比色计比色光能谱测量仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种比色计比色光能谱测量仪，包括光处理装置和计算装置；所述光处理装置包括采光探头和CCD光谱仪；所述采光探头包括壳体，所述壳体侧壁的下端开设有采光口，在所述壳体底部对应于所述采光口之处设置有凹面反光镜，所述壳体的顶部设置有光纤采光头，所述光纤采光头通过光纤与所述CCD光谱仪相连接；所述计算装置为计算机或平板电脑；所述CCD光谱仪与所述计算机相连接。本实用新型的比色计比色光能谱测量仪，具有可判定比色计比色光是否合乎相关指标的要求，提高比色计的测量精度、操作容易等优点。
【专利说明】比色计比色光能谱测量仪
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种比色计比色光能谱测量仪。
【背景技术】
[0002]比色分析应用广泛，其原理主要是利用朗伯——比尔定律，其要求是必须在一定的单色光条件下才能获得准确的结果，因此光源的单色性非常重要。老式比色计采用乌灯加滤光片获得单色光来实现测量，但随着LED光源的出现，使得过去的老式比色计逐步被淘汰，代替他们而使用单色性较好的LED光源的专用性极强的小型化比色计正在大量出现。目前为止，对于使用者来说，这些比色计的光源光谱特性是否满足需要不得而知，原因是没有对其波长进行测定的仪器，因此非常有必要加以解决。
[0003]从CCD技术的应用而发展起来的小型光谱仪已广泛用于光谱测量需要的各领域，也被用于光谱特性测量领域，由于CCD光谱仪可以利用光纤采光，对于某些测量场合，它就有使用方便优势，这也为直接测量LED光源光谱特性提供了可能。本发明所涉及的是一种比色计比色光能谱测量仪，就是通过采集比色计比色光线，经过CCD光谱仪进行分光、光电转换而得到其能量谱图，从而可知其光谱的中心波长和光谱带宽等指标，以便判定比色计是否满足预期的要求。
实用新型内容
[0004]本实用新型是为避免上述已有技术中存在的不足之处，提供一种比色计比色光能谱测量仪，以实现测量比色光的光谱的中心波长和光谱带宽等指标、判定比色计是否满足预期的要求。
[0005]本实用新型提供了 一种比色计比色光能谱测量仪。
[0006]比色计比色光能谱测量仪，其结构特点是，包括光处理装置和计算装置；所述光处理装置包括采光探头和CXD光谱仪；所述采光探头包括壳体，所述壳体侧壁的下端开设有采光口，在所述壳体底部对应于所述采光口之处设置有凹面反光镜，所述壳体的顶部设置有光纤采光头，所述光纤采光头通过光纤与所述CCD光谱仪相连接；所述计算装置为计算机或平板电脑；所述CCD光谱仪与所述计算装置相连接。
[0007]本实用新型的比色计比色光能谱测量仪的特点也在于:
[0008]所述光谱仪为CXD光谱仪。
[0009]所述光纤采光头通过挡光盖和固定螺丝设置于所述壳体的内上部中心位置；所述挡光盖套设于所述壳体的上部，所述挡光盖上开设有径向螺孔，所述固定螺丝旋入所述径向螺孔内并与所述壳体相抵接而将所述挡光盖固定于所述壳体上；需要调整挡光盖的位置时，松开固定螺丝上下移动挡光盖至所需要的位置，再旋紧固定螺丝固定所述挡光盖。
[0010]与已有技术相比，本实用新型有益效果体现在:
[0011]本实用新型的比色计比色光能谱测量仪，通过采光探头采集比色计比色光线，经光纤传导到CCD光谱仪，经CCD光谱仪分光、光电转换后在平板电脑上显示谱图、参数等，根据这些参数和谱图，从而可判定比色计比色光是否合乎相关指标的要求，提高比色计的测
量精度。
[0012]本实用新型的比色计比色光能谱测量仪，具有可判定比色计比色光是否合乎相关指标的要求，提高比色计的测量精度、操作容易等优点。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型的比色计比色光能谱测量仪的结构示意图。
[0014]附图1中标号:1壳体,2米光口，3凹面反光镜,4光纤米光头,5光纤,6挡光盖,7固定螺丝，8CXD光谱仪，9计算装置，10光线。
[0015]以下通过【具体实施方式】，并结合附图对本实用新型作进一步说明。
【具体实施方式】
[0016]参见图1，比色计比色光能谱测量仪，其包括光处理装置和计算装置9 ;所述光处理装置包括采光探头和CCD光谱仪8 ;所述采光探头包括壳体I，所述壳体I侧壁的下端开设有米光口 2,在所述壳体I底部对应于所述米光口 2之处设置有凹面反光镜3,所述壳体I的顶部设置有光纤采光头4，所述光纤采光头4通过光纤5与所述CCD光谱仪8相连接；所述计算装置9为计算机或平板电脑；所述CCD光谱仪8与所述计算装置9相连接。
[0017]所述光谱仪8为CXD光谱仪。
[0018]所述光纤采光头4通过挡光盖6和固定螺丝7设置于所述壳体I的内上部中心位置；所述挡光盖6套设于所述壳体I的上部，所述挡光盖6上开设有径向螺孔，所述固定螺丝7旋入所述径向螺孔内并与所述壳体I相抵接而将所述挡光盖6固定于所述壳体I上；需要调整挡光盖6的位置时，松开固定螺丝7上下移动挡光盖6至所需要的位置，再旋紧固定螺丝7固定所述挡光盖6。
[0019]测试时，采光探头需要插入被测的比色计的比色室。将采光探头的采光口对准需要采光的部位一比色计的光源。此时，采光探头的挡光盖卡在所述比色室的外端。通过调整挡光盖的位置，可以调整采光探头伸入到比色室的深度，从而实现采光口的采光位置的调整。
[0020]利用采光探头I，插入被测仪器的比色室，通过采光口 2，光线10进入采光探头内，由凹面反光镜3进行约90°的反射并聚集到光纤采光头4，然后经光纤5，传导送入CXD光谱仪8经分光及光电转换，处理后传给计算机9进行图像和参数处理。
[0021]采光探头I可以通过挡光盖6和固定螺丝7调节高度，以便使采光口 2可以正对被测光源，挡光盖6作为被测对象样品室的挡光盖和高度限位部件。
[0022]比色计比色光能谱测量仪，利用采光探头I，插入被测仪器的比色室，通过采光探头内的采光口调节对准比色计的光源，光线通过采光口 2进入采光探头内，由凹面反光镜3进行约90°的反射并聚集到光纤采光头4，然后经光纤5，传导送入CXD光谱仪8经分光及光电转换，处理后传给平板电脑9进行图像和参数处理，其中采光探头I可以通过挡光盖6和固定螺丝7调节高度，以便使采光口 2可以正对被测光源，挡光盖6作为被测对象样品室的挡光盖和高度限位部件。
【权利要求】
1.比色计比色光能谱测量仪，其特征是，包括光处理装置和计算装置(9);所述光处理装置包括采光探头和CCD光谱仪(8);所述采光探头包括壳体(I )，所述壳体(I)侧壁的下端开设有采光口( 2 )，在所述壳体(I)底部对应于所述采光口( 2 )之处设置有凹面反光镜(3 )，所述壳体(I)的顶部设置有光纤采光头(4)，所述光纤采光头(4)通过光纤(5)与所述CCD光谱仪(8)相连接；所述计算装置(9)为计算机或平板电脑；所述CCD光谱仪(8)与所述计算装置(9)相连接。
2.根据权利要求1所述的比色计比色光能谱测量仪，其特征是，所述光谱仪(8)为CCD光谱仪。
3.根据权利要求1所述的比色计比色光能谱测量仪，其特征是，所述光纤采光头(4)设置于所述壳体(I)之内的上部中心位置；所述挡光盖(6)套设于所述壳体(I)的上部，所述挡光盖(6)上开设有径向螺孔，所述固定螺丝(7)旋入所述径向螺孔内并与所述壳体(I)相抵接而将所述挡光盖(6)固定于所述壳体(I)上；需要调整挡光盖(6)的位置时，松开固定螺丝(7)上下移动挡光盖(6)至所需要的位置，再旋紧固定螺丝(7)固定所述挡光盖(6)。
【文档编号】G01J3/28GK203519166SQ201320665843
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2013年10月25日 优先权日:2013年10月25日
【发明者】张守明 申请人:张守明