1.一种X荧光光谱法快速分析铝矾土中化学成分的方法，其特征在于包括以下步骤：
将铝矾土制备成适宜荧光光谱分析的片状试样；
对铝矾土片状试样进行激发试验，确定出适应铝矾土分析的X荧光光谱仪的测量参数；
按照上述设定的测量参数对标准物质片状试样进行多次激发试验，根据铝矾土中每个元素含量与特征谱线强度，确定元素的测量模式和扣背景位置；
再根据铝矾土的测量条件确定元素含量和特征谱线强度之间的线性关系，绘制出铝矾土的分析灵敏度曲线；
利用上述灵敏度曲线测定待测铝矾土试样的含量。
2.按权利要求1所述的X荧光光谱法快速分析铝矾土中化学成分的方法，其特征在于将铝矾土制备成适宜荧光光谱分析的片状试样：将铝矾土粉末利用PVC环，采用压片机选择25～35MPa，压制时间为40～70秒钟。
3.按权利要求1所述的X荧光光谱法快速分析铝矾土中化学成分的方法，其特征在于：X荧光光谱仪采用顺序式光谱仪，40Kw铑靶，面罩直径30mm，P、Si、Al的激发电压和电流选用30kV，110mA，其它元素的激发电压和电流选用60kV，55mA。
4.按权利要求1所述的X荧光光谱法快速分析铝矾土中化学成分的方法，其特征在于铝矾土的测量参数包括：激发电压、激发电流、激发角度以及脉冲范围。