一种光有源器件的自动老化系统和方法与流程

本发明涉及一种光通信器件的生产检验系统和方法，特别涉及一种光有源器件的自动老化系统和方法。

背景技术：

老化是光通信器件生产过程的一种检验方法，是生产过程的重要环节。随着光通信器件速率的增加，光通信器件的老化对老化环境和驱动控制提出更高要求，并随着光通信器件需求的大幅增加，需要通信光器件的生产过程更加自动化。现有光通信器件老化测试方法一般未采取有效的控制驱动方式，老化过程中，异常发生时TEC(半导体制冷器)和LD(激光器)两端出现过冲和击穿现象，光学器件位移，光路发生偏移，导致该老化过程中的光器件批量失效。

技术实现要素：

本发明的目的在于克服现有技术的不足，本发明提供一种光有源器件的自动老化方法，实现光器件老化的自动化。

本发明提供一种光有源器件的自动老化系统，包括光器件装配单元、驱动控制单元、主控逻辑单元、协议转换单元和参数配置显示单元；

所述光器件装配单元用于装配待测试的光有源器件；

所述驱动控制单元与光器件装配单元相连与待测试的光有源器件建立电气连接；

所述主控逻辑单元被嵌入到所述驱动控制单元中，所述驱动控制单元在其控制下执行自动化测试程序，所述主控逻辑单元通过所述协议转换单元与所述参数配置显示单元进行交互，从所述参数配置显示单元接收配置参数，并上报老化测试数据；

所述参数配置显示单元配置老化测试参数，包括但不限于老化目标电流、温度、监控项参数限制、老化时长。

在上述技术方案中，所述驱动控制单元包括TEC控制模块、LD驱动模块以及通信接口模块；所述TEC控制模块对待测试的光有源器件的TEC模块进行驱动控制，所述LD驱动模块对待测试的光有源器件中的LD模块进行驱动控制。

在上述技术方案中，所述主控逻辑单元通过协议接口与所述驱动控制单元的通信接口模块进行交互，监控老化采集项。

在上述技术方案中，所述参数配置显示单元能够同时与多个协议转换单元进行交互，多个主控逻辑单元可共用一个协议转换单元与所述参数配置显示单元进行交互。

在上述技术方案中，所述参数配置显示单元在老化过程中实时显示并保存老化数据。

本发明还提供一种光有源器件的自动老化方法，包括如下步骤：

步骤1，将待测试的光有源器件装配入对应的光器件装配单元，驱动控制单元与光器件装配单元相连，驱动控制单元经协议转换单元与参数配置显示单元相连；

步骤2，获取参数配置显示单元的操作权限，使用参数配置显示单元配置待测试的光有源器件的老化目标电流、温度及老化时长，根据目标电流和温度确定老化监控参数限制进行配置；

步骤3，开启线路检测功能，检测待测试的光有源器件的装配故障，若监控数据显示异常，则排查故障；

步骤4，开启老化和计时功能，在老化过程中，主控逻辑单元实现异常处理并将异常类型上报参数配置显示单元，参数配置显示单元实时显示老化数据，并保存老化数据，记录老化异常类型。

在上述技术方案中，所述线路检测功能具体包括，主控逻辑单元控制驱动控制单元使能待测试的光有源器件的TEC模块，并对待测试的光有源器件的LD模块加微小电流，基于参数配置显示单元监控待测试的光有源器件的各项老化数据。

8、如权利要求7所述的一种光有源器件的自动老化方法，其特征在于：所述步骤4中，待测试的光有源器件的TEC模块温度和LD模块电流根据目标温度和电流进行配置，为防止光器件过冲，主控逻辑单元判断TEC控制模块稳定后再使能LD驱动模块，并且主控逻辑单元实现LD驱动电流的缓加电功能。

本发明取得了以下技术效果：参数配置显示单元实现老化参数可配，并实时显示记录老化数据；通过线路故障检测，在老化前排查装配或线路故障，避免故障造成光器件损伤；通过老化过程异常监测，在老化过程中监测异常的发生及异常类型，针对不同的异常类型采取相应的异常处理措施，避免老化过程中异常导致光器件批量失效；实现光器件老化过程的自动化，提高老化生产效率。

附图说明

图1为光有源器件老化系统的示意图。

图2为光有源器件老化过程的流程图。

具体实施方式

为了便于本领域普通技术人员理解和实施本发明，下面结合附图及具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。

本发明提供的光有源器件老化系统如图1所示，包括光器件装配单元、驱动控制单元、主控逻辑单元、协议转换单元及参数配置显示单元。

其中，光器件装配单元用于装配待测试的光有源器件，与待测试的光有源器件提供电气连接并提供各项相关指标的测试接口。

驱动控制单元包括TEC控制模块﹑LD驱动模块以及通信接口模块；驱动控制单元与光器件装配单元相连与待测试的光有源器件建立电气连接，使得TEC控制模块通过光有源器件的TEC引脚实现对光有源器件中的TEC模块进行驱动控制，LD驱动模块通过光有源器件的LD引脚实现对光有源器件中的LD模块进行驱动控制，从而在老化过程实现对光有源器件的TEC控制﹑LD驱动及背光电流监控等。由此，驱动控制单元在TEC(半导体制冷器)两端和LD(激光器)两端提供超压保护和极限电流限制功能，克服老化过程中光器件TEC和LD失效的异常情况。

主控逻辑单元被嵌入到驱动控制单元中，驱动控制单元在其控制下执行自动化测试程序，主控逻辑单元通过协议转换单元与参数配置显示单元进行交互，从参数配置显示单元接收配置参数，并上报老化测试数据，多个主控逻辑单元可共用一个或多个协议转换单元与参数配置显示单元进行交互；主控逻辑单元通过协议接口与驱动控制单元的通信接口模块进行交互，监控老化采集项；主控逻辑单元还提供线路检测功能，在执行线路检测时，主控逻辑单元控制驱动控制单元对待测光有源器件的TEC模块加正常加压，对待测光有源器件的LD模块加微小电流，监控待测光有源器件老化的各项数据，检测光有源器件在光器件装配单元中是否存在装配故障。老化过程中，主控逻辑单元监测各监控项是否超出预定限值，判断是否出现异常及出现的异常类型，针对不同的异常类型采取相应的异常处理措施，同时主控逻辑单元将异常类型上报参数配置显示单元。

参数配置显示单元配置老化目标电流﹑温度及监控项参数限值，还可选择是否开启TEC，上述配置参数均被保存，直至再次修改配置。参数配置显示单元配置老化时长，并完成老化过程计时。为保证老化安全防止误改参数配置，参数配置单元还可与参数显示单元独立设置，参数配置单元增加操作权限，取得操作权限方可修改配置参数。数据显示单元实时显示老化数据，并记录老化数据及异常类型。

本发明针对现有技术的改进主要包括：参数配置显示单元实现老化参数可配，并实时显示记录老化数据；驱动控制单元和主控逻辑单元，实现线路故障检测及老化过程异常检测，在老化前排除装配或线路故障，避免故障造成光器件损伤，在老化过程中监测异常的发生及异常类型，并进行异常处理，避免老化过程中异常导致光器件批量失效。

本发明提供的光有源器件老化方法如图2所示，具体步骤如下：

步骤1，如图1所示，将待测试的光有源器件装配进入对应的光器件装配单元，驱动控制单元与光器件装配单元相连，驱动控制单元上的通信接口模块通过主控逻辑单元经协议转换单元与参数配置显示单元相连。

步骤2，获取参数配置显示单元的操作权限，使用参数配置显示单元配置老化目标电流﹑温度及老化时长，根据目标电流和温度确定老化监控参数限制进行配置。

步骤3，开启线路检测功能，主控逻辑单元控制驱动控制单元使能待测试的光有源器件的TEC模块，并对待测试的光有源器件的LD模块加微小电流，基于参数配置显示单元监控待测试的光有源的各项老化数据，检测待测试的光有源器件的装配故障，若监控数据显示异常，排查故障，待线路检测完毕方可开启老化测试。

步骤4，开启老化和计时功能，待测试的光有源器件的TEC模块温度和LD模块电流根据目标温度和电流进行配置，为防止光器件过冲，主控逻辑单元判断TEC控制模块稳定后再使能LD驱动模块，并且主控逻辑单元实现LD驱动电流的缓加电功能。在老化过程，主控逻辑单元实现异常处理并将异常类型上报参数配置显示单元，参数配置显示单元实时显示老化数据，并保存老化数据，记录老化异常类型。

通过上述步骤，本发明实现了光器件老化的自动化，并能保证老化过程的稳定性。

需要强调的是，本发明所述的实施例是说明性的，而不是限定性的，因此本发明并不限于具体实施方式中所述的实施例，凡是由本领域技术人员这样根据本发明的技术方案得出的其他实施方式，同样属于本发明保护的范围。