本实用新型涉及光线测试装置技术领域，具体是涉及一种LED二次透镜的光分布测试装置。
背景技术：
弄清楚光源或光学装置的光线分布情况具有现实的应用意义，实用新型专利CN87200460公开了一种光强分布测量仪，其利用导光纤维将线分布的光强转化为圆分布的光强，用带孔隙的遮光板快速转动扫描由光电接收管放大所接收光信号，可以实时在示波器上显示光强波形，可用于实验和教学，解决光分布测试的信号读取问题。随着LED照明灯具广泛应用二次透镜以提高光照效果，但如何对二次透镜的光分布情况进行测试的装置却很少有涉及，这对于二次透镜的研发及应用都形成了制约，不利于二次透镜的深入研究和利用。
技术实现要素：
本实用新型要解决的技术问题是针对现有技术的缺陷，提供一种结构简单、使用方便、测试效果好的二次透镜的光分布测试装置。
为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：一种二次透镜的光分布测试装置，其特征在于：包括导轨，在导轨上安装有若干可平移且相互独立的固定机构，在固定机构上按顺序依次安装有LED芯片，LED芯片前方安装有透镜，透镜前方安装有调节镜，调节镜前方设有照射屏，LED芯片的光源照射方向朝向透镜；照射屏、调节镜、透镜和LED芯片相互对齐。
进一步地，所述固定机构为立柱，立柱固定于滑块上，滑块安装于导轨上形成可移动结构，导轨水平安装于一工作台上。
优选地，所述立柱包括有四根，从工作台的左侧起依次为第一立柱、第二立柱、第三立柱和第四立柱，其中照射屏安装于第一立柱上，调节镜安装于第二立柱上，透镜安装于第三立柱上，LED芯片安装于第四立柱上。
优选地，所述调节镜通过一调节镜夹具安装于第二立柱上。
优选地，所述透镜安装于一透镜上夹具和一透镜下夹具构成的组合体中，该组合体通过透镜下夹具安装于第三立柱上。
优选地，所述LED芯片固定在LED芯片夹具中，LED芯片夹具通过LED芯片夹具连接块安装在第四立柱上。
优选地，所述照射屏中设置有坐标显示刻度。
本实用新型通过将LED、二次透镜、调节镜及照射屏各自安装在可平移的立柱上，设备结构简单，操作方便，通过各部件的相互配合，可以非常方便快捷地测试二次透镜的光分布情况，从而有利于二次透镜深入研究和应用，并对LED照明等相关领域起到促进作用。
附图说明
图1为本实用新型测试结构示意图。
图中，1为工作台，2为导轨，3为照射屏，4A为第一立柱，4B为第二立柱，4C为第三立柱，4D为第四立柱，5为滑块，6为调节镜，7为调节镜夹具，8为透镜上夹具，9为透镜，10为透镜下夹具，11为LED芯片，12为LED芯片夹具，13为LED芯片夹具连接块。
具体实施方式
本实施例中，参照图1，所述二次透镜的光分布测试装置，包括导轨2、工作台1、四个滑块5和四根立柱，从工作台的左侧起依次为第一立柱4A、第二立柱4B、第三立柱4C和第四立柱4D，在各立柱上按顺序依次安装有LED芯片11，LED芯片11前方安装有透镜9，透镜9前方安装有调节镜6，调节镜6前方设有照射屏3，LED芯片11的光源照射方向朝向透镜9；照射屏3、调节镜6、透镜9和LED芯片11相互对齐。
各立柱分别固定于滑块5上，滑块5安装于导轨2上形成可移动结构，导轨2水平安装于工作台1上。
其中照射屏3安装于第一立柱4A上，调节镜6安装于第二立柱4B上，透镜9安装于第三立柱4C上，LED芯片11安装于第四立柱4D上。
所述调节镜6通过一调节镜夹具7安装于第二立柱4B上。
所述透镜9安装于一透镜上夹具8和一透镜下夹具10构成的组合体中，该组合体通过透镜下夹具10安装于第三立柱4C上。
所述LED芯片11固定在LED芯片夹具12中，LED芯片夹具12通过LED芯片夹具连接块13安装在第四立柱4D上。
所述照射屏3中设置有坐标显示刻度，便于统计。
工作过程：LED芯片11发光，光线通过透镜体9的全反射和折射，形成的圆锥光柱出射，再经过调节镜6整形，照射到照射屏3上，通过透镜9和调节镜6的间距，可以很好的观察到在照射屏3上的光能量分布情况，通过照射屏3上的坐标值可以方便统计。也可用手持光分布计测量。
以上已将本实用新型做一详细说明，以上所述，仅为本实用新型之较佳实施例而已，当不能限定本实用新型实施范围，即凡依本申请范围所作均等变化与修饰，皆应仍属本实用新型涵盖范围内。