特殊图样自动化辨识之检测系统及其方法

文档序号:6234589阅读:192来源:国知局
特殊图样自动化辨识之检测系统及其方法
【专利摘要】本发明涉及一种可用于电子产品维修检测时之检测系统及其方法,其主要系在一待测产品之部分待测电子组件邻侧固设有一特殊图样,而当有待测产品欲被检测时,检测系统之移动装置受控于一控制装置而移动至待测产品适当位置,并藉由移动装置上一影像撷取模块以取得某一待测电子组件之特殊图样,一分析装置则可经由所撷取之特殊图样数据而从数据库中找到与该待测电子组件有关之电子组件数据,而移动装置上之一量测模块即可根据所找出相对应之电子组件数据而进行待测电子组件之量测程序,并依序取得一量测值及一比较值,因而达成自动化检测与维修数据系统化,并有助于不良问题分析的目的。
【专利说明】特殊图样自动化辨识之检测系统及其方法
【【技术领域】】
[0001]本发明涉及一种检测系统及其方法,特别是一种可用于电子产品维修检测或出厂检验的特殊图样自动化辨识之检测系统及其方法。
【【背景技术】】
[0002]传统电子产品之维修需要经由操作人员手动及直接对产品进行量测,然而各产品之设计不同,故须量测之对象位置与量测项目皆不相同,操作人员面对各式新产品皆须透过额外训练、产品相关文件与设计数据来检测产品。维修检测或出厂检验时,人员需透过量测仪器或示波器自行判定该待测产品正常或异常,在此一检测过程中除了会有人员误差夕卜,量测后到维修完成中间的量测值与检修数据并未记录,因而造成普遍检测效率低落的结果。
[0003]习用电子产品之维修检测程序,如图1所示,于步骤S101,当公司收到异常产品需维修检测或有产品欲出厂检验时,必需先开启数据库中之线路图记录以查询该待测产品之相关组件位置与应量测检修的位置,如步骤S102。接着,如步骤S103所示,传统电子产品维修需要人员手动对该产品进行量测。以往,维修人员需透过量测仪器进行量测,并自行判定合格或错误。且,一般而言,量测后到维修完成中间的量测值并未被记录,无法进行数据分析及经验累积。

【发明内容】

[0004]有鉴于上述问题,本发明提出一种特殊图样自动化辨识之检测系统及其方法,可藉由量测仪器主动去侦测待测产品上之一特殊图样后,就自动去执行量测动作,不需针对各式产品增加或修改量测程序,只须事先定义各图样所对应之电子组件的应量测项目的标准范围值:例如电压、电流或电阻值等,故能节省维修检测之人工及时间成本,增加量测准确度及数据系统化,同时记录量测值并有助于不良问题分析。
[0005]基于上述目的,本发明提出一种特殊图样自动化辨识之检测系统,其包括:一个或多个特殊图样,被固定于一待测产品之一待测电子组件邻侧;一控制装置;一移动装置,电性连接该控制装置,设有一影像撷取模块及一量测模块,该影像撷取模块可撷取该特殊图样,并藉此产生一图样影像数据,而量测模块则可根据一电子组件数据以量测该待测电子组件,并藉此以取得一量侧值;及一分析装置,电性连接该控制装置,设有一数据库及一判断器,该数据库可储存有一个或多个与该特殊图样相对应之该电子组件数据,而判断器可接受该图样影像数据及该量侧值,并可根据该量测值及该电子组件数据而产生一比较值。
[0006]另外,为达上述目的,本发明提供一种特殊图样自动化辨识之检测方法,其包括:固定一特殊图样于一待测产品之一待测电子组件的邻侧;提供一移动装置,连接一控制装置,该移动装置设有一影像撷取模块及一量测模块;提供一分析装置,连接该控制装置,该分析装置设有一数据库及一判断器;储存各特殊图样所对应的至少一电子组件数据于该数据库中;移动该移动装置至该待测产品之适当位置,以影像撷取模块撷取该待测电子组件邻侧之该特殊图样,并藉此产生一图样影像数据;判断器接收该图样影像数据,并藉此以找出与该图样影像数据相对应之该电子组件数据;量测模块根据该电子组件数据以量测该待测电子组件,并取得一量测值;传送该量测值至该判断器,该判断器将比较该量测值与电子组件数据,以产生一比较值。
[0007]于本发明又一实施例中,其中该电子组件数据系包括有一特殊图样、一检测位置、一应量测项目、一组件特性、一组件设定值或一标准范围值。
[0008]于本发明又一实施例中,其中该分析装置包括有一警示器。
[0009]于本发明又一实施例中,其中该分析装置包括有一分析器。
[0010]于本发明又一实施例中,其中该图样影像数据、该量测值及该比较值可储存于该数据库。
[0011 ] 于本发明又一实施例中,其中该特殊图样可为一图形、一符号、一数字或一字母。
[0012]于本发明又一实施例中,其中该移动装置可为一一维移动装置或一多维移动装置。
[0013]如前述之特殊图样自动化辨识检测系统,其中,该移动装置可为一一维移动装置、一二维移动装置或一三维移动装置,并由滑轨、传动皮带与伺服马达所组成之移动系统,可由计算机化程序之自动控制对其进行移动与定位;该数据库可为一硬盘、闪存、可擦写式光盘或任何形式之记录媒体,并可储存各待测电子组件之应量测项目,可视不同待测产品或电子组件之特性而设置不同之检测项目,例如电压、电流或电阻值之量测等;该判断器可为一微处理器或运算单元;该分析器可为一微处理器或运算单元;该影像撷取模块可为一CCD/CM0S摄影机、网络摄影机(WebCam)或各式动态/静态数字影像摄影装置;该待测之电子装置可为一显示适配器、声卡、主板或任何可能的电子设备;该待测电子组件可为至少一个晶体管、集成电路、电阻、电感、电容器、二极管、继电器、变压器、电池、电源供应器、开关或其组合;而该待测电子组件所对应之特殊图样(ICON)可为至少一个任意不同形状之图样、几何图形或其组合,图6即为本发明之自动化辨识图样之一示例。
【【专利附图】

【附图说明】】
[0014]下面结合附图和实施方式对本发明作进一步详细的说明。
[0015]图1是习用电子产品维修检测程序之流程示意图。
[0016]图2是本发明自动化辨识检测系统一实施例之构造示意图。
[0017]图3是本发明自动化辨识检测系统另一实施例之构造示意图。
[0018]图4是本发明自动化辨识检测系统又一实施例之构造示意图。
[0019]图5是本发明自动化辨识检测系统于检测时之流程图。
[0020]图6是本发明自动化辨识图样(ICON)之部分图样示意图。
[0021]主要组件符号说明:
1.20 检测系统
2.21 控制装置
3.23 移动装置
4.231影像撷取模块
5.233量测模块 6.2335量测值
7.25分析装置
8.251数据库
9.2511电子组件数据
10.253判断器
11.2535比较值
12.27特殊图样
13.271图样影像数据
14.29特殊图样
15.200待测产品
16.201待测电子组件
17.203待测电子组件
18.30检测系统
19.355警示器
20.40检测系统
21.457分析器
【【具体实施方式】】
[0022]以下结合附图来详细说明本发明的【具体实施方式】,本案将可由以下的实施例说明而得到充分了解,使得熟习本技艺之人士可以据以完成之。相同的符号代表具有相同或类似功能的构件或装置。
[0023]首先,请参阅图2及图5,系分别为本发明自动化辨识检测系统一实施例之构造示意图及流程示意图。该特殊图样自动化辨识之检测系统20包括有一控制装置21、一移动装置23、一分析装置25及一个或多个特殊图样27、29。控制装置21将分别电性连接该移动装置23及该分析装置25。
[0024]具有一维或多维移动功能的移动装置23内设有一影像撷取模块231及一量测模块233,影像撷取模块231及量测模块233将联机并可接受控制装置21之指令而动作。分析装置25内设有一数据库251及一判断器253,数据库251内储存有一电子组件数据2511,电子组件数据2511则可记录一个或多个待测产品200之一个或多个待测电子组件201、203所相对应之特殊图样、检测位置、应量测项目、组件特性、组件设定值及/或标准范围值(或称容错范围值),如步骤S501。而特殊图样27、29则可各别固设于其相对应之一待测产品200之一待测电子组件201、203邻侧。
[0025]当有出厂欲检验产品或欲维修检测商品等待测产品200欲被进行检测时,如步骤S502,检测系统20之控制装置21将控制移动装置23移动至待测产品200之适当位置,并藉由该影像撷取模块231以拍摄该待测产品200上之影像。当拍摄或撷取到特殊图样27之影像时,可因此取得一图样影像数据271,如步骤S503。
[0026]图样影像数据271将被传送至分析装置25之判断器253,此时,判断器253将比较该图样影像数据271与数据库251中储存之电子组件数据2511,以取得与该图样影像数据271所对应的待测电子组件类型、检测位置、应量测项目及/或标准范围值,如步骤S504。
[0027]控制装置21将接续控制移动装置23内之量测模块233根据电子组件数据2511所记录之待测电子组件类型、检测位置、及/或应量测项目而量测待测电子组件201,并因此取得一量测值2335,如步骤S505。
[0028]此量测值2335也将被传送至判断器253,判断器253将比较该量测值2335与电子组件数据2511所记录之标准范围值,以取得一比较值2535。若量测值2335未超出电子组件数据2511之标准范围值,即代表待测电子组件201功能正常。反之,若量测值2335超出电子组件数据2511之标准范围值,则代表待测电子组件201功能异常,有待拆解维修,如步骤 S506。
[0029]而图样影像数据271、量测值2335与比较值2535又可被储存在数据库251中,如步骤S507。
[0030]同理,当影像撷取模块231撷取到特殊图样29之影像时,可得一图样影像数据271,检测系统20依序可得到量测值2335与比较值2535,而图样影像数据271、量测值2335与比较值2535可储存在数据库251中。若量测值2335未超出电子组件数据2511之标准范围值,即代表待测电子组件203功能正常。反之,若量测值2335超出电子组件数据2511之标准范围值,即代表待测电子组件203功能异常。因而达成自动化检测、维修数据系统化及有助于不良问题分析的目的。
[0031]再者,请参阅图3,系本发明自动化辨识检测系统又一实施例之构造示意图。如图所示,与前述实施例不同之处即在于:本实施例之分析装置25内增设有一警示器355,警示器355可为一声响组件、一振动组件、一光源组件及/或一电子触发组件(如一无线遥控讯号或一有线通知讯号)。本实施之检测系统30同样可依序取得图样影像数据271、量测值2335与比较值2535,图样影像数据271、量测值2335与比较值2535可以被储存在数据库251中。当量测值2335超出电子组件数据2511之标准范围值时,即代表待测电子组件203功能异常,此时控制装置21将控制警示器355发出一警告讯号,以通知操作人员或相关人员等产品有异常现象,必须被维修或换装,藉此以达成自动化检测与维修数据系统化并有助于不良问题分析的目的。
[0032]另外,请参阅图4,系本发明自动化辨识检测系统又一实施例之构造示意图。如图所示,与前述实施例不同之处即在于:本实施例之分析装置25内可增设有一分析器457。该分析器457可统计并分析储存于数据库251中之图样影像数据271、量测值2335与比较值2535等数据,并可得一分析数据,因此可达成自动化检测、维修数据系统化及有助于不良问题分析的目的。
[0033]最后,请参阅图6,系本发明自动化辨识图样(ICON)之部分图样示意图。本发明特殊图样27、29可为多种样态,可为一图形、一符号、一数字或一字母等,而每一种特殊图样27、29皆可代表一待测产品200之一待测电子组件201或203。
[0034]虽然本发明的实施方式揭露如上所述,然并非用以限定本发明,任何熟习相关技艺者,在不脱离本发明的精神和范围内,举凡依本发明申请范围所述的形状、构造、特征及数量当能做些许的变更,因此本发明的专利保护范围须视本说明书所附的权利要求所界定者为准。
【权利要求】
1.一种特殊图样自动化辨识之检测系统,包括: 一个或多个特殊图样,被固定于一待测产品之一待测电子组件邻侧; 一控制装置; 一移动装置,电性连接该控制装置,设有一影像撷取模块及一量测模块,该影像撷取模块撷取该特殊图样,并藉此产生一图样影像数据,而量测模块则根据一电子组件数据以量测该待测电子组件,并藉此以取得一量侧值;及 一分析装置,电性连接该控制装置,设有一数据库及一判断器,该数据库储存有一个或多个与该特殊图样相对应之该电子组件数据,而判断器接受该图样影像数据及该量侧值,并根据该量测值及该电子组件数据而产生一比较值。
2.如请求项第I项所述之检测系统,其中该电子组件数据系包括有一特殊图样、一检测位置、一应量测项目、一组件特性、一组件设定值或一标准范围值。
3.如请求项第I项所述之检测系统,其中该分析装置包括有一警示器。
4.如请求项第I项所述之检测系统,其中该分析装置包括有一分析器。
5.如请求项第I项所述之检测系统,其中该图样影像数据、该量测值及该比较值储存于该数据库。
6.如请求项第I项所述之检测系统,其中该特殊图样为一图形、一符号、一数字或一字母。
7.如请求项第I项所述之检测系统,其中该移动装置为一一维移动装置或一多维移动>j-U ρ?α装直。
8.一种特殊图样自动化辨识之检测方法,包括: 固定一特殊图样于一待测产品之一待测电子组件的邻侧; 提供一移动装置,连接一控制装置,该移动装置设有一影像撷取模块及一量测模块; 提供一分析装置,连接该控制装置,该分析装置设有一数据库及一判断器; 储存各特殊图样所对应的至少一电子组件数据于该数据库中; 移动该移动装置至该待测产品之适当位置,以影像撷取模块撷取该待测电子组件邻侧之该特殊图样,并藉此产生一图样影像数据; 判断器接收该图样影像数据,并藉此以找出与该图样影像数据相对应之该电子组件数据; 量测模块根据该电子组件数据以量测该待测电子组件,并取得一量测值;及 传送该量测值至该判断器,该判断器将比较该量测值与电子组件数据,以产生一比较值。
9.如请求项第8项所述之检测方法,其中该特殊图样为一图形、一符号、一数字或一字母。
10.如请求项第8项所述之检测方法,包括有:储存该图样影像数据、该量测值与该比较值于该数据库中。
11.如请求项第8项所述之检测方法,其中该分析装置更包括有一警示器。
12.如请求项第8项所述之检测方法,其中该分析装置更包括有一分析器。
13.如请求项第8项所述之检测方法,其中该电子组件数据系包括有一特殊图样、一检测位置、一应量测项目、一组件特性、一组件设定值或一标准范围值。
【文档编号】G01R31/00GK104198833SQ201410343029
【公开日】2014年12月10日 申请日期:2014年7月18日 优先权日:2014年7月18日
【发明者】黄顺治, 吕景豫, 吴彦儒 申请人:技嘉科技股份有限公司
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