一种移相电路、移相器和辐射性能的测试方法及装置与流程

本发明实施例涉及移动通信测试技术领域，尤其涉及一种移相电路、移相器和辐射性能的测试方法及装置。

背景技术：

辐射两阶段法是演进的umts陆地无线接入网(evolvedumtsterrestrialradioaccessnetwork，e-utran)中对多天线用户设备的辐射接收性能进行测试常用的测试方法。

现有技术中，时分长期演进(timedivisionlongtermevolution，td-lte)零中频接收机架构的主辅接收通道的参考信号天线相对相位(referencesignalantennarelativephase，rsarp)存在随机的±180°翻转特性，无法类似频分双工长期演进(frequencydivisiondoublelongtermevolution，fdd-lte)模式那样计算出稳定的主辅接收通道的参考信号天线相对相位，由于td-lte接收机参考信号天线相对相位的±180°翻转特性，使得现有的td-lte终端无法采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种移相电路、移相器和辐射性能的测试方法及装置，使得td-lte终端可以采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。

第一方面，本发明实施例提供了一种移相电路，该移相电路包括：一个移相器、主接收通道和辅接收通道；

所述移相器的输入端与时钟信号输入源的输出端连接；

所述移相器的第一输出端分别与所述主接收通道的同相分量支路和所述辅接收通道的同相分量支路连接；

所述移相器的第二输出端分别与所述主接收通道的移相分量支路和所述辅接收通道的移相分量支路连接。

进一步地，所述移相器的输出端分别通过混频器与所述主接收通道以及所述辅接收通道连接。

进一步地，所述时钟信号输入源包括依次连接的分频器、频率综合器和预设频率时钟源，所述移相器的输入端与所述分频器的输出端连接。

进一步地，所述预设频率时钟源为26mhz时钟源。

进一步地，所述移相器的移相角为0度/90度。

进一步地，所述移相器的第一输出端为0度输出端；所述移相器的第二输出端为90度输出端。

进一步地，所述主接收通道为td-lte射频零中频接收机主通道；所述辅接收通道为td-lte射频零中频接收机辅通道。

第二方面，本发明实施例还提供了一种移相器，该移相器包括第一方面所述的移相电路。

第三方面，本发明实施例还提供了一种移相电路的辐射性能的测试方法，该辐射性能的测试方法包括：

通过所述移相电路获取参考信号天线相对相位rsarp；

基于所述参考信号天线相对相位，使用辐射两阶段法对辐射接收性能进行测试。

第四方面，本发明实施例还提供了一种移相电路的辐射性能的测试装置，该辐射性能的测试装置包括：

相对相位获取模块，用于通过所述移相电路获取参考信号天线相对相位rsarp；

两阶段法测试模块，用于基于所述相对相位获取模块获取的所述参考信号天线相对相位，使用辐射两阶段法对辐射接收性能进行测试。

本发明实施例中的移相电路包括：一个移相器、主接收通道和辅接收通道，移相器的输入端与时钟信号输入源的输出端连接，移相器的第一输出端分别与所述主接收通道的同相分量支路和所述辅接收通道的同相分量支路连接，移相器的第二输出端分别与主接收通道的移相分量支路和辅接收通道的移相分量支路连接。现有技术中，主接收通道和辅接收通道各自分别用一个移相器将信号移相，使得td-lte零中频接收机架构的主辅接收通道的参考信号天线相对相位存在随机的±180°翻转特性而无法采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。本申请中，主接收通道和辅接收通道共用一个移相器将信号移相，可有效的避免主辅接收通道的参考信号天线相对相位产生随机的±180°翻转，从而实现td-lte终端可以采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。

附图说明

图1是本发明实施例一中的一种移相电路的结构示意图；

图2是本发明实施例一中的信号进入0度/90度移相器后输出信号的相位关系示意图；

图3是本发明实施例二中的一种移相电路的辐射性能的测试方法的流程图；

图4是本发明实施例三中的一种移相电路的辐射性能的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各步骤描述成顺序的处理，但是其中的许多步骤可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各步骤的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的一种移相电路的结构示意图，本实施例可适用于测试多天线用户设备辐射接收性能中主辅通道参考信号天线相对相位的情况，如图1所示，该移相电路包括：时钟信号输入源110，移相器120，主接收通道130和辅接收通道140。

移相器120的输入端与时钟信号输入源110的输出端连接，移相器120的第一输出端分别与主接收通道130的同相分量支路和辅接收通道140的同相分量支路连接，移相器120的第二输出端分别与主接收通道130的移相分量支路和辅接收通道140的移相分量支路连接。

在本应用场景下，时钟信号源110用于产生时钟信号，时钟信号的频率可以根据实际应用的驱动需求进行调节。移相器120可以是能够对信号的相位进行调节的装置，其作用是将信号的相位移动一个角度。优选的，td-lte射频零中频接收机中移相器的移相角为0度/90度，即输入该移相器的信号在输出时其中一个输出端的信号相位变化0度，另一输出端的信号相位变化为90度，本应用场景下，移相器120的第一输出端为0度输出端，第二输出端为90度输出端，即从第一输出端输出的信号产生0度的相移，从第二输出端输出的信号产生90度的相移。图2为本发明实施例一提供的信号进入0度/90度移相器后输出信号的相位关系示意图。如图2所示，移相0度信号的相位与输入信号的相位相同，没有产生移相，而移相90度信号的相位与输入信号的相位相差90度，产生了90度的移相，示例性的，假设移相0度信号的相位为j2πflot+θ0，移相90度信号的相位为j2πflot+θ0+90°。信号从移相器120输出后分别再采用功分器分为主辅i或主辅q两路本振信号，其中功分器确保两路输出之间的隔离。

示例性的，当移相器120采用图1所示的设计方式设计后，假设主接收通道130的i路本振信号的相位为j2πflot+θ0′，则q路本振信号的相位为j2πflot+θ0′+90°。此时，辅接收通道140对应的i路本振信号的相位为j2πflot+θ1′，则q路本振信号的相位为j2πflot+θ1′+90°，而θ0′-θ1′＝0±360°，即主辅i/q本振相位是同步变化的，故rsarp不再存在随机±180°跳变。

主接收通道130和辅接收通道140可以是fdd-lte接收机中的主接收通道和辅接收通道，或者td-lte接收机中的主接收通道和辅接收通道。在本应用场景下，优选的，主接收通道130为td-lte射频零中频接收机主通道，辅接收通140为td-lte射频零中频接收机辅通道。

优选的，移相器120的输出端分别通过混频器150与主接收通道130以及辅接收通道140连接。

混频器150的作用可以是将信号从一个频率变换到另外一个频率，混频电路可以包括本机振荡器、非线性器件和带通滤波器。在本应用场景下，混频器150的作用是，将主接收通道130的同相分量及移相分量和辅接收通道140的同相分量及移相分量不失真的从原频率搬移至中频或零频的位置上。

优选的，时钟信号输入源110包括依次连接的分频器113、频率综合器112和预设频率时钟源111，移相器120的输入端与分频器113的输出端连接。

其中，预设频率时钟源111可以产生固定频率的时钟信号，优选的，在本应用场景下，预设频率时钟源111为26mhz时钟源，即预设频率时钟源111产生信号的频率为26mhz。

频率综合器112可以是利用一个或多个标准信号，通过各种技术途径产生大量离散频率信号的设备，实现方法可以包括直接模拟频率合成、锁相频率合成技术和直接数字频率合成技术。其中，直接模拟频率合成技术，利用一个或多个不同的晶体振荡器作为基准信号源，经过倍频、分频、混频等途径直接产生许多离散频率的输出信号；锁相频率合成技术，利用一个或者几个参考频率源，通过谐波发生器混频和分频等产生大量的谐波或组合频率，然后用锁相环，把压控振荡器的频率锁定在某一谐波或组合频率上；直接数字频率合成技术，从相位的概念出发进行频率合成，采用了数字采样存储技术。

分频器113可以将频率综合器112输出的信号进行降频，作用可以是电路隔离和增加信号驱动能力。示例性的，从频率综合器输出信号的频率为2flo，该信号经过分频器113后，频率可变为flo。

优选的，移相器包括上述移相电路的所有器件，在本应用场景下，示例性的，移相器的工作过程可以是，由预设频率时钟源产生的26mhz时钟信号进入频率综合器112，时钟信号经频率综合器112后变为频率为2flo的信号进入分频器113，信号经分频器113分频后变成频率为flo的信号进入移相器120，信号经移相器120进行0度移相和90度移相后，0度移相后的信号分别进入主接收通道130的同相分量支路和辅接收通道140的同相分量支路中的混频器150后形成同相分量，90度移相后的信号分别进入主接收通道130的移相分量支路和辅接收通道140的移相分量支路中的混频器150形成移相分量。

本发明实施例中的移相电路包括：一个移相器、主接收通道和辅接收通道，移相器的输入端与时钟信号输入源的输出端连接，移相器的第一输出端分别与所述主接收通道的同相分量支路和所述辅接收通道的同相分量支路连接，移相器的第二输出端分别与主接收通道的移相分量支路和辅接收通道的移相分量支路连接。现有技术中，主接收通道和辅接收通道各自分别用一个移相器将信号移相，使得td-lte零中频接收机架构的主辅接收通道的参考信号天线相对相位存在随机的翻转特性而无法采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。本申请中，主接收通道和辅接收通道共用一个移相器将信号移相，可有效的避免主辅接收通道的参考信号天线相对相位产生随机的±180°翻转，从而实现td-lte终端可以采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。

实施例二

图3本发明实施例二提供的一种移相电路的辐射性能的测试方法的流程图，该方法由上述实施例中移相电路和移相器执行，如图3所示，该辐射性能的测试方法具体包括如下步骤：

步骤310，通过移相电路获取参考信号天线相对相位。

其中，参考信号天线相对相位可以是lte信道带宽内参考天线(rx0)接收的小区专用参考信号携带的所有资源单元的平均相位和参考天线(rx1)接收的小区专用参考信号携带的所有资源单元(r0)的平均相位之间的差值。示例性的，假设终端主接收通道绝对相位为phase0、辅接收通道绝对相位为phase1，则参考信号天线相对相位的计算公式为：psarp＝|phase0-phase1|。

步骤320，基于参考信号天线相对相位，使用辐射两阶段法对辐射接收性能进行测试。

辐射两阶段法可以包括两个阶段，第一阶段是测试被测终端主、辅天线的复方向图，采用的是tm1传输模式，第二阶段是测试被测终端的辐射接收性能即吞吐量，采用的是tm4空分复用传输模式。为了实现第一阶段被测终端主、辅天线复方向图的测试，被测终端需要具备天线测试功能，即要求被测终端具备天线测试参数上报的能力，天线测试参数包括主、辅天线口参考信号天线功率和参考信号天线相对相位。在本应用场景下，利用步骤310计算出的参考信号天线相对相位，使用辐射两阶段法完成对辐射接收性能的测试。

本实施例的技术方案，通过移相电路获取参考信号天线相对相位，然后基于参考信号天线相对相位，使用辐射两阶段法对辐射接收性能进行测试。利用实施例一中的移相电路获取的参考信号天线相对相位，由于克服了±180°随机翻转的特性，使得td-lte终端可以采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。

实施例三

图4本发明实施例三提供的一种移相电路的辐射性能的测试装置的结构示意图，如图4所示，该移相电路的辐射性能的测试装置包括：相对相位获取模块410和两阶段法测试模块420。

相对相位获取模块410，用于通过移相电路获取参考信号天线相对相位rsarp；

两阶段法测试模块420，用于基于相对相位获取模块获取的参考信号天线相对相位，使用辐射两阶段法对辐射接收性能进行测试。

上述装置可执行本发明前述所有实施例所提供的方法，具备执行上述方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明前述所有实施例所提供的方法。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。