螺旋灯泡的测试结构的制作方法

文档序号:13759390阅读:542来源:国知局
螺旋灯泡的测试结构的制作方法

本发明涉及一种螺旋灯泡的测试结构,更具体的说,涉及一种螺旋LED灯泡的测试结构。



背景技术:

在现有技术中,在LED螺旋头灯泡生产后,需要对灯泡进行测试;在当前的测试结构中,一般对测试两的两个极采用探针接触的结构,探针接触方式受设计探针寿命影响大,当易损耗的探针出现损坏时,需要更换停式更换,有时甚至需要更换整台测试设备,延误生产;特别是弧面接触探针由于受分力的影响,探针极易变形导致测试接触不良,容易产生测试误判;当接触不良时,工人会误认为是坏灯泡,造成被归为不良品的产品增多而提升了生产成本。当前螺旋头灯泡在测试中存在的技术缺陷,成为本领域技术人员急待解决的技术问题。



技术实现要素:

本发明的技术目的是克服现有技术中,螺旋头灯泡在生产中,由于测试结构的设计不合理而造成探针极易变形导致测试接触不良,容易产生测试误判的技术问题;提供一种在使用过程中接触电极稳定可靠,电极接触不因测试数量多而导致变形的螺旋灯泡的测试结构。

为实现以上技术目的,本发明的技术方案是:

螺旋灯泡的测试结构,包括有一圆形绝缘固定块,所述圆形绝缘固定块上方设有导电铜柱,所述导电铜柱与圆形绝缘固定块之间设有第一压缩弹簧,在所述导电铜柱外周设有导电铜环;所述导电铜柱与导电铜环设有绝缘套。

更进一步的,所述圆形绝缘固定块下方设有设有导柱,所述导柱上外周套设有导柱套,所述导柱套上设有弹簧卡圈,所述导柱套与圆形绝缘固定块之间设有第二压缩弹簧。

本发明的有益技术效果是:两极分别采用导电铜柱及导电铜环设计方式,中极采用铜柱接触式设计使用寿命长,灯泡的弧面接触采用铜环接触式设计使接触弧面均衡受力且接触面积大,接触良好而极大减少了接触不良的现象发生,故同时消除了误判的发生。

附图说明

图1是本发明一个实施例的结构示意图。

图2是本发明一个实施例的另一个结构示意图。

具体实施方式

结合图1,详细说明本发明的具体实施方式,在本发明螺旋灯泡的测试结构中,包括有一圆形绝缘固定块9,所述圆形绝缘固定块9上方设有导电铜柱1,所述导电铜柱1与圆形绝缘固定块9之间设有第一压缩弹簧2,在所述导电铜柱1外周设有导电铜环4;所述导电铜柱1与导电铜环4外周设有绝缘套3,用于保护及固定导电铜柱1与导电铜环4。在实施时,所述圆形绝缘固定块9下方设有设有导柱6,所述导柱6上外周套设有导柱套7,所述导柱套7上设有弹簧卡圈(图中凸起的圆周),所述导柱套7与圆形绝缘固定块9之间设有第二压缩弹簧8。

本发明的接触面积大,接触良好而极大减少了接触不良的现象发生,是本领域一个既实用又新型的技术改进。

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