技术总结
一种数模混合集成电路的测试模块，属于半导体数模混合集成电路可测性设计领域。在不影响电路基本功能的前提下，在管脚数目有限的情况下，通过增加模式控制单元、输入管脚复用单元、输出管脚复用单元、DAC数据旁路单元，解决现有数模混合集成电路测试设计难度大，测试不够全面的问题，本发明能够以较低的设计复杂度和设计时间代价，提高数模混合集成电路的测试设计的灵活性，实现快递定位故障，保证芯片测试的有效性和完备性。
技术研发人员：樊旭;喻贤坤;姜爽;孔瀛;彭斌;王莉;李健;刘松林;穆辛;王磊;袁超
受保护的技术使用者：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
文档号码：201611214526
技术研发日：2016.12.23
技术公布日：2017.06.06