专利名称：电子元器件高速测试分选设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电子元器件的测试分选设备，进一步涉及片式发光二极管(SMD LED)的测试分选设备。
背景技术：
SMD LED由于生产过程中的工艺问题，会造成不同波长和光强的产品混合在一起， 在出厂前，必须对其进行测试和分类，这可以通过人工测试分选或者自动化测试分选设备来实现。随着SMD LED的尺寸越来越小(如0603元件)，同时随着生产率的要求逐渐提高， 对自动化测试分选设备的速度要求越来越高。为了实现高速测试分选的目的，人们发明了一些装置，如专利CN101311730A，CN 10890410A 等。其中，专利CN101311730A是通过提供2套收料装置，将电子元器件的类别出现的频率高低来分配，其中，出现频率较高的元器件使用速度较高的分料装置。由于出现频率较高的元器件类别比较集中，因此用于分类收料的料筒较少，此分料装置的高速就会由于分料管的XY行程较少而实现较高速度。CN10890410A则通过将分料管设计成绕中心点转动的球面坐标分布方式来减少分料管的总长度，从而实现高速分料的目的。上述专利的共同缺点是(1)它们所使用的转盘均为立式布局，吸嘴的轴向方向与转盘的轴向方向相平行，若想通过缩小转盘的直径来降低转盘的惯量，则容易导致测试机构朝转盘轴线靠拢，这使得容易产生部件的干涉；( 电子元器件从测试分料管的进口到从分料管的出口的管路必须先水平然后折弯为竖直向下，象一个倒“L”子母，这使得管路长度较长，导致电子元器件以一定速度通过此路径的时间较长，分料的速度受限。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种提高测试和分料的速度、减少所占空间、提高维护的方便性的测试分选装置。本发明提供了一种电子元器件高速测试分选设备，包括接受电子元器件的吸嘴和转盘，转盘采用卧式布局，其轴线与水平方向平行，吸嘴垂直分布于转盘边缘，吸嘴的轴向方向与转盘的轴向方向相垂直；测试基板，在其上对电子器件的电子特定进行测定。优选的，所述分选设备还包括驱动转盘转动的转盘驱动电机；优选的，分选设备还包括分料延长软管，其位于所述测试基板的下部，软管的另一端连接至收料筒。优选的，所述吸嘴均勻分布于转盘边缘。优选的，所述驱动电机为伺服电机或者步进电机。与现有技术相比，本发明的优点在于1.使用卧式布局的吸嘴转盘，测试完毕后，吸嘴会直接朝下靠近收料口，无需水平的额外一段软管，这使得电子元器件在分料的过程所经过的路径长度大大缩小。2.使用径向放射式分布的吸嘴阵列，可以令在相同的工作直径下，可以放置更多的测试装置。3.使得设备的测试机构的维护更加方便，可以从设备的前面就可以进行大部分的维护。4.大大缩小了所占用的空间。下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的描述。
图1是专利CN 101311730A设备整体布局图。图2是专利CN 101311730A管路放大图。图3是专利CN 10890410A设备整体布局图。图4是专利CN 10890410A剖视图。图5是本发明电子元器件高速分选设备前视图。图6是本发明电子元器件高速分选设备轴测图。
具体实施例方式请参阅图5和图6，本发明的电子元器件高速分选设备包括用于吸收电子元器件进行检测的吸嘴1和转盘2，其中转盘2采用卧式布局，其轴线与水平方向平行，吸嘴1垂直分布于转盘2边缘，吸嘴1的轴向方向与转盘2的轴向方向相垂直；基板3水平设置，用于容纳待检测的电子元器件；高速分料装置4用于对已经检测完的元器件产品按照一定参数进行分类筛选，然后经过收料延长软管5送至收料筒6 ；另外，设备中还包括有驱动转盘进行转动的转盘驱动电机7和电机基座8，基座8 还用于放置测试用的探针机构，在其上测定出元器件所吸收的波长和光强；其中，本发明示例图转盘的吸嘴数量为18个(也可以是M个或者36个等，数量不限)。本发明主要针对元器件测试和分选装置所进行的改进，以上所述仅为本发明较佳实施例而已，非因此即局限本发明的专利范围，故举凡用本发明说明书及图式内容所为的简易变化及等效变换，均应包含于本发明的专利范围内。
权利要求
1.一种电子元器件高速测试分选设备，其包括接受电子元器件的吸嘴和转盘，转盘采用卧式布局，其轴线与水平方向平行，吸嘴垂直分布于转盘边缘，吸嘴的轴向方向与转盘的轴向方向相垂直；测试基座，用于放置测试用的探针机构，在其上测定出元器件所吸收的波长和光强，并对电子器件的电子特性进行测定。
2.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备，其中所述分选设备还包括驱动转盘转动的转盘驱动电机。
3.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备，其中所述分选设备还包括分料延长软管，其位于所述测试基板的下部，软管的另一端连接至收料筒。
4.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备，其中所述吸嘴呈放射式径向均勻分布于转盘边缘。
5.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备，其中所述驱动电机为伺服电机或者步进电机。
6.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备，其测试用的探针机构也可以放置于水平放置的基板上。
全文摘要
本发明涉及一种电子元器件高速测试分选设备，其包括接受电子元器件的吸嘴和转盘，转盘采用卧式布局，其轴线与水平方向平行，吸嘴垂直分布于转盘边缘，吸嘴的轴向方向与转盘的轴向方向相垂直；测试基板，在其上对电子器件的电子特定进行测定。通过使用卧式布局的吸嘴转盘，测试完毕后，吸嘴会直接朝下靠近收料口，无需水平一段软管，这使得电子元器件在分料的过程所经过的路径长度大大缩小。
文档编号G01R31/26GK102357473SQ20111027264
公开日2012年2月22日 申请日期2011年9月14日 优先权日2011年9月14日
发明者卓维煌, 曾庆略, 李靖鹏, 林琳, 缪来虎, 聂晶 申请人:深圳市华腾半导体设备有限公司