技术总结
本发明属于放射性测量技术领域，公开了一种用于大面积放射源均匀性测量的系统与方法。该系统包括均匀性测量仪、多孔屏蔽体及固定支架；所述多孔屏蔽体上设置有若干个用于放射性测量的通孔，多孔屏蔽体的厚度大于被测放射性核素的射程，外观尺寸不小于待测大面积放射源的活性区面积；半导体探测器的探头与多孔屏蔽体上设置的通孔的大小相适应，可以对α或β核素测量；固定支架位于多孔屏蔽体上方，其中心位置处设置有一个孔道，该孔道的四周设置有支撑挡板。该方法是利用该系统并选择合适的测量时间对大面源进行测量。该系统与方法具有测量效率高、适用性好、成本低且能够用于面积大至1000cm2的放射源均匀性测量的有益效果。
技术研发人员：林敏;陈义珍;姚艳玲;陈克胜;夏文;徐利军;张卫东;
受保护的技术使用者：中国原子能科学研究院;
文档号码：201610116084
技术研发日：2016.03.01
技术公布日：2016.07.13