技术总结
本实用新型属于电子器件检测技术领域，并公开了一种电子元器件集群老化测试装置，包括支撑板组、电路板组和老化板组，支撑板组包括支撑板和多根相互平行的隔条；电路板组包括连接器固定板、连接器和电路板；老化板组用于连接待测元器件，其包括托板固定板、老化板托板和金手指。当需要将老化板组与电路板组连接时，可将老化板托架固定板放入支撑板组的两隔条形成的定位槽内，沿着隔条往电路板组方向平行移动，老化板托板前端的金手指完全插入连接器，连接非常方便和快速；分离时，只需沿着隔条的纵向、远离电路板方向平行移动老化板组，从而可以很轻松的将老化板组与电路板组完全分离，拆卸也比较方便。
技术研发人员：黄河
受保护的技术使用者：武汉迅存科技有限公司
文档号码：201621185394
技术研发日：2016.10.26
技术公布日：2017.04.26