专利名称：跳线板的制作方法
技术领域：
本发明涉及电子元器件领域，特别涉及一种跳线板。
背景技术：
集成电路产品的测试通常需要使用对应的测试机台和测试板，例如用于高速加温 禾口力口湿的用力试验(highly-accelerated temperature and humidity stress test,HAST) 的HAST板以及用于测试产品生命周期的老化板(burn-in board)等。通常测试板包括测 试座、信号端孔座和接线端孔座。测试座用于放置测试芯片，信号端孔座电性连接测试信号 的接入端，接线端孔座电性连接测试芯片的引脚。跳线板通常与测试板配合使用，其作用是 按照测试要求控制测试信号加到测试芯片的测试引脚上。请同时参考图1至图4，图1至图4分别为常规的跳线板的俯视图、仰视图、前视 图以及侧视图。其中，常规的跳线板包括基底11以及形成于基底11上的信号端12和接线 端13。信号端12具有信号端针脚121，用于插置在测试板的信号端孔座中以电性连接信号 端孔座。接线端13具有接线端针脚131，用于插置在测试板的接线端孔座中以电性连接接 线端孔座。跳线板还包括有多层互连线14以电性连接信号端12和接线端13。实际测试 时，测试信号加到测试板的接入端后，通过测试板内的互连线与测试板的信号端孔座接通， 当跳线板与测试板配合使用时，测试信号便通过信号端针脚121加到信号端12上，再通过 多层互联线14接通到接线端13，而接线端13又通过接线端针脚131接通测试板的接线端 孔座，并进而通过测试板内的互连线接通到测试芯片的引脚。如此，测试信号便可以加至测 试芯片的测试引脚上。然而，常规的跳线板适用于单一集成电路产品的测试。可以看出，集成电路产品的 测试要求决定了跳线板上信号端和接线端的对应连接关系，进而决定了跳线板上多层互连 线的布局。由于不同种类的集成电路产品，例如包括静态随机存储器(SRAM)、动态随机存储 器(DRAM)以及Nand和Nor规格的闪存(flash)等，即使它们的封装类型相同，但信号和电 源引脚的分布位置也会不同，因此需要制作相应的具有不同多层互连线布局的跳线板以满 足测试要求。这导致跳线板重复利用率低，资源浪费严重，且跳线板数目的增加将使得存放 负担加剧(跳线板的针脚易变形折断，需泡沫保护)。而且，由于制作跳线板周期较长，新集 成电路产品测试的准备时间相应变长。此外，长期插拔跳线板对测试板的损伤很大，并影响 测试效果。
发明内容
本发明的目的在于提供一种跳线板，能够满足不同集成电路产品的测试要求。本发明提供一种跳线板，与测试芯片的测试板配合使用，所述测试板包括测试座、 信号端孔座和接线端孔座，所述测试座用于放置测试芯片，所述信号端孔座电性连接测试 信号的接入端，所述接线端孔座电性连接所述测试芯片的引脚；所述跳线板包括基底；形 成于所述基底上的信号端，其具有信号端针脚，用于插置在所述信号端孔座中以电性连接所述信号端孔座；以及形成于所述基底上的接线端，其具有接线端针脚，用于插置在所述接 线端孔座中以电性连接所述接线端孔座；其中，所述跳线板还包括连接到所述基底的开关芯片，所述开关芯片包括多个输 入端、多个输出端以及多路开关，所述多个输入端电性连接所述信号端，所述多个输出端电 性连接所述接线端，所述多路开关控制所述任一输入端与所述任一输出端之间的连通和关 断。进一步的，所述开关芯片为可编程逻辑器件。进一步的，所述开关芯片为可重复编程逻辑器件。进一步的，所述开关芯片的封装类型为双列直插式封装、薄型小尺寸封装或球栅 阵列封装。进一步的，所述开关芯片以焊接、插装或贴装的方式连接到所述基底。进一步的，所述基底的材料为硅、树脂或聚酰亚胺。进一步的，所述信号端针脚的材料为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种。进一步的，所述接线端针脚的材料为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种。与现有技术相比，本发明提供的跳线板，通过使用开关芯片内的多路开关来控制 跳线板上信号端与接线端间的连通和关断，对不同种类的集成电路产品只需编程控制该多 路开关的状态以实现信号端与接线端间的连接关系，满足测试要求。根据本发明的跳线板 具有如下优点1、由于可以通过对开关芯片编程实现跳线板的不同连线状态，进而满足不同集成 电路产品的测试要求，因此根据本发明的跳线板可以满足现有存储器系列产品的可靠性测 试，同类产品的测试利用率高；2、由于即使在断电的情况下开关芯片内部的逻辑关系不会改变，也不会受到测试 机台的噪声信号影响，因此根据本发明的跳线板具有很好的可靠性；3、由于利用控制芯片可以在几十分钟内完成新集成电路产品测试的准备工作，而 常规的跳线板从设计到加工需要10天时间，因此根据本发明的跳线板很大程度上缩短了 测试的准备时间；4、由于开关芯片价格便宜，且使用寿命长，因此根据本发明的跳线板从长期效益 来看节约了大量的成本；5、由于根据本发明的跳线板插置于测试板上后，在做不同集成电路产品的测试时 无需插拔该跳线板，因此不会对测试板造成损坏，大大提高昂贵的测试板的使用寿命。
图1至图4分别为常规的跳线板的俯视图、仰视图、前视图以及侧视图；图5至图8分别为根据本发明的跳线板的实施例的俯视图、仰视图、前视图以及侧 视图；图9为根据本发明的跳线板的实施例所用的芯片MT8816的管脚分配图；图10为根据本发明的跳线板的实施例所用的芯片MT8816的内部功能框图。具体实施例方式为使本发明的目的、特征更明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式
作 进一步的说明。在背景技术中已经提及，常规的跳线板适用于单一集成电路产品的测试，对不同 种类的集成电路产品需要制作相应的跳线板以满足测试要求。本发明的核心思想在于，通过使用开关芯片内的多路开关来控制跳线板上信号端 与接线端间的连通和关断，对不同种类的集成电路产品只需编程控制该多路开关的状态以 实现信号端与接线端间的连接关系，满足测试要求。图5至图8分别为根据本发明的跳线板的实施例的俯视图、仰视图、前视图以及侧 视图。该跳线板与测试芯片的测试板配合使用，所述测试板包括测试座、信号端孔座和接线 端孔座。所述测试座用于放置测试芯片，所述信号端孔座电性连接测试信号的接入端，所述 接线端孔座电性连接所述测试芯片的引脚。从图5和图8可以看出，所述跳线板包括基底 21 ；形成于所述基底21上的信号端22，其具有信号端针脚221，用于插置在所述信号端孔座 中以电性连接所述信号端孔座；以及形成于所述基底21上的接线端23，其具有接线端针脚 231，用于插置在所述接线端孔座中以电性连接所述接线端孔座。优选的，所述基底21的材 料为硅、树脂或聚酰亚胺，所述信号端针脚221和所述接线端针脚231的材料为金、铜、锡、 铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种。其中，所述跳线板还包括连接到所述基底21的开关芯片M， 所述开关芯片M包括多个输入端、多个输出端以及多路开关，所述多个输入端电性连接所 述信号端22，所述多个输出端电性连接所述接线端23，所述多路开关控制所述任一输入端 与所述任一输出端之间的连通和关断。优选的，所述开关芯片M为可编程逻辑器件，特别是可重复可编程逻辑器件。其 封装类型可以为双列直插式封装(Dual In-line lockage，DIP)、薄型小尺寸封装(Thin Small Outline Package, TSOP)或球栅阵列封装(Ball Grid Array Package, BGA)，并以 焊接、插装或贴装的方式连接到所述基底21。经过比较，本实施例中所述开关芯片M选用 MITEL公司的芯片MT8816。芯片MT8816具有以下优点它基于CMOS工艺，具有低能耗和高 灵敏度等优点；它可提供8X16路模拟开关，通过相应信号的设置可以对每路开关单独控 制；在擦写完成后，即使断电时它也能保持所有开关的连接状态，不会受到其它噪音信号的 影响；它的工作环境的范围为-40°C 130°C，正常使用寿命可以达到10年以上，完全满足 机台测试的要求。图9显示了芯片MT8816的管脚分配图，各管脚功能如下:X0 X15为开关阵列的16 个行输入/输出齓YO Y7为开关阵列的8个列输出/输入齓AXO AX3为行地址输入端， AYO AY2为列地址输入端；DATA代表控制数据；VDD、VEE以及VSS分别代表正电源、负电源以 及数字地；RESET、STROBE以及CS分别代表复位信号、选通脉冲以及片选信号；NC代表空脚。芯片MT8816的内部功能框图如图10所示。它由7 1 线地址译码器 (7toU8Decoder)、U8位控制数据锁存器(Latches)和8X16模拟开关阵列(8X16Switch Array)组成。8X 16模拟开关阵列受1 位锁存器所控制，至于哪个锁存器输入控制数据 DATA,则由行地址AXO AX3和列地址AYO AY2所决定。其工作过程是置CS为高电平， 设置好行地址和列地址以选择其中一路开关，例如Yl作为该路开关的输入端，X3作为该路 开关的输出端。置STROBE为高电平，将地址输入。再将STROBE置为低电平，利用STROBE5的下降沿将控制数据DATA写入锁存器，控制所选的该路开关的连通与关断。若DATA为高 电平，则该路开关连通；若DATA为低电平，则该路开关关断。当数据DATA写入锁存器时，仅 与所选的该路开关有关，而与其它开关无关，这可实现输入端到输出端的任意连接。复位信 号输入RESET若为高电平，不管片选CS处于何种电平，则均将全部开关置于关断状态。在本实施例中，将芯片MT8816的YO Y7作为输入端，XO X15作为输出端。从 图6中可以看出，所述输入端YO Y7全部电性连接所述信号端22，所述输出端XO X15 全部电性连接所述接线端23。芯片MT8816中的8X 16路开关控制所述任一输入端与所述 任一输出端之间的连通和关断，进而控制所述信号端22与所述接线端23之间的连通和关 断。在实际工作过程中，首先根据待测试的集成电路产品的引脚定义，编写相应的测试程 序并烧录到芯片MT8816中，使得其内部的8X 16路开关达到满足测试要求的连接状态；测 试跳线板的功能，验证是否将测试程序成功烧录到芯片MT8816中，烧录成功则进行下个步 骤，否则继续烧录；将内部连线已满足测试要求的跳线板与测试板配合使用以进行测试。综上所述，本发明提供的跳线板，通过使用开关芯片内的多路开关来控制跳线板 上信号端与接线端间的连通和关断，对不同种类的集成电路产品只需编程控制该多路开关 的状态以实现信号端与接线端间的连接关系，满足测试要求。根据本发明的跳线板具有如 下优点1、由于可以通过对开关芯片编程实现跳线板的不同连线状态，进而满足不同集成 电路产品的测试要求，因此根据本发明的跳线板可以满足现有存储器系列产品的可靠性测 试，同类产品的测试利用率高；2、由于即使在断电的情况下开关芯片内部的逻辑关系不会改变，也不会受到测试 机台的噪声信号影响，因此根据本发明的跳线板具有很好的可靠性；3、由于利用控制芯片可以在几十分钟内完成新集成电路产品测试的准备工作，而 常规的跳线板从设计到加工需要10天时间，因此根据本发明的跳线板很大程度上缩短了 测试的准备时间；4、由于开关芯片价格便宜，且使用寿命长(MT8816正常使用可靠性在10年以上)， 因此根据本发明的跳线板从长期效益来看节约了大量的成本；5、由于根据本发明的跳线板插置于测试板上后，在做不同集成电路产品的测试时 无需插拔该跳线板，因此不会对测试板造成损坏，大大提高昂贵的测试板的使用寿命。显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精 神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围 之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求
1.一种跳线板，与测试芯片的测试板配合使用，所述测试板包括测试座、信号端孔座和 接线端孔座，所述测试座用于放置测试芯片，所述信号端孔座电性连接测试信号的接入端， 所述接线端孔座电性连接所述测试芯片的引脚；所述跳线板包括基底；形成于所述基底上的信号端，其具有信号端针脚，用于插置在所述信号端孔座中以电 性连接所述信号端孔座；以及形成于所述基底上的接线端，其具有接线端针脚，用于插置在所述接线端孔座中以电 性连接所述接线端孔座；其特征在于，所述跳线板还包括连接到所述基底的开关芯片，所述开关芯片包括多个 输入端、多个输出端以及多路开关，所述多个输入端电性连接所述信号端，所述多个输出端 电性连接所述接线端，所述多路开关控制所述任一输入端与所述任一输出端之间的连通和 关断。
2.如权利要求1所述的跳线板，其特征在于，所述开关芯片为可编程逻辑器件。
3.如权利要求2所述的跳线板，其特征在于，所述开关芯片为可重复编程逻辑器件。
4.如权利要求1所述的跳线板，其特征在于，所述开关芯片的封装类型为双列直插式 封装、薄型小尺寸封装或球栅阵列封装。
5.如权利要求4所述的跳线板，其特征在于，所述开关芯片以焊接、插装或贴装的方式 连接到所述基底。
6.如权利要求1所述的跳线板，其特征在于，所述基底的材料为硅、树脂或聚酰亚胺。
7.如权利要求1所述的跳线板，其特征在于，所述信号端针脚的材料为金、铜、锡、铅、 银、钨、镍、钽、铬中的一种。
8.如权利要求1所述的跳线板，其特征在于，所述接线端针脚的材料为金、铜、锡、铅、 银、钨、镍、钽、铬中的一种。
全文摘要
本发明公开了一种跳线板，包括基底以及形成于所述基底上的信号端和接线端，其中，所述跳线板还包括连接到所述基底的开关芯片，所述开关芯片包括多个输入端、多个输出端以及多路开关，所述多个输入端电性连接所述信号端，所述多个输出端电性连接所述接线端，所述多路开关控制所述任一输入端与所述任一输出端之间的连通和关断。由此，本发明提供的跳线板对不同种类的集成电路产品只需编程控制该多路开关的状态以实现信号端与接线端间的连接关系，满足测试要求。
文档编号G01R1/04GK102053174SQ20091019856
公开日2011年5月11日 申请日期2009年11月10日 优先权日2009年11月10日
发明者丁育林, 孙阳阳, 张启华, 谢君强 申请人:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司