磁场测量装置的制作方法

文档序号:6005297阅读:240来源:国知局
专利名称:磁场测量装置的制作方法
技术领域
本发明涉及一种磁场测量装置,尤其涉及一种微型多磁极磁铁的磁场测量装置。
背景技术
现有技术中,测量磁铁表面磁场的工具一般为高斯计,高斯计是一种相对比较精 密的测量仪器,尤其是探头部分的霍尔片,其对磁场敏感度高,能够测量平面磁场中各个位 置的磁场强度,并通过计量表表示出来。对于微型的分布多个磁极的磁场,想要测出其中各 区域的磁场强度,目前常用的是人工手动的方法,用高斯计对准磁铁上的各区域点进行测 量,由于磁铁本身就很微小,定位十分困难,因此,不仅测量的准确率低,测量数据不可靠, 工作效率也降低。

发明内容
鉴于上述现有技术存在的缺陷,本发明的目的是提出一种可用于测量微型多磁极 磁铁的磁场测量装置。本发明的目的,将通过以下技术方案得以实现一种磁场测量装置,用于测量微型多磁极磁铁的磁场,包括高斯计,还包括一底座, 所述底座上设有一转盘支架,所述转盘支架一侧设有旋转盘,另一侧设有用于固定微型磁铁 的磁铁架,所述磁铁架和旋转盘之间通过轴承连接转动;靠近所述磁铁架一侧的底座上设有 用于固定所述高斯计的支架;所述微型磁铁包括至少2个测试点,所述旋转盘的旋转中心与 所述各测试点的外接圆的圆心一致,所述高斯计的探头位于所述外接圆的圆周轨迹上。进一步的,上述的磁场测量装置,其中所述旋转盘与一电动传动装置连接。进一步的,上述的磁场测量装置,其中所述旋转盘与一齿轮传动装置连接。本发明只需通过转动旋转盘,即可使微型多磁极磁铁的测试点的位置精确地对准 高斯计的探头,操作简单,使用方便,准确率高,提高了工作效率。以下便结合实施例附图,对本发明的具体实施方式
作进一步的详述,以使本发明 技术方案更易于理解、掌握。


图1是本发明实施例的结构示意图;图2是本发明实施例的俯视图;图3是本发明实施例的主视图;图4是本发明实施例的左视图;图5是本发明实施例的右视图。
具体实施例方式实施例
本发明的磁场测量装置,可用于测量多磁极微型磁铁的平面磁场强度,其结构如 图1-5所示,包括高斯计1,还包括一底座3,所述底座3上设有一转盘支架4,所述转盘支架 4 一侧设有旋转盘6,另一侧设有用于固定微型磁铁7的磁铁架5,所述磁铁架5和旋转盘 6之间通过轴承连接转动;所述微型磁铁7可以通过过盈配合、嵌入或者紧固的方式固定在 磁铁架5上。靠近所述磁铁架5 —侧的底座3上设有用于固定所述高斯计1的支架2 ;所 述微型磁铁7包括至少2个测试点,所述旋转盘6的旋转中心与所述各测试点的外接圆的 圆心一致,所述高斯计1的探头位于所述外接圆的圆周轨迹上。所述旋转盘6可以手动控 制旋转,也可以通过与一电动传动装置连接或者一齿轮传动装置连接,驱动旋转。应用本发明的磁场测量装置,测量多磁极微型磁铁的平面磁场强度时,首先将高 斯计1的探头对准其中一个测试点,测量该测试点的磁场强度,测量结束后,转动旋转盘6, 转动的角度为上一个测试点与下一个测试点在上述外接圆上的半径之间的夹角度数(小 于180度),转动完毕后,即可开始测量该测试点的磁场强度,以后各测试点的测试方法以 此类推,最终可以得出整个多磁极微型磁铁的磁场分布情况。本发明操作简单,使用方便, 准确率高,提高了工作效率。本发明尚有多种实施方式,凡采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方 案,均落在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种磁场测量装置,用于测量微型多磁极磁铁的磁场,包括高斯计,其特征在于还 包括一底座,所述底座上设有一转盘支架,所述转盘支架一侧设有旋转盘,另一侧设有用于 固定微型磁铁的磁铁架,所述磁铁架和旋转盘之间通过轴承连接转动;靠近所述磁铁架一 侧的底座上设有用于固定所述高斯计的支架;所述微型磁铁包括至少2个测试点,所述旋 转盘的旋转中心与所述各测试点的外接圆的圆心一致,所述高斯计的探头位于所述外接圆 的圆周轨迹上。
2.根据权利要求1所述的磁场测量装置,其特征在于所述旋转盘与一电动传动装置 连接。
3.根据权利要求1所述的磁场测量装置,其特征在于所述旋转盘与一齿轮传动装置 连接。
全文摘要
本发明揭示了一种磁场测量装置,用于测量微型多磁极磁铁的磁场,包括高斯计,还包括一底座,所述底座上设有一转盘支架,所述转盘支架一侧设有旋转盘,另一侧设有用于固定微型磁铁的磁铁架,所述磁铁架和旋转盘之间通过轴承连接转动;靠近所述磁铁架一侧的底座上设有用于固定所述高斯计的支架;所述微型磁铁包括至少2个测试点,所述旋转盘的旋转中心与所述各测试点的外接圆的圆心一致,所述高斯计的探头位于所述外接圆的圆周轨迹上。本发明只需通过转动旋转盘,即可使微型多磁极磁铁的测试点的位置精确地对准高斯计的探头,操作简单,使用方便,准确率高,提高了工作效率。
文档编号G01R33/07GK102135604SQ20111004637
公开日2011年7月27日 申请日期2011年2月25日 优先权日2011年2月25日
发明者李海江 申请人:哈姆林电子(苏州)有限公司
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