环行器电气性能测试系统及测试线缆的制作方法

文档序号:5934636阅读:370来源:国知局
专利名称:环行器电气性能测试系统及测试线缆的制作方法
技术领域
本实用新型涉及用于测量和评估环行器的技术指标的测试装置,具体的,涉及环行器电气性能测试系统和测试线缆。
背景技术
环行器是射频功放模块最重要的器件之一,技术指标的好坏直接影响产品的整机性能。目前环行器采用一个简易的测试夹具,用手将待测器件摆放到合适的位置并按着测 试,结果受人为因素影响很大。出厂测试报告中指标合格的环行器,在客户端检验经常出现指标临界或不合格的现象,反复确认的结果是操作人员测试手法的问题。对于一般的检验员或调测员,由于专业知识和工作经验欠缺无法判断指标不合格是否属于操作问题,只能将问题逐级上报耗费更多的人力资源去处理。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供环行器电气性能测试系统,该环行器电气性能测试系统能简单、方便、快捷、准确、低成本地测量评估环行器的技术指标,完全克服操作人员测试手法对结果的影响,保证供需双方测试结果的一致性。本实用新型所要解决的技术问题还包括提供用于上述环行器电气性能测试系统的测试线缆,该测试线缆配合上述环形器电气性能测试系统使用,保证更方便、更快捷、更准确地测量评估环行器技术指标。本实用新型为解决上述技术问题主要通过以下技术方案实现环行器电气性能测试系统,包括铜基板、以及安装在铜基板上的铜测试架,所述铜测试架具有两个相对的侧壁,所述两个侧壁构成容纳环形器的卡槽;并且所述侧壁上安装微带PCB和射频连接器。所述射频连接器的内部设有贯穿所述侧壁的导体,所述导体从侧壁的外部朝向卡槽的方向延伸。上述技术方案中,所述铜测试架用于固定环行器,所述卡槽的尺寸大小可以按被测环行器的结构来设计。微带PCB通常设计为50 Q阻抗匹配,并且用铜螺钉安装在铜测试架的侧壁上,使用时使微带PCB跟环行器的引脚接触。射频连接器的类型优选为法兰式SMA连接器,用铜螺钉固定在铜测试架的侧壁上,使用时跟网络分析仪的测试端口相连。进一步的技术方案,所述环行器电气性能测试系统还包括按压环形器的压合工装,所述压合工装包括安装在所述铜基板上具有压把的快速夹钳;所述压把上设有铜滑块、以及和所述铜滑块连接的压头螺丝。上述技术方案中,所述压合工装和所述铜测试架安装在同一块铜基板上。铜基板在支撑整个压合工装的同时,还起到固定所述铜测试架的作用。所述快速夹钳用于带动铜滑块和压头螺丝把环行器按在铜测试架上。所述铜滑块嵌在快速夹钳的压把上,并可以沿快速夹钳压把的轴线移动,因此可以调节压头螺丝的水平位置,方便了压合工装按压不同大小的环行器。[0010]所述压头螺丝包括连接在所述铜滑块上的铜螺柱、以及设置在所述铜螺柱末端的螺帽。所述铜螺柱上端旋在铜滑块上,下端连接螺帽。铜螺柱在快速夹钳压把的带动下可以垂直运动,因此可调节螺帽的高度以适应不同厚度的环行器。优选的是,所述螺帽为聚四氟乙烯螺帽。所述压合工装还包括电木块,所述快速夹钳的底部通过所述电木块与所述铜基板连接。所述电木块用于隔离铜基板和快速夹钳,起到绝热和垫高的作用。所述射频连接器远离卡槽的一端套设有连接器套筒;所述连接器套筒设有通孔,所述射频连接器从所述通孔穿过向所述铜测试架的外部延伸。优选的是,所述连接器套筒为铜套筒。所述测试线缆的末端具有快速连接到所述射频连接器的快插连接器。所述快插连 接器的一头与测试线缆的末端连接,另一头可以快速插入铜测试架的射频连接器上。在测试环行器的3个端口时可以实现快速插拔,解决高温测试时用手旋紧或拧下测试线缆时的被烫问题,同时也大幅度降低了更换测试线缆带来的热损失。所述连接器套筒经过射频连接器安装在所述测试架的侧壁上,可以避免快插连接器插入射频连接器时左右晃动,保证射频连接器的导体接触和外壳接地良好。优选的是,所述快插连接器为SMA快插连接器。本实用新型的使用方法是待测环行器的尺寸确定后,选择具有与其匹配尺寸卡槽的铜测试架,通过定位销将环形器和铜测试架卡在铜基板上,水平或垂直调节压头螺丝到规定位置便可开始测试。本实用新型与现有技术相比具有以下优点和有益效果(I)使用该工装后,测试结果将不再受人为因素影响,只要铜测试架的卡槽按要求制作,环行器的测试结果就能保持高度一致。(2)本实用新型测试线缆采用了快插连接器,压合工装采用了快插连接器的配合结构;因此可以迅速更换网络分析仪的测试线缆完成环行器3个端口的性能测试,尤其在高温时人手无法接触铜测试架的情况(原始的方法是戴隔热手套,但操作效率极低,会使环行器产生较大的热损耗而导致测试结果无效)。(3)本实用新型压合工装的快速夹钳可以根据测试数量多少选择手柄式或气动式,手柄式适用来料或出厂检验,移动、操作方便;气动式适用生产线测试,与手柄式相比测试效率极高且稳定。(4)本实用新型铜测试架和压合工装均安装在铜基板上,因此基础牢固。环形器可以灵活地嵌入到卡槽或者从卡槽抽出;并且压合工装的压头螺丝可水平或垂直自由调节以适应各种尺寸的环行器。(5)本实用新型整个环形器电气性能测试系统除快速夹钳(距离环行器有足够距离,对测试结果无任何影响)外全部使用铜基材,保证环行器上下无铁磁环境影响测试结果。

图I是本实用新型实施例I铜测试架的俯视图。图2是本实用新型实施例I的结构示意图。图3是本实用新型实施例I用于测试环形器时的使用示意图。[0024]附图中标记及相应的零部件名称1-铜基板,2-铜测试架,3-卡槽,4-微带PCB, 5-射频连接器,6-压合工装,7-压把,8-快速夹钳,9-铜滑块,10-压头螺丝,11-铜螺柱,12-螺帽,13-电木块,14-连接器套筒,15-测试线缆,16-快插连接器,17-网络分析仪,18-功率负载,19-环形器。
具体实施方式
下面结合实施例及附图,对本实用新型作进一步的详细说明,但本实用新型装置的实施方式不限于此。实施例I如图2所示,环行器电气性能测试系统包括铜基板I。铜基板I上方固定安装铜测试架2和压合工装6。其中,铜测试架2起夹持环形器的作用;压合工装起按压环形器的作用。如图I所示,铜测试架2为具有三个侧壁的U形结构,其中两个相对的侧壁构成容纳环形器的卡槽3。在每个侧壁上分别设有有微带PCB4和射频连接器5。所述微带PCB 4通过铜螺钉锁在所述侧壁上,射频连接器5通过铜螺钉锁在微带PCB 4的一侧;并且射频连接器5的内部设有贯穿所述侧壁的导体,所述导体从侧壁的外部朝向卡槽的方向延伸。所述射频连接器的类型优选为法兰式SMA连接器。如图2所示,压合工装6包括具有压把7的快速夹钳8。快速夹钳8的底部通过电木块13用螺钉固定在铜基板I上。在压把7上设有可以沿压把的轴线移动的铜滑块9、以及和所述铜滑块连接的压头螺丝10。铜滑块9以嵌入的方式设置在快速夹钳8的压把内,调节好水平位置后可以用螺钉锁死。压头螺丝10包括铜螺柱11和螺帽12。所述铜滑块9的一端设有螺孔,铜螺柱11恰好旋进铜滑块9的螺孔内,调节好垂直位置后螺孔上下用螺母锁定。螺帽12优选为聚四氟乙烯材料制成并固定在铜螺柱11的底端。如图3所示,为本实用新型的使用状态图。测试线缆15的N头连接网络分析仪17的两个端口。所述测试线缆15的末端具有可快速连接到所述射频连接器的快插连接器16。快插连接器16优选为SMA快插连接器。SMA快插连接器带螺纹的一头拧在测试线缆15的末端上,快插连接器6可插拔的一头插入到射频连接器5中。在所述射频连接器5远离卡槽的一端套设有连接器套筒14。并且连接器套筒14优选为铜套筒。所述射频连接器从所述铜套筒内设的通孔穿过向所述铜测试架的外部延伸。连接器套筒14的设置可以辅助快插连接器6与射频连接器的连接,使其更加牢固地固定在射频连接器5上。测试时,把环行器19放入铜测试架2的卡槽内。本实施例待测的环形器19具有三个端口,测试时,使其中的两个端口端口一和端口二接网络分析仪17,剩余的端口三接功率负载18。如上所述,便可以很好的实现本实用新型。
权利要求1.环行器电气性能测试系统,其特征在于,包括铜基板(I)、以及安装在铜基板上的铜测试架(2),所述铜测试架具有两个相对的侧壁,所述两个侧壁构成容纳环形器的卡槽(3);并且所述侧壁上安装微带PCB (4)和射频连接器(5)。
2.根据权利要求I所述的环行器电气性能测试系统,其特征在于,所述射频连接器的内部设有贯穿所述侧壁的导体,所述导体从侧壁的外部朝向卡槽的方向延伸。
3.根据权利要求I或2所述的环行器电气性能测试系统,其特征在于,还包括按压环形器的压合工装(6),所述压合工装包括安装在所述铜基板上具有压把(7)的快速夹钳(8);所述压把上设有铜滑块(9)、以及和所述铜滑块连接的压头螺丝(10)。
4.根据权利要求3所述的环行器电气性能测试系统,其特征在于,所述压头螺丝包括连接在所述铜滑块上的铜螺柱(11)、以及设置在所述铜螺柱末端的螺帽(12)。
5.根据权利要求4所述的环行器电气性能测试系统,其特征在于,所述螺帽为聚四氟乙烯螺帽。
6.根据权利要求3所述的环行器电气性能测试系统,其特征在于,所述压合工装还包括电木块(13),所述快速夹钳的底部通过所述电木块与所述铜基板连接。
7.根据权利要求I所述的环行器电气性能测试系统,其特征在于,所述射频连接器的类型为法兰式SMA连接器。
8.根据权利要求I所述的环行器电气性能测试系统,其特征在于,所述射频连接器远离卡槽的一端套设有连接器套筒(14);所述连接器套筒设有通孔,所述射频连接器从所述通孔穿过向所述铜测试架的外部延伸。
9.一种用于上述环行器电气性能测试系统的测试线缆,其特征在于,所述测试线缆(15)的末端具有快速连接到所述射频连接器的快插连接器(16)。
10.根据权利要求9所述的测试线缆,其特征在于,所述快插连接器为SMA快插连接器。
专利摘要本实用新型公开了环行器电气性能测试系统,包括铜基板、以及安装在铜基板上的铜测试架,所述铜测试架具有两个相对的侧壁,所述两个侧壁构成容纳环形器的卡槽;并且所述侧壁上安装微带PCB和射频连接器。该环行器电气性能测试系统能简单、方便、快捷、准确、低成本地测量评估环行器的技术指标,完全克服操作人员测试手法对结果的影响,保证供需双方测试结果的一致性。
文档编号G01R31/00GK202372590SQ20112053507
公开日2012年8月8日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日
发明者高鹏龙 申请人:成都芯通科技股份有限公司
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