一种平面设计专用几何测量装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种平面设计专用几何测量装置，包括X轴导轨、控制器、滑架、导航器、测头和底座，所述底座左侧安装有驱动链，所述底座表面安装有测量台，所述底座上方安装有X轴导轨，所述X轴导轨上方安装有支架，且支架上方安装有Y轴导轨，所述滑架左侧安装有控制器，所述控制器表面安装有显示屏，且显示屏下方安装有旋转手柄，所述控制器表面安装有功能按钮，所述滑架表面安装有导航器，所述导航器上方安装有导航定位轴，所述滑架下方安装有测头装置，且测头装置下方安装有测头，所述测头左侧安装有红外感应器。本实用新型通过测头装置为可旋转结构，能够根据不同的测量工艺对装置进行更换测头，增强了装置的适应性。
【专利说明】
一种平面设计专用几何测量装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及测量装置技术领域，尤其涉及一种平面设计专用几何测量装置。 【背景技术】
[0002]在人们生活物质水平得到提高的同时，很多人开始向精神领域开拓视野，尤其在平面设计方面，大量有兴趣爱好的人们涌现出来，平面设计过程中经常使用到各种各样的绘图工具，尤其在平面设计之后需要对图纸进行测量，以便了解设计图纸中存在的不规范之处，而单单靠人工进行测量的效率过于低下，并且人眼容易出现漏测忘测情况，市场上的测量装置相对结构也比较简单，能够实现的功能单一，并且测量质量也不是很高，满足不了高要求的标准。【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种平面设计专用几何测量装置。
[0004]为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案:
[0005]—种平面设计专用几何测量装置，包括X轴导轨、控制器、滑架、导航器、测头和底座，所述底座左侧安装有驱动链，所述底座表面安装有测量台，所述底座上方安装有X轴导轨，所述X轴导轨上方安装有支架，且支架上方安装有Y轴导轨，所述滑架左侧安装有控制器，所述控制器表面安装有显示屏，且显示屏下方安装有旋转手柄，所述控制器表面安装有功能按钮，所述滑架表面安装有导航器，所述导航器上方安装有导航定位轴，所述导航器表面安装有方位旋钮，所述滑架下方安装有测头装置，且测头装置下方安装有测头，所述测头左侧安装有红外感应器。
[0006]优选的，所述测量台采用矩阵定位结构。
[0007]优选的，所述控制器右侧安装有散热管，且散热管共安装有两个。
[0008]优选的，所述测头为可旋转结构。
[0009]优选的，所述底座采用耐压抗震结构。
[0010]本实用新型中，通过测量台采用矩阵定位结构，能够在测量过程中发生问题是快速准确的找到出错部位进行改正，减少了人员进行定位的时间，提高了测量效率，通过控制器左侧安装的两个散热管，能够将控制器内部产生的热量及时的散发出去，避免控制器内部温度过高影响装置的稳定测量，通过测头装置为可旋转结构，能够根据不同的测量工艺对装置进行更换测头，增强了装置的适应性，通过底座采用耐压减震结构，能够增强底座的耐用度，减少磨损，延长设备的使用寿命。【附图说明】
[0011]图1为本实用新型提出的一种平面设计专用几何测量装置的结构示意图；
[0012]图2为本实用新型提出的一种平面设计专用几何测量装置的导航器结构示意图。[〇〇13]图中:1驱动链、2X轴导轨、3测量台、4支架、5Y轴导轨、6散热管、7旋转手柄、8功能按钮、9显示屏、10控制器、11滑架、12导航器、13测头装置、14测头、15红外感应器、16底座、 17导航定位轴、18方位旋钮。【具体实施方式】
[0014]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0015]参照图1-2,一种平面设计专用几何测量装置，包括X轴导轨2、控制器10、滑架11、 导航器12、测头14和底座16,底座16左侧安装有驱动链1，底座16表面安装有测量台3,底座 16上方安装有X轴导轨2，X轴导轨2上方安装有支架4,且支架4上方安装有Y轴导轨5,滑架11 左侧安装有控制器10,控制器10表面安装有显示屏9,且显示屏9下方安装有旋转手柄7,控制器10表面安装有功能按钮8,滑架11表面安装有导航器12,导航器12上方安装有导航定位轴17，导航器12表面安装有方位旋钮18，滑架11下方安装有测头装置13，且测头装置13下方安装有测头14，测头14左侧安装有红外感应器15，测量台3采用矩阵定位结构，控制器10右侧安装有散热管6,且散热管6共安装有两个，测头14为可旋转结构，底座16采用耐压抗震结构。
[0016]工作原理:当使用该平面设计专用几何测量装置时，将需要测量的设计图放置在测量台3表面固定住，在控制器10表面的通过功能按钮8和旋转手柄7设置装置的运行参数， 红外感应器15感应测量图纸，根据控制器10发出的指令将滑架11在X轴滑轨2和Y轴滑轨5表面滑动对图纸进行测量，导航器12根据方位旋钮18调节的方位后在导航定位轴17的作用下将测头装置13精确定位，测头14测量数据在显示屏9内显示出数据信息，方便人员观察。
[0017]以上所述，仅为本实用新型较佳的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种平面设计专用几何测量装置，包括X轴导轨(2)、控制器(10)、滑架(11)、导航器 (12)、测头(14)和底座(16)，其特征在于，所述底座(16)左侧安装有驱动链(1 )，所述底座 (16)表面安装有测量台(3)，所述底座(16)上方安装有X轴导轨(2)，所述X轴导轨(2)上方安 装有支架(4)，且支架(4)上方安装有Y轴导轨(5)，所述滑架(11)左侧安装有控制器(10)，所 述控制器(10)表面安装有显示屏(9)，且显示屏(9)下方安装有旋转手柄(7)，所述控制器 (10)表面安装有功能按钮(8)，所述滑架(11)表面安装有导航器(12)，所述导航器(12)上方 安装有导航定位轴(17)，所述导航器(12)表面安装有方位旋钮(18)，所述滑架(11)下方安 装有测头装置(13)，且测头装置(13)下方安装有测头(14)，所述测头(14)左侧安装有红外 感应器(15)。2.根据权利要求1所述的一种平面设计专用几何测量装置，其特征在于，所述测量台 (3)采用矩阵定位结构。3.根据权利要求1所述的一种平面设计专用几何测量装置，其特征在于，所述控制器 (10)右侧安装有散热管(6)，且散热管(6)共安装有两个。4.根据权利要求1所述的一种平面设计专用几何测量装置，其特征在于，所述测头(14) 为可旋转结构。5.根据权利要求1所述的一种平面设计专用几何测量装置，其特征在于，所述底座(16) 采用耐压抗震结构。
【文档编号】G01B21/00GK205691085SQ201620626264
【公开日】2016年11月16日
【申请日】2016年6月23日 公开号201620626264.2, CN 201620626264, CN 205691085 U, CN 205691085U, CN-U-205691085, CN201620626264, CN201620626264.2, CN205691085 U, CN205691085U
【发明人】王芳琳
【申请人】王芳琳