专利名称：用于元素分析仪的落样装置的制作方法
技术领域：
本实用新型主要涉及到煤样的测量设备领域，特指一种元素分析仪。
背景技术：
现有的元素分析仪，均通过在机箱外表面上的样盘进行人工放样操作，而样盘上却没有任何遮挡装置。在实验过程中，空气中的灰尘、细微煤粉一起其他杂质，将会直接落 到样盘上，污染试样，影响到测试结果。同时，由于对样盘没有任何保护措施，人工放样时， 经常会由于误操作碰撞到样盘，打乱样盘上的摆放次序，直接导致实验中断，或者对样盘及 样盘的旋转机构造成损坏。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题就在于针对现有技术存在的技术问题，本实用新 型提供一种结构简单紧凑、成本低廉、装配简单、能达到防尘、防误操作的效果、提高整机测 试精度的用于元素分析仪的落样装置。为解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案。一种用于元素分析仪的落样装置，包括样盘、样盘旋转轴、落样底盘以及用来驱动 样盘转动的样盘旋转驱动机构，所述样盘固定于样盘旋转轴上，所述落样底盘位于样盘的 底部，所述落样底盘上开设有底盘落样口，其特征在于所述样盘的顶部设有遮挡装置。作为本实用新型的进一步改进所述遮挡装置为可转动并偏离样盘正上方的旋盖，所述旋盖的一端固定于旋盖旋 转轴上所述旋盖的直径大于样盘的直径。所述旋盖为透明盖。所述样盘旋转驱动机构直接与样盘旋转轴相连，或者样盘旋转驱动机构直接与样 盘相连所述样盘上设有与盛样槽位置对应的样盘刻度盘。与现有技术相比，本实用新型的优点就在于1、本实用新型用于元素分析仪的落样装置，结构简单紧凑、成本低廉、装配简单， 通过在样盘顶部设置一个可转到的遮挡装置，起到防尘、防误操作的效果，最终提高整机的 测试精度；2、本实用新型用于元素分析仪的落样装置，采用旋盖的结构，结构非常简单，操作 十分方便，只需旋转就可以使其偏离样盘正上方，让操作人员完成放样。本实用新型中，旋 盖进一步采用透明结构，方便操作人员实时观察试样情况，保证测试精度。
图1是本实用新型在应用实例中的结构示意图；[0016]图2是本实用新型在应用实例中的俯视结构示意图；图3是本实用新型在应用实例中去掉箱体后样盘和旋盖的结构示意图。图例说明1、样盘；101、盛样槽；102、样盘刻度盘；2、样盘旋转轴；3、落样底盘；301、底盘落 样口 ；4、样盘旋转驱动机构；5、旋盖；6、旋盖旋转轴；7、试样；8、样盘固定支架；9、箱体； 10、机箱盖；11、转轴固定座；12、螺母；13、阻尼垫；14、导样管；15、坩埚；16、燃烧炉；17、燃烧菅。
具体实施方式
以下将结合具体实施例和说明书附图对本实用新型做进一步详细说明。 如图1、图2和图3所示，本实用新型用于元素分析仪的落样装置，装设于元素分析 仪箱体9的机箱盖10上，该落样装置包括样盘1、样盘旋转轴2、落样底盘3以及用来驱动 样盘1转动的样盘旋转驱动机构4，样盘旋转驱动机构4直接与样盘旋转轴2相连，或者样 盘旋转驱动机构4直接与样盘1相连。本实施例中样盘旋转驱动机构4直接与样盘1相连 并驱动样盘1转动。样盘1上开设有用来放置试样7的盛样槽101，并在样盘1上设有与盛 样槽101位置对应的样盘刻度盘102，方便进行放样操作。样盘1固定于样盘旋转轴2上， 样盘1底部设有样盘固定支架8，落样底盘3位于样盘1的底部，落样底盘3在元素分析仪 导样管14的正上方处设有底盘落样口 301，导样管14的底部设有坩埚15，坩埚15放置于 燃烧炉16的燃烧管17内。样盘1在样盘旋转驱动机构4的带动下转动，当转动到底盘落 样口 301处时，试样7会从底盘落样口 301掉下，经导样管14落入到坩埚15内。本实用新 型在样盘1的顶部设有遮挡装置。该遮挡装置可以为固定式的，在操作时人工取出后打开 或盖上，也可以采用活动式的，直接在箱体9上操作。本实施例中，遮挡装置为一个可转动 并偏离样盘1正上方的旋盖5，旋盖5的一端固定于旋盖旋转轴6上，旋盖旋转轴6固定于 转轴固定座11上，转轴固定座11通过螺母12和阻尼垫13固定于机箱盖10上。旋盖5的 直径大于样盘1的直径，可以防止实验过程中不小心碰撞到样盘1，扰乱试样7的次序，导致 实验中断或损坏样盘1的样盘旋转轴2。旋盖5可以为采用透明材质制作的透明盖，能方便 操作人员观察样盘1上盛样槽101内试样7的摆放和使用情况。使用时，操作人员可以转动旋盖5，转动一定角度，使其偏离样盘1的正上方，方便 用户往样盘1的盛样槽101内放试样7。试样7放置完毕后，又转动旋盖5，旋转到样盘1 的正上方后，可以防止空气中的灰尘、细微煤粉等杂质污染试样7，影响到测试结果。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，本实用新型的保护范围并不仅局限于 上述实施例，凡属于本实用新型思路下的技术方案均属于本实用新型的保护范围。应当指 出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理前提下的若干改进和 润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求一种用于元素分析仪的落样装置，包括样盘(1)、样盘旋转轴(2)、落样底盘(3)以及用来驱动样盘(1)转动的样盘旋转驱动机构(4)，所述样盘(1)固定于样盘旋转轴(2)上，所述落样底盘(3)位于样盘(1)的底部，所述落样底盘(3)上开设有底盘落样口(301)，其特征在于所述样盘(1)的顶部设有遮挡装置。
2.根据权利要求1所述的用于元素分析仪的落样装置，其特征在于所述遮挡装置为 可转动并偏离样盘(1)正上方的旋盖(5)，所述旋盖(5)的一端固定于旋盖旋转轴(6)上。
3.根据权利要求2所述的用于元素分析仪的落样装置，其特征在于所述旋盖(5)的 直径大于样盘(1)的直径。
4.根据权利要求2所述的用于元素分析仪的落样装置，其特征在于所述旋盖(5)为 透明盖。
5.根据权利要求1或2或3或4所述的用于元素分析仪的落样装置，其特征在于所 述样盘旋转驱动机构(4)直接与样盘旋转轴(2)相连，或者样盘旋转驱动机构(4)直接与 样盘(1)相连。
6.根据权利要求1或2或3或4所述的用于元素分析仪的落样装置，其特征在于所 述样盘(1)上设有与盛样槽(101)位置对应的样盘刻度盘(102)。
7.根据权利要求5所述的用于元素分析仪的落样装置，其特征在于所述样盘(1)上 设有与盛样槽(101)位置对应的样盘刻度盘(102)。
专利摘要本实用新型公开了一种用于元素分析仪的落样装置，包括样盘、样盘旋转轴、落样底盘以及用来驱动样盘转动的样盘旋转驱动机构，所述样盘固定于样盘旋转轴上，所述落样底盘位于样盘的底部，所述落样底盘上开设有底盘落样口，所述样盘的顶部设有遮挡装置。本实用新型是一种结构简单紧凑、成本低廉、装配简单、能达到防尘、防误操作的效果、提高整机测试精度的用于元素分析仪的落样装置。
文档编号G01N1/02GK201575935SQ20092031854
公开日2010年9月8日 申请日期2009年12月25日 优先权日2009年12月25日
发明者任率 申请人:湖南三德科技发展有限公司