测试装置及测试方法

测试装置及测试方法
【专利摘要】一种测试装置及测试方法，测试装置用以执行测试程序，以对电路板上的多个元件进行第一测试，以及对电路板进行第二测试。测试装置包括第一模块、第二模块及信号传输线。第一模块包括控制单元、信号产生单元、信号处理单元、信号扩充单元及供电单元。控制单元产生第一控制信号或第二控制信号。信号产生单元产生电流信号或电压信号。信号处理单元产生数值信号。信号扩充单元产生第二数据信号。供电单元产生工作电压。第二模块包括测试地址指定单元及信号隔离单元。测试地址指定单元进行定址。信号隔离单元进行噪声免疫处理。信号传输线连接第一模块与第二模块。
【专利说明】
测试装置及测试方法

【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试装置及测试方法，特别涉及一种可节省设备、人力、及时间的成本并改善测试的效率的测试装置及测试方法。

【背景技术】
[0002]这些年来，随着电子科技的进步，使得印刷电路板坚固耐用、成本低廉且可靠度高。于生产印刷电路板时，虽然一开始需要投入电路布局的成本，但是到后来却可便宜地且快速地大量生产。
[0003]在电子元件焊接于印刷电路板之后，印刷电路板需要通过检测，才能出货。实务上，传统的内部电路测试(Insert Circuit Test, ICT)设备主要检查单一个元件以及各电路网络的开、短路情况。亦即，内部电路测试包括电阻、电容、电感、及晶体管等元件的测试，可藉由此内部电路测试而发现例如焊锡短路、元件错置、元件漏装、管脚翘起、元件虚焊、或是印刷电路板短路与断路等故障。但是，对于印刷电路板的次模块(Sub-Assembly，SA)功能测试却不能涵盖，例如记忆体程序、运算放大器、电源模块、及小规模的集成电路的功能测试等。
[0004]当进行测试验证时，测试人员必须分别于内部电路测试的测试站以及次模块功能测试的测试站进行分别测试，以涵盖各电子元件的测试以及印刷电路板的功能测试。然而，此分开的测试站却造成了设备成本以及人力成本的增加。另一方面，此分开的测试站亦增加了测试所需的时间。
[0005]一般而言，应用于现有技术中的测试平台，大多不具有整合内部电路测试以及次模块功能测试的测试接口，导致测试人员无法于同一测试平台进行不同类别的测试验证，造成设备、人力、及时间成本的增加，亦影响了测试的效率。


【发明内容】

[0006]本发明的目的在于提供一种测试装置及测试方法，藉以节省设备、人力、及时间的成本，并改善测试的效率。
[0007]根据本发明的一实施例，提供一种测试装置，用以执行一测试程序，以对一电路板上的多个元件进行一第一测试，以及对电路板进行一第二测试。此测试装置包括一第一模块、一第二模块、及一信号传输线。第一模块包括一控制单元、一信号产生单元、一信号处理单元、一信号扩充单元、及一供电单元。控制单元用以接收一指令，并依据指令，以产生一第一控制信号或一第二控制信号。其特征在于，，指令用以指示测试装置进行第一测试或第二测试。信号产生单元耦接控制单元，用以接收第一控制信号，并依据第一控制信号，以产生一电流信号或一电压信号。信号处理单元耦接控制单元，用以接收电路板所产生的一测量信号，并对测量信号进行一数值计算，以产生一数值信号。信号扩充单元耦接控制单元，用以接收电路板所产生的一第一数据信号，并对第一数据信号进行一信号扩充，以产生一第二数据信号。供电单元耦接控制单元，用以接收第二控制信号，并依据第二控制信号，以产生一工作电压。第二模块包括一测试地址指定单元以及一信号隔离单元。测试地址指定单元耦接电路板，用以对多个元件进行一定址，并依据定址，以回传测量信号给信号处理单元。信号隔离单元耦接测试地址指定单元，用以对测量信号进行一噪声免疫处理。信号传输线耦接于信号产生单元与信号隔离单元之间，用以连接第一模块与第二模块。其特征在于，，当测试装置进行第二测试时，供电单元产生工作电压给信号产生单元、信号处理单元、信号扩充单元、测试地址指定单元、及信号隔离单元。
[0008]根据本发明的一实施例，还提供一种测试方法，包括以下步骤。连接一测试工具于一测试装置。配置一电路板于测试工具。启动测试工具的一第一气压缸，以使电路板未接收一工作电压。于测试装置上执行一测试程序，以对电路板上的多个元件进行一第一测试，并记录第一测试且关闭第一气压缸。启动测试工具的一第二气压缸，以使电路板接收工作电压。于测试装置上执行测试程序，以对电路板进行一第二测试，并记录第二测试且关闭第二气压缸。显示第一测试以及第二测试的一测试结果。
[0009]本发明所提供的测试装置及测试方法，藉由控制单元接收进行第一测试的指令，并以测试地址指定单元对电路板上的多个元件进行定址，以使信号处理单元接收来自这些元件所回传的测量信号，并对测量信号进行数值计算。或是藉由控制单元接收进行第二测试的指令，并以供电单元产生工作电压，以使信号扩充单元接收电路板所回传的第一数据信号，并对第一数据信号进行信号扩充。如此一来，可有效整合不同类别的测试于同一平台，并节省设备、人力、及时间的成本，亦改善了测试的效率。
[0010]以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

【专利附图】

【附图说明】
[0011]图1为本发明的测试装置的示意图；
[0012]图2为本发明的测试方法的步骤流程图。
[0013]其特征在于，，附图标记
[0014]10 测试装置
[0015]100 第一模块
[0016]110 控制单元
[0017]120 信号产生单元
[0018]130 信号处理单元
[0019]140 信号扩充单元
[0020]150 供电单元
[0021]200 第二模块
[0022]210 测试地址指定单元
[0023]220 信号隔离单元
[0024]300 信号传输线

【具体实施方式】
[0025]以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、权利要求范围及附图，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。
[0026]请参照图1，其为本发明的测试装置的示意图。本实施例的测试装置10适于整合测试平台。亦即，使用者可通过此测试装置10，以于整合测试平台同时进行不同类别的测试验证。其特征在于，，测试装置10用以执行一测试程序，以对一电路板上的多个元件进行一第一测试，以及对电路板进行一第二测试。在本实施例中，第一测试例如可为内部电路测试，而第二测试例如可为次模块功能测试。但本实施例不限于此，第一测试亦可使用其他类似内部电路的测试来实施，而第二测试亦可使用其他类似次模块功能的测试来实施。测试装置10包括一第一模块100、一第二模块200、及一信号传输线300。
[0027]第一模块100包括一控制单元110、一信号产生单元120、一信号处理单元130、一信号扩充单元140、及一供电单元150。控制单元110用以接收一指令，并依据指令，以产生一第一控制信号或一第二控制信号。其特征在于，，指令用以指示测试装置10进行第一测试或第二测试。信号产生单元120耦接控制单元110，此信号产生单元120用以接收第一控制信号，并依据第一控制信号，以产生一电流信号或一电压信号。信号处理单元130耦接控制单元110，此信号处理单元130用以接收电路板所产生的一测量信号，并对测量信号进行一数值计算，以产生一数值信号。在本实施例中，数值计算例如可为电阻值、电感值、或是电容值的计算。但本实施例不限于此，数值计算亦可使用其他类似元件的数值计算来实施。
[0028]信号扩充单元140耦接控制单元110，此信号扩充单元140用以接收电路板所产生的一第一数据信号，并对第一数据信号进行一信号扩充，以产生一第二数据信号。其特征在于，，信号扩充单元140包括一通用输入输出(General Purpose Input Output, GP1)连接端口。在本实施例中，第二数据信号例如可为内部集成电路总线(Inter-1ntegratedCircuit Bus, I2C Bus)信号或序列周边接口(Serial Peripheral Interface, SPI)信号。但本实施例不限于此，第二数据信号亦可使用其他类似的信号来实施。
[0029]供电单元150耦接控制单元110，此供电单元150用以接收第二控制信号，并依据第二控制信号，以产生一工作电压。在本实施例中，工作电压例如可为P12V、P5V、或P3V3。其特征在于，，当前述的测试装置10进行第二测试时，供电单元150产生此工作电压给信号产生单元120、信号处理单元130、及信号扩充单元140。
[0030]第二模块200包括一测试地址指定单元210以及一信号隔离单元220。测试地址指定单元210耦接电路板，用以对电路板上的这些元件进行一定址，并依据定址，以回传测量信号给信号处理单元130。信号隔离单元220耦接测试地址指定单元210，此信号隔离单元220用以对测量信号进行一噪声免疫处理，以使测量信号可避免受到噪声的干扰。
[0031]信号传输线300耦接于信号产生单元120与信号隔离单元220之间，用以连接第一模块100与第二模块200。在本实施例中，信号传输线300例如可为尼尔-康塞曼卡口(Bayonet Neill-Concelman, BNC)同轴电缆线。但本实施例不限于此,信号传输线300亦可使用其他类似的传输线来实施。
[0032]举例来说，当测试装置10进行第一测试时，控制单元110接收例如进行第一测试的指令，以产生第一控制信号给信号产生单元120，使得信号产生单元120产生电流信号或电压信号给电路板上的各个元件。同时，测试地址指定单元210会对电路板上的各个元件进行定址。据此，各个元件会接收电流信号或电压信号，以产生测量信号给信号处理单元130。并且，信号隔离单元220会对测量信号进行噪声免疫处理，以避免测量信号受到噪声的干扰。接着，信号处理单元130会对测量信号进行数值计算并产生数值信号。据此，测试装置10可完成第一测试的验证。
[0033]当测试装置10进行第二测试时，控制单元110接收例如进行第二测试的指令，以产生第二控制信号给供电单元150，使得供电单元150产生工作电压给前述的信号产生单元120、信号处理单元130、信号扩充单元140、测试地址指定单元210、及信号隔离单元220。接着，信号扩充单元140会接收电路板所产生的第一数据信号，并对第一数据信号进行信号扩充，以产生第二数据信号给一烧录器。并且，烧录器可读取并储存第二数据信号。据此，测试装置10可完成第二测试的验证。
[0034]进一步来说，本实施例所提供的测试装置10，藉由以上所述的配置关系，可于整合测试平台同时进行第一测试以及第二测试的验证作业。也就是说，通过本实施例的测试装置10，可同时进行例如内部电路测试以及次模块功能测试，以进而记录并显示内部电路测试以及次模块功能测试的测试结果。
[0035]藉由以上实施例所述，可将前述的测试装置10连接至一测试工具，以同时进行第一测试以及第二测试。为了方便说明第一测试以及第二测试是如何同时进行，以下将以一种测试方法来进一步说明。其特征在于，，测试装置10的相关配置关系，可参考图1的实施方式，故在此不再赘述。
[0036]请参照图2，其为本发明的测试方法的步骤流程图。在步骤S210中，连接测试工具于前述的测试装置(例如图1的测试装置10)。在步骤S220中，配置电路板于测试工具。在步骤S230中，启动测试工具的第一气压缸，以使电路板未接收工作电压。在步骤S240中，于测试装置上执行测试程序，以对电路板上的多个元件进行第一测试，并记录第一测试且关闭第一气压缸。
[0037]在步骤S250中，启动测试工具的第二气压缸，以使电路板接收工作电压。在步骤S260中，于测试装置上执行测试程序，以对电路板进行第二测试，并记录第二测试且关闭第二气压缸。在步骤S270中，显示第一测试以及第二测试的测试结果。
[0038]综上所述，本发明的实施例所揭露的测试装置及测试方法，藉由控制单元接收进行第一测试的指令，并以测试地址指定单元对电路板上的多个元件进行定址，以使信号处理单元接收来自这些元件所回传的测量信号，并对测量信号进行数值计算。或是藉由控制单元接收进行第二测试的指令，并以供电单元产生工作电压，以使信号扩充单元接收电路板所回传的第一数据信号，并对第一数据信号进行信号扩充。如此一来，可有效整合不同类别的测试于同一平台，并节省设备、人力、及时间的成本，亦改善了测试的效率。
[0039]当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
【权利要求】
1.一种测试装置，用以执行一测试程序，以对一电路板上的多个元件进行一第一测试，以及对该电路板进行一第二测试，其特征在于，该测试装置包括: 一第一模块，包括: 一控制单元，用以接收一指令，并依据该指令，以产生一第一控制信号或一第二控制信号，其特征在于，该指令用以指示该测试装置进行该第一测试或该第二测试； 一信号产生单元，耦接该控制单元，用以接收该第一控制信号，并依据该第一控制信号，以产生一电流信号或一电压信号； 一信号处理单元，耦接该控制单元，用以接收该电路板所产生的一测量信号，并对该测量信号进行一数值计算，以产生一数值信号； 一信号扩充单元，耦接该控制单元，用以接收该电路板所产生的一第一数据信号，并对该第一数据信号进行一信号扩充，以产生一第二数据信号；以及 一供电单元，耦接该控制单元，用以接收该第二控制信号，并依据该第二控制信号，以产生一工作电压； 一第二模块，包括: 一测试地址指定单元，耦接该电路板，用以对该些元件进行一定址，并依据该定址，以回传该测量信号给该信号处理单元；以及 一信号隔离单元，耦接该测试地址指定单元，用以对该测量信号进行一噪声免疫处理；以及 一信号传输线，耦接于该信号产生单元与该信号隔离单元之间，用以连接该第一模块与该第二模块； 其特征在于，，当该测试装置进行该第二测试时，该供电单元产生该工作电压给该信号产生单元、该信号处理单元、该信号扩充单元、该测试地址指定单元、及该信号隔离单元。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该第一测试为内部电路测试，该第二测试为次模块功能测试。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该信号扩充单元包括一通用输入输出连接端口。
4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该第二数据信号为内部集成电路总线信号或序列周边接口信号。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该信号传输线为尼尔-康塞曼卡口同轴电缆线。
6.—种测试方法,其特征在于,包括: 连接一测试工具于一如权利要求1所述的测试装置； 配置一电路板于该测试工具； 启动该测试工具的一第一气压缸，以使该电路板未接收一工作电压； 于该测试装置上执行一测试程序，以对该电路板上的多个元件进行一第一测试，并记录该第一测试且关闭该第一气压缸； 启动该测试工具的一第二气压缸，以使该电路板接收该工作电压； 于该测试装置上执行该测试程序，以对该电路板进行一第二测试，并记录该第二测试且关闭该第二气压缸；以及显示该第一测试以及该第二测试的一测试结果。
【文档编号】G01R31/02GK104181451SQ201310192546
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2013年5月22日 优先权日:2013年5月22日
【发明者】陈琏锋, 朱俊豪 申请人:英业达科技有限公司, 英业达股份有限公司