专利名称：一种电容触摸屏测试系统的制作方法
技术领域：
一种电容触摸屏测试系统技术领域[0001]本实用新型属于触摸屏领域，尤其涉及一种电容触摸屏测试系统。
技术背景[0002]如今，触摸屏的应用已经相当广泛，作为一种输入设备，它具有直观、操作简便、便携、适用寿命长等特点，因而大量应用在各行各业，尤其是在消费电子产品领域，例如手机、 平板电脑上，已经随处可见。目前，应用最广泛的触摸屏为电阻式触摸屏和电容式触摸屏； 其中，相对于电阻式触摸屏，电容式触摸屏具有很多独特的优势，比如响应速度快等，使用时只需手指接触屏幕即可，而无需按压，同时还可进行多点触摸，正因为电容式触摸屏具有这么多的优点，目前已越来越多的被应用到电子产品上。[0003]而对于电容式触摸屏的测试，目前各个厂家的测试方法不尽相同，测试平台也不一致，有的在电脑端进行测试；有的在非电脑客户端进行测试，比如FPGA (Field — Programmable Gate Array,即现场可编程门阵列)平台等，虽然测试平台不一样，但作为最终的测试目的，都是为了对产品进行验证测试，保证良率，提高产品的品质。[0004]针对目前使用的电脑平台(PC)测试，其具有可靠性高、测试种类全面的优势；但是，如果进行大批量的生产测试，就会使得测试成本过高，同时需要使用IC供应商提供的专用夹具和专用软件进行测试，因此操作十分繁琐，不利于生产线上的员工使用。发明内容[0005]本实用新型的目的是解决现有技术中采用电脑平台测试成本过高、操作繁琐的技术问题，从而提供一种电容触摸屏测试系统，具有成本较低、操作简单、易于在生产线上使用和维护灵活的特点。[0006]本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的[0007]—种电容触摸屏测试系统，包括依次连接的触摸屏驱动模块、单片机、显示单元控制模块和显示单元，所述触摸屏驱动模块可连接待测电容触摸屏。[0008]本实用新型提供的电容触摸屏测试系统，当待测电容触摸屏被触摸以后会产生一个中断信号，通过触摸屏驱动模块传输到单片机，单片机接收到中断信号后，开始读取触摸屏驱动模块中产生的触摸数据信息并进行解析和判断处理，然后提取有用的触摸数据信息并通过显示单元控制模块传输到显示单元进行显示，将输入的信息实时反应到显示单元上，测试人员根据显示的结果与在电容触摸屏上触摸的动作是否一致来判断待测电容触摸屏的好坏。本实用新型提供的测试系统将触摸屏驱动模块、单片机、显示单元控制模块和显示单元集成到了一起，整个测试过程不需要PC机的干预，形成一套完整的测试方案，从而具有成本较低、操作简单、易于在生产线上使用和维护灵活的特点。
[0009]图1是本实用新型提供的电容触摸屏测试系统的原理示意图。[0010]图2是本实用新型提供的电容触摸屏测试系统中触摸屏驱动模块的系统结构图。[0011]图3是图2中触摸屏接口的原理示意图。
具体实施方式
[0012]为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。[0013]请参考图1所示，一种电容触摸屏测试系统，包括依次连接的触摸屏驱动模块11、 单片机12、显示单元控制模块13和显示单元14，所述触摸屏驱动模块11可连接待测电容触摸屏。[0014]本实用新型提供的电容触摸屏测试系统，当待测电容触摸屏被触摸以后会产生一个中断信号，通过触摸屏驱动模块传输到单片机，单片机接收到中断信号后，开始读取触摸屏驱动模块中产生的触摸数据信息并进行解析和判断处理，然后提取有用的触摸数据信息并通过显示单元控制模块传输到显示单元进行显示，将输入的信息实时反应到显示单元上，测试人员根据显示的结果与在电容触摸屏上触摸的动作是否一致来判断待测电容触摸屏的好坏。本实用新型提供的测试系统将触摸屏驱动模块、单片机、显示单元控制模块和显示单元集成到了一起，整个测试过程不需要PC机的干预，形成一套完整的测试方案，从而具有成本较低、操作简单、易于在生产线上使用和维护灵活的特点。[0015]请参考图2所示，作为具体的实施方式，所述触摸屏驱动模块11包括依次连接的触摸屏接口 111、分析处理单元112和外部接口 113，所述触摸屏接口 111与待测电容触摸屏连接，外部接口 113与单片机12连接。其中，所述触摸屏驱动模块11能够检测待测电容触摸屏生成的中断信号，同时还能够将待测电容触摸屏的触摸数据信息进行读取，经过分析处理单元112处理后，经过外部接口 113传输至单片机12中。[0016]请参考图3所法，作为具体的实施方式，为了实现中断信号的检测和触摸数据信息的读取，所述触摸屏接口 111包括复位线接口 TP_RESET、时钟信号线接口 TP_SCL、数据线接口 TP_SDA和中断信号线接口 TP_INTR。其中，所述复位线接口用于与待测电容触摸屏的复位端连接，实现触摸屏的复位和初始化，所述时钟信号接口用于为数据读取提供时钟，所述数据线接口用于接收触摸屏生成的触摸数据信息，所述中断信号接口用于接收触摸屏生成的中断信号。作为一种具体实施例，所述中断信号为一串方波，经过外部接口 113传输到单片机12的中断接口上，触摸屏驱动模块11中其它的信号接口连接到单片机的I/O 口上。[0017]作为具体的实施方式，所述触摸屏驱动模块11为FT5306驱动IC，它内部集成了一颗8位的MCU内核，能够支持多点触摸，最高可支持8. 9"的触摸屏，采集频率超过100赫兹，内建32KB的Flash，6KB的Data Memory的MCU，同时还具有主动模式、监控模式和睡眠模式三种工作模式。当然，本领域的技术人员根据前述对触摸屏驱动模块11性质的描述， 还可以选用其它合适的驱动IC，其具体的驱动IC并不局限于芯片FT5306。[0018]作为具体的实施方式，所述单片机为C8051FU6芯片，该芯片作为整个测试系统的主控芯片，是完全集成的混合信号片上系统型MCU芯片，具有64个数字I/O引脚(100脚 TQFP封装)或32个数字I/O引脚(64脚TQFP封装)。该芯片内部的时钟频率最高可达100 兆赫兹，采用流水线指令结构，70%的指令的执行时间为一个或两个系统时钟周期，较8051的处理能力提高一个数量级以上。工作时，单片机接收到中断信号以后，开始采集触摸屏驱动模块11内的触摸数据信息，其中的触摸数据都是以一个数据包的形式进行传输，接收到触摸数据以后，单片机开始对触摸数据进行解析和判断处理。如果数据不正确，将其丢弃； 如果数据正确，则提取出有用的数据信息，例如触摸点的坐标值、触摸点的数量，以及包括接触、抬起和持续接触三种触摸动作的触摸状态等。具体地，所述单片机对触摸数据进行解析和判断处理的过程为将触摸数据进行解析对比，如果接收到的触摸点的数量超出了触摸屏最多只能接收多少个点同时触摸的范围，例如触摸屏最多只能接收5个点同时触摸， 则认为这个数据包无效，应当舍弃；同样，如果触摸点的坐标值超出了触摸屏屏幕分辨率的范围，也应当为无效数据处理。最后，经过解析和判断处理，得到了有用的数据信息，并可将其保存在单片机的内部存储器中。[0019]作为具体的实施方式，所述显示单元控制模块13为RGB协议芯片SSD1963，在测试主板上，用该芯片来控制显示单元的显示。其中，该芯片内含有121 字节缓冲器，同时支持864X480XMbit的图像显示。当然，本领域的技术人员可以根据实际需要，还可进行其它型号的显示单元控制模块的选择。[0020]作为具体的实施方式，所述显示单元为TFT-IXD显示单元，具体可采用3. 8"的 TFT-IXD，分辨率为480 X 800，采用RGB接口与主控芯片C8051FU6进行通信，数据线宽度为 Mbit，颜色深度达到了 1600万。采用所述的TFT-IXD显示单元，用于将单片机解析和判断处理后的有用数据信息进行显示出来，供测试人员观察比较。具体地，所述TFT-LCD显示单元包括显示单元驱动模块，以及具有用于初始化显示单元驱动模块的串行外设接口和传输数据给显示单元驱动模块的RGB接口，所述串行外设接口与单片机连接，用来控制TFT-LCD 内部的显示单元驱动模块，并对其初始化；所述RGB接口用于连接显示单元控制模块和显示单元驱动模块，用来传输数据到显示单元驱动模块的GRAM中，以实现对显示单元的显示控制。[0021]作为优选地实施例，所述串行外设接口包括输入信号线接口 SDI、输出信号线接口 SDO和时钟信号线接口 SCL ；所述输入信号线接口用于给显示单元驱动模块输入数据，所述输出信号线接口用于读取显示单元驱动模块的数据，所述时钟信号线接口用于提供时钟信号。所述RGB接口包括行扫描信号线接口 HSYNC、列扫描信号线接口 VSYNC、使能信号线接口 ENABLE、时钟信号线接口 DOTCLK和数据线接口，其中数据线接口可以有很多条；所述行扫描信号线接口用于提供一个行开始信号，所述列扫描信号线接口用于提供一个列开始信号，所述使能信号线接口用于提供使能信号并标志数据开始传输，所述时钟信号线接口用于提供时钟信号，所述数据线接口用于传输数据。[0022]以下，将介绍本实用新型提出的电容触摸测试系统的工作过程[0023]1)、上电初始化[0024]整个测试系统上电，对触摸屏驱动模块、显示单元控制模块和显示单元驱动模块进行初始化。[0025]2)、检测电容触摸屏的状态，等待手指触摸[0026]单片机检测电容触摸屏的状态，等待手指触摸，直到有触摸输入为止。[0027]3)、单点划线测试[0028]测试人员用一根手指点击电容触摸屏，然后在屏上移动，此时TFT-IXD显示单元上就会在手指经过的轨迹上划出一条线。[0029]4)、多点放大缩小测试[0030]测试人员用两根手指触摸电容触摸屏，TFT-LCD显示单元会以两根手指所在点为对角线划出一个矩形框，然后两根手指之间的距离增大或减小，相应的矩形框也会跟着放大或减小，从而达到多点识别的目的。[0031]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种电容触摸屏测试系统，其特征在于，包括依次连接的触摸屏驱动模块、单片机、 显示单元控制模块和显示单元，所述触摸屏驱动模块可连接待测电容触摸屏。
2.根据权利要求1所述的电容触摸屏测试系统，其特征在于，所述触摸屏驱动模块包括依次连接的触摸屏接口、分析处理单元和外部接口，所述触摸屏接口与待测电容触摸屏连接，外部接口与单片机连接。
3.根据权利要求2所述的电容触摸屏测试系统，其特征在于，所述触摸屏接口包括复位线接口、时钟信号线接口、数据线接口和中断信号线接口。
4.根据权利要求2所述的电容触摸屏测试系统，其特征在于，所述触摸屏驱动模块为 FT5306 驱动 IC。
5.根据权利要求1所述的电容触摸屏测试系统，其特征在于，所述单片机为C8051F126-H-· I I心片。
6.根据权利要求1所述的电容触摸屏测试系统，其特征在于，所述显示单元控制模块为RGB协议芯片SSD1963。
7.根据权利要求1所述的电容触摸屏测试系统，其特征在于，所述显示单元为TFT-LCD显示单元。
8.根据权利要求7所述的电容触摸屏测试系统，其特征在于，所述TFT-LCD显示单元包括显示单元驱动模块，以及具有用于初始化显示单元驱动模块的串行外设接口和传输数据给显示单元驱动模块的RGB接口，所述串行外设接口与单片机连接，RGB接口用于连接显示单元控制模块和显示单元驱动模块。
9.根据权利要求8所述的电容触摸屏测试系统，其特征在于，所述串行外设接口包括输入信号线接口、输出信号线接口和时钟信号线接口。
10.根据权利要求8所述的电容触摸屏测试系统，其特征在于，所述RGB接口包括行扫描信号线接口、列扫描信号线接口、使能信号线接口、时钟信号线接口和数据线接口。
专利摘要本实用新型提供一种电容触摸屏测试系统，包括依次连接的触摸屏驱动模块、单片机、显示单元控制模块和显示单元，所述触摸屏驱动模块可连接待测电容触摸屏。本实用新型提供的电容触摸屏测试系统，当待测电容触摸屏被触摸以后会产生一个中断信号，通过触摸屏驱动模块传输到单片机，单片机接收到中断信号后，开始读取触摸屏驱动模块中产生的触摸数据信息并进行解析和判断处理，然后提取有用的触摸数据信息并通过显示单元控制模块传输到显示单元进行显示，测试人员根据显示的结果与在电容触摸屏上触摸的动作是否一致来判断待测电容触摸屏的好坏，整个测试过程不需要PC机的干预，从而具有成本较低、操作简单、易于在生产线上使用和维护灵活的特点。
文档编号G01R31/00GK202256514SQ20112028630
公开日2012年5月30日 申请日期2011年8月9日 优先权日2011年8月9日
发明者于腾达, 刘小龙 申请人:比亚迪股份有限公司