专利名称：用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用来测试读卡器的测试卡，尤指一种可用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡。
背景技术：
一般来说，便携式电子装置，例如一笔记本型计算机，通常会设置有可读取多种规格的存储卡的读卡器，以便于使用者读取或存储存储卡的数据。存储卡的类型可分为安全数字存储卡(Secure Digital Memory Card, SD卡)、数字图像卡(ExtremeDigital-Picture Card,XD 卡)或存储条卡(Memory Stick Card,MS 卡)等。在工厂端进行产品的品质管理与验证测试时，测试人员需分别将不同规格的存储卡插入读卡器的相对应插槽内，才可对该规格的插槽进行合格率测试。举例来说，欲测试读卡器的安全数字存储 卡插槽的合格率时，测试人员将一安全数字存储卡插入读卡器的安全数字存储卡插槽，并利用自动测试技术进行合格率测试。接着当欲测试读卡器的数字图像卡插槽的合格率时，测试人员需将上一次测试使用的卡片(如安全数字存储卡)抽出，才可将数字图像卡插入读卡器的数字图像卡插槽，以继续进行数字图像卡插槽的验证，意即传统的方法需准备多个不同规格的存储卡，并将各存储卡分别插入读卡器的各卡槽，以分别进行测试与验证。如此一来，读卡器的传统测试手续相当繁琐复杂，容易因人为操作失误而降低测试的准确度，且需耗费较高工时，拖累生产线的整体产能。因此，需要提供一种用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡，以解决上述问题。
发明内容
本发明提供一种可用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡，以解决上述的问题。
本发明公开一种用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡，该测试卡包含有一第一基板、一第二基板、一第一连接端子组与一第二连接端子组；该第二基板部分嵌合于该第一基板的一表面，该第二基板的一长度实质上小于该第一基板的一长度；该第一连接端子组设置于该第一基板的该表面的一端，且不被该第二基板遮蔽，该第一连接端子组用来与一读卡器的一第一传输端子组接触以电性导通；该第二连接端子组设置于该第二基板的一端，该第二连接端子组用来在该第一连接端子组与该第一传输端子组接触时与该读卡器的一第二传输端子组接触以电性导通。本发明还公开该第二连接端子组用来在该第一基板插入该读卡器且止抵于该读卡器的一止抵部时与该读卡器的该第二传输端子组接触以电性导通。本发明还公开该第一连接端子组的各相邻第一连接端子之间设置有一测试电阻。本发明还公开该第二连接端子组的各相邻第二连接端子之间设置有一测试电阻。本发明还公开该测试卡还包含有一握持端部，其包覆该第一基板与该第二基板的另一端，该握持端部在该第一基板与该第二基板插入该读卡器时外露于该读卡器。本发明还公开该第二基板的表面形成有一定位孔，该定位孔用来辅助该第二基板以部分嵌合方式定位于该第一基板的该表面。本发明还公开该第一基板与该第二基板的组合的一厚度小于该第一基板的一厚度与该第二基板的一厚度的总和。本发明还公开该测试卡还包含有一导角结构，其形成于该第一基板的该端，该导角结构用来导引该第一基板插入该读卡器。本发明还公开该第二基板的一侧边形成有一泄气槽。本发明还公开该测试卡还包含有一第三基板以及一第三连接端子组。该 第三基板嵌合有该第二基板的该第一基板部分嵌合于该第三基板的一表面，且该第一基板的该长度实质上小于该第三基板的一长度。该第三连接端子组设置于该第三基板的该表面的一端，且不被该第一基板遮蔽。该第三连接端子组用来与该读卡器的一第三传输端子组接触以电性导通。本发明还公开该第二连接端子组用来在该第三基板插入该读卡器且止抵于该读卡器的一止抵部时与该读卡器的该第二传输端子组接触以电性导通。本发明还公开该第三连接端子组的各相邻第三连接端子之间设置有一测试电阻。本发明还公开该第一基板、该第二基板与该第三基板的组合的一厚度小于该第一基板的一厚度、该第二基板的一厚度与该第三基板的一厚度的总和。本发明还公开该第一基板、该第二基板与该第三基板的形状与尺寸可分别符合一安全数字存储卡、一数字图像卡与一存储条卡的形状与尺寸，且该第一连接端子组、该第二连接端子组与该第三连接端子组的规格实质上分别符合该安全数字存储卡、该数字图像卡与该存储条卡的规格。本发明还公开该测试卡为一卡型结构。本发明将多个具有不同规格与尺寸的测试用存储卡整合成一个多合一的卡型测试卡。本发明的测试卡通过特殊的结构设计，以使得测试卡的多个基板可以同时插入读卡器的各相对应卡槽，且设置于不同基板上的多种连接端子组可以同时与各卡槽的相对应传输端子组接触以电性导通。因此本发明可在一次测试过程中，例如将测试卡(测试用存储卡)插入读卡器，同时对读卡器的多个具有不同规格的卡槽进行可靠性或合格率的验证与测试，故可大幅减少测试过程的时间，进而有效避免人为操作异常与节省人力成本，藉以提升产能。
图I为本发明第一实施例的测试卡的组件分解示意图。图2为本发明第一实施例的测试卡与读卡器的外观示意图。图3为本发明第一实施例的测试卡的侧视图。图4为本发明的测试卡与读卡器的内部结构示意图。图5为本发明第二实施例的测试卡的外观示意图。图6为本发明第二实施例的测试卡的侧视图。图7与图8分别为本发明第三实施例的测试卡的外观示意图与侧视图。
图9与图10分别为本发明第四实施例的测试卡的外观示意图与侧视图。主要组件符号说明10、30、50、70 测试卡11读卡器111 第一传输端子组113第二传输端子组115 第三传输端子组117止抵部12、32、52、72 第一基板14、34、54、74 第二基板141,341 定位孔143、343泄气槽16 第三基板18、36、56、76第一连接端子组 181 测试电阻20、38、58、78第二连接端子组22 第三连接端子组24、40握持端部26、42 导角结构44绝缘挡片
具体实施例方式请参阅图I至图3，图I为本发明第一实施例的一测试卡10的组件分解示意图，图2为本发明第一实施例的测试卡10与一读卡器11的外观示意图，图3为本发明第一实施例的测试卡10的侧视图。测试卡10用来测试具有多种存储卡规格的读卡器11，以验证读卡器11相对应不同存储卡规格的卡槽的功能是否正常。使用者可利用读卡器11读取具有不同规格的多张存储卡，一般来说，常见的读卡器的插槽可兼容的存储卡规格可包含有安全数字存储卡、数字图像卡或存储条卡的规格等。因此本发明的测试卡10可同时插入读卡器11的各插槽内，以使使用者可同时测试读卡器11的具有不同存储卡规格的各插槽的读取功能是否正常。其中读卡器11的插槽可兼容的存储卡规格以及相对应测试卡10的规格可不限于上述实施例所述，视实际需求而定。测试卡10包含有一第一基板12、一第二基板14与一第三基板16。第二基板14部分嵌合于第一基板12的一表面，且嵌合有第二基板14的第一基板12可部分嵌合于第三基板16的一表面。各基板之间的嵌合深度依据读卡器11的具有标准化规格的各卡槽结构而设计，故在此不再详述。如图2与图3所示，第二基板14的一长度实质上小于第一基板12的一长度,且第一基板12的该长度实质上小于第三基板16的一长度，因此测试卡10可为一阶梯式卡型结构。测试卡10还包含有一第一连接端子组18、一第二连接端子组20与一第三连接端子组22。第一连接端子组18设置于第一基板12的该表面的一端，且不被第二基板14遮蔽。第二连接端子组20设置于第二基板14的一端。第三连接端子组22设置于第三基板16的该表面的一端，且不被第一基板12遮蔽。其中，第一连接端子组18、第二连接端子组20与第三连接端子组22分别用来与读卡器11的一第一传输端子组111、一第二传输端子组113与一第三传输端子组115接触以电性导通(各传输端子组设置于读卡器11的内部)。由于第一基板12、第二基板14与第三基板16的长度依据读卡器11内部各传输端子组的配置位置而设计，故当测试卡10完全插入该读卡器时，例如第三基板16止抵于读卡器11内部的一止抵部117 (止抵部117设置于读卡器11的内部)时，意即测试卡10在读卡器11内部定位于正确的测试位置时，第一连接端子组18、第二连接端子组20与第三连接端子组22可分别与读卡器11的各相对应传输端子组接触以电性导通。
如图I所示，第一连接端子组18(或是第二连接端子组20、第三连接端子组22)的各相邻第一连接端子(或是各相邻第二连接端子、各相邻第三连接端子)之间可设置有一测试电阻181。当测试卡10插入读卡器11，且各连接端子组(第一连接端子组18、第二连接端子组20与第三连接端子组22)与各相对应传输端子组接触以电性导通时，使用者即可利用一自动测试设备(ATE)有效地对测试卡10与读卡器11进行验证，以确认该读卡器各卡槽的读取功能是否正常。举例来说，请参阅图4，图4为本发明的测试卡10与读卡器11的内部结构示意图。当测试卡10的第一连接端子组18接触读卡器11的第一传输端子组111后，使用者将自动测试设备的探针直接接触第一传输端子组111的信号测试点，以藉由量测第一连接端子组18的各相邻第一连接端子间的测试电阻181的电阻值大小，验证读卡器11的功能是否正常。
此外，如图I至图3所示，测试卡10还可包含有一握持端部24，其包覆第一基板12、第二基板14与第三基板16的一端。握持端部24用来覆盖测试电阻181以防止其外露，且在第一基板12、第二基板14与第三基板16插入读卡器11时外露于读卡器11，以便于使用者可推压或抽拉测试卡10相对读卡器11移动。第二基板14的表面可形成有一定位孔141，且第二基板14的一侧边可形成有一泄气槽143，定位孔141用来辅助第二基板14与第一基板12以部分嵌合方式定位于第三基板16的该表面,泄气槽143用来在测试卡10插入读卡器11时排除多余的空气以调节压力。测试卡10还可包含有一导角结构26，其形成于第三基板16的该端，导角结构26用来导引第三基板16插入读卡器11。值得一提的是，由于第二基板14部分嵌合第一基板12的该表面,且第一基板12部分嵌合第三基板16的该表面，故第一基板12、第二基板14与第三基板16的组合的一厚度可实质上小于第一基板12的一厚度、第二基板14的一厚度与第三基板16的一厚度的总和，以使测试卡10的各基板可同时插入读卡器11的相对应卡槽。在本发明的第一实施例中，第一基板12的形状与尺寸可实质上符合于一安全数字存储卡的形状与尺寸，且第一连接端子组18的规格可实质上符合于该安全数字存储卡的规格。第二基板14的形状与尺寸可实质上符合于一数字图像卡的形状与尺寸，且第二连接端子组20的规格可实质上符合于该数字图像卡的规格。第三基板16的形状与尺寸可实质上符合于一存储条卡的形状与尺寸，且第三连接端子组22的规格可实质上符合于该存储条卡的规格。因此本发明第一实施例的测试卡10可用来在插入读卡器11时，同时测试读卡器11的安全数字存储卡卡槽、数字图像卡卡槽与存储条卡卡槽的读取功能，或是可以一绝缘挡片44 (例如由塑料材料所组成的非导电体垫片)遮蔽于第一连接端子组18上(或是第二连接端子组20、第三连接端子组22)。绝缘挡片44可用来隔绝第一连接端子组18 (或第二连接端子组20或第三连接端子组22)与读卡器11的第一传输端子组111 (或第二传输端子组113或第三传输端子组115)的电性连接，藉以选择性地测试读卡器11的SD卡(或是XD卡、MS卡)的功能。请参阅图5与图6，图5为本发明第二实施例的一测试卡30的外观示意图，图6为本发明第二实施例的测试卡30的侧视图。测试卡30可包含有一第一基板32、一第二基板34、一第一连接端子组36与一第二连接端子组38。第一连接端子组36 (或第二连接端子组 38)的各相邻第一连接端子(或各相邻第二连接端子)之间设置有一测试电阻。其中该测试电阻、第一基板32、一第二基板34、一第一连接端子组36与一第二连接端子组38的配置与功能如第一实施例所述，故在此不再详述。如图6所示，由于第二基板34部分嵌合于第一基板32的一表面，故第一基板32与第二基板34的组合的一厚度小于第一基板32的一厚度与第二基板34的一厚度的总和，以使测试卡30的第一基板32与第二基板34可同时插入读卡器11的相对应卡槽。此外，测试卡30还可包含有一握持端部40，其包覆第一基板32与第二基板34的另一端；测试卡30还可包含有一导角结构42,其形成于第一基板32的该端。第二基板34的表面可形成有一定位孔341，且第二基板34的一侧边可形成有一泄气槽343。握持端部40、定位孔341、泄气槽343与导角结构42的结构与功能如第一实施例所述，故在此不再详 述。第二实施例与第一实施例的差异处在于测试卡30由两个基板所构成，故使用者可利用测试卡30来测试读卡器11的其中两个具有不同规格的卡槽，举例来说，测试卡30的第一基板32的形状与尺寸可实质上符合于该安全数字存储卡的形状与尺寸，第一连接端子组36的规格可实质上符合于该安全数字存储卡的规格，第二基板34的形状与尺寸可实质上符合于该数字图像卡的形状与尺寸，且第二连接端子组38的规格可实质上符合于该数字图像卡的规格，因此本发明第二实施例的测试卡30可用来同时测试读卡器11的安全数字存储卡卡槽与数字图像卡卡槽的读取功能。请参阅图7与图8，图7与图8分别为本发明第三实施例的一测试卡50的外观示意图与侧视图。如图7与图8所示，第三实施例的测试卡50包含有一第一基板52、一第二基板54、一第一连接端子组56与一第二连接端子组58，测试卡50的两基板与两连接端子组的配置与功能如前述实施例所述，故在此不再详述。第三实施例与前述实施例的差异处在于测试卡50的第一基板52的形状与尺寸可实质上符合于该存储条卡的形状与尺寸，第二基板54的形状与尺寸可实质上符合于该数字图像卡的形状与尺寸，第一连接端子组56的规格可实质上符合于该存储条卡的规格，且第二连接端子组58的规格可实质上符合于该数字图像卡的规格，因此本发明第三实施例的测试卡50可用来同时测试读卡器11的存储条卡卡槽与数字图像卡卡槽的读取功能。请参阅图9与图10，图9与图10分别为本发明第四实施例的一测试卡70的外观不意图与侧视图。如图9与图10所不，第四实施例的测试卡70包含有一第一基板72、一第二基板74、一第一连接端子组76与一第二连接端子组78，测试卡70的两基板与两连接端子组的配置与功能如前述实施例所述，故在此不再详述。第四实施例与前述实施例的差异处在于测试卡70的第一基板72的形状与尺寸可实质上符合于该存储条卡的形状与尺寸，第二基板74的形状与尺寸可实质上符合于该安全数字存储卡的形状与尺寸，第一连接端子组76的规格可实质上符合于该存储条卡的规格，且第二连接端子组78的规格可实质上符合于该安全数字存储卡的规格。因此本发明第四实施例的测试卡70可用来同时测试读卡器11的存储条卡卡槽与安全数字存储卡卡槽的读取功能。相比于先前技术，本发明将多个具有不同规格与尺寸的测试用存储卡整合成一个多合一的测试卡。本发明的测试卡通过特殊的结构设计，以使得测试卡的多个基板可以同时插入读卡器的各相对应卡槽，且设置于不同基板上的多种连接端子组可以同时与各卡槽的相对应传输端子组接触以电性导通。因此本发明可在一次测试过程中，例如将测试卡(测试用存储卡)插入读卡器，同时对读卡器的多个具有不同规格的卡槽进行可靠性或合格率的验证与测试，故可大幅减少测试过程的时间，进而有效避免人为操作异常与节省人力成本，藉以提升产能。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡是根据本发明权利要求书的范围所作的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.ー种用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡，该测试卡包括 一第一基板; 一第二基板，该第二基板部分嵌合于该第一基板的一表面，该第二基板的ー长度实质上小于该第一基板的ー长度； 一第一连接端子组，该第一连接端子组设置于该第一基板的该表面的一端，且不被该第二基板遮蔽，该第一连接端子组用来与一读卡器的一第一传输端子组接触以电性导通；以及 一第二连接端子组，该第二连接端子组设置于该第二基板的一端，该第二连接端子组用来在该第一连接端子组与该第一传输端子组接触时与该读卡器的一第二传输端子组接触以电性导通。
2.如权利要求I所述的测试卡，其中该第二连接端子组用来在该第一基板插入该读卡器且止抵于该读卡器的一止抵部时与该读卡器的该第二传输端子组接触以电性导通。
3.如权利要求I所述的测试卡，其中该第一连接端子组的各相邻第一连接端子之间设置有一测试电阻。
4.如权利要求I或3所述的测试卡，其中该第二连接端子组的各相邻第二连接端子之间设置有一测试电阻。
5.如权利要求I或4所述的测试卡，该测试卡还包括 一握持端部，该握持端部包覆该第一基板与该第二基板的另一端，该握持端部用来覆盖该测试电阻，且在该第一基板与该第二基板插入该读卡器时外露于该读卡器。
6.如权利要求I所述的测试卡，其中该第二基板的表面形成有一定位孔，该定位孔用来辅助该第二基板以部分嵌合方式定位于该第一基板的该表面。
7.如权利要求I所述的测试卡，其中该第二基板藉由胶黏方式嵌合于该第一基板的该表面。
8.如权利要求I所述的测试卡，其中该第一基板与该第二基板的组合的一厚度小于该第一基板的一厚度与该第二基板的一厚度的总和。
9.如权利要求I所述的测试卡，该测试卡还包括 ー导角结构，该导角结构形成于该第一基板的该端，该导角结构用来导引该第一基板插入该读卡器。
10.如权利要求I所述的测试卡，其中该第一基板的形状与尺寸实质上符合于ー安全数字存储卡的形状与尺寸，且该第一连接端子组的规格实质上符合于该安全数字存储卡的规格。
11.如权利要求I或10所述的测试卡，其中该第二基板的形状与尺寸实质上符合于一数字图像卡的形状与尺寸，且该第二连接端子组的规格实质上符合于该数字图像卡的规格。
12.如权利要求I或11所述的测试卡，该测试卡还包括 一第三基板，该第三基板嵌合有该第二基板的该第一基板部分嵌合于该第三基板的一表面，该第一基板的该长度实质上小于该第三基板的ー长度；以及 一第三连接端子组，该第三连接端子组设置于该第三基板的该表面的一端，且不被该第一基板遮蔽，该第三连接端子组用来与该读卡器的一第三传输端子组接触以电性导通。
13.如权利要求12所述的测试卡，其中该第二连接端子组用来在该第三基板插入该读卡器且止抵于该读卡器的一止抵部时与该读卡器的该第二传输端子组接触以电性导通。
14.如权利要求12所述的测试卡，其中该第三连接端子组的各相邻第三连接端子之间设置有一测试电阻。
15.如权利要求12所述的测试卡，该测试卡还包括 一握持端部，该握持端部包覆该第一基板、该第二基板与该第三基板的另一端，该握持端部在该第一基板、该第二基板与该第三基板插入该读卡器时外露于该读卡器。
16.如权利要求12所述的测试卡，其中该第二基板的表面形成有一定位孔，该定位孔用来辅助该第二基板与该第一基板以部分嵌合方式定位于该第三基板的该表面。
17.如权利要求12所述的测试卡,其中该第二基板与该第一基板藉由胶黏方式嵌合于该第三基板的该表面。
18.如权利要求12所述的测试卡，其中该第一基板、该第二基板与该第三基板的组合的一厚度实质上小于该第一基板的一厚度、该第二基板的一厚度与该第三基板的一厚度的总和。
19.如权利要求12所述的测试卡，该测试卡还包括 ー导角结构，该导角结构形成于该第三基板的该端，该导角结构用来导引该第三基板插入该读卡器。
20.如权利要求12所述的测试卡，其中该第三基板的形状与尺寸实质上符合于一存储条卡的形状与尺寸，且该第三连接端子组的规格实质上符合于该存储条卡的规格。
21.如权利要求I所述的测试卡，其中该第一基板的形状与尺寸实质上符合于一存储条卡的形状与尺寸，且该第一连接端子组的规格实质上符合于该存储条卡的规格。
22.如权利要求21所述的测试卡，其中该第二基板的形状与尺寸实质上符合于ー数字图像卡的形状与尺寸，且该第二连接端子组的规格实质上符合于该数字图像卡的规格。
23.如权利要求21所述的测试卡，其中该第二基板的形状与尺寸实质上符合于ー安全数字存储卡的形状与尺寸，且该第二连接端子组的规格实质上符合于该安全数字存储卡的规格。
24.如权利要求I或12所述的测试卡，该测试卡还包括 ー绝缘挡片，该绝缘挡片以可卸除方式覆盖于该第一连接端子组或该第二连接端子组。
全文摘要
一种用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡。该用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡包含有一第一基板、一第二基板、一第一连接端子组与一第二连接端子组；该第二基板部分嵌合于该第一基板的一表面，且该第二基板的一长度实质上小于该第一基板的一长度；该第一连接端子组设置于该第一基板的该表面的一端，且不被该第二基板遮蔽，该第一连接端子组用来与一读卡器的一第一传输端子组接触以电性导通；该第二连接端子组设置于该第二基板的一端，该第二连接端子组用来在该第一连接端子组与该第一传输端子组接触时与该读卡器的一第二传输端子组接触以电性导通。本发明大幅减少测试时间，有效避免人为操作异常与节省人力成本来提升产能。
文档编号G01R31/01GK102692578SQ20111006738
公开日2012年9月26日 申请日期2011年3月21日 优先权日2011年3月21日
发明者廖兵, 柳根金, 王震, 郭建, 高凯, 黄印, 黄磊 申请人:纬创资通(昆山)有限公司, 纬创资通股份有限公司