专利名称：一种二极管极性检测电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及电子元件检测领域，特别涉及一种二极管极性检测电路。
背景技术：
随着技术的进步，LED、光耦等电 子器件在电子技术中得到越来越广泛的使用。而由于有许多电子器件为半导体二极管元件，在电路焊接时需考虑其引脚的极性，因此在电子产品的生产、制造过程中不可避免的需要对电子元器件进行极性检测。而在现有的技术中，一般采用在二极管的两端加一电压，通过判断光电子器件是否有电流经过来判断其极性，但是该方法无法判断二极管器件是否已经损坏，如要判断二极管损坏与否，则需分别从不同方向给二极管加一电压，根据在不同的情况下的电路的电流情况来判断二极管的极性以及是否损坏。而现有的技术缺乏一种能自动改变二极管两端的电压方向以进行极性检测的电路，需要人为地改变二极管两端的电压方向，因而效率低，严重影响产品的大规模检测。因此，为解决现有技术中的不足之处，提供能够自动改变二极管两端的电压方向的光电子器件极性检测电路显得尤为重要。
发明内容
本发明的目的在于避免上述现有技术中的不足之处而提供一种能够自动改变光电子器件两端的电压方向以进行极性检测的光电子器件极性检测电路。本发明的目的通过以下技术方案实现
一种二极管极性检测电路，包括测试电路，所述测试电路包括两组以上的H桥检测单元；所述H桥检测单元包括第一受控开关、第二受控开关、第三受控开关和第四受控开关，所述第一受控开关和第二受控开关串联在高电平与电源地之间，所述第一受控开关与所述第四受控开关同步，所述第二受控开关与第三受控开关同步；所述第三受控开关和第四受控开关串联在高电平与电源地之间，所述第一受控开关与第二受控开关的连接点为第一极测试接口，所述第三受控开关与第四受控开关的连接点为第二极测试接口。其中，所述第一受控开关、第二受控开关、第三受控开关和第四受控开关均为三极管。其中，还包括信号控制电路电路、通信电路和控制与结果输出电路，所述信号控制电路电路向测试电路发送控制信号并接收、处理测试电路输出的测试信号，所述通信电路使信号控制电路与PC机进行数据交换，所述控制与结果输出电路连接信号控制电路和上位机，同时所述控制与结果输出电路将上位机输入的触发信号向信号控制电路电路输出，并将信号控制电路电路输入的检测结果向上位机输出。其中，所述信号控制电路电路包括单片机U2，所述单片机U2设置有与测试电路连接的不少于八个的控制信号输出端口和不少于四个的测试信号输入端口。其中，所述通信电路包括线驱动器芯片U3和接口 J1，所述线驱动器芯片U3的R2IN和T20UT引脚与接口 Jl连接，所述线驱动器芯片U3的T2IN和R20UT引脚与信号控制电路连接。其中，所述控制与结果输出电路包括一路以上的触发信号电路和三路检测结果输出电路；在所述触发信号电路中，从上位机输入的触发信号经过光耦后向信号控制电路输出；在所述结果输出电路中，从信号控制电路输入的检测结果信号经过光耦后向上位机输出。其中，还包括电源电路，所述电源电路包括开关稳压芯片Ul和自恢复保险丝F1，所述自恢复保险丝Fl设置于电源电路的输入端，所述开关稳压芯片Ul的输入电压为24V，输出电压为5V。本发明的有益效果提供一种二极管极性检测电路，包括测试电路，所述的测试电路包括两组以上的H桥检测单元；第一受控开关、第二受控开关、第三受控开关和第四受控开关构成了一个H桥电路。当第一受控开关和第二受控开关导通时，第三受控开关和第四 受控开关截止，电路给待测的光电子器件两端加一正向电压；反之，电路给待测的光电子器件两端加一反向电压这样实现了电路自动给待测二极管提供正反向电压。同时通过分别检测第一极测试接口和第二极测试接口的电压即可判断待测元件的极性以及是否损坏，无需手动操作，极大提高了检测的效率。
利用附图对本发明作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本发明的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。图I为本发明光电子器件极性检测电路实施例的测试电路的电路图。图2为本发明光电子器件极性检测电路实施例的结构框图。图3为本发明光电子器件极性检测电路实施例的信号控制电路的电路图。图4为本发明光电子器件极性检测电路实施例的通信电路的电路图。图5为本发明光电子器件极性检测电路实施例的控制与结果输出电路的电路图。图6为本发明光电子器件极性检测电路实施例的电源电路的电路图。图7为本发明光电子器件极性检测电路实施例的电路图。在图I至图7中包括有
I——测试电路、2——信号控制电路、3——通信电路、4——控制与结果输出电路、5——电源电路。
具体实施例方式结合以下实施例对本发明作进一步描述。本发明光电子器件极性检测电路的具体实施方式
，如图2和图7所示，包括有测试电路I、信号控制电路电路2、通信电路3和控制与结果输出电路4，所述信号控制电路电路2可向测试电路I发送控制信号并接收、处理测试电路I输出的测试信号，所述通信电路3可使信号控制电路电路2与PC机进行数据交换，所述控制与结果输出电路4可向信号控制电路电路2输入测试触发信号，所述信号控制电路电路2可向控制与结果输出电路4输出检测结果。其中，信号控制电路电路2 —方面根据控制与结果输出电路4输入的驱动信号发送控制信号控制测试电路I进行检测，另一方面信号控制电路电路2根据接收到的由测试电路I输出的测试信号判断光电子的极性情况并将其输出给控制与结果输出电路4。同时，所述信号控制电路电路2具有多种工作模式以对应不同的光电子器件，通信电路3实现信号控制电路电路2与外部PC机之间的连接，使信号控制电路电路2可与外部PC机进行数据交换，所以通过PC机可以选择信号控制电路电路2的工作模式，使其与待测光电子器件对应。因此，该电路不仅可以同时测试多个二极管，还可以测试具有多个二极管的电子器件，如光稱等，提闻该电路的适用范围。本实施例中，如图I所示，测试电路I包括三脚插针JP4，型号为S8050的三极管Q31、三极管Q32、三极管Q33、三极管Q41、三极管Q42、三极管Q43、三极管Q51、三极管Q52、三极管Q53、三极管Q61、三极管Q62、三极管Q63、三极管Q71、三极管Q72、三极管Q73、三极管Q81、三极管Q82和三极管Q83 ;阻值为1ΚΩ、精度为5%的电阻R33、电阻R35、电阻R43、电阻R45、电阻R53、电阻R55、电阻R63、电阻R65、电阻R73、电阻R75、电阻R83和电阻R85， 阻值为100 ΚΩ、精度为5%的电阻R31、电阻R41、电阻R51、电阻R61、电阻R71和电阻R81，阻值为10 ΚΩ、精度为1%的电阻R30、电阻R40、电阻R50、电阻R60、电阻R70和电阻R80，阻值为6. 2 ΚΩ、精度为1%的电阻R36、电阻R46、电阻R36、电阻R56、电阻R66、电阻R76和电阻R86，阻值为3ΚΩ、精度为1%的电阻R37、电阻R47、电阻R57、电阻R67、电阻R77和电阻R87，用于连接LED芯片引脚的六针插座JP5，用于连接光耦芯片引脚的四针插座JP6。其中三脚插针JP4的第一个引脚与24V电源连接，第三个引脚与5V电源连接；所述三极管Q31的集电极经电阻R31与三脚插针JP4的第二个引脚、经电阻R32与三极管Q32的控制信号输入端连接连接，所述三极管Q31的基极经电阻R33与三极管Q32的控制信号输入端连接连接，所述三极管Q31的发射极接电源地，所述三极管Q32的集电极经电阻R30与三脚插针JP4的第二个引脚连接，所述三极管Q32的基极与三极管Q31的集电极连接，所述三极管Q32的发射极与所述三极管Q33的集电极、经电阻R34与三极管Q32的控制信号输入端连接，所述三极管Q33的基极经电阻R35与三极管Q33的控制信号输入端连接，所述三极管Q33的发射极接电源地，所述电阻R36的一端与三极管Q32的发射极连接，另一端与电阻R37的一端以及测试信号输出端连接，所述电阻R37的另一端接电源地；所述三极管Q41的集电极经电阻R41与三脚插针JP4的第二个引脚、经电阻R42与三极管Q42的控制信号输入端连接连接，所述三极管Q41的基极经电阻R43与三极管Q42的控制信号输入端连接连接，所述三极管Q41的发射极接电源地，所述三极管Q42的集电极经电阻R40与三脚插针JP4的第二个引脚连接，所述三极管Q42的基极与三极管Q41的集电极连接，所述三极管Q42的发射极与所述三极管Q43的集电极连接，三极管Q42的发射极经电阻R44与三极管Q42的控制信号输入端连接，所述三极管Q43的基极经电阻R45与三极管Q43的控制信号输入端连接，所述三极管Q43的发射极接电源地，所述电阻R46的一端与三极管Q42的发射极连接，另一端与电阻R47的一端以及测试信号输出端连接，所述电阻R47的另一端接电源地；以上三极管Q31、三极管Q32、三极管Q33、三极管Q41、三极管Q42、三极管Q43、电阻R30、电阻R31、电阻R32、电阻R33、电阻R34、电阻R35、电阻R36、电阻R37、电阻R40、电阻R41、电阻R42、电阻R43、电阻R44、电阻R45、电阻R46和电阻R47构成了第一组H桥检测单元，其中三极管Q32为第一受控开关、三极管Q33为第二受控开关、三极管Q42为第三受控开关、三极管Q43为第四受控开关，三极管Q32的发射极为第一级测试接口，三极管Q42的发射极为第二极测试接口。与以上连接机构相似的，三极管Q51、三极管Q52、三极管Q53、三极管Q61、三极管Q62、三极管Q63、电阻R50、电阻R51、电阻R52、电阻R53、电阻R54、电阻R55、电阻R56、电阻R57、电阻R60、电阻R61、电阻R62、电阻R63、电阻R64、电阻R65、电阻R66和电阻R67构成了第二组H桥检测单元，其中三极管Q52为第一受控开关、三极管Q53为第二受控开关、三极管Q62为第三受控开关、三极管Q63为第四受控开关；三极管Q71、三极管Q72、三极管Q73、三极管Q81、三极管Q82、三极管Q83、电阻R70、电阻R71、电阻R72、电阻R73、电阻R74、电阻R75、电阻R76、电阻R77、电阻R80、电阻R81、电阻R82、电阻R83、电阻R84、电阻R85、电阻R86和电阻R87构成了第三组H桥检测单元，其中三极管Q72为第一受控开关、三极管Q73为第二受控开关、三极管Q82为第三受控开关、三极管Q83为第四受控开关。其中，所述插座JP6的引脚Tl与三极管Q32的发射极连接、所述插座JP6的引脚T2与三极管Q42的发射极连接、所述插座JP6的引脚T3与三极管Q52的发射极连接、所述插座JP6的引脚T4与三极管Q62的发射极连接，所述插座JP5的引脚Tl与三极管Q32的发射极连接、所述插座JP5的引脚T2与三极管Q42的发射极连接、所述插座JP5的引脚T3 与三极管Q52的发射极连接、所述插座JP5的引脚T4与三极管Q62的发射极连接，所述插座JP5的引脚T5与三极管Q72的发射极连接、所述插座JP5的引脚T6与三极管Q82的发射极连接。对光电子器件进行极性检测时，将电子器件插入相对应的插座内，每一个H桥检测单元都根据信号控制电路2发出的控制信号执行极性检测。以第一组H桥检测单元为例，在极性检测时，三极管Q32、三极管Q33、三极管Q42和三极管Q43构成了一个H桥电路，待测光电子器件的一端与三极管Q32的发射极连接，另一端与三极管Q42的发射极连接；此时在信号控制电路电路2的控制下三极管Q32和三极管Q43导通，三极管Q33和三极管Q42截止，此时三极管Q32和三极管Q43形成一通路，如果三极管Q32的发射极为低电平，则待测光电子器件与三极管Q32的发射极连接端为正极，反之则为负极；同理，在完成一个方向的测试后，在信号控制电路电路2的控制下三极管Q32和三极管Q43变为截止，三极管Q33和三极管Q42导通，同理，如果三极管Q42的发射极为低电平，则待测光电子器件与三极管Q42的发射极连接端为正极，反之则为负极；另外，如果两次测试后三极管Q32的发射极以及三极管Q42的发射极均为低电平，则可以判断该光电子器件已经损坏。所以该电路能够自动改变光电子器件两端的电压方向以对光电子器件进行极性检测，在提高检测结果的准确性的同时不影响检测效率。另外，本电路具有三组H桥检测单元，所以该电路可以同时检测多个两个引脚的二极管或者一个具备多个二极管的电子器件，进一步提高了检测效率。本实施例中，如图3所示，所述信号控制电路电路2包括型号为ATMEGA16L的AVR单片机U2，8M晶振Yl，型号为1N4148的开关二极管D5，轻触开关SI，10uF/50V的电容C4，22pF的电容C5、电容C6，O. luF/50V的电容C7、电容C8、电容C9和电容CIO, IOuH的电感L2,10KQ/0. 125W的电阻R5，lKQ/0. 125W的电阻R22，发光二极管D6，2x5针插座JP2 ;所述单片机的引脚RESET与轻触开关SI的一端、电容C4的一端、二极管D5的正极以及电阻R5的一端连接，所述电阻R5的另一端以及二极管D5的负极分别与5V电源连接，所述轻触开关SI的另一端以及电容C4的另一端分别接电源地；所述单片机的引脚XTALl与晶振Yl的一端以及电容C6的一端连接，所述单片机的引脚XTAL2与晶振Yl的另一端以及电容C5的一端连接，所述电容C5，C6的另一端分别接电源地；所述单片机的VACC引脚与电感L2的一端、电容C9的一端连接，所述电感的另一端与电容C8的一端连接，所述电容C9的另一端、电容C8的另一端分别接电源地，所述单片机的AREF引脚与电容ClO的一端连接，所述电容ClO的另一端接电源地；所述单片机的TCK引脚、TDO引脚、TMS引脚和TDI引脚分别与插座JP2的I引脚、3引脚、5引脚和9引脚连接，所述插座JP2的4引脚和7引脚与分别与5V电源连接，所述插座JP2的2引脚和10引脚分别接电源地；所述单片机的PCO引脚与发光二极管D6的负极连接，所述发光二极管D6的正极与电阻R22的一端连接，所述电阻R22的另一端与5V电源连接；所述单片机的所有GND引脚接电源地，所述单片机的所有VCC端与5V电源以及电容C7的一端连接，所述电容C7的另一端接电源地；所述单片机的引脚PBOdI脚PB1、引脚PB3、引脚PB4、引脚PB5、引脚PB6、引脚PB7、引脚TO4、引脚TO5、引脚TO6、引脚 PD7和引脚PA7分别与测试电路I的控制信号输入端口连接，所述单片机的弓I脚ADCO、引脚ADC1、引脚ADC2、引脚ADC3、引脚ADC4、引脚ADC5和ADC6分别与测试电路I的测试信号输出端连接。采用单片机可以方便的实现对测试电路I的信号控制、处理测试信号以及与外部通信的功能，大大简化了信号控制电路电路2的电路；同时使用元件较少，成本低。本实施例中，如图4所示，所述通信电路3包括型号为MAX232的线驱动器芯片U3，luF/50V的电容Cl I、电容C12、电容C13和电容C14,0. luF/50V的电容C15，9针DB9母头接口 Jl ;所述的线驱动器芯片U3的Cl+引脚与电容Cll的一端连接，所述电容Cll的另一端与的线驱动器芯片U3的Cl-引脚连接，所述的线驱动器芯片U3的C2+引脚与电容C12的一端连接，所述电容C12的另一端与的线驱动器芯片U3的C2-引脚连接，所述线驱动器芯片U3的R2IN引脚和T20UT引脚与接口 Jl的引脚3和引脚2连接，所述线驱动器芯片U3的T2IN和R20UT引脚与信号控制电路电路2连接的引脚TXD和引脚RXD连接；所述线驱动器芯片U3的引脚VDD与电容C14的一端连接，所述电容C14的另一端与5V电源以及电容C15的一端连接，所述电容C15的另一端接电源地，所述线驱动器芯片U3的引脚VCC与5V电源连接，所述线驱动器芯片U3的引脚VEE与电容C13的一端连接，所述电容C13的另一端接电源地。该通信电路电路可以可靠的实现信号控制电路电路2与外部PC机的信号交换，而且MAX232芯片符合所有的RS-232C技术标准，所以该电路可通过不同的PC机实现控制。本实施例中，如图5所示，所述控制与结果输出电路4包括型号为PC817的光耦U7、光耦U8、光耦U9、光耦U10、光耦Ull和光耦U12，IOK Ω/0. 125W的电阻R6，电阻R7，电阻R9、电阻R10、电阻R13、电阻R14、电阻R17、电阻R19，电阻R21，4. 7ΚΩ/0. 125W的电阻R8、电阻R12和电阻R15，330 Ω /0. 125W的电阻R16、电阻R18和电阻R20，6针输入输出连接座JP3 ;所述光耦U7的发光二极管的正极与电阻R7的一端连接，所述电阻R7的另一端与输入输出连接座JP3的引脚SOT以及电阻R6的一端连接，所述电阻R6的另一端接24V电源，所述光耦U7的发光二极管的负极接电源地，所述光耦U7的光敏二极管的正极与单片机U2的引脚INT2以及电阻R8的一端连接，所述电阻R8的另一端与5V电源连接，所述光耦U7的光敏二极管的负极接电源地；所述光耦U8的发光二极管的正极与电阻RlO的一端连接，所述电阻RlO的另一端与输入输出连接座JP3的引脚P_S0T以及电阻R9的一端连接，所述电阻R9的另一端接24V电源，所述光耦U8的发光二极管的负极接电源地，所述光耦U8的光敏二极管的正极与单片机U2的引脚INTO以及电阻R12的一端连接，所述电阻R12的另一端与5V电源连接，所述光耦U8的光敏二极管的负极接电源地；所述光耦U9的发光二极管的正极与电阻R14的一端连接，所述电阻R14的另一端与输入输出连接座JP3的引脚N_SOT以及电阻R13的一端连接，所述电阻R13的另一端接24V电源，所述光耦U9的发光二极管的负极接电源地，所述光耦U9的光敏二极管的正极与单片机U2的引脚INTl以及电阻R15的一端连接，所述电阻R15的另一端与5V电源连接，所述光耦U9的光敏二极管的负极接电源地；所述光耦UlO的 发光二极管的正极与电阻R16的一端连接，所述电阻R16的另一端与单片机U2的引脚PA6连接，所述光耦UlO的发光二极管的负极接电源地，所述光耦UlO的光敏二极管的正极与电阻R17的一端以及输入输出连接座JP3的引脚EOT连接，所述光耦UlO的光敏二极管的负极接电源地；所述光耦Ull的发光二极管的正极与电阻R18的一端连接，所述电阻R18的另一端与单片机U2的引脚PC6连接，所述光耦Ull的发光二极管的负极接电源地，所述光耦Ull的光敏二极管的正极与电阻R19的一端以及输入输出连接座JP3的引脚VOl连接，所述光耦Ull的光敏二极管的负极接电源地；所述光耦U12的发光二极管的正极与R20的一端连接，所述R20的另一端与单片机U2的引脚PA7连接，所述光耦U12的发光二极管的负极接电源地，所述光耦U12的光敏二极管的正极与电阻R21的一端以及输入输出连接座JP3的引脚V02连接，所述光耦U12的光敏二极管的负极接电源地。该控制与结果输出电路4可方便的与上位机连接，方便电路更好的与上位机结合。同时将输入、输出信号经过光耦后再传输，提高了信号的抗干扰能力。本实施例中，还包括电源电路，如图6所示，所述电源电路5包括型号为MC33063的开关稳压芯片U1，自恢复保险丝F1，肖特基二极管D1，肖特基二极管D3，瞬态抑制二极管D2，发光二极管D4，100uF/63V的极性铝电解电容Cl，470uF/50V的无极性电容C2，470uF/10V的极性铝电解电容C3，IOOuH的功率电感LI，O. 27 Ω /0. 5W的电阻 Rl，3· 65ΚΩ/0. 125W、精度为 1% 的电阻 R2，I. 21ΚΩ/0. 125W、精度为 1% 的电阻 R3，330Ω/0. 125W的电阻R4，三脚插针JPl ;所述三脚插针JPl的引脚I与24V电源以及自恢复保险丝Fl的一端连接，所述三脚插针JPl的引脚3接电源地，所述自恢复保险丝Fl的另一端与肖特基二极管Dl的正极连接，所述肖特基二极管Dl的负极与瞬态抑制二极管D2的负极、电阻Rl的一端以及电容Cl的正极连接，所述瞬态抑制二极管D2的正极、电容Cl的负极接电源地；所述电阻Rl的另一端与开关稳压芯片Ul的引脚IPKS、引脚DC以及引脚SWC连接，所述开关稳压芯片Ul的引脚VCC与电容Cl的正极连接，所述开关稳压芯片Ul的引脚TC与电容C2的一端连接，所述电容C2的另一端接电源地，所述开关稳压芯片Ul的引脚GND接电源地，所述开关稳压芯片Ul的引脚SWE与肖特基二极管D3的正极以及电感LI的一端连接，所述肖特基二极管D3的正极接电源地，所述电感LI的另一端接5V电源输出端；所述电阻R2的一端与5V电源连接，另一端与开关稳压芯片Ul的引脚CII以及电阻R3的一端连接，所述电阻R3的另一端接电源地，所述5V电源输出端还与电容C3的正极以及电阻R4的一端连接，所述电容C3D负极接电源地，所述电阻R4的另一端与发光二极管D4的正极连接，所述发光二极管D4的负极接电源地。采用MC33063的开关稳压芯片可以根据外部分压电路的电压确定输出电压的值，将输入电压降压至设定值，在这里电源电路将24V电压稳压至5V电压，为其他电路供电，电压稳定可靠。同时自恢复保险丝Fl能够有效的防止电路过载。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对本发明保 护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
权利要求
1.一种二极管极性检测电路，包括测试电路(1)，其特征在于所述测试电路(I)包括两组以上的H桥检测单元；所述H桥检测单元包括第一受控开关、第二受控开关、第三受控开关和第四受控开关，所述第一受控开关和第二受控开关串联在高电平与电源地之间，所述第三受控开关和第四受控开关串联在高电平与电源地之间；所述第一受控开关与所述第四受控开关同步，所述第二受控开关与第三受控开关同步；所述第一受控开关与第二受控开关的连接点为第一极测试接口，所述第三受控开关与第四受控开关的连接点为第二极测试接口。
2.如权利要求I所述的一种二极管极性检测电路，其特征在于所述第一受控开关、第二受控开关、第三受控开关和第四受控开关均为三极管。
3.如权利要求I所述的一种二极管极性检测电路，其特征在于还包括信号控制电路(2)、通信电路(3)和控制与结果输出电路(4)，所述信号控制电路(2)向测试电路(I)发送控制信号并接收、处理测试电路(I)输出的测试信号，所述信号控制电路(2)通过通信电路(3)与PC机进行数据交换，所述控制与结果输出电路(4)连接信号控制电路(2)和上位机，同时所述控制与结果输出电路(4)将上位机输入的触发信号(4)向信号控制电路(2)输出，并将信号控制电路(2 )输入的检测结果向上位机输出。
4.如权利要求3所述的一种二极管极性检测电路，其特征在于所述信号控制电路电路(2)包括单片机U2，所述单片机U2设置有与测试电路(I)连接的不少于八个的控制信号输出端口和不少于四个的测试信号输入端口。
5.如权利要求3所述的一种二极管极性检测电路，其特征在于所述通信电路(3)包括线驱动器芯片U3和接口 Jl，所述线驱动器芯片U3的R2IN和T20UT引脚与接口 Jl连接，所述线驱动器芯片U3的T2IN和R20UT引脚与信号控制电路(2)连接。
6.如权利要求3所述的一种二极管极性检测电路，其特征在于所述控制与结果输出电路(4)包括一路以上的触发信号电路和三路检测结果输出电路；在所述触发信号电路中，从上位机输入的触发信号经过光耦后向信号控制电路(2)输出；在所述结果输出电路中，从信号控制电路(2)输入的检测结果信号经过光耦后向上位机输出。
7.如权利要求I所述的一种二极管极性检测电路，其特征在于还包括电源电路(5)，所述电源电路(5)包括开关稳压芯片Ul和自恢复保险丝Fl，所述自恢复保险丝Fl设置于电源电路(5)的输入端，所述开关稳压芯片Ul的输入电压为24V，输出电压为5V。
全文摘要
本发明涉及电子元件检测领域，特别涉及一种二极管极性检测电路，包括测试电路，所述的测试电路包括两组以上的H桥检测单元；第一受控开关、第二受控开关、第三受控开关和第四受控开关构成了一个H桥电路。当第一受控开关和第二受控开关导通时，第三受控开关和第四受控开关截止，电路给待测的光电子器件两端加一正向电压；反之，电路给待测的光电子器件两端加一反向电压这样实现了电路自动给待测二极管提供正反向电压。同时通过分别检测第一极测试接口和第二极测试接口的电压即可判断待测元件的极性以及是否损坏，无需手动操作，极大提高了检测的效率。
文档编号G01R31/26GK102879724SQ20121037311
公开日2013年1月16日 申请日期2012年9月29日 优先权日2012年9月29日
发明者吴涛, 李斌 申请人:广东志成华科光电设备有限公司