一种量具以及采用该量具测量大外圆工件尺寸的方法

文档序号:6189178阅读:1880来源:国知局
一种量具以及采用该量具测量大外圆工件尺寸的方法
【专利摘要】本发明涉及一种量具,包括主尺和游标,主尺上具有左卡脚,游标上具有右卡脚,右卡脚上设置有支座,支座上安装有百分表,百分表的测头与左卡脚呈相对设置。量具可以通过直接检测外圆得出加工外圆尺寸,无需通过其他量具转换,消除间接测量误差;该量具测量大外圆工件尺寸的方法,先测得标准件的尺寸,然后用该改进量具分别测量标准件,记录主尺上的毫米刻度A和百分表指针的分度刻度B;继续测量待测加工件,记录主尺上的毫米刻度C和百分表的分度刻度D;计算分度刻度D和分度刻度B之间的差值E;那么待测加工件的尺寸为标准件的尺寸加上所得差值E;该方法避免手感、温度对测量的影响,提高测量精度。
【专利说明】一种量具以及采用该量具测量大外圆工件尺寸的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种量具以及采用该量具测量大外圆工件尺寸的方法。
【背景技术】
[0002]以往对于大直径公差的测量是先用游标卡尺测量,再用内径千分尺测量游标卡尺来得出加工工件的尺寸,这种测量的主要缺点是:游标卡尺本身存在误差,两次测量有间接测量误差,不同的人测量会得出不同的尺寸没存在手感误差。
[0003]并且以往的测量方法容易受到环境温度的影响,当温度起伏较大时,按传统测量方法,不同时间段去测量加工件会得出完全不同的尺寸,这样会给生产加工及零件质量造成很大的困扰,往往会出现返工及超差的现象。

【发明内容】

[0004]本发明要解决的技术问题是:提供一种量具以及采用该量具测量大外圆工件尺寸的方法,可避免间接测量带来的误差,并且避免手感、温度对测量的影响,提高测量精度。
[0005]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种量具,包括主尺和游标,所述主尺上具有左卡脚,游标上具有与左卡脚配合的右卡脚,所述右卡脚上固定设置有支座,支座上安装有百分表,百分表的测头伸出支座与左卡脚呈相对设置。
[0006]进一步的,所述右卡脚上开设有竖槽,支座与右卡脚之间通过螺栓形成固定连接,螺栓穿过竖槽将支座与右卡脚固定在一起。
[0007]—种采用上述量具测量大外圆工件尺寸的方法,具有以下步骤:
[0008]a、取一标准件与待测加工件至于同一环境温度中,并测得标准件的尺寸;
[0009]b、采用上述量具测量标准件的外圆,记录主尺上的毫米刻度A,记录百分表指针的分度刻度B ;
[0010]C、采用此量具继续测量待测加工件的外圆,记录主尺上的毫米刻度C,记录百分表的分度刻度D ;
[0011]d、计算分度刻度D和分度刻度B之间的差值E ;
[0012]e、若毫米刻度A和毫米刻度C的数值相等,那么待测加工件的尺寸为标准件的尺寸加上所得差值E ;
[0013]若毫米刻度A和毫米刻度C的数值不相等,则进行下一步骤;
[0014]f、计算毫米刻度C和毫米刻度A之间的差值F,那么待测加工的尺寸为标准件的尺寸加上所得的差值E和差值F。
[0015]进一步的,所述步骤a中,标准件的尺寸经三坐标测量机测量得出。
[0016]本发明的有益效果是:量具可以通过直接检测外圆得出加工外圆尺寸,无需通过其他量具转换,因此消除间接测量误差;量具简单易用,而且测量值能通过百分表直观反应出来,不同人测量的结果完全一致,因此消除了操作工与检验员的手感误差。
[0017]并且在经一个同处于一个环境温度下的标准件的配合下,它们的实时状态一致,可避免外界温度对测量的影响,实现对加工件进行精确的测量;最后该量具结构简单,只需在原有的游标卡尺上进行改动,代替专用量具,节约成本。
【专利附图】

【附图说明】
[0018]下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
[0019]图1是本发明的结构示意图。
[0020]图中1、主尺,2、游标,3、支座,4、百分表。
【具体实施方式】
[0021]现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
[0022]如图1所示,一种便于精确测量大外圆工件尺寸的量具,包括主尺I和游标2,主尺I上具有左卡脚,游标2上具有与左卡脚配合的右卡脚,右卡脚上固定设置有支座3,支座3上安装有百分表4,百分表4的测头伸出支座3与左卡脚呈相对设置,百分表4的量杆部分相对于左卡脚的卡持面呈相对垂直结构,测头位于量杆的端部。在需测量的时候移动游标2使左卡脚与测头进行卡持待测量物件,测量值经百分表4反应出来。
[0023]量具可以通过直接检测外圆得出加工外圆尺寸,无需通过其他量具转换,因此消除间接测量误差;量具简单易用,而且测量值能通过百分表4直观反应出来,不同人测量的结果完全一致,因此消除了操作工与检验员的手感误差。
[0024]为了方便调节百分表4在支座3上的高低,将支座3设计成可以在右卡脚上可上下移动的结构,该结构为:右卡脚上开设有竖槽,支座3与右卡脚之间通过螺栓形成固定连接,螺栓穿过竖槽将支座3与右卡脚固定在一起。在需要改变支座3位置的时候,通过调松螺栓,然后移动支座3,最后在紧固螺栓的方式移动支座3的固定位置。
[0025]一种采用上述量具测量大外圆工件尺寸的方法,具有以下步骤:
[0026]a、取一标准件与待测加工件至于同一环境温度中,并测得标准件的尺寸;标准件的尺寸经三坐标测量机测量得出。三坐标检测就是运用三坐标测量机对工件进行形位公差的检测和测量,三坐标测量机作为一种精密、高效的空间长度测量仪器,它能实现许多传统测量器具所不能完成的测量工作,其效率比传统的测量器具高出十几倍甚至几十倍。经三坐标测量机测量标准件的尺寸,可以为后续的加工件尺寸提供一个精确的基准值。
[0027]b、采用上述量具测量标准件的外圆,记录主尺I上的毫米刻度A,记录百分表4指针的分度刻度B ;
[0028]C、采用此量具继续测量待测加工件的外圆,记录主尺I上的毫米刻度C,记录百分表4的分度刻度D ;
[0029]d、计算分度刻度D和分度刻度B之间的差值E ;
[0030]e、若毫米刻度A和毫米刻度C的数值相等,那么待测加工件的尺寸为标准件的尺寸加上所得差值E ;
[0031]若毫米刻度A和毫米刻度C的数值不相等,则进行下一步骤;
[0032]f、计算毫米刻度C和毫米刻度A之间的差值F,那么待测加工的尺寸为标准件的尺寸加上所得的差值E和差值F。[0033]所谓的毫米刻度为在主尺I上可直接查看的数值,例如毫米刻度显示在25和26之间,则毫米刻度为25,即所测零件的整数部分;所谓的分度刻度即百分表4中指针在表盘的100格中所指的位置,例如指在45格,那么就代表0.45mm。
[0034]实施例一,选取标准件,经三坐标测量机测得的标准件的尺寸为15.255mm,然后用量具测量该标准件,测得主尺I上的毫米刻度A为35mm,分度刻度B为50 (即0.50mm),采用此量具继续测量待测加工件的外圆,记录主尺I上的毫米刻度C为35mm,记录百分表4的分度刻度D为65 (0.65mm);此时毫米刻度A和毫米刻度C相等均为35mm,则计算分度刻度D和分度刻度B之间的差值E,计算得出差值E为0.65mm-0.50mm=0.15mm,那么待测加工件的尺寸为标准件的尺寸加上所得差值E,即15.255mm+0.15mm=15.405mm。
[0035]实施例二,选取标准件,经三坐标测量机测得的标准件的尺寸为15.255mm,然后用量具测量该标准件,测得主尺I上的毫米刻度A为35mm,分度刻度B为50 (即0.50mm),采用此量具继续测量待测加工件的外圆,记录主尺I上的毫米刻度C为36mm,记录百分表4的分度刻度D为65 (0.65mm);此时毫米刻度A和毫米刻度C不相等,则计算毫米刻度C和毫米刻度A之间的差值F,即差值F=36mm-35mm=lmm,分度刻度D和分度刻度B之间的差值E,即差值E=0.65mm-0.50mm=0.15mm,那么待测加工的尺寸为标准件的尺寸加上所得的差值E和差值 F,即 15.255mm+lmm+0.15mm=16.405mm。
[0036]此改进量具经标准件一起配合使用,标准件与加工件同处于一个环境温度下,他们的实时状态一致,因此无论标准件在自然环境中是处于“涨”的状态还是处于“缩”的状态,都按其在三坐标中检测的数据为测量基准,这样便可以消除温度对加工件尺寸的影响。
[0037]以上述依据本发明的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
【权利要求】
1.一种量具,包括主尺(I)和游标(1),其特征是,所述主尺(I)上具有左卡脚,游标(I)上具有与左卡脚配合的右卡脚,所述右卡脚上固定设置有支座(3),支座(3)上安装有百分表(4),百分表(4)的测头伸出支座(3)与左卡脚呈相对设置。
2.根据权利要求1所述的一种量具,其特征是,所述右卡脚上开设有竖槽,支座(3)与右卡脚之间通过螺栓形成固定连接,螺栓穿过竖槽将支座(3)与右卡脚固定在一起。
3.一种采用上述量具测量大外圆工件尺寸的方法,其特征是,具有以下步骤: a、取一标准件与待测加工件至于同一环境温度中,并测得标准件的尺寸; b、采用上述量具测量标准件的外圆,记录主尺(I)上的毫米刻度A,记录百分表(4)指针的分度刻度B ; C、采用此量具继续测量待测加工件的外圆,记录主尺(I)上的毫米刻度C,记录百分表(4)的分度刻度D ; d、计算分度刻度D和分度刻度B之间的差值E; e、若毫米刻度A和毫米刻度C的数值相等,那么待测加工件的尺寸为标准件的尺寸加上所得差值E ; 若毫米刻度A和毫米刻度C的数值不相等,则进行下一步骤; f、计算毫米刻度C和毫米刻度A之间的差值F,那么待测加工的尺寸为标准件的尺寸加上所得的差值E和差值F。
4.根据权利要求3所述的一种测量大外圆工件尺寸的方法,其特征是,所述步骤a中,标准件的尺寸经三坐标测量机测量得出。
【文档编号】G01B5/00GK103697786SQ201310705978
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2013年12月19日 优先权日:2013年12月19日
【发明者】王露, 牟杏华, 陈思洁, 倪官仁, 姜维杰 申请人:常州天山重工机械有限公司
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1