技术总结
电抗测量装置(10)包括：串联电路(30)，其具有包含第1电阻器(311)的第1电路(31)、和保护电抗元件的第2电路(32)；第1电压生成部(21)，其生成第1交流电压(V1)并施加给串联电路(30)；第2电压生成部(22)，其生成相对于第1交流电压(V1)具有预定的相位差(α)的第2交流电压(V2)；乘法部(41)，其将第2交流电压(V2)和第2电路电压(VL)相乘从而生成乘积电压(VX)；测量部(42)，其测量乘积电压(VX)的直流分量(DC)的电压；相位偏移量计算部(431)，其基于第2交流电压(V2)相对于第1交流电压(V1)的相位差(α)与乘积电压(VX)的直流分量(DC)的电压的关系来计算相位偏移量(θ)；以及电抗计算部(432)，其基于相位偏移量(θ)来计算电抗元件的电抗。
技术研发人员：野田正文
受保护的技术使用者：五十铃自动车株式会社
技术研发日：2016.12.07
技术公布日：2018.08.03