技术总结
本发明公开了一种光谱测试调整方法和测试调整装置。测试调整方法包括(1)采集被检测的光谱并形成光谱图；(2)在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域；(3)根将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域；(4)分别计算Si和Si；(5)计算光谱图与标准光谱图在X轴上对应段的面积比值Ai＝Si，/Si；(6)计算X值，并与A值进行比较；(7)判断X值是否落入到A值范围内。测试装置为以上测试方法对应的单元。本发明能较为精确的测试光谱，并能进行光谱的调整。
技术研发人员：吕天刚;王跃飞;杜友珍;杨永发
受保护的技术使用者：鸿利智汇集团股份有限公司
文档号码：201611148898
技术研发日：2016.12.13
技术公布日：2017.06.13