技术特征：
技术总结
提出了一种用于至少一个对象的光学检测的检测器。所述检测器包括：‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中所述纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中所述纵向光学传感器(114)被设计成以取决于通过光束(132)的所述传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的照射总功率，所述纵向传感器信号呈现对所述传感器区域(130)中的所述光束(132)的束横截面的依赖性(130)，其中，所述纵向传感器信号由包括在所述传感器区域(130)中的至少一个半导体材料(134)生成，其中高阻材料存在于所述半导体材料(134)的表面的一部分上，其中所述高阻材料呈现等于或超过所述半导体材料(134)的电阻的电阻；以及‑至少一个评估装置(150)，其中所述评估装置(150)被设计成通过评估所述纵向光学传感器(114)的所述纵向传感器信号来生成关于所述对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。因此，提供了用于精确确定空间中的至少一个对象的位置的简单且仍然有效的检测器。
技术研发人员：R·森德;I·布鲁德;S·瓦鲁施
受保护的技术使用者：特里纳米克斯股份有限公司
技术研发日：2016.04.18
技术公布日：2018.01.02