一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备的制作方法

技术特征：

1.一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备，其特征在于，包括主控系统、推挽式开关逻辑控制电路、示波器、高压探头、过流保护传感电路、测试架和恒温箱，其中：

测试架，用于固定相当于设备总负载电容的被测变频电机电磁线，其数量为两个以上并采用并联的方式进行连接；同时，每个测试架均具有高压测试电极和接地的地测试电极；

恒温箱，用于控制耐电晕测试环境温度，所有测试架均设置在恒温箱内；

过流保护传感电路，同时与主控系统、推挽式开关逻辑控制电路和所有测试架的高压测试电极连接，用于在测试过程中检测式样被击穿状态，并将测试结果反馈至主控系统；

推挽式开关逻辑控制电路，与主控系统连接，用于向过流保护传感电路输出高压方波，并根据过流保护传感电路反馈的检测结果，当某个被测变频电机电磁线被电压击穿且相应负载电容被移除后，在主控系统的驱动控制下调整自身总的电阻值，以确保设备的总电阻与总负载电容的乘积R×C不变，实现其余被测变频电机电磁线的正常耐电晕测试；

高压探头，同时与推挽式开关逻辑控制电路的高压方波输出端和示波器连接，并接地，用于获取被测变频电机电磁线的高压方波信号，并将其衰减1000倍后输出至示波器中进行波形显示。

2.根据权利要求1所述的一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备，其特征在于，所述主控系统包括MCU，与该MCU连接的人机交互终端，采用串口RS232协议与该MCU进行通信、并可输出TTL信号的FPGA，以及同时与该FPGA和推挽式开关逻辑控制电路连接、用于将TTL信号经数模转换后输出至推挽式开关逻辑控制电路的DA模块；所述过流保护传感电路和推挽式开关逻辑控制电路同时与FPGA连接。

3.根据权利要求2所述的一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备，其特征在于，所述过流保护传感电路包括与测试架数量相同、且一一对应连接的霍尔传感器，以及与霍尔传感器数量相同并一一对应连接的过流保护器；所述FPGA同时与所有的霍尔传感器和过流保护器连接；所述推挽式开关逻辑控制电路和高压探头均同时与所有的过流保护器连接。

4.根据权利要求3所述的一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备，其特征在于，所述推挽式开关逻辑控制电路包括用于产生正高压的第一直流高压输出组件，用于产生负直流高压的第二直流高压输出组件，数量为过流保护器两倍、且低压线圈与FPGA连接的高压继电器，与高压继电器数量相同并一一对应连接到高压继电器一端的高压触点上的无感电阻，以及与DA模块连接、并采用半桥推挽结构的半导体固态开关；所述第一直流高压输出组件同时与一半数量的高压继电器另一端的高压触点连接，并经由对应的无感电阻接入半导体固态开关其中的一个输入端；所述第二直流高压输出组件与另一半的高压继电器另一端的高压触点连接，并经由对应的无感电阻接入半导体固态开关的另一个输入端；所述半导体固态开关的输出端同时与所有的过流保护器连接。

5.根据权利要求4所述的一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备，其特征在于，所述第一直流高压输出组件包括与高压继电器连接的可调正极高压直流电源，以及与该可调正极高压直流电源连接并接地的第一储能电容。

6.根据权利要求5所述的一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备，其特征在于，所述第二直流高压输出组件包括与高压继电器连接的可调负极高压直流电源，以及与该可调负极高压直流电源连接并接地的第二储能电容。

7.根据权利要求6所述的一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备，其特征在于，所述可调正极高压直流电源和可调负极高压直流电源的型号均为HAPS06-10K。

8.根据权利要求2所述的一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备，其特征在于，所述MCU和FPGA的型号分别为STC12C5A60S2和EP4CE10F17C8。

9.根据权利要求4～8任一项所述的一种可实现多路变频电机电磁线耐电晕测试的设备，其特征在于，所述半导体固态开关为推挽式结构的半导体固态开关。