专利名称：一种emi测试设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电磁屏蔽设备,特别涉及一种EMI测试设备。
背景技术：
随着移动通信终端的功能的日益复杂和尺寸的不断减小，由此带来的终端系统各模块之间的干扰问题也日益突出。为了将其与外部信号隔离从而顺利地测试干扰信号的大小，一般采用在电磁屏蔽设备内进行相关的测试。在电磁干扰测试设备中，为了隔离设备内、外电磁场，通常的EMI测试设备都设置有电磁屏蔽盒，被测模块在电磁屏蔽盒的盒体内部进行测试，以保证待测信号的质量。用于模块的EMI测试设备，通常在电磁屏蔽盒盒体内部固定设置有测试板，在盒 体的侧部设置有连接孔和插接件、用以将测试板的电源连接，测试板上设置有用以连接待测模块的插接口，待测模块通过该插接口与测试板连接，并对测试板加电，并通过待测模块上的输入信号接口、输出信号接口数据进行测试。如申请号为200820124691. 6的中国实用新型专利《导电衬垫电磁屏蔽效能测试装置》公开了一种EMI测试设备，包括由盒体和盖板组成的电磁屏蔽盒、以及设置于电磁屏蔽盒上的线缆接口，盒体和盖板通过连接法兰直接连接，电缆通过设置于电磁屏蔽盒上的开口贯穿后接入，虽然电磁屏蔽盒整体将内、外部信号隔离，减少了干扰信号，但其仍存在以下不足之处I、电磁屏蔽盒的密闭性能不佳、易出现干扰，影响测试的结果，尤其是在盒体上的电源接入口、以及盒体与盖板的接缝处干扰情况严重。2、在进行大功率测试时，信号干扰强度大，仅通过在电源接入时进行隔离屏蔽，信号的稳定性仍然较差，测试结果中bug率高。3、用以信号测试的测试板仅通过螺纹沿竖直方向固定设置于盒体内部，然而测试板在使用过程中需多次承受模块沿横向的插拔，测试板与定位螺钉的连接处在模块插拔过程中容易损坏，导致测试板松动、移位。4、装置整体便携性差。5、测试过程中装置整体振动严重，影响测试结果的准确性。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题在于克服现有技术中电磁屏蔽性能不佳，易出现干扰，影响测试的结果的不足，提供一种电磁屏蔽性能更好，测试结果更加准确可靠的EMI测试设备。为解决该技术问题，本实用新型提供了以下技术方案一种EMI测试设备，其特征在于包括盒体和盖板，所述盖板设置于盒体的上方，所述盒体内部设置有测试板，盒体的侧壁设置有模块插口和电源接口，所述电源接口上设置有接插件，所述接插件的两端分别与测试板和电源连接，所述接插件与盒体的连接处设置有导电衬垫。优选的，在所述盖板上与盒体的连接处设置有导电泡棉。优选的，所述盖板与盒体之间设置有定位止ロ。优选的，所述盒体内设置有至少ー个屏蔽壳，所述屏蔽壳与盒体围成屏蔽腔，所述屏蔽腔与电源接ロ连通，所述屏蔽壳与盒体可拆装连接。优选的，所述盒体内依次设置有两个屏蔽腔，其中与电源接ロ连通的屏蔽腔内设置有穿心电容，远离电源接ロ的屏蔽腔内设置有滤波器；所述电源与穿心电容的一端连接，所述穿心电容的另一端与滤波器的一端连接，所述滤波器的另一端与测试板连接。更进一歩，为了克服现有技术中测试板与定位螺钉的连接处在模块插拔过程中容易损坏，导致测试板松动、移位的不足之处，在上述EMI测试设备中 优选的，所述测试板的侧面设置有至少ー个限位块，所述限位块设置于盒体内部，所述限位块与盒体的内底面活动连接。优选的，所述限位块上设置有导向滑槽，所述盒体的内底面上设置有限位螺孔，所述限位螺孔上设置有限位螺栓，所述限位螺栓穿过导向滑槽后与限位螺孔螺纹连接。优选的，所述盒体内设置有导向块，所述导向块的导向、与导向滑槽的导向相同，所述限位块通过导向滑槽与导向块滑动配合。更进一歩，为了克服现有技术中装置整体便携性差、以及测试过程中装置整体振动严重的不足之处，优选的，在上述EMI测试设备中优选的，所述盒体的底部设置有弾性垫块。优选的，所述盒体的侧壁设置有拉手，所述拉手螺纹连接于盒体的侧壁。与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下I、通过在接插件与盒体之间设置导电衬垫，減少了电源连接处的电磁干扰，保持接插件与盒体之间的缝隙处的导电连续性、减小其接触电阻，从而降低接合处两端的电压，减小缝隙的电磁泄漏，使装置整体的电磁屏蔽性能更好，测试结果更加准确可靠。2、通过在盒体内部用密闭的屏蔽壳进ー步进行电磁屏蔽，提高电磁屏蔽性能。3、测试板的侧面紧固于限位块和盒体之间，以限位块与测试板之间的反作用力、抵消插拔待测模块时水平方向的推拉力，从而防止了测试板上的安装孔与螺栓之间应カ集中的情况，以使得测试板的安装强度更好，从而防止待测模块多次插拔后测试板移位或损坏。4、通过增设拉手，提高了装置的便携性能；5、通过在盒体底部设置用以支撑、减震的弾性垫块，減少因设备振动影响测试，使测试结果更加准确。
图I为本实用新型的结构示意图；图2为本实用新型中电源接ロ处导电衬垫的连接关系示意图；图3为图2的爆炸示意图；图4为本实用新型中盖板与盒体之间导电泡棉的连接关系示意图；图5为本实用新型中屏蔽壳的连接示意图；[0036]图6为图5的爆炸示意图；图7为本实用新型中屏蔽壳的一种实施方式的示意图；图8为本实用新型中屏蔽壳的连接方式示意图；图9为本实用新型中凸耳部位的结构示意图；图10为本实用新型中凸耳部位的俯视图；图11为本实用新型中限位结构的俯视图；图12为本实用新型中限位结构的立体示意图；图13为图12的另一方位的立体示意图；图14为图12中限位螺栓的连接示意图；图15为图12中未安装测试板时的结构示意图；图16为图12中限位块的结构示意图；图17为图12中限位螺栓的连接示意图；图18为安装拉手后的结构示意图；图19为安装拉手和弹性垫块后的结构示意图；图20为本实用新型中连接接地铜线的结构示意图；图21为图20的另一方位的立体示意图；图22为图20的主视图；图23为本实用新型中连接接地铜线的另ー结构的示意图。图中标记盒体一I ;模块插ロ一Ia ;电源接ロ一Ib ;盖板一2 ;测试板一3 ;接插件一4 ;导电衬垫一5 ;导电泡棉一6 ;屏蔽壳一7 ;顶板一7a ;侧板一7b ;第ー侧板一7bI ；第二侧板一7b2 ;第ニ侧板一7b3 ;螺纹孔一7c ;凸耳一7d ;屏蔽腔一8 ;穿心电容一9 ;滤波器一10 ;安装孔一11 ;定位支柱一12 ;螺栓一13 ;限位块一14 ;导向滑槽一14a ;导向块一14b ;限位螺栓一15 ;待测模块一16 ;弹性垫块一17 ;拉手一18 ;导体接线柱一19 ;穿线孔一20 ;螺母一21 ;压环一22 ;弹黃一23 ;限位螺钉一24。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进ー步的说明。本实用新型的实施方式不限于以下实施例，在不脱离本实用新型宗g的前提下做出的各种变化均属于本实用新型的保护范围之内。实施例I如图I至图4所示，本实施例EMI测试设备包括盒体I和盖板2，盒体I呈长方体状，并在内部具有ー个矩形空腔，盒体I的顶面开ロ，并通过盖板2将其密封，盖板2设置在盒体I的上方，盖板2与盒体I之间通过定位螺钉固定连接、并施压使之紧密贴合，在盒体I的内腔中设置有测试板3，测试板3通过定位螺钉固定设置于盒体I的内底面，在盒体I的两个侧壁分别设置有模块插ロ Ia和电源接ロ lb，其中模块插ロ Ia的形状与待测模块16的截面形状相适配，用以容纳并连接待测模块16，电源接ロ Ib的形状与接插件4的形状相互适配，接插件4的两端分别连接外部的电源、以及盒体I内部的测试板3，即设置于盒体I外部的电源与接插件4的一端连接，测试板3的电源输入端与接插件4连接，通过接插件4将测试板3与外部电源接电，为了减少电源连接处的电磁干扰，在接插件4与盒体I的连接处设置有导电衬垫5，导电衬垫5填充于接插件4与盒体I之间，以保持接插件4与盒体I之间的缝隙处的导电连续性、减小其接触电阻，从而降低接合处两端的电压，减小缝隙的电磁泄漏，使装置整体的电磁屏蔽性能更好，测试结果更加准确可靠。实施例2如图4所示，本实施例EMI测试设备中，在盖板2与盒体I的连接处设置有导电泡棉6,导电泡棉6的上表面粘贴于盖板2的边缘,盖板2与盒体I连接时,导电泡棉6在盖板2和盒体I的连接部压紧，从而提高电磁屏蔽效能。为了进一步提高电磁屏蔽性能，在盖板2与盒体I之间设置有定位止口，具体的，在盒体I顶部外缘设置有凹止口，所述盖板2底部内缘设置有凸止口，形成止口配合，避免直接平面连接时缝隙处的电磁泄漏。其余结构请参阅实施例I。实施例3如图5至图8所示，本实施例EMI测试设备中，在盒体I的内部设置有至少一个屏蔽壳7，屏蔽壳7与盒体I的内底面可拆装连接，屏蔽壳7沿周向、以及顶部与盒体I的内底面一并围成密封的腔室，即屏蔽壳7与盒体I的内底面之间设置有屏蔽腔8，电源接口 Ib与屏蔽腔8连通，测试板3的线缆接入至屏蔽腔8内部，并在屏蔽腔8内部与电源连接。其余结构请参阅实施例I。实施例4如图5至图8所示，本实施例EMI测试设备中，屏蔽壳7包括顶板7a和侧板7b，侧板7b由盒体I的内底面向上延伸并围合形成中空腔体，所述顶板7a设置于侧板7b的上方，所述顶板7a与侧板7b的顶面可拆装连接，并且顶板7a自侧板7b的顶部封装形成屏蔽腔8。在本实施方式中，侧板7b的截面形状为中空的多边形，如三角形、四边形、圆形等，并由盒体I的内底面向上延伸后形成三角形、四边形、圆形侧壁的中空腔体，安装顶板7a后形成屏蔽腔8。其余结构请参阅实施例3。实施例5如图5至图7所示，本实施例EMI测试设备中，所述侧板7b包括第一侧板7bl、第二侧板7b2以及第三侧板7b3，所述第一侧板7bl、第三侧板7b3分别盒体I的侧壁连接，所述第二侧板7b2的两侧分别与第一侧板7bl、第三侧板7b3连接，所述电源接口 Ib位于第一侧板7bl和第三侧板7b3之间，由第一侧板7bl、第二侧板7b2、第三侧板7b3以及盒体I的侧壁一并围合形成截面呈四边形的中空腔体，并且电源接口 Ib位于其中中空腔体的侧壁上，在设置顶板7a后，形成与电源连通的屏蔽腔8。在第一侧板7bl和第三侧板7b3上各设置有一个卡槽,两个卡槽分别设置于第一侧板7bI和第三侧板7b3的相邻侧，且开口相对，第二侧板7b2通过两个卡槽分别与第一侧板7bI、第三侧板7b3卡式连接，并结合成一整体。其余结构请参阅实施例4。实施例6如图9和图10所示，本实施例EMI测试设备中，所述侧板7b上设置有若干个竖向的螺纹孔7c，所述顶板7a通过螺纹孔Ic与侧板7b螺纹连接，在顶板7a上也设置有若干个螺纹定位孔，通过在各螺纹孔7c上加装定位螺钉，即可将顶板7a施压紧固于侧板7b的顶部。其余结构请参阅实施例5。实施例7如图9和图10所示，本实施例EMI测试设备中，在侧板7b上设置有凸耳7d，螺纹 孔7c设置于凸耳7d上，凸耳7d的数量与螺纹孔7c的数量相同，即每一个凸耳7d上均设置有一个螺纹孔7c，提高了定位螺钉的安装强度。其余结构请参阅实施例6。实施例8如图7和图8所示，本实施例EMI测试设备中，所述屏蔽腔8中设置有穿心电容9，所述穿心电容9的一端与电源连接,所述穿心电容9的另一端与测试板3连接。其余结构请参阅实施例7。实施例9如图7和图8所示，本实施例EMI测试设备中，所述屏蔽腔8中设置有滤波器10，所述滤波器10的一端与电源连接，所述滤波器10的另一端与测试板3连接。其余结构请参阅实施例7。实施例10如图7和图8所示，本实施例EMI测试设备中盒体I内自邻近电源接口 Ib的一端向内依次设置有两个屏蔽腔8，其中与电源接口 Ib连通的屏蔽腔8内设置有穿心电容9，远离电源接口 Ib的屏蔽腔8内设置有滤波器10 ;所述电源与穿心电容9的一端连接，所述穿心电容9的另一端与滤波器10的一端连接，所述滤波器10的另一端与测试板3连接。其余结构请参阅实施例7。实施例11如图11所示，本实施例EMI测试设备中的测试板3上设置有若干安装孔11，所述盒体I的内底面设置有与测试板3上的安装孔11相配合的定位支柱12，所述定位支柱12上设置有内螺纹孔，用以承接通过安装孔11贯穿测试板3后的螺栓13，所述测试板3与定位支柱12通过螺栓13固定连接，所述盒体I的内底面上设置有至少一个限位块14，所述测试板3紧固于限位块14和盒体I的侧壁之间。螺栓13贯穿安装孔11以后，将测试板3与定位支柱12螺纹连接加以施压固定，实现测试板3在盒体I的内底面上的定位安装，由于测试板3在使用过程中，尤其是在插拔待测模块16时会受到水平方向的推拉力，若仅依赖上述螺栓13与测试板3之间的安装孔11进行连接，强度不足且极易损坏测试板3，使安装孔11扩孔，以致于测试板3松动或损坏，为了避免测试板3在插拔待测模块16时沿水平方向的推拉力的作用下松动或损坏，在测试板3的侧面设置有至少一个限位块14，所述限位块14设置于盒体I内部，测试板3的侧面紧固于限位块14和盒体I的侧壁之间，以限位块14与测试板3之间的反作用力、抵消插拔待测模块16时水平方向的推拉力，从而防止了测试板3上的安装孔11与螺栓13之间应力集中的情况，以使得测试板3的安装强度更好，从而防止待测模块16多次插拔后测试板3移位或损坏。[0092]其余结构请參阅实施例3。实施例12如图12至图17所示，本实施例HMI测试设备中的限位块14与盒体I的内底面活动连接。具体的，在盒体I的内底面上设置有限位螺孔，限位螺孔上设置有限位螺栓15，与此同时，在限位块14上设置有导向滑槽14a，限位螺栓15穿过导向滑槽14a后与限位螺孔螺纹连接，并且在限位螺栓15的头部与导向滑槽14a之间设置有垫片。测试板3通过模块插ロ Ia与待测模块16连接，为了便于调节，导向滑槽14a的导向与待测模块16的插入方向相互平行。为了进ー步保证导向的准确性，在盒体I内设置有导向块14b，导向块14b的导向、与导向滑槽14a的导向相同，所述限位块14通过导向滑槽14a与导向块14b滑动配合，导向块14b的功能类似于滑轨。·本实施例的工作原理如下当限位块14需要滑动时，松开限位螺栓15，即可限位块14通过导向滑槽14a以限位螺栓15为导向轴在盒体I的内底面平面上滑动。当需要锁紧限位块14吋，只需旋紧螺栓13，使螺栓13的头部向限位块14施压，并将限位块14压紧在盒体I的内底面上，即可完成锁紧。通过本实施例的方式中的方式实现限位块14与盒体I的内底面活动连接,使限位块14在锁紧测试板3的同时，根据不同测试板3的外形，调节限位块14与盒体I的侧壁之间的卡紧区域大小，以适配多种外形的测试板3。在其余实施方式中，限位块14与盒体I的内底面的连接方式亦可采用定位销或其余结构，实现限位块14在底面上的紧固限位、以及限位解除，并可起到相同的、适配多种不同外形的测试板3的效果，在此就不再赘述。其余结构请參阅实施例11。实施例13如图12至图17所示，本实施例HMI测试设备中导向滑槽14a的导向与待测模块16的插入方向之间略有倾斜，具体的，导向滑槽14a的导向与待测模块16的插入方向之间的夹角为30°。其余结构请參阅实施例12。实施例14如图12至图17所示，本实施例HMI测试设备中导向滑槽14a的导向与待测模块16的插入方向之间略有倾斜，具体的，导向滑槽14a的导向与待测模块16的插入方向之间的夹角为2°。其余结构请參阅实施例12。实施例15如图12至图13所示，本实施例为实施例12中，限位块14与盒体I的内底面活动连接的另ー种活动连接方式。具体的，在限位块14与盒体I的内底面之间设置有弹性复位装置，弹性复位装置为压缩弹簧，所述压缩弹簧的一端与盒体I的内底面连接，所述压缩弹簧的另一端与限位块14连接，测试板3通过模块插ロ Ia与待测模块16连接，所述压缩弹簧的弾力方向与待测模块16的插入方向之间相互平行。在其余实施方式中，弹性复位装置亦可是橡筋、弹性泡沫或其余结构，在此就不再赘述，并可起到相同的、适配多种不同外形的测试板3的效果，在此就不再赘述。其余结构请參阅实施例12。 实施例16如图12至图13所示，本实施例中，压缩弹簧的弹力方向与待测模块16的插入方向之间略有倾斜，具体的，本实施例中压缩弹簧的弹力方向与待测模块16的插入方向之间的夹角为30°。在其余实施方式中，压缩弹簧的弹力方向与待测模块16的插入方向之间的夹角大小可在0° 30°的范围内任选，并可起到相同的、适配多种不同外形的测试板3的效果，在此就不再赘述。其余结构请參阅实施例15。实施例17如图18和图19所示，本实施例EMI测试设备中，在盒体I的底部设置有弹性垫块17，弾性垫块17为橡胶垫块，分别设置于盒体I底面的四角，从而防止使用中盒体I与桌面摩擦损坏表面涂层，并对测试板3起到减震作用，同时减少了噪音。其余结构请參阅实施例11。实施例18如图18所示，本实施例HMI测试设备中，在盒体I的侧壁设置有拉手18，所述拉手18与盒体I的侧壁可拆装连接，具体的，拉手18螺纹连接于盒体I的侧壁，在拉手18上设置有螺栓13，在盒体I的侧壁设置有相应的螺纹孔7c，该螺栓13将拉手18与盒体I的侧壁螺纹紧固连接。其余结构请參阅实施例17。实施例19如图20至图23所示，本实施例EMI测试设备中，盒体I的侧壁上设置有导体接线柱19，导体接线柱19的一端与盒体I电连接，导体接线柱19的另一端露出于盒体I的外侧，盒体I通过外露的导体接线柱19与接地铜线连接并接地，导体接线柱19上设置有穿线孔20和限位装置，所述穿线孔20设置于盒体I外側，穿线孔20的孔径大于接地铜线的外径，该穿线孔20设置于导体接线柱19与限位装置之间，限位装置沿导体接线柱19的轴向活动连接，可调节限位装置与导体接线柱19的间隙大小，并将接地铜线施压紧固。当需要锁紧接地铜线时，调节限位装置的位置，使限位装置与导体接线柱19之间的间隙小于接地铜线的直径，从而将接地铜线施压紧固于限位装置与导体接线柱19之间。当需要拆卸接地铜线时，调节限位装置的位置、消除限位装置与导体接线柱19之间接地铜线的紧密连接。其余结构请參阅实施例11。实施例20如图23所示，本实施例EMI测试设备中，导体接线柱19上设置有外螺纹段，限位装置为螺母21，螺母21与导体接线柱19的外螺纹段相适配，穿线孔20设置于螺母21与导体接线柱19之间。当需要锁紧接地铜线时，旋转螺母21，使螺母21沿导体接线柱19的轴向向盒体I一侧运动，直至螺母21与导体接线柱19之间的间隙小于接地铜线的直径，从而将接地铜线施压紧固于限位装置与导体接线柱19之间。当需要拆卸接地铜线时，旋转螺母21，使螺母21沿导体接线柱19的轴向向远离盒体I的一侧运动，直至螺母21与导体接线柱19之间的间隙大于接地铜线的直径，从而松开接地铜线，便可将接地铜线拔出。其余结构请参阅实施例19。实施例21如图20至图22所示，本实施例EMI测试设备中，限位装置为压环22，压环22套设于导体接线柱19上，压环22与导体接线柱19之间设置有弹性复位装置，压环22在弹性复·位装置的张拉下，将接地铜线压紧于导体接线柱19上，当需要拆装接地铜线时，通过压环22张拉弹性复位装置，使压环22与导体接线柱19之间的间隙大于穿线孔20的直径，从而对接地铜线进行装卸。其余结构请参阅实施例19。在其余实施方式中，弹性复位装置亦可是橡皮筋等弹性部件，在此就不再赘述。实施例22如图20至图22所示，本实施例HMI测试设备中，弹性复位装置为弹簧23，弹簧23的一端与导体接线柱19固定连接，弹簧23的另一端与压环22固定连接。其余结构请参阅实施例21。实施例23如图20至图22所示，本实施例HMI测试设备中，所述导体接线柱19沿轴向螺纹连接有限位螺钉24，限位螺钉24同轴设置于导体接线柱19的外端部，在旋合过程中，限位螺钉24沿导体接线柱19的轴向平移，压环22设置在限位螺钉24与导体接线柱19之间，当限位螺钉24移动时，可通过限位螺钉24以及导体接线柱19将压环22压紧、或松开。本实用新型并不局限于前述的具体实施方式
。本实用新型扩展到任何在本说明书中披露的新特征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何新的组
口 o
权利要求1.一种EMI测试设备，其特征在于包括盒体(I)和盖板(2)，所述盖板(2)设置于盒体(I)的上方，所述盒体(I)内部设置有测试板(3)，盒体(I)的侧壁设置有模块插口( Ia)和电源接口(Ib)，所述电源接口(Ib)上设置有接插件(4)，所述接插件(4)的两端分别与测试板(3 )和电源连接，所述接插件(4 )与盒体(I)的连接处设置有导电衬垫(5 )。
2.根据权利要求I所述的EMI测试设备，其特征在于在所述盖板(2)与盒体(I)的连接处设置有导电泡棉(6)。
3.根据权利要求2所述的EMI测试设备，其特征在于所述盖板(2)与盒体(I)之间设置有定位止口。
4.根据权利要求2所述的EMI测试设备，其特征在于所述盒体(I)内设置有至少一个屏蔽壳(7)，所述屏蔽壳(7)与盒体(I)围成屏蔽腔(8)，所述屏蔽腔(8)与电源接口(Ib)连通，所述屏蔽壳(7 )与盒体(I)可拆装连接。
5.根据权利要求3所述的EMI测试设备，其特征在于所述盒体(I)内依次设置有两个屏蔽腔(8)，其中与电源接口(Ib)连通的屏蔽腔(8)内设置有穿心电容(9)，远离电源接口(Ib)的屏蔽腔(8)内设置有滤波器(10);所述电源与穿心电容(9)的一端连接，所述穿心电容(9)的另一端与滤波器(10)的一端连接，所述滤波器(10)的另一端与测试板(3)连接。
6.根据权利要求I至5中任一权利要求所述的EMI测试设备，其特征在于所述测试板(3)的侧面设置有至少一个限位块(14)，所述限位块(14)设置于盒体(I)内部，所述限位块(14)与盒体(I)的内底面活动连接。
7.根据权利要求6所述的EMI测试设备，其特征在于所述限位块(14)上设置有导向滑槽(14a)，所述盒体(I)的内底面上设置有限位螺孔，所述限位螺孔上设置有限位螺栓(15)，所述限位螺栓(15)穿过导向滑槽(14a)后与限位螺孔螺纹连接。
8.根据权利要求7所述的EMI测试设备，其特征在于所述盒体(I)内设置有导向块(14b)，所述导向块(14b)的导向与导向滑槽(14a)的导向相同，所述限位块(14)通过导向滑槽(14a)与导向块(14b)滑动配合。
9.根据权利要求8所述的EMI测试设备，其特征在于所述盒体(I)的底部设置有弹性垫块(17)。
10.根据权利要求9所述的EMI测试设备，其特征在于所述盒体(I)的侧壁设置有拉手(18)，所述拉手(18)螺纹连接于盒体(I)的侧壁。
专利摘要本实用新型涉及一种EMI测试设备，包括盒体和盖板，所述盖板设置于盒体的上方，所述盒体内部设置有测试板，盒体的侧壁设置有模块插口和电源接口，所述电源接口上设置有接插件，所述接插件的两端分别与测试板和电源连接，所述接插件与盒体之间设置有导电衬垫，通过在接插件与盒体之间设置导电衬垫，减少了电源连接处的电磁干扰，保持接插件与盒体之间的缝隙处的导电连续性、减小其接触电阻，从而降低接合处两端的电压，减小缝隙的电磁泄漏，使装置整体的电磁屏蔽性能更好，测试结果更加准确可靠。
文档编号G01R1/18GK202563024SQ201220192040
公开日2012年11月28日 申请日期2012年4月28日 优先权日2012年4月28日
发明者张绍友, 王自力, 王洪宾 申请人:索尔思光电(成都)有限公司