耦合于第一辅助栅极线GLA1， 第二端耦合于对应第一开关841。第二辅助电容899包含第一端及第二端，其 中第一端耦合于第二辅助共享电极线CLA2。第二辅助开关897包含第一端、 第二端与门极端，其中第二端耦合于对应数据线820，栅极端耦合于第二辅助 栅极线GLA2，第一端耦合于对应第二辅助电容899的第二端，第一端另耦合 于对应第二开关843。
举例而言，在第一列辅助像素单元的第m个前置辅助像素单元PA1中， 第一辅助电容CA1的第一端耦合于第一辅助共享电极线CLA1，第一辅助开 关TA1的第一端耦合于第一辅助电容CA1的第二端，第一辅助开关TA1的第 二端耦合于第一列像素单元的第m个像素单元Plm的第一开关Tlm。
在第二列辅助像素单元的第m个后置辅助像素单元PA2中，第二辅助电 容CA2的第一端耦合于第二辅助共享电极线CLA2，第二辅助开关TA2的第 一端耦合于第二辅助电容CA2的第二端，第二辅助开关TA2的第二端耦合于 数据线DLm，第二辅助开关TA2的第一端另耦合于倒数第一列像素单元的第 m个像素单元P2m的第二开关T2m。
第一列辅助像素单元用来辅助第一列像素单元的第一像素电容845以执 行精确的测试电压写入操作，若没有第一列辅助像素单元，则会导致第一列像 素单元的第一像素电容845的测试电压写入失真状况。第二列辅助像素单元用 来辅助倒数第一列像素单元的第二像素电容847以执行精确的测试电压写入操作，若没有第—二列辅助像素单元，则无法执行倒数第一列像素单元的第二像 素电容847的测试电压写入操作。
由上述可知，本发明液晶显示装置配合本发明第一测试方法及第二测试方 法，可将液晶显示装置的所有模式的短路缺陷检测出来，所以本发明液晶显示 装置的驱动电路架构特别适用于高分辨率显示设计，用以在高分辨率液晶显示 装置的制造过程中，提供各种短路缺陷模式的精确检测， 一方面可及时淘汰不 良品以节省后续制造成本，另一方面可根据检测结果分析造成缺陷的原因以调 整工艺参数或改善生产环境来避免或减少缺陷的产生。
在本发明的均等实施例中，液晶显示装置的电压产生器可用以提供异于第 一共享电压及第二共享电压的额外共享电压，相异共享电压馈入相异共享电极 线，用以在不同时段根据相异共享电压，配合数据信号的电压切换及相关栅极 信号的致能/除能切换，以精确地检测出所有模式的短路缺陷。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，在不 背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作 出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权 利要求的保护范围。
权利要求
1.一种具测试架构的液晶显示装置，其特征在于，包含多条数据线，每一条数据线接收一对应数据信号；多条栅极线，每一条栅极线接收一对应栅极信号；多条共享电极线，该些共享电极线的多条奇数共享电极线用以接收一第一共享电压，该些共享电极线的多条偶数共享电极线用以接收一第二共享电压；以及多列像素单元，每一列像素单元包含多个像素单元，其中该些列像素单元的一奇数列像素单元的多个像素单元耦合于该些共享电极线的一对应奇数共享电极线，该些列像素单元的一偶数列像素单元的多个像素单元耦合于该些共享电极线的一对应偶数共享电极线。
2. 如权利要求1所述的液晶显示装置，其特征在于，每一个像素单元包含一第一像素电容，包含一第一端及一第二端，其中该第一端耦合于该些共 享电极线的一对应共享电极线；一第二像素电容，包含一第一端及一第二端，其中该第一端耦合于该对应 共享电极线；一第一开关，包含一第一端、 一第二端及一栅极端，其中该第一端耦合于 该第一像素电容的第二端，该栅极端耦合于该些栅极线的一对应栅极线，该第 二端耦合于该些数据线的一对应数据线；以及一第二开关，包含一第一端、 一第二端及一栅极端，其中该第一端耦合于 该第二像素电容的第二端，该栅极端耦合于该对应栅极线，该第二端耦合于一 对应第一开关的第一端，其中该对应第一开关的第二端耦合于该对应数据线。
3. 如权利要求2所述的液晶显示装置，其特征在于，该些列像素单元的一第n列像素单元的一第m个像素单元的第一开关的 第二端耦合于该些数据线的一第m条数据线，其中m与n为大于0的整数；该些列像素单元的一第n+l列像素单元的一第m个像素单元的第一开关 的第二端耦合于该第m条数据线；以及该第n列像素单元的第m个像素单元的第二开关的第二端耦合于该第n+l列像素单元的第m个像素单元的第一开关的第一端。
4. 如权利要求3所述的液晶显示装置，其特征在于，该第n列像素单元的 第m+l个像素单元的第一开关的第二端耦合于该 些数据线的一第m+l条数据线；该第n+l列像素单元的一第m+l个像素单元的第一开关的第二端耦合于 该第m+l条数据线；以及该第n列像素单元的第m+l个像素单元的第二开关的第二端耦合于该第 n+l列像素单元的第m+l个像素单元的第一开关的第一端。
5. 如权利要求2所述的液晶显示装置，其特征在于，另包含 一电压产生器，包含一第一输出端及一第二输出端，其中该第一输出端耦合于该些奇数共享电极线以提供该第一共享电压，该第二输出端耦合于该些偶 数共享电极线以提供该第二共享电压；一辅助栅极线，相邻于该些栅极线的一第一条栅极线，该辅助栅极线用以 接收一辅助栅极信号；一辅助共享电极线，耦合于该电压产生器的第二输出端，用以接收该第二 共享电压；以及一辅助列像素单元，该辅助列像素单元包含多个辅助像素单元，每一个辅 助像素单元包含一辅助电容，包含一第一端及一第二端，其中该第一端耦合于该辅助共享 电极线；以及一辅助开关，包含一第一端、 一第二端及一栅极端，其中该第一端耦合于 该辅助电容的第二端，该栅极端耦合于该辅助栅极线，该第二端耦合于一对应 第一开关的第一端。
6. 如权利要求5所述的液晶显示装置，其特征在于，该辅助列像素单元的一第m个辅助像素单元的辅助开关的第二端耦合于 该些列像素单元的一第一列像素单元的一第m个像素单元的第一开关的第一A山顺。
7. 如权利要求2所述的液晶显示装置，其特征在于，另包含一电压产生器，包含一第一输出端及一第二输出端，其中该第一输出端耦 合于该些奇数共享电极线以提供该第一共享电压，该第二输出端耦合于该些偶数共享电极线以提供该第二共享电压；一辅助栅极线，相邻于该些栅极线的一倒数第-一条栅极线，该辅助栅极线 用以接收一辅助栅极信号；以及一辅助列像素单元，该辅助列像素单元包含多个辅助像素单元，每一个辅 助像素单元包含一辅助开关，包含一第一端、 一第二端及一栅极端，其中该第一端耦合于 一对应第二开关的第二端，该栅极端耦合于该辅助栅极线，该第二端耦合于一 对应数据线。
8. 如权利要求7所述的液晶显示装置，其特征在于，该辅助像素单元另 包含一辅助电容，包含一第一端及一第二端，其中该第一端用以接收该第一共 享电压或该第二共享电压，该第二端耦合于该辅助开关的第一端。
9. 如权利要求8所述的液晶显示装置，其特征在于，另包含 一辅助共享电极线，耦合于该辅助电容的第一端。
10. 如权利要求9所述的液晶显示装置，其特征在于，该辅助共享电极线另耦合于该电压产生器的第一输出端或第二输出端。
11. 如权利要求7所述的液晶显示装置，其特征在于， 该辅助列像素单元的一第m个辅助像素单元的辅助开关的第一端耦合于该些列像素单元的一倒数第一列像素单元的一第m个像素单元的第二开关的第一端。
12. 如权利要求1所述的液晶显示装置，另包含一源极驱动电路，耦合于该些数据线，用以提供该些数据信号；以及 一栅极驱动电路，耦合于该些栅极线，用以提供该些栅极信号。
13. —种用以测试一液晶显示装置的测试方法，该液晶显示装置包含多条 第一栅极线、多条第二栅极线、多条数据线、多条第一共享电极线、及多条第 二共享电极线，该测试方法包含于一第一时段，供应一栅极致能信号至该些第一栅极线及该些第二栅极 线，供应一第一测试电压至该些数据线的一数据线，供应一第一共享测试电压 至该些第一共享电极线，供应一第二共享测试电压至该些第二共享电极线；于一第二时段，供应该栅极致能信号至该些第一栅极线，供应一栅极除能信号至该些第二栅极线，供应一第二测试电压至该数据线，供应该第一共享测 试电压至该些第一共享电极线，供应该第二共享测试电压至该些第二共享电极 线；以及于 -第三时段，供应该栅极除能信号至该些第一-栅极线及该些第二栅极 线，供应一第三共享测试电压至该些第二共享电极线。
14. 如权利要求13所述的测试方法，其特征在于，该些第一栅极线为多 条奇数栅极线，该些第二栅极线为多条偶数栅极线，该些第一共享电极线为多 条奇数共享电极线，该些第二共享电极线为多条偶数共享电极线。
15. 如权利要求13所述的测试方法，其特征在于，该些第一栅极线为多 条奇数栅极线，该些第二栅极线为多条偶数栅极线，该些第一共享电极线为多 条偶数共享电极线，该些第二共享电极线为多条奇数共享电极线。
16. 如权利要求13所述的测试方法，其特征在于，该些第一栅极线为多 条偶数栅极线，该些第二栅极线为多条奇数栅极线，该些第一共享电极线为多 条偶数共享电极线，该些第二共享电极线为多条奇数共享电极线。
17. 如权利要求13所述的测试方法，其特征在于，该些第一栅极线为多 条偶数栅极线，该些第二栅极线为多条奇数栅极线，该些第一共享电极线为多 条奇数共享电极线，该些第二共享电极线为多条偶数共享电极线。
18. 如权利要求13所述的测试方法，其特征在于，该第一时段、该第二 时段及该第三时段不互相重叠。
19. 如权利要求13所述的测试方法，其特征在于，该第一时段在该第二 时段之前，且该第二时段在该第三时段之前。
全文摘要
本发明公开了一种具测试架构的液晶显示装置，主要包含多条数据线、多条栅极线、多条共享电极线及多列像素单元。多条奇数共享电极线是用以馈送第一共享电压，多条偶数共享电极线是用以馈送第二共享电压。奇数列像素单元及偶数列像素单元分别耦合于对应奇数共享电极线及对应偶数共享电极线。另揭露一种检测液晶显示装置的缺陷的测试方法，包含于第一时段致能所有栅极线及馈入第一测试电压至对应数据线；于第二时段除能偶数栅极线及馈入第二测试电压至对应数据线；及于第三时段将第二共享电压从第一共享测试电压切换为第二共享测试电压。
文档编号G01R31/00GK101308306SQ200810132560
公开日2008年11月19日 申请日期2008年7月15日 优先权日2008年7月15日
发明者李斳伦, 林家强, 黄韦凯 申请人:友达光电股份有限公司