1.一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器，其特征是包括探测器主体和设置在其上的微波带状线结构，所述的探测器主体包括法兰，钽铜复合板通过支撑架与法兰相连，法兰和钽铜复合板之间还设置有水冷管，所述的微波带状线结构设置在钽铜复合板内侧，微波带状线结构固定在微波带状线底板上，微波带状线结构上下分别设置有转接器，所述的微波带状线结构包括介质基板，介质基板上下分别设置有上层地和下层地，介质基板上设置有定位孔、第一金属化过孔和第二金属化过孔，带状线导带和微带线导带设置在介质基板上。
2.如权利要求1所述的一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器，其特征在于：所述的法兰为双SMA转接陶瓷高真空法兰，所述的水冷管设置为两个，两个水冷管分别与钽铜复合板上下端对应相连，水从上水冷管流入，通过钽铜复合板热交换后从下水冷管流出；所述的转接器为带状线结构感应信号引出头SMA转接器，带状线结构感应信号引出头SMA转接器为带法兰座的不锈钢转接器，截止频率为18GHz，带状线结构感应信号引出头SMA转接器采用压接方式与微带线导带接触连接，实现感应微波信号由带状线结构向同轴半钢电缆转接；双SMA转接陶瓷高真空法兰实现束流与微波带状线结构感应的微波信号由真空管道内向真空管道外有效引出，同时也实现水冷管输入输出水路的交换，带状线结构感应信号引出头SMA转接器与后续射频电缆、宽带射频放大器及示波器相连。
3.如权利要求1所述的一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器，其特征在于：所述的钽铜复合板设置在微波带状线结构正面，微波带状线底板设置在微波带状线结构背面，钽铜复合板通过定位孔与微波带状线结构固定相连，微波带状线结构上的微波带状线中心小孔与钽铜复合板的中心孔同心设置。
4.如权利要求1所述的一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器，其特征在于：所述的微波带状线底板的材料为铜，介质基板采用高温AIN陶瓷，AIN陶瓷的介电常数介于8.5-8.9之间，介质基板的有效面积为30*30mm-50*50mm，高度为0.5-2.5mm；所述的微波带状线中心小孔设置在介质基板中心位置，微波带状线中心小孔直径为0.8-2.2mm，深度为介质基板高度的一半，实现束流能与带状线导带相互作用。
5.如权利要求1所述的一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器，其特征在于：所述的微波带状线结构的带状线导带宽带为钨镀镍金，宽度0.2-0.6mm,厚度为0.018-0.036mm，所述的微带线导带为钨镀镍金，宽度为0.8-2.4mm，厚度为0.018-0.036mm，所述的上层地和下层地为钨镀镍金，厚度分别为0.018-0.054mm。
6.如权利要求1所述的一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器，其特征在于：所述的微波带状线结构的第二金属化过孔设置为与微带线导带平行并分布在微带线导带两侧，两排第二金属化过孔之间的间距为10-16mm，孔直径为0.2-0.6mm，每排金属化过孔中孔间距为1-3mm，第二金属化过孔与上层地及下层地相连接；所述的微带线导带设置在介质基板两端中间，带状线导带对应微波带状线中心小孔设置在介质基板中心位置，所述的第一金属化过孔设置在微带线导带周围，第一金属化过孔与上层地及下层地相连接，所述的定位孔通过螺钉固定在微波带状线底板上。
7.如权利要求1所述的一种质子重离子束流纵向束团形状测量探测器，其特征在于：所述的探测器主体的钽铜复合板采用电子束焊接，钽铜复合板的中心孔设置有两个大小不同的直径孔，其中与带状线微波传输结构接触侧的中心孔直径为1.4mm，外侧直径为2.5mm。