专利名称：功率测试电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种功率测试电路，特别涉及一种中央处理器和内存储器的功率测试电路。
背景技术：
主板系统测试包括中央处理器功率测试以及内存储器功率测试，现有技术一般通过万用表手动测试数据，再通过相关公式计算出中央处理器和内存储器的功率，该种方法误差大且效率低。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可自动测试该中央处理器功率及内存储器功率的 功率测试电路。一种功率测试电路，应用于测试一中央处理器和一内存储器的功率，该功率测试电路包括
一第一开关单元包括第一端和接地的第二端，当该第一开关单元的第一端与该第二端相连时，该功率测试电路测试该中央处理器的功率，当该第一开关单元的第一端与该第二端断开时，该功率测试电路测试该内存储器的功率；
一显示单元，用于显示该功率测试电路的待显示数据；以及
一处理模块，与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一开关单元的第一端相连，该处理模块用于即时获取该中央处理器和该内存储器的电压和电流，并将所获取的该中央处理器的电压和电流处理后输出一第一功率显示信号至该显示单元以显示该中央处理器的功率，或将所获取的该内存储器的电压和电流处理后输出一第二功率显示信号至该显示单元以显示该内存储器的功率。上述功率测试电路通过该处理模块自动测试该中央处理器的功率或该内存储器的功率，效率高且误差小。
图I为本发明功率测试电路的较佳实施方式的电路图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种功率测试电路，应用于测试一中央处理器和一内存储器的功率，该功率测试电路包括 一第一开关单元包括第一端和接地的第二端，当该第一开关单元的第一端与该第二端相连时，该功率测试电路测试该中央处理器的功率，当该第一开关单元的第一端与该第二端断开时，该功率测试电路测试该内存储器的功率； 一显示单元，用于显示该功率测试电路的待显示数据；以及 一处理模块，与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一开关单元的第一端相连，该处理模块用于即时获取该中央处理器和该内存储器的电压和电流，并根据所获取的该中央处理器的电压和电流计算出该中央处理器的功率并通过该显示单元显示，或根据所获取的该内存储器的电压和电流计算出该内存储器的功率并通过显示单元显示。
2.如权利要求I所述的功率测试电路，其特征在于该功率测试电路还包括一包括第一端和第二端的第二开关单元，该第二开关单元的第一端连接该处理模块，该第二开关单元的第二端接地，当该第二开关单元的第一端与该第二端相连时，该功率测试电路工作，当该第二开关单元的第一端与该第二端断开时，该功率测试电路不工作。
3.如权利要求2所述的功率测试电路，其特征在于该第二开关单元为一滑动开关，该第二开关单元的第一和第二端对应滑动开关的不动端和动端。
4.如权利要求I所述的功率测试电路，其特征在于该第一开关单元为一滑动开关，该第一开关单元的第一和第二端对应滑动开关的不动端和动端。
5.如权利要求I所述的功率测试电路，其特征在于该处理模块包括一单片机、一滤波电路、一振荡电路和一包括不动端和动端的开关；该单片机的第一引脚通过该滤波电路连接一直流电源，该单片机的第二至第八引脚与该显示单元相连，该单片机的第九和第十引脚连接该振荡电路，该单片机的第i^一引脚与该直流电源相连，该单片机的第十二和第十三引脚通过系统管理总线连接该中央处理器，该单片机的第十四和第十五引脚通过系统管理总线连接该内存储器，该单片机的第十六引脚连接该开关的动端，该开关的不动端接地，该单片机的第十七和第十八引脚均接地，该单片机的第十九和第二十引脚分别连接该第一开关单元和该第二开关单元的不动端。
6.如权利要求5所述的功率测试电路，其特征在于该滤波电路包括第一电容、第二电容和一电阻，该第一电容的一端连接该直流电源，另一端接地，该直流电源还依次通过该电阻和该第二电容接地，该单片机的第一引脚与该第二电容和电阻之间的节点相连。
7.如权利要求5所述的功率测试电路，其特征在于该振荡电路包括一晶体振荡器、第三电容和第四电容，该单片机的第九和第十引脚分别连接该晶体振荡器的两端，该晶体振荡器的两端还分别通过该第三和第四电容接地。
8.如权利要求5所述的功率测试电路，其特征在于该单片机存储一处理程序，该处理程序用于读取该中央处理器的电压和电流以及该内存储器的电压和电流，并分别通过公式P1=(V1-R2*I1)*I1+V1*I1和公式P2=V2*I2算出该中央处理器的功率Pl和该内存储器的功率P2，其中R2为该中央处理的电源负载电阻的阻值，Vl和Il分别为该中央处理器的电压值和电流值，V2和Il分别为该内存储器的电压值和电流值。
9.如权利要求8所述的功率测试电路，其特征在于当该开关的动端与该不动端相连时，该电源负载电阻的阻值R2为第一电阻值。
10.如权利要求8所述的功率测试电路，其特征在于当该开关的动端与该不动端断开时，该电源负载电阻的阻值R2为第二电阻值。
全文摘要
一种功率测试电路，用于测试中央处理器和内存储器的功率，该功率测试电路包括一第一开关单元、一第二开关单元、一显示单元和一处理模块，该处理模块与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一和第二开关单元连。上述功率测试电路通过该处理模块自动测试该中央处理的功率或该内存储器的功率，效率高且误差小。
文档编号G01R21/06GK102890186SQ201110203619
公开日2013年1月23日 申请日期2011年7月20日 优先权日2011年7月20日
发明者付迎宾, 葛婷, 潘亚军 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司