一种介质损耗测试仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种介质损耗测试仪，包括标准电容；所述标准电容电连接标准电阻；所述标准电容和标准电阻另一端分别电连接于高压电源处；所述高压电源上端或者下端电连接有取样电阻；所述取样电阻另一端和高压电源另一端设置有测试品的连接端口；所述标准电容输入端和取样电阻输入端分别电连接有第一运放和第二运放；所述第一运放和第二运放通过模数转换模块和计算模块连接到显示模块。本实用新型的介质损耗测试仪，采用变频电源技术，利用单片机和现代化电子技术进行自动频率变换、模数转换和数据运算；达到强抗干扰、快速率、高精度及全自动数字化的效果。
【专利说明】一种介质损耗测试仪
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种介质损耗测试仪，属于测试仪【技术领域】。
【背景技术】
[0002]介质损耗测量是绝缘试品中很基本的方法，可以有效地发现电器设备绝缘的整体受潮劣化变质，以致局部残缺等。在电工制造、电气设备安装、交接和预防性试验中都有广泛的应用。变压器、互感器、电抗器、电容器以及套管、避雷针等介质损耗的测量是衡量其绝缘性能的最基本方法。传统的介质测量一般采用电桥测量法，这种操作方法虽能基本满足测量需要，但其抗干扰能力弱，测量的速度慢，精度也不够高，对于一些恶劣环境下的电气测量时，会产生较大的偏差；因此，为解决以上问题，亟待研发一种新的介质损耗测试仪。
【发明内容】
[0003](一)要解决的技术问题
[0004]为了解决上述问题，本实用新型提出了一种抗干扰能力强、测试速度快、精度高且操作方便的介质损耗测试仪。
[0005](二)技术方案
[0006]本实用新型的介质损耗测试仪，包括标准电容；所述标准电容电连接标准电阻；所述标准电容和标准电阻另一端分别电连接于高压电源处；所述高压电源上端或者下端电连接有取样电阻；所述取样电阻另一端和高压电源另一端设置有测试品的连接端口 ；所述标准电容输入端和取样电阻输入端分别电连接有第一运放和第二运放；所述第一运放和第二运放通过模数转换模块和计算模块连接到显示模块。
[0007]进一步地，所述显示模块为液晶显示屏。
[0008]进一步地，所述数模转换模块由10位模数转换芯片构成。
[0009]进一步地，所述计算模块由单片机和外围电路构成。
[0010](三)有益效果
[0011]本实用新型与现有技术相比较，其具有以下有益效果:本实用新型的介质损耗测试仪，采用变频电源技术，利用单片机和现代化电子技术进行自动频率变换、模数转换和数据运算；达到强抗干扰、快速率、高精度及全自动数字化的效果。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型的实施例1结构示意图；
[0013]图2为本实用新型的实施例2结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]实施例1:
[0015]如图1所示，本实用新型的介质损耗测试仪，包括标准电容Cn;所述标准电容Cn电连接标准电阻Rn ;所述标准电容Cn和标准电阻Rn另一端分别电连接于高压电源U处；所述高压电源U上端电连接有取样电阻R ;所述取样电阻R另一端和高压电源U另一端设置有测试品的连接端口 K ;所述标准电容Cn输入端和取样电阻Rn输入端分别电连接有第一运Fl放和第二运放F2 ;所述第一运Fl放和第二运放F2通过模数转换模块和计算模块连接到显示模块。
[0016]其中，所述显示模块为液晶显示屏；所述数模转换模块由10位模数转换芯片构成；所述计算模块由单片机和外围电路构成。
[0017]本实施例的工作原理:在高压电源的1KV侧，高压分两路，一路给机内标准电容Cn，此电容介质损耗非常小，可以认为介质损耗为零，即为纯容性电流，此电流可作为容性电流基准。在Cx试品的一侧，试品电流Icx试品末端进入取样电阻R，得到全电流。
[0018]实施例2:
[0019]如图2所述，本实施例与实施例1基本结构一致，其中将高压电源U下端电连接取样电阻R ;其它结构与实施例1结构相同。
[0020]本实施例的工作原理:本实施例与实施例1基本原理一致，其中机内Cx端直接接地，电流Icx试品高电压端进入取样电阻R，得到全电流；其它原理与实施例1原理相同。
[0021]上面所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的构思和范围进行限定。在不脱离本实用新型设计构思的前提下，本领域普通人员对本实用新型的技术方案做出的各种变型和改进，均应落入到本实用新型的保护范围，本实用新型请求保护的技术内容，已经全部记载在权利要求书中。
【权利要求】
1.一种介质损耗测试仪，其特征在于:包括标准电容；所述标准电容电连接标准电阻；所述标准电容和标准电阻另一端分别电连接于高压电源处；所述高压电源上端或者下端电连接有取样电阻；所述取样电阻另一端和高压电源另一端设置有测试品的连接端口 ；所述标准电容输入端和取样电阻输入端分别电连接有第一运放和第二运放；所述第一运放和第二运放通过模数转换模块和计算模块连接到显示模块。
2.根据权利要求1所述的介质损耗测试仪，其特征在于:所述显示模块为液晶显示屏。
3.根据权利要求1所述的介质损耗测试仪，其特征在于:所述模数转换模块由10位模数转换芯片构成。
4.根据权利要求1所述的介质损耗测试仪，其特征在于:所述计算模块由单片机和外围电路构成。
【文档编号】G01R27/26GK203949974SQ201420147301
【公开日】2014年11月19日 申请日期:2014年3月29日 优先权日:2014年3月29日
【发明者】马俊峰 申请人:淮安科达电气有限公司