专利名称：显示装置及显示装置的控制方法
技术领域：
本发明涉及显示装置和显示装置的控制方法。
背景技术：
最近，确保显示装置中显示元件的可靠性已变得重要。特别是，如同过去一样，确 保与显示性能有关的结构和机械可靠性仍是必要的。例如，在日本未审查专利申请公布公告No. 2005-173193中，提出了如下技术为 抑制由电流量所引起的温度上升而导致的元件寿命的降低，通过使用诸如可用来确定装置 的显示状态的图像数据之类的数据以确定图像的状态，来控制水平扫描线点亮或不点亮以 便抑制过电流。然而，在日本未审查专利申请公布公告No. 2005-173193中所披露的技术中，执行 十分复杂的控制以组合栅极信号和源极信号，以及执行诸如控制发光周期之类的多种反馈 控制操作，因而使用了多种算法。因此，存在为确保可靠性而制造成本上升的问题。另外， 使用复杂算法进行控制引起驱动IC的功耗上升，进而导致功率性能降低。在日本未审查专利申请公布公告No. 2007-240617中，披露了如下技术使用极化 探测装置的光学检测单元，通过定量地检测由显示装置上的小压力所导致的变形的变化量 作为入射光的极化状态的变化，对诸如折射率之类的光学特性进行控制。在日本未审查专利申请公布公告No. 2007-240617所披露的技术中，当存在来自 其他光源(例如太阳光或室内荧光灯)的相对强的外部光的光散射或由外部光的反射所引 起的噪声时，难以检测由变形引起的折射率的较小变化。
发明内容
在这里公开了多个发明，当具有柔性的显示装置中存在弯曲时，所述多个发明能 够通过响应于弯曲量执行显示控制来确保在弯曲期间的显示可靠性。在一个实施例中，一种装置包括可弯曲的基板、发光元件、传感器和显示控制器。 所述发光元件安装在所述基板上。所述传感器用于检测所述基板的弯曲。所述显示控制器 用于基于由所述传感器检测的所述基板的所述弯曲至少部分地控制所述发光元件。在一个实施例中，一种显示装置包括显示单元和显示控制器。所述显示单元具有 显示至少一幅图像的显示区域。所述显示单元包括可弯曲的基板、安装在所述基板上的发 光元件和用于检测所述基板的弯曲的传感器。所述显示控制器基于由所述传感器检测的所 述基板的所述弯曲至少部分地控制所述发光元件。在一个实施例中，一种显示装置包括显示单元。所述显示单元具有显示至少一幅图像的显示区域。所述显示单元包括可弯曲的基板、显示元件和传感器。所述基板能够在多 个不同位置弯曲或曲折。所述显示元件安装在所述基板上。所述传感器用于在所述基板弯 曲时检测所述基板的弯曲的量。基于所述基板的所述弯曲的量控制所述显示区域的尺寸。 所述显示区域包括有源显示元件。在一个实施例中，一种方法包括检测显示单元的可弯曲基板的弯曲的量，及基于 所述基板的所述弯曲至少部分地控制有源发光元件的显示区域的尺寸。如上所述，本发明的实施例能够提供显示装置及显示装置的控制方法，该显示装 置能够在使显示装置弯曲和/或未弯曲时通过响应于柔性显示装置的弯曲的量执行显示 控制来确保显示可靠性。
图1是表示根据本发明实施例的显示装置的前表面的平面图。图2是示意性表示显示装置的横剖面的图。图3是表示偏移传感器设于显示单元的后表面的示例的图，以平面图的形式示出 了显示装置的后表面。图4是表示偏移传感器设于显示单元的后表面的示例的图，示意性示出了显示装 置的横剖面。图5是表示显示装置的弯曲状态的图，示意性示出了设有显示单元的前表面弯曲 成凹面时的状况。图6是示意性表示设有显示单元的表面弯曲成凸面时的状况的图。图7是示出根据实施例的显示装置的功能性结构的框图。图8是示出根据实施例的控制单元的功能性结构的框图。图9是表示对应于LUT的示例的信息的图，LUT规定了响应于电阻变化量的图像 显示区域。图10是图示用于界定显示区域控制量的LUT的另一示例的图。图11是图示响应于显示装置的弯曲的量来控制显示单元的图像显示区域的尺寸 的示例的图。图12是图示响应于显示装置的弯曲的量来控制显示单元的图像显示区域的尺寸 的示例的图。图13是图示响应于显示装置的弯曲的量来控制显示单元的图像显示区域的尺寸 的示例的图。图14是图示响应于显示装置的弯曲的量来控制显示单元的图像显示区域的尺寸 的示例的图。图15是表示显示装置的横剖面的图，示意性示出了偏移传感器设于显示装置的 前表面和后表面的结构的示例的图。图16是图示图15中所示的显示装置的弯曲状态的图。图17是与查找表的另一示例提供的信息相对应的图。
具体实施例方式下文参照附图详细说明本发明的实施例。另外，在整个说明书和附图中，实际上具 有相同功能性结构的相同结构元件使用相同附图标记来标记，进而省略了对其详细说明。另外，按照下面的顺序给出说明1.显示装置的结构示例2.显示装置的功能块结构3.控制单元的功能块结构4.偏移传感器设于前表面和后表面的结构示例5.查找表的另一示例1.显示装置的结构示例首先，参照图1和图2说明根据本发明实施例的显示装置100的示意结构。图1 是示出显示装置100的前表面的平面图。显示装置100包括显示单元110，显示单元110是 由下面描述的半导体层构成，显示单元110中的多个像素以矩阵形式布置。通过响应于视 频信号而使每个像素发光，显示单元110显示诸如静止图像或动态图像之类的图像。 在这个实施例中，由于柔性特性能够由显示单元110展现，显示单元110响应于与折 曲时或导致弯曲发生时的弯曲的量相关的偏移检测量在显示装置100上显示图像，所以对显 示单元110进行控制以改变用于显示图像的图像显示区域的尺寸，由此确保显示可靠性。图2是图示显示装置100的横剖面的图。如图2所示，在这个实施例中，层叠第一 基板102、第二基板104和偏移传感器106以构成厚度为数十微米的极薄的显示装置100。 通过形成显示元件(发光元件)配置第一基板102，显示元件用于在例如由树脂制成的塑料 基板等柔性基板(如，可折曲基板)上构成每个像素，可使用通过低温处理形成的有机半导 体或无机半导体元件作为显示元件。在这个实施例中，有机EL(电致发光)元件形成在第 一基板102上作为显示元件。第二基板104是由树脂制成的塑料基板，将第二基板104布置成与具有由有机半 导体或无机半导体制成的显示元件的第一基板102相对以用作密封显示元件的密封基板。 第二基板104可以是柔性基板(如可折曲基板)。如上所述，在这个实施例中，通过使用包 括第一基板102和第二基板104的两类基板夹持半导体层来构成显示装置100。其上显示 图像的显示单元110为第二基板104侧的表面。另外，使用这种结构，显示装置100具有数 十微米的厚度，因而具有柔性且可在多个不同位置弯曲，因此，显示装置100能够在显示图 像时自由弯曲或折曲。如图1和图2所示，由例如ITO(铟锡氧化物)膜或IZO(铟锌氧化物)膜等透明 电极体制成的偏移传感器106布置在第二基板104的表面上。偏移传感器106与例如显示 单元110形成在相同区域。偏移传感器106是由透明电极体制成且布置成与第一基板102 的显示元件中的每个显示元件相对。偏移传感器106构成为例如现有触摸面板的电极，由诸如ITO或IZO之类的透明 电极体制成的两层金属薄膜(电阻膜)布置成彼此相对，多对金属薄膜例如以矩阵形式布 置在平坦区域中。偏移传感器106的相对的透明电极具有电阻，将预定电压施加到透明电 极中的一个电极，以便监视电极之间的电阻值。在这种结构中，当显示装置100弯曲时，两 层金属薄膜之间的电阻值在弯曲的位置处发生变化且在另一电极处产生依据弯曲的电压，由此检测电阻值的变化。因此，通过检测以矩阵形式布置的多对金属薄膜中电阻值已经变 化的金属薄膜，能够检测到偏移传感器106中的偏移位置，由此检测显示单元110弯曲的位 置。偏移传感器可用于检测与检测的弯曲相关的位置和/或折曲方位。另外，电阻值的变 化随着显示装置100的弯曲量增加而增加。以这种方式，显示装置100能够检测到由偏移 传感器106所检测的电阻的变化量，且能够检测到显示装置100的弯曲位置(即折曲方位) 和弯曲量。图3和图4是图示偏移传感器106设于显示单元110的后表面的示例的图。在这 里，图3是示出显示装置100的后表面的平面图，图4是示出显示装置100的横剖面图。在 图3和图4所示的结构中，第一基板102和第二基板104的结构与图1和图2中所示的显示 装置100的结构相同。在这个结构示例中，如图4所示，偏移传感器106设于第一基板102 的后表面上。在偏移传感器106设于显示单元110的后表面的情况下，如同偏移传感器106 设于显示单元110的前表面的情况，也能够响应于电阻值的变化检测显示装置100的弯曲 量和弯曲位置(即折曲方位)。上面已描述了根据本发明实施例的显示装置100的示意结构。如上所述，图1至 图4中所示的显示装置100具有数十微米的厚度且具有柔性。换句话说，按照需要，显示装 置100能够在多个不同位置弯曲或曲折。因此，用户可以使显示装置100弯曲。然而，当显 示装置100弯曲时，不易保持与未弯曲时相同的显示状态。这是因为，由于显示装置100的 弯曲，所以在显示状态没有改变时通常降低了显示单元110的可见性。图5是图示显示装置100的弯曲状态的图，示出了将设有显示单元110的前表面 弯曲成凹面时的情况。另外，图6示出了将设有显示单元110的表面弯曲成凸面时的情况。如图5和图6所示，当显示装置100弯曲时，由于弯曲，在显示状态没有改变时会 降低显示单元110的可见性。另外，不必保持与普通状态相同的图像显示状态。例如，如图 5所示，当将显示屏幕弯曲成凹面时，显示屏幕上的图像同样弯曲。另外，由于来自前表面的 漫反射的影响，相对平坦表面的情况，降低了图像质量。由于这个原因，为了提高对用户的 可见性，显示装置100减小用于在显示单元110上显示图像的图像显示区域，控制图像在未 弯曲的部分上显示。例如，如图5所示，当以约180°弯曲显示单元110的显示屏幕时，存在如下区域， 即在显示区域处于其正常状态时，显示单元110在该区域中的图像从外部不可见。然而，对 于图5所示的弯曲状态，本发明的实施例控制和/或减小(如果需要)图像显示区域以确 保整个显示区域对用户可见。以相同的方式，如图6所示，当将显示单元110的显示屏幕弯 曲成凸面时，显示屏幕上的图像同样弯曲，因而降低了图像质量。因此，如同这里的实施例 中所揭示，通过根据基板的折曲和/或未折曲控制图像显示区域的尺寸，能够确保对用户 的可见性。如上所述，在这个实施例中，由于在显示单元110弯曲时没有必要保持弯曲之前 的图像显示状态，所以对显示单元110上所显示的图像进行控制。具体地，如上所述，为了 提高对用户的可见性，对用于在显示单元110上显示图像的图像显示区域进行控制(如，降 低预定的最大尺寸)，使得在未弯曲的部分上显示图像。因此，在用户感觉不到任何不舒服 的情况下，能够在弯曲期间确保具有柔性的显示装置100的显示可靠性。2.显示装置的功能块结构下面详细说明控制技术。图7是示出根据实施例的显示装置100的功能性结构的框图。在下文中，参照图7说明显示装置100的功能块结构。如图7所示，根据实施例的显示装置100包括显示单元110、A/D转换器122、存储 器IM和控制单元130。如图1至图4所示，显示单元110具有第一基板102、第二基板104 和偏移传感器106的层叠结构。A/D转换器122将显示单元110的由偏移传感器106检测 的作为模拟量的弯曲量转换成数字量。存储器1 临时存储显示单元110的由A/D转换器 122转换成数字量的弯曲量。控制单元130使用存储在存储器124中的显示单元110的弯 曲量以各种方式控制显示单元110中的图像显示区域。偏移传感器106是由如上所述的透明ITO膜、IZO膜等制成，ITO膜或IZO膜具有 电阻。当在两个相对的电阻膜中的一个电阻膜上施加电压时，相对的电阻膜中出现与用户 操作显示单元Iio的位置相对应的电压。通过检测这个电压，偏移传感器106能够检测出 弯曲的位置作为模拟量。因此，当通过偏移传感器106检测出显示单元110的弯曲量作为 模拟量时，控制单元130能够使用该检测结果来确定显示单元110是否弯曲。而且，在图7所示的结构中，显示单元110的由A/D转换器122转换成数字量的弯 曲量临时存储在存储器1 中；然而，并未将根据本发明实施例的示例限制为这种结构。例 如，可实施如下结构，即直接将显示单元110的由A/D转换器122转换成数字量的弯曲量提 供到控制单元130。3.控制单元的功能块结构已参照图7说明了显示装置100的功能块结构。接下来，说明图7所示的控制单 元130的功能块结构。图8是示出控制单元130的功能块结构的图。通过诸如传感器和电路之类的硬件、中央处理单元(CPU)和用于操作CPU的软件 (如，程序和/或其上具有指令的计算机可读媒介)构成图8所示的控制单元130的功能 块。如图8所示，控制单元130包括电阻检测单元132、电阻比较单元134、图像区域计算单 元136和图像区域控制单元138。电阻检测单元132检测由偏移传感器106输出的电阻值。将电阻检测单元132检 测到的电阻值传送到电阻比较单元134。电阻比较单元134对显示装置100未弯曲(即未弯曲状态)时的平坦表面状态下 的参考电阻值与由电阻检测单元132所检测的电阻值进行比较。由于电阻比较单元134通 过相互比较电阻值计算电阻值的变化量，因此能够检测显示装置100的弯曲的度。将由电 阻比较单元134计算出的电阻值的变化量(这里也称为“电阻变化量”)的信息发送到图像 区域计算单元136。使用由电阻比较单元134计算出的电阻值的变化量，图像区域计算单元136确定 和输出图像区域控制量，图像区域控制单元138使用图像区域控制量对图像显示区域执行 控制处理。当电阻比较单元134检测出预定检测电压时，图像区域计算单元136确定出显示 单元110难以以正常状态(显示区域为其最大尺寸时的未弯曲状态)显示图像，且计算和 确定将图像显示区域从其最大尺寸所减小的程度。图像区域控制单元138使用由图像区域 计算单元136所确定的图像区域控制量对图像区域执行控制处理，以控制在显示单元110 上显示图像的图像显示区域的尺寸。图像区域计算单元136可以确定与如下弯曲部分相对 应的区域的图像区域控制量，即在该弯曲部分中，在以矩阵形式布置的多个偏移传感器106 之间检测到电阻变化。另外，图像区域控制单元138可基于(从电阻比较单元134输出的)发生电阻变化的偏移传感器106的位置信息对与弯曲部分相对应的区域执行图像区域控 制处理。在图像区域计算单元136中，可预先将响应于电阻的变化量而进行控制的图像区 域控制量存储成查找表(LUT)。图9是示出存储在查找表中的电阻的变化量(“电阻变化 量”)与图像区域控制量之间关系的示例的图。如图9所示，在这个实施例中，使用预先存 储的数据来执行图像区域控制处理。如图9所示，图像区域控制量可以是指经选择的显示区域的尺寸相对显示单元 110的显示区域的最大尺寸的变化量。如图9所示，当电阻变化量小时，图像区域控制量也 小，也就是说，将显示单元110的图像显示区域设定成宽。另外，图像区域控制量随着电阻 的变化量的增加而增加，也就是说，将显示单元110的显示区域设定成窄。换句话说，当电阻值的变化(经检测的电阻值与参考电阻值之间的差)小时，显示 区域的尺寸的变化量也小。当电阻值的变化大时，显示区域的尺寸的变化量比电阻值的变 化小时大。因此，当显示单元110的弯曲量大时，增加图像区域控制量，使得显示单元110的 图像显示区域变窄，由此确保显示单元110的可见性及保持高的显示性能。另一方面，当显 示单元110的弯曲量小时，减小图像区域控制量，使得显示单元110的图像显示区域变宽， 由此防止用户察觉到图像区域控制。图10是图示用于规定图像区域控制量的LUT的另一示例的示图。在图10所示的 示例中，规定了由偏移传感器106所检测的电压值(与电阻值对应的值)与图像区域控制 量之间的关系。在向偏移传感器106的一个透明电极施加预定电压时的情况下，在显示装置100 未弯曲的状态下的另一个电极的电压值被称为参考电压时，偏移传感器106的另一个电极 的电压值相对参考电压随着弯曲量的增加而增加。因此，通过将偏移传感器106的另一个 电极相对参考电压的电压值应用到图10的LUT，能够获得图像区域控制量。在图10中，图像区域控制量可以是指显示单元110的显示区域的最大尺寸所减小 的量。例如，当检测量为OV时，不减小图像区域控制量(图像区域控制量等于0)。作为 另一示例，在偏移传感器106中的任意点(位置)处，电阻比较单元134检测出在偏移传感 器106的透明电极的电压检测值与不存在弯曲时所施加的参考电压之间的差为0. 2V。在这 种情况下，图像区域计算单元136响应于检测到的差计算图像区域控制量，以允许图10所 示的示例中的图像区域控制量“减小10%”。另外，图像区域控制单元138执行图像区域控 制以将显示单元110的显示区域的最大尺寸减小10%。并且，作为另一示例，当检测量为 0. 3V时，将显示区域的最大尺寸减小18% (图像区域控制量等于“减小18%”)。在图像区域控制单元138执行图像区域控制时，能够抑制由于显示单元110的弯 曲所致的机械压力而出现的缺陷随着施加压力时预定输出加载局部电流密度而增加。另 外，通过减小图像显示区域以在显示单元110的未弯曲的部分中显示图像，能够保证稳定 的显示性能质量及在弯曲期间确保可见性。而且，在电阻的变化量小的预定范围内可不执行图像区域控制。例如，如图9所 示，在电阻的变化量小的预定范围内，将图像区域控制量看作为零，并可将查找表定义成当 电阻的变化量超过预定阈值Th时才启动图像区域控制。如上所述，设置死区直到实际启动图像区域控制，以便当显示装置100稍微弯曲时不执行图像区域控制。因此，显示装置100 在十分小的变形期间不执行图像区域控制，使得能够抑制用户的不舒服感。另外，规定在电阻比较单元134中经检测作为比较结果的电压和图像区域控制量 之间关系的LUT中的每个参数可以变成任意值。图11和图12是示意性表示图像区域控制单元138响应于显示装置100的弯曲量 控制显示单元110的图像显示区域111的尺寸的情况的图。图11图示了当显示装置100稍 微弯曲时改变显示单元110的图像显示区域111的情况。图12图示了当显示装置100显 著弯曲时改变显示单元110的图像显示区域111的情况。当如图11所示显示装置100稍微弯曲时，显示装置100的未弯曲部分大，使得控 制单元130响应于显示装置100的弯曲量控制显示单元110的图像显示区域111的尺寸， 以在显示装置100的未弯曲部分中显示图像，于是将在显示单元110上显示的整个图像减 小为在图像显示区域111的内部显示。另一方面，当如图12所示显示装置100极大弯曲时，显示装置100的未弯曲部分 小，使得控制单元130响应于显示装置100的弯曲量控制显示单元110的图像显示区域111 的尺寸，以在显示装置100的未弯曲部分中显示图像，于是要在显示单元110上显示的整个 图像减小为在图像显示区域111的内部显示。如上所述，在控制单元130响应于显示装置100的弯曲量执行图像区域控制时，即 使当显示装置100弯曲时也使用显示装置100的未弯曲部分，使得要在显示单元110上显 示的整个图像减小且在图像显示区域111的内部显示。而且，在本发明的这个实施例中，控制单元130可响应于显示装置100的弯曲位置 执行图像区域控制。图13和图14是图示图像区域控制单元138响应于显示装置100的弯 曲量控制显示单元110的图像显示区域111的尺寸的状态的图。不同于图11，图13示意性 示出当显示装置100沿其纵向侧弯曲时改变显示单元110的图像显示区域111的情况，图 14示意性示出当弯曲显示装置100的一角时改变显示单元110的图像显示区域的情况。由此，即使在相同的弯曲量的情况下，控制单元130可根据弯曲点(如折曲的位置 和/或方位)有区别地执行图像区域控制。由于根据不同的弯曲点执行图像区域控制，可 减小在显示单元110上显示的整个图像，且在依赖于弯曲点改变的图像显示区域111的内 部显示图像。如上所述，由于偏移传感器106以矩阵形式设于显示装置100中，所以偏移传 感器106能够获取检测出的弯曲的位置及弯曲量。4. imimm^rn^mmfs^mmmmm图15是示出显示装置100的横剖面的图，示出了偏移传感器设于显示装置100的 前表面和后表面的结构示例。另外，图16是示出图15所示的显示装置100的弯曲状态的 图。在图16的情况下，对于弯曲部分，未设有显示单元110的后表面上的偏移传感器106的 弯曲半径大于设有显示单元110的前表面上的偏移传感器106的弯曲半径。更具体地是，后 表面上的偏移传感器106的弯曲半径增加了第一基板102和第二基板104的厚度。因此， 前表面上的偏移传感器106的弯曲半径大于后表面上的偏移传感器106的弯曲半径，于是 具有更大弯曲量的前表面上的偏移传感器106的电阻的变化量大于后表面上的偏移传感 器106的电阻的变化量。因此，在图15所示的结构中，当前表面和后表面上的偏移传感器106检测出电阻的变化量时，通过相互比较前表面和后表面上的电阻的变化量，能够从前表面和后表面中 检测出哪个是凹面，而另一个为凸面。另外，当前表面是凹面时，与前表面是凸面时相比，显 示单元110从外部看被隐藏，使得更难以识别显示单元110。因此，为了提高显示单元110 上所显示的图像的可见性，增加图像区域控制量。另一方面，当前表面是凸面时，在图像中 存在弯曲。然而，由于相对后表面的情况前表面本身在图像中具有更高的可见性，所以与前 表面为凹面时相比，减小图像区域控制量。因此，即使具有相同的弯曲量，也能够在前表面 是凸面和凹面的情况之间改变图像显示区域的尺寸。5.杳找表的另一示例图17是图示与查找表的另一示例相对应的信息的图。在图17所示的示例中，在 弯曲显示装置100的过程中及弯曲的显示装置100恢复到另一状态(如未弯曲状态)的过 程中，改变针对电阻的变化量的图像区域控制量。在图17中，特性曲线(由图17中的实线表示)对应于使显示装置100弯曲的过 程。另一方面，在由弯曲状态恢复到未弯曲状态的过程中，特性曲线是由图17中的虚线表示。在图17中，图像区域控制量是指经选择的图像显示区域的尺寸相对显示单元的 显示区域的最大尺寸的变化量。例如，当电阻的变化小(或处于诸如Th的预定阈值)时， 则图像区域控制量相对较小(或者对于电阻值的变化小于或等于Th时可以规定成零)，经 选择的图像显示区域的尺寸相对显示单元的显示区域的最大尺寸的变化量相对小(或者 如果电阻值的变化小于或等于Th时可以是零)。换句话说，在这种情况下，最大尺寸与经选 择的显示区域之间的差是相对小的量(或设成零)。然而，当电阻值的变化相对大时，则如 图17所示显示区域相对显示区域的最大尺寸的变化量更大。在这种情况下，更大的电阻变 化量对应于显示区域相对其最大尺寸的更大尺寸的变化。对于大的电阻变化量的区域，可进一步增加针对电阻的变化量的图像区域控制量 的变化，而对于小的电阻变化量的区域，可进一步减小针对电阻的变化量的图像区域控制 量的变化，由此当显示处于折曲或未折曲的过程中时增加显示区域的变化速度。因此，在从 弯曲状态恢复到未弯曲状态的过程中，图像区域控制能够更迅速地使图像恢复到其原始状 态。因此，当弯曲的显示装置100恢复成平坦表面(如未弯曲状态)时，能够可靠地抑制由 图像区域控制所引起的用户的不舒服感。尽管以上已经参照附图详细地说明了本发明的示例性实施例，但本发明并不局限 于这些实施例。本领域技术人员应当理解，可以在本发明所附的权利要求的范围内进行各 种修改及改变，这些都属于本发明的范围。
权利要求
1.一种装置，其包括可弯曲的基板；发光元件，其安装在所述基板上；传感器，其用于检测所述基板的弯曲；及显示控制器，其基于由所述传感器检测的所述基板的所述弯曲至少部分地控制所述发 光元件。
2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述传感器检测所述基板的弯曲量。
3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述传感器检测所述基板的弯曲位置。
4.根据权利要求3所述的装置，其中，所述显示控制器用于根据所述弯曲位置控制有 源发光元件的显示区域的尺寸。
5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述显示控制器基于由所述传感器检测的所述 基板的所述弯曲控制有源发光元件的显示区域的尺寸。
6.根据权利要求5所述的装置，其中，所述显示控制器用于根据所检测的弯曲量减小 所述显示区域的尺寸，使得较大的弯曲度比较小的弯曲度对应于更小的显示区域。
7.根据权利要求1所述的装置，进一步包括另一个可弯曲的基板，其与所述基板对准；及另一传感器，其用于检测所述另一个基板的弯曲；其中，所述显示控制器基于由所述另一个传感器检测的所述另一个基板的所述弯曲至 少部分地控制所述发光元件。
8.根据权和要求7所述的装置，其中，所述显示控制器用于确定所述基板的第一侧是弯曲成凸形还是凹形，所述确定是基于 所述传感器检测的结果和所述另一个传感器检测的结果之间的比较；所述显示控制器用于基于所述确定的结果控制有源发光元件的显示区域的尺寸。
9.根据权利要求8所述的装置，其中，所述显示控制器用于在所述第一侧被确定为凸 形和所述第一侧被确定为凹形时有区别地控制所述显示区域的尺寸。
10.根据权利要求1所述的装置，其中，所述传感器包括透明电极体，所述传感器布置 为与所述每个显示元件相对。
11.一种显示装置，其包括显示单元，其具有显示至少一幅图像的显示区域，所述显示单元包括(a)可弯曲的基板；(b)发光元件，其安装在所述基板上；(c)传感器，其用于检测所述基板的弯曲；以及显示控制器，其基于由所述传感器检测的所述基板的所述弯曲至少部分地控制所述发 光元件。
12.根据权利要求11所述的显示装置，其中，所述传感器检测所述基板的弯曲量。
13.根据权利要求11所述的显示装置，其中，所述传感器检测所述基板的弯曲位置。
14.根据权利要求11所述的显示装置，其中，所述显示控制器基于由所述传感器检测 的所述基板的所述弯曲控制有源发光元件的显示区域的尺寸。
15.一种显示装置，其包括显示单元，其具有显示至少一幅图像的显示区域，所述显示单元包括可弯曲的基板，其能够在多个不同的位置弯曲和折曲；显示元件，其安装在所述基板上；及传感器，其用于在所述基板弯曲时检测所述基板的弯曲量，其中，所述显示区域包括有源显示元件，基于所述基板的所述弯曲量控制所述显示区域的尺寸。
16.根据权利要求15所述的显示装置，其中，显示控制器用于在所述显示单元从平坦 状态过渡到弯曲状态时和所述显示单元从弯曲状态过渡到平坦状态时有区别地控制所述 显示区域。
17.根据权利要求16所述的显示装置，其中，对于给定的电阻值的变化，所述显示区域 的变化率在所述显示单元从平坦状态过渡到弯曲状态时和所述显示单元从弯曲状态过渡 到平坦状态时是不同的。
18.根据权利要求15所述的显示装置，其中，有源发光元件的所述显示区域设于所述 基板的未弯曲的区域。
19.一种显示单元的控制方法，所述方法包括 检测所述显示单元的可弯曲基板的弯曲的量；及基于所述基板的所述弯曲至少部分地控制有源发光元件的显示区域的尺寸。
20.根据权利要求19所述的方法，进一步包括 检测所述显示单元的另一可弯曲基板的弯曲的量；及基于所述另一基板的所述弯曲至少部分地控制有源发光元件的显示区域的尺寸。
21.根据权利要求20所述的方法，进一步包括确定所述基板的第一侧是弯曲成凸形还是凹形，所述确定是基于传感器对所述基板的 所述弯曲检测的结果与另一传感器对所述另一基板的所述弯曲检测的结果之间的比较； 基于所述确定的结果至少部分地控制有源发光元件的显示区域的尺寸。
22.根据权利要求19所述的方法，其中，包括相对的电极的传感器检测所述基板的所 述弯曲，所述检测包括以下步骤将预定电压施加于所述电极中的一个电极；及 监视所述电极之间的电阻值。
23.根据权利要求22所述的方法，进一步包括将所述传感器的所述电阻值与参考电阻值进行比较，所述参考电阻值是未弯曲状态下 的所述基板的电阻值；计算所述传感器的所述电阻值与所述参考电阻值之间的差；及 根据所计算出的值设置有源发光元件的所述显示区域的尺寸。
24.根据权利要求23所述的方法，其中，当所述所计算出的值不大于阈值时，则不减小所述显示区域的尺寸； 当所述所计算出的值大于所述阈值时，则改变所述显示区域的尺寸。
全文摘要
本发明涉及显示装置和显示装置的控制方法。该显示装置包括可弯曲的基板；发光元件，其安装在所述基板上；传感器，其用于检测所述基板的弯曲；及显示控制器，其基于由所述传感器检测的所述基板的所述弯曲至少部分地控制所述发光元件。该显示装置能够在使显示装置弯曲和/或未弯曲时通过响应于柔性显示装置的弯曲的量执行显示控制来确保显示可靠性。
文档编号G01B7/16GK102087824SQ20101056102
公开日2011年6月8日 申请日期2010年11月26日 优先权日2009年12月4日
发明者森胁俊贵 申请人:索尼公司