1.一种全域式影像检测系统，其特征在于，包括：
平面光源，用以投射具有周期变化的光影像于待测物上；
影像撷取装置，用以撷取经由该待测物反射的反射光影像；
光感测装置，用以检测该待测物上至少三个量测点的相对坐标，以拟合出平面；
处理单元，用以计算该反射光影像相位移后的相位变化，并根据该相位变化计算该待测物的表面形貌的相对高度分布，且计算该待测物的表面形貌相对于该平面的绝对高度分布，以得到绝对坐标信息；以及
量测模块，根据该绝对坐标信息对该待测物的表面进行检测。
2.如权利要求1所述的全域式影像检测系统，其特征在于，还包括定位平台，用以承载该待测物，该定位平台根据该绝对坐标信息移动该待测物至坐标位置。
3.如权利要求1所述的全域式影像检测系统，其特征在于，该平面光源投射均匀光影像至该待测物，以供该处理单元根据拟合出的该平面得到平面坐标系的坐标信息。
4.如权利要求1所述的全域式影像检测系统，其特征在于，该量测模块包括光学显微镜或光干涉仪。
5.如权利要求4所述的全域式影像检测系统，其特征在于，该光学显微镜或该光干涉仪根据该绝对坐标信息调整高度，以调整该光学显微镜或该光干涉仪与该待测物之间的焦距。
6.如权利要求1所述的全域式影像检测系统，其特征在于，该量测模块包括探针卡电性检测装置。
7.如权利要求6所述的全域式影像检测系统，其特征在于，该量测模块根据该绝对坐标信息调整间隙，以使该探针卡电性检测装置与该待测物电性接触。
8.一种全域式影像检测方法，其特征在于，包括：
以平面光源投射具有周期变化的光影像于待测物上：
撷取经由该待测物反射的反射光影像；
计算该反射光影像相位移后的相位变化，并根据该相位变化计算该待测物的表面形貌的相对高度分布；
检测该待测物上至少三个量测点的相对坐标，以拟合出平面；
计算该待测物的表面形貌相对于该平面的绝对高度分布，以得到绝对坐标信息；以及
根据该绝对坐标信息对该待测物的表面进行检测。
9.如权利要求8所述的全域式影像检测方法，其特征在于，还包括以定位平台承载该待测物，并根据该绝对坐标信息控制该定位平台移动该待测物至坐标位置。
10.如权利要求8所述的全域式影像检测方法，其特征在于，还包括以该平面光源投射均匀光影像至该待测物，并根据拟合出的该平面得到平面坐标系的坐标信息。
11.如权利要求8所述的全域式影像检测方法，其特征在于，该待测物以光学显微镜或光干涉仪进行检测时，还包括根据该绝对坐标信息调整高度，以调整该光学显微镜或该光干涉仪与该待测物之间的焦距。
12.如权利要求8所述的全域式影像检测方法，其特征在于，该待测物以探针卡电性检测装置进行检测时，还包括根据该绝对坐标信息调整间隙，以使该探针卡电性检测装置与该待测物电性接触。