1.一种多分辨率透射柱面弯晶谱仪，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)内依次同轴设置有柱面弯晶分析器(2)、后置铅光阑(3)、以及可透光的台阶闪烁体(4)和X射线记录装置(5)；
所述后置铅光阑(3)中部设有狭缝(30)，该狭缝(30)用于阻挡直穿的X射线，而供经柱面弯晶分析器(2)分光的X射线透过；
所述台阶闪烁体(4)靠近后置铅光阑(3)的一端沿其轴向至少设有两级台阶(40)，每个所述台阶(40)的端面均具有将衍射后的X射线的衍射线转化成可见光后，还保持其谱分辨率的晶体薄层(41)。
2.根据权利要求1所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述箱体(1)前端还设有前置铅光阑(6)，该前置铅光阑(6)位于柱面弯晶分析器(2)设有柱面弯晶(20)的一侧，并与柱面弯晶分析器(2)同轴设置；
该前置铅光阑(6)的中心位置设有中心孔(60)，在中心孔(60)左右两侧对称的设有供X射线通过的通光窗口(61)。
3.根据权利要求1或2所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述X射线记录装置(5)包括CMOS相机(50)，该CMOS相机(50)的正面光纤面板紧贴所述台阶闪烁体(4)的后端面。
4.根据权利要求3所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述X射线记录装置(5)还包括相机压板(51)，该相机压板(51)为平板结构，紧贴CMOS相机(50)的背部，并通过四角的压紧螺丝(510)固定在箱体(1)的后端，所述压紧螺丝(510)上套设有弹簧(511)，该弹簧(511)位于相机压板(51)与箱体(1)的侧壁后端之间，所述相机压板(51)上还设有供CMOS相机(50)线缆穿出的通孔(512)。
5.根据权利要求1或2所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述台阶闪烁体(4)为由光纤制成的圆柱状结构，所述台阶(40)为两个，且两个台阶(40)的交界线与柱面弯晶分析器(2)的光轴重合，靠近所述柱面弯晶分析器(2)的一个台阶(40)的端面与柱面弯晶(20)的罗兰圆相切。
6.根据权利要求5所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述晶体薄层(41)为碘化铯掺铊晶体，并以柱状结构密布在台阶(40)的端面。
7.根据权利要求6所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述晶体薄层(41)上覆盖有用于隔绝空气的有机薄膜。
8.根据权利要求4所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述箱体(1)呈前小后大的长方体形，其前端和后端敞口，其上部顶盖(10)可拆卸地安装。
9.根据权利要求8所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪，其特征在于：所述箱体(1)侧壁在对应所述CMOS相机(50)的散热口位置设有通风孔(11)。