可控硅检测装置制造方法
【专利摘要】一种可控硅检测装置，包括由八节1.5V电池串联组成一个直流电源，直流电源电压为12V，直流电源的正极与可控硅阳极相连接，直流电源的负极与指示灯相连接后与可控硅阴极相连接；直流电源的正极与复位开关相连接后与可控硅控制极相连接。本实用新型可控硅检测装置结构简单、操作方便，便于携带，检测准确，使用寿命长，提高了检测效率。
【专利说明】可控硅检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电子元器件的检测装置，具体的说，是涉及一种可控硅检测装置。
【背景技术】
[0002]现有技术中，测量硅体好坏的仪器大多体积偏大，接线复杂，既不利于携带且操作复杂，尤其是对大容量硅体进行单个测量时倒线的工作量巨大，检测效率低，检测结果不准确。
【发明内容】
[0003]针对上述现有技术中的不足，本实用新型提供一种结构简单、操作方便，便于携带的可控硅检测装置。
[0004]本实用新型所采取的技术方案是:
[0005]一种可控硅检测装置，包括由八节1.5V电池串联组成一个直流电源，直流电源电压为12V，直流电源的正极与可控硅阳极相连接，直流电源的负极与指示灯相连接后与可控硅阴极相连接；直流电源的正极与复位开关相连接后与可控硅控制极相连接。
[0006]本实用新型相对现有技术的有益效果:
[0007]本实用新型可控硅检测装置，结构简单、操作方便，便于携带的，检测准确，使用寿命长，提闻了检测效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1是本实用新型可控硅检测装置结构示意图。
[0009]附图中主要部件符号说明:
[0010]图中:
[0011]1、指示灯2、可控硅
[0012]3、复位开关。
【具体实施方式】
[0013]以下参照附图及实施例对本实用新型进行详细的说明:
[0014]附图1可知，一种可控硅检测装置，包括由八节1.5V电池串联组成一个直流电源，直流电源电压为12V，直流电源的正极与可控硅阳极相连接，直流电源的负极与指示灯I相连接后与可控硅2阴极相连接；直流电源的正极与复位开关3相连接后与可控硅3控制极相连接。直流电源两端通过导线和线夹与可控硅两端裸露导线相连接。
[0015]采用八节电池串联原因:12VDC能可靠地将可控硅导通，可控硅导通后维持电流大于200mA以上，可控硅能正确导通并能维持指示灯长亮，才能说明可控硅良好；八节电池串联后电压为12V,电流为4-6A,因此能够满足导通要求,如果电压为12V而电流达不到200mA以上，检测结果将不够准确。
[0016]本实用新型可控硅检测装置的检测方法:
[0017]1、按照电池组的正负分别加在可控硅两端，此时指示灯不亮，说明可控硅良好；如果指示灯亮，说明可控硅已经击穿。
[0018]2、再用电池组正极接触一下可控硅的控制极此时指示灯长亮，说明可控硅良好；如果指示灯不亮或闪亮，说明可控硅已经损坏。
[0019]本实用新型可控硅检测装置，结构简单、操作方便，便于携带的，检测准确，使用寿命长，提1? 了检测效率。
【权利要求】
1.一种可控硅检测装置，其特征在于:包括由八节1.5V电池串联组成一个直流电源，直流电源电压为12V，直流电源的正极与可控硅阳极相连接，直流电源的负极与指示灯相连接后与可控硅阴极相连接；直流电源的正极与复位开关相连接后与可控硅控制极相连接。
【文档编号】G01R31/26GK203396906SQ201320536773
【公开日】2014年1月15日 申请日期:2013年8月31日 优先权日:2013年8月31日
【发明者】付建忠, 李吉虎 申请人:国家电网公司, 国网新源控股有限公司, 国网新源控股有限公司潘家口蓄能电厂