一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法
【专利摘要】本发明涉及一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法。目前电子元器件生产过程中的成品缺陷检测主要由人工完成，费时费力，不仅工作量大，而且易受检测人员主观因素的影响，容易造成误检和漏检，检测效率低，劳动强度大。如果在检测中操作不慎，还会对电子元器件造成二次损伤。本发明方法利用非接触式数字图像检测技术来提高电子元器件缺陷检测的效率，提出了一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法。本发明方法通过构造合格及各类缺陷样本库字典基，自适应的对电子元器件的表面缺陷进行自动检测，并对缺陷类别进行自动判别，可以很好的克服人工目测检测方法的不足。
【专利说明】一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法
【技术领域】
[0001]本发明属于图像处理领域，具体涉及一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法。
【背景技术】
[0002]目前电子元器件生产过程中的成品缺陷检测主要由人工完成，费时费力，不仅工作量大，而且易受检测人员主观因素的影响，容易造成误检和漏检，检测效率低，劳动强度大。如果在检测中操作不慎，还会对电子元器件造成二次损伤。
【发明内容】
[0003]本发明的目的是为了克服人工目测方法的不足，利用非接触式数字图像检测技术来提高电子元器件缺陷检测的效率。提出了一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法。具体步骤:
[0004]步骤(1)采集合格及存在缺陷的电子元器件图像，构造电子元器件图像样本库；
[0005]对需要进行表面缺陷检测的电子元器件；选取200个合格的该元器件样品，同时选取表面存在气泡，破损，划痕和引脚油漆下挂的该元器件样品各100个；
[0006](a)将样本器件、照明系统、CXD相机全部置于封闭的暗箱中，采集上述合格及存在缺陷的电子元器件的表面图像；
[0007](b)对采集得到的图像f按如下方式提取梯度图像▽ f作为各样本器件的特征图像:
[0008]
【权利要求】
1.一种基于样本库字典基的电子元器件表面缺陷检测方法，其特征在于该方法的具体步骤是: 步骤(1)采集合格及存在缺陷的电子元器件图像，构造电子元器件图像样本库； 对需要进行表面缺陷检测的电子元器件，选取200个合格的该元器件样品，同时选取表面存在气泡，破损，划痕和引脚油漆下挂的该兀器件样品各100个； (a)将样本器件、照明系统、CCD相机全部置于封闭的暗箱中，采集上述合格及存在缺陷的电子元器件的表面图像；(b)对采集得到的图像f按如下方式提取梯度图像▽f作为各样本器件的特征图像:
【文档编号】G01N21/88GK103954627SQ201410160167
【公开日】2014年7月30日 申请日期:2014年4月21日 优先权日:2014年4月21日
【发明者】杨宇翔, 高明煜, 何志伟, 吴占雄, 黄继业, 曾毓 申请人:杭州电子科技大学