技术总结
本发明公开一种微推力测试系统,其适用于1～1000mN，推重比为10‑5～10‑2范围内的推力的测试，在测量带宽足够的情况下，大大提高了测量精度。其包括台架、位移传感器、在线标定组件、阻尼系统、计算机测控设备；所述计算机测控设备包括相连的高频数据采集卡、工控机、显示装置；反射式激光位移传感器采集的位移数据通过工控机处理后经过显示装置来展现；工控机控制升降台的高度，测量标准砝码加载下的摆推力响应，实现稳态推力标定；工控机控制阻尼系统来使台架静止。还提供了采用这种装置的测试方法。
技术研发人员：李飞;余西龙;郭大华
受保护的技术使用者：中国科学院力学研究所
技术研发日：2016.05.13
技术公布日：2018.10.12