织物撕破强力测试用的梯形试样裁样器的制作方法

文档序号:5977128阅读:426来源:国知局
专利名称:织物撕破强力测试用的梯形试样裁样器的制作方法
技术领域
本实用新型涉及纺织品检测领域,具体是指一种机织物或非织造布撕破性能测定时使用的梯形试样裁样器。
背景技术
衣服在穿着过程中,很有可能会出现被物体勾住,局部纱线受力断裂而形成裂缝,出现撕破情况。对此,我国制定了撕破强力测定的国家标准。根据我国现行的国家标准,纺织品的撕破强力检测有5种方法,其中国家标准《GB/T 3917. 3— 2009纺织品织物撕破性能第3部分梯形试样撕破强力的测定》被许多纺织品的产品标准所引用。该标准规定了在强力试验仪上测试的试样的规格尺寸和夹持方式,检测数据有很好的重复性和可比性。 但是,在测试前裁取试样过程中,要由人工在试样上规定位置画等腰梯形及剪切口,不但费时,而且容易存在偏差,影响试验结果的准确性。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种能在梯形试样撕破强力的常规试验条件下,快速并能准确地完成试样裁取的裁样器。本实用新型所提出的裁样器采用厚1_的金属或塑料板制成,该试样裁样器呈矩形,其中上下两侧为两条相互平行的长边,均长150mm,左右两侧为与长边垂直的两条短边,均长75mm,中心线LI距离两短边均为75mm ;在中心线上距上长边15mm处有一个圆形小孔,上长边上设有左右两个豁口,左右两个豁口分别距离左右两短边62. 5mm,下长边上设有左右两个豁口,左右两个豁口分别距离左右两短边25mm。所述的梯形试样裁样器的小孔为通孔,且带有深O. 5_、直径为2_的扩孔。所述的梯形试样裁样器的所有豁口均为贯通的,其深度均为O. 5mm。其优点是按照本裁样器的豁口和小孔在面料试样上标记后,直接连接对应标记点,就可以满足国家标准GB/T 3917. 3—2009中试样要求,裁取的试样尺寸规格统一,偏差小,精度高;用时少,效率高,无需在面料试样上划梯形剪切口,取样更快捷、精准。

图I为本实用新型的立体结构示意图;图2为梯型试样裁取前画样排列图。图中,1、3、4、5—豁口;2—小孔;Al—上长边;A2—下长边;BI—左短边;B2—右短边;[0014]LI—中心线。
具体实施方式
在一块Im长全幅的面料上,先将机织物铺平,观察布料表面,确保没有明显疵点和折痕后,然后在距离布边纬向方向15mm以上、经向方向5mm上的位置放置梯形裁样器。使两条长边平行于面料纬纱,然后用记号笔分别对各豁口和小孔标记。在试样面料上按测试要求连接好对应的豁口标记点,完成纬向试样的取样。在这块纬向试样的下方,将模板转向,再按上述方法进行经向试样的取样。 重复画样和标记并连接的动作,可以顺利完成满足国标要求的5块梯形试样取样,并确保所有纬向试样的纬纱不重复,所有经向试样的经纱不重复,使试样更具代表性。
权利要求1.一种织物撕破强力测试用梯形试样裁样器,由厚Irnm的金属或塑料板制成,其特征在于呈矩形,两条相互平行的长边(Al)、(A2)均长150mm,两条短边与长边垂直,均长75mm,中心线(LI)距离两短边(BI)、(B2)均为75mm ;在中心线(LI)上距上长边(Al) 15mm处有一个圆形小孔(2),上长边(Al)上设有两个豁口(I)、(3),两个豁口分别距离两短边(BI)、(B2) 62. 5mm,下长边(A2)上设有两个豁口(4)、(5),两个豁口分别距离两短边(BI)、(B2)25mm。
2.如权利要求I所述的织物撕破强力测试用梯形试样裁样器,其特征在于小孔(2)为通孔,且带有深O. 5mm、直径为2mm的扩孔。
3.如权利要求I所述的织物撕破强力测试用梯形试样裁样器,其特征在于所有豁口(I)、(3)、(4)、(5)均为贯通的,其深度均为O. 5_。
专利摘要一种织物撕破强力测试用的梯形试样裁样器,由厚1mm的金属或塑料板制成,呈矩形,两条相互平行的长边长150mm,两条与长边垂直的短边长75mm,中心线距离两短边均为75mm;在中心线上距上长边15mm处有一个圆形小孔,上长边上设有两个豁口,两个豁口距离左右两短边的距离各为62.5mm,下长边上设有两个豁口,两个豁口距离左右两短边的距离各为25mm。梯形试样裁样器的小孔为通孔,且带有深0.5mm、直径为2mm的扩孔。梯形试样裁样器的所有豁口均为贯通的,其深度均为0.5mm。其优点是按照本裁样器的豁口和小孔在面料试样上标记后,直接连接对应标记点,就可以满足国家标准GB/T3917.3-2009中试样要求,裁取的试样尺寸规格统一,偏差小,精度高;用时少,效率高,取样更快捷、精准。
文档编号G01N1/04GK202631290SQ20122016358
公开日2012年12月26日 申请日期2012年4月18日 优先权日2012年4月18日
发明者方磊, 任海龙, 葛惠萍, 何春泉 申请人:上海市毛麻纺织科学技术研究所
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