技术特征：
技术总结
提供质谱分析装置，其具备：前体离子候选选出部(42)，其根据质谱数据选出前体离子候选；产物离子扫描测定条件决定部(43)，其将前体离子候选与多个断裂能量候选值组合，来设定产物离子扫描测定条件；产物离子谱数据获取部(44)，其执行MS/MS测定，来获取产物离子谱数据；化合物数据库文件制作部(45)，其制作将产物离子扫描测定条件与产物离子谱数据关联起来的化合物数据库文件；以及MRM测定条件候选制作部(46)，其从全部的产物离子谱数据中按照质量峰强度从大到小的顺序提取产物离子，来制作包括产物离子的质荷比、前体离子的质荷比及断裂能量的候选值的MRM测定条件候选。
技术研发人员：芦田刚士
受保护的技术使用者：株式会社岛津制作所
技术研发日：2016.02.29
技术公布日：2018.11.09