主板测试系统及方法
【专利摘要】一种主板测试系统，包括一与待测主板相连的测试电路板及一与所述测试电路板相连的电脑，所述测试电路板包括一与所述电脑相连的可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件输出激励信号至所述待测主板，所述待测主板收到激励信号后产生相应的响应信号，所述可编程逻辑器件分析待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符，并将测试结果数据输出至所述电脑显示。本发明还揭示了一种基于上述主板测试系统的测试方法。本发明主板测试系统及方法利用可编程逻辑器件输出激励信号给被测主板，测试自动化程度较高。
【专利说明】
主板测试系统及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种主板测试系统及方法。
【背景技术】
[0002]在对电脑或服务器的主板进行功能验证与信号测试的过程中，经常需要产生特殊的激励来验证功能的正确性与准确性。传统的测试方法是搭建相应的测试环境从而产生相应的激励给主板，然后判断主板受到激励后的运行情况是否正常。然而，传统的测试方法自动化程度不高，测试效率低。
【发明内容】
[0003]鉴于以上内容，有必要提供一种自动化程度较高的主板测试系统及方法。
[0004]一种主板测试系统，包括一与待测主板相连的测试电路板及一与所述测试电路板相连的电脑，所述测试电路板包括一与所述电脑相连的可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件输出激励信号至所述待测主板，所述待测主板收到激励信号后产生相应的响应信号，所述可编程逻辑器件分析待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符，并将测试结果数据输出至所述电脑显示。
[0005]在一实施方式中，所述测试电路板还包一连接于所述可编程逻辑器件及所述电脑之间的烧录接口，所述电脑内存有能通过所述烧录接口烧录至所述可编程逻辑器件的测试程序。
[0006]在一实施方式中，所述测试电路板还包括至少一与所述可编程逻辑器件相连的按键，所述按键用于选择激励信号的种类。
[0007]在一实施方式中，所述测试电路板还包括一与所述可编程逻辑器件相连的指示灯，用于指示所述可编程逻辑器件的工作状态。
[0008]在一实施方式中，所述可编程逻辑器件为CPLD或FPGA。
[0009]一种主板测试方法，包括以下步骤:提供一能产生激励信号的可编程逻辑器件；可编程逻辑器件将激励信号输出至一待测主板；待测主板接收到激励信号后产生相应的响应信号；可编程逻辑器件分析所述待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符并产生相应的测试结果数据；可编程逻辑器件将测试结果数据输出至一电脑；及所述电脑显示测试结果。
[0010]在一实施方式中，所述主板测试方法还包括在可编程逻辑器件输出激励信号之前将所述电脑内的测试程序烧录到所述可编程逻辑器件内的步骤。
[0011]在一实施方式中，所述主板测试方法还包括在可编程逻辑器件输出激励信号之前判断连接至所述可编程逻辑器件的按键是否被按压的步骤；如果没有按键被按压，则所述可编程逻辑器件输出初始预设的激励信号至所述待测主板；如果有按键被按压，则所述可编程逻辑器件根据按键被按压的情况选择相应的激励信号类型。
[0012]在一实施方式中，所述主板测试方法还包括在所述可编程逻辑器件工作时点亮一工作指示灯的步骤。
[0013]在一实施方式中，如果所述待测主板产生的响应信号与预设的响应信号相符，所述可编程逻辑器件输出表示测试通过的数据至所述电脑；如果所述待测主板产生的响应信号与预设的响应信号不相符，所述可编程逻辑器件输出表示测试未通过的数据至所述电脑。
[0014]与现有技术相比，所述主板测试系统及方法利用可编程逻辑器件输出激励信号至所述待测主板，再检测待测主板收到激励信号后产生的响应信号，测试自动化程度较高。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]图1是本发明主板测试系统一较佳实施方式的组成图。
[0016]图2是本发明主板测试方法一较佳实施方式的流程图。
[0017]主要元件符号说明 _
【权利要求】
1.一种主板测试系统，包括一与待测主板相连的测试电路板及一与所述测试电路板相连的电脑，其特征在于:所述测试电路板包括一与所述电脑相连的可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件输出激励信号至所述待测主板，所述待测主板收到激励信号后产生相应的响应信号，所述可编程逻辑器件分析待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符，并将测试结果数据输出至所述电脑显示。
2.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于:所述测试电路板还包一连接于所述可编程逻辑器件及所述电脑之间的烧录接口，所述电脑内存有能通过所述烧录接口烧录至所述可编程逻辑器件的测试程序。
3.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于:所述测试电路板还包括至少一与所述可编程逻辑器件相连的按键，所述按键用于选择激励信号的种类。
4.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于:所述测试电路板还包括一与所述可编程逻辑器件相连的指示灯，用于指示所述可编程逻辑器件的工作状态。
5.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于:所述可编程逻辑器件为CPLD或FPGA。
6.一种主板测试方法，包括以下步骤: 提供一能产生激励信号的可编程逻辑器件； 可编程逻辑器件将激励信号输出至一待测主板； 待测主板接收到激励信号后产生相应的响应信号； 可编程逻辑器件分析所述待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符并产生相应的测试结果数据； 可编程逻辑器件将测试结果数据输出至一电脑；及 所述电脑显示测试结果。
7.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于:所述主板测试方法还包括在可编程逻辑器件输出激励信号之前将所述电脑内的测试程序烧录到所述可编程逻辑器件内的步骤。
8.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于:所述主板测试方法还包括在可编程逻辑器件输出激励信号之前判断连接至所述可编程逻辑器件的按键是否被按压的步骤；如果没有按键被按压，则所述可编程逻辑器件输出初始预设的激励信号至所述待测主板；如果有按键被按压，则所述可编程逻辑器件根据按键被按压的情况选择相应的激励信号类型。
9.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于:所述主板测试方法还包括在所述可编程逻辑器件工作时点亮一工作指示灯的步骤。
10.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于:如果所述待测主板产生的响应信号与预设的响应信号相符，所述可编程逻辑器件输出表示测试通过的数据至所述电脑；如果所述待测主板产生的响应信号与预设的响应信号不相符，所述可编程逻辑器件输出表示测试未通过的数据至所述电脑。
【文档编号】G01R31/28GK104133168SQ201310155513
【公开日】2014年11月5日 申请日期:2013年4月30日 优先权日:2013年4月30日
【发明者】谭笔徽 申请人:鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司