试验缺陷识别装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种试验缺陷识别装置。该试验缺陷识别装置包括：基座、支架、光源部件、图形采集组件和通信组件，其中：支架竖直固定于所述基座上，基座包括定样部位；支架包括支架臂，支架臂具有端环，支架臂将光源部件固定于定样部位的上方；用于采集部件参量信息的图形采集组件安装于支架臂的端环内；用于接收图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的通信组件设置于基座内部。本实用新型提供的试验缺陷识别装置将通过支架臂固定光源部件和图形采集组件，实现对部件的相应部位进行拍摄和成像，并将计算得到的部件的各种参量信息传输至图像分析设备中进行显示和后续分析，达到全面地获取部件参量信息的技术目的。
【专利说明】试验缺陷识别装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及部件尺寸识别分析设备【技术领域】，更具体地说，涉及一种试验缺 陷识别装置。
【背景技术】
[0002]试验缺陷识别装置可用于部件缺口工艺制备之后对其缺口图像进行检测并输出 缺口尺寸信息，以测定部件制备是否合乎预设标准。
[0003]现有的试验缺陷识别装置大多仅能就部件缺口的尺寸进行实际的测量，而不能测 定和输出部件缺口其他参量的信息，从而对于部件信息全面地获取存在技术需求。
实用新型内容
[0004]有鉴于此，本实用新型提供一种试验缺陷识别装置，以实现对部件信息全面获取 的技术效果。
[0005]本实用新型提供了一种试验缺陷识别装置，包括:基座、支架、光源部件、图形采集 组件和通信组件，其中:
[0006]所述支架竖直固定于所述基座上，所述基座包括定样部位；
[0007]所述支架包括支架臂，所述支架臂具有端环，所述支架臂将所述光源部件固定于 所述定样部位的上方；
[0008]用于采集所述部件参量信息的图形采集组件安装于所述支架臂的端环内；
[0009]用于接收所述图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的所述通信组件 设置于所述基座内部。
[0010]可选地，所述光源部件包括:白光发光二极管。
[0011]所述光源部件固定于所述端环的下方。
[0012]优选地，所述图形采集组件包括:变倍放大镜头、工业摄像机和成像芯片，所述变 倍放大镜头设置于所述工业摄像机上，所述工业摄像机与所述成像芯片信号连接。
[0013]优选地，所述基座的定样部位包括靠山台。
[0014]优选地，本实用新型还包括:套装在所述试验缺陷识别装置外围的电磁防尘罩。
[0015]优选地，本实用新型还包括:设置于所述基座的底部的防震橡胶块。
[0016]从上述的技术方案可以看出，本实用新型实施例中的试验缺陷识别装置将通过支 架臂固定光源部件和图形采集组件，实现对部件的相应部位进行拍摄和成像，并将计算得 到的部件的各种参量信息传输至图像分析设备中进行显示和后续分析，达到全面地获取部 件参量信息的技术目的。
【专利附图】
【附图说明】
[0017]图1为本实用新型一种实施例中试验缺陷识别装置的结构示意图；
[0018]图1中部件名称与附图标记的对应关系为:[0019]基座1、支架2、支架臂3、图形采集组件4。
【具体实施方式】
[0020]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行 清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的 实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下 所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0021]请参考图1，图1为本实用新型一种实施例中试验缺陷识别装置的结构示意图。
[0022]本实用新型实施例公开了一种试验缺陷识别装置，以实现对部件信息全面获取的 技术效果。
[0023]一种试验缺陷识别装置，包括:基座1、支架2、光源部件、图形采集组件4和通信组 件，其中:
[0024]支架2竖直固定于基座I的平面上；
[0025]支架2的支架臂3将光源部件固定于基座I的定样部位上方；
[0026]用于采集部件参量信息的图形采集组件4安装于支架臂3的端环内；
[0027]用于接收图形采集组件4发出的信号并与图像分析设备连通的通信组件设置于 基座I的内部。
[0028]需要说明的是:图形采集组件包括:
[0029]光源部件可利用白光发光二极管实现，并可设置为斜顶LED光场环境，避免缺口 在内的凹凸干扰部件缺口轮廓形成投影，影响后续分析的精度；
[0030]图形采集组件4包括:变倍放大镜头、工业摄像机和成像芯片。变倍放大镜头可选 用0.75-5倍的镜头，工业摄像机可选用130万的像素，成像芯片可选用CMOS芯片；
[0031]另外需要指出的是，图像分析设备可通过笔记本电脑等终端实现，通信组件可以 是USB接口、无线组件等，与图像分析设备进行连通和数据交互。
[0032]基座I的定样部位包括:靠山台，靠山台可以减少操作者繁琐的水平横向和纵向 的精细调整等工作，靠山台可设置匹配部件缺口的凸起，在检测中直接将部件缺口依托在 靠山台的凸起尖端处并进行图像采集。
[0033]为了增加试验缺陷识别装置的设置合理性，光源部件固定于端环的下方，即:在 LED灯源光场中进行部件的拍摄和成像。
[0034]试验缺陷识别装置适用于各种冲击能试样的部件缺口微观尺寸的检测，试样材料 诸如:塑料、橡胶、金属、陶瓷、木材、复合板材、胶黏剂等。部件经过缺口工艺制备之后，采用 图形采集组件4采集样品缺口表面图像，并模糊聚类有效点集并全面识别缺口的顶端曲率 半径、缺口斜率、角度、宽度等参量信息，更为深入地，可根据标准样标定产生的虚拟标准样 图形和虚拟误差轮廓图形，判定部件加工合格性，以及在图像分析设备中进行存储，便于参 量信息的回溯。
[0035]在上述结构的基础上，本实用新型还包括:套装在试验缺陷识别装置外围的电磁 防尘罩。电磁防尘罩阻挡外界的机械干扰、热力辐射和灰尘进入。
[0036]防震橡胶块设置于基座I的底部，避免振动对测试过程的影响。
[0037]综上:[0038]本实用新型实施例中的试验缺陷识别装置将通过支架臂3固定光源部件和图形 采集组件，实现对部件的相应部位进行拍摄和成像，并将计算得到的部件的各种参量信息 传输至图像分析设备中进行显示和后续分析，达到全面地获取部件参量信息的技术目的。
[0039]对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新 型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定 义的一般原理可以在不脱离本实用新型实施例的精神或范围的情况下，在其它实施例中实 现。因此，本实用新型实施例将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所 公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【权利要求】
1.一种试验缺陷识别装置，其特征在于，包括:基座、支架、光源部件、图形采集组件和 通信组件，其中:所述支架竖直固定于所述基座上，所述基座包括定样部位；所述支架包括支架臂，所述支架臂具有端环，所述支架臂将所述光源部件固定于所述 定样部位的上方；用于采集部件参量信息的图形采集组件安装于所述支架臂的端环内；用于接收所述图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的所述通信组件设置 于所述基座内部。
2.如权利要求1所述的试验缺陷识别装置，其特征在于，所述光源部件包括:白光发光二极管。
3.如权利要求1所述的试验缺陷识别装置，其特征在于，所述光源部件固定于所述端 环的下方。
4.如权利要求1所述的试验缺陷识别装置，其特征在于，所述图形采集组件包括:变倍 放大镜头、工业摄像机和成像芯片，所述变倍放大镜头设置于所述工业摄像机上，所述工业 摄像机与所述成像芯片信号连接。
5.如权利要求1所述的试验缺陷识别装置，其特征在于，所述基座的定样部位包括靠 山台。
6.如权利要求1所述的试验缺陷识别装置，其特征在于，还包括:套装在所述试验缺陷 识别装置外围的电磁防尘罩。
7.如权利要求1所述的试验缺陷识别装置，其特征在于，还包括:设置于所述基座的底 部的防震橡胶块。
【文档编号】G01N21/88GK203443901SQ201320527652
【公开日】2014年2月19日 申请日期:2013年8月27日 优先权日:2013年8月27日
【发明者】陈波 申请人:上海美诺福实验自动化有限公司