基于线性阵列聚焦‑时间反转的钢板Lamb波检测成像方法与流程

技术特征：
1.基于Lamb波大平面板缺陷成像识别方法，其特征是采用线性阵列聚焦探头作为超声波激励-接收声源，线性阵列换能器沿大平面板的一边布设，按照一定的规则激励一组超声相控阵传感器阵列，实现声波在大平面板中任意一点的聚焦；对包含缺陷信息的回波信号进行时间反转处理，并将处理后的信号作为新的波源加载到模型中发射，实现声波在缺陷处的二次聚焦；建立在缺陷二次聚焦时刻的幅值聚焦图，对大平板缺陷进行成像；缺陷成像识别的具体步骤包括：步骤1：将待扫描区域进行离散化，通过聚焦阵列探头分时沿不同角度发射超声波，每个探头发射超声波的时刻为Am,i，其下标代表第m个扫描区域内的第i个探头；步骤2：设定报警缺陷阈值，提取阵列探头接收到缺陷反射回波的时刻Bm,i，计算反转延迟时间ΔTm,i，截取时间窗长度Lm,i；步骤3：将截取时间窗长度Lm,i内的信号进行时间反转得到时反信号fm,i，并重新加载至第i个探头，则在缺陷处实现二次聚焦的时刻为Fm,i；步骤4：建立在二次聚焦Fm,i时刻的幅值聚焦图K，K图上的每一个像素点对应于模型上的每个结构单元；步骤5：将扫描区域划分为h×g的网格，将网格中心点回波幅值Km,p近似为整个网格的回波幅值，建立二维像素矩阵P，P∝(Km,p)h×g在图像像素值最大处，为缺陷。2.根据权利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像识别方法，其特征是步骤2中反转延迟时间ΔTm,i的计算公式为：时间窗长度Lm,i的计算公式为：Lm,i＝Bm,i+ΔTm,N-i。3.根据权利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像识别方法，其特征是步骤3中在缺陷处实现二次聚焦的时刻为Fm,i的计算公式为：Fm,i＝Lm,i-(Am,i+Bm,i)/2。4.根据权利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像识别方法，其特征是步骤4中对于每个结构单元，任意图像单元P(xp,yp)在Fm,i时刻的回波幅值表示为：其中，Ns为采样信号的个数，Ai为补偿第i个传感器性能差异及监测信号能量衰减的放大系数，取归一化系数；v为声速；xi、yi为第i个传感器的坐标。5.根据权利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像识别方法，其特征是超声相控阵传感器阵列由相对独立的压电晶片组成，在主动lamb波时反成像过程中，先将一组压电传感器元件组成压电阵列，在激励时采用全发全收的激励模式。6.根据权利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像识别方法，其特征是传感器的检测探头为压电探头或EMAT探头。