芯片测试模式的进入方法与流程

本发明涉及集成电路芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试模式的进入方法。

背景技术：

在集成电路芯片的应用中，会根据不同的应用通过不同的方式使芯片进入用户模式或者测试模式。

对于一般的用户来说，通常是在用户模式中进行工作，而测试模式仅供芯片测试使用。在现有技术中，由于芯片的模式设置接口复杂，往往会由于用户的误操作或者故意的因素，而导致芯片进入测试模式，使得芯片无法正常工作，甚至出现安全问题。

技术实现要素：

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种芯片测试模式的进入方法，使得不会由于误操作使得芯片进入测试模式。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种芯片测试模式的进入方法，包括以下步骤：

将芯片的复位端子作为时钟信号输入端，将芯片的普通输入端子作为数据信号输入端；

所述普通输入端子输入组合为测试模式辨别码和测试模式类型码的输入码流；

当所述测试模式辨别码匹配所述芯片中用于进入测试模式的预设值时，确定所述芯片要进入测试模式；

保存所述测试模式类型码，在码流输入结束后，所述普通输入端子保持高电平；以及

在所述复位端子解除复位状态后，进入所述芯片的测试模式。

所述复位端子解除复位状态即所述复位端子由低电平转换为高电平。

所述方法还包括以下步骤：当所述复位端子由高电平转换为低电平时，所述芯片退出测试模式，进入复位状态。

所述方法还包括以下步骤：当所述复位端子再次解除复位状态，且所述普通输入端子保持低电平时，清除测试模式的设置。

在所述芯片进入测试模式之前，在所述芯片中预先设置用于进入测试模式的预设值。

所述普通输入端子不输入组合为测试模式辨别码和测试模式类型码的输入码流，所述芯片进入用户模式。

当所述测试模式辨别码不匹配所述预设值时，所述复位端子将作为复位功能使用，在所述复位端子解除所述复位状态后，直接进入所述芯片的用户模式。

本发明的有益效果是：减少了芯片端子的使用，不易产生误操作，且增加了故意破解模式的难度。

附图说明

图1为本发明芯片测试模式的进入方法的方法流程图；

图2为本发明芯片测试模式的进入方法的时序示意图。

具体实施方式

下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案，但本发明的保护范围不局限于以下所述。

请参阅图1，图1为本发明芯片测试模式的进入方法的方法流程图，本发明芯片测试模式的进入方法包括以下步骤：

步骤一，将芯片的复位端子作为时钟信号输入端，将芯片的普通输入端子作为数据信号输入端。

步骤二，芯片的普通输入端子输入特定的码流，特定的码流的组合为测试模式辨别码和测试模式类型码。

步骤三，当测试模式辨别码匹配芯片中用于进入测试模式的预设值时，确定芯片要进入测试模式。

步骤四，保存测试模式类型码，在码流输入结束后，芯片的普通输入端子保持高电平。

步骤五，在芯片的复位端子解除复位状态后，即复位端子由低电平转换为高电平时，进入芯片的测试模式。

步骤六，当芯片的复位端子由高电平转换为低电平时，芯片退出测试模式，进入复位状态。

步骤七，当芯片的复位端子再次解除复位状态，即复位端子由低电平转换为高电平，且芯片的普通输入端子保持低电平时，清除测试模式设置。

步骤八，进入用户模式。

其中，在芯片进入测试模式之前，需要在芯片中预先设置用于进入测试模式的预设值，当测试模式辨别码匹配芯片中的预设值时，确定芯片要进入测试模式；当测试模式辨别码不匹配芯片中的预设值时，复位端子将作为复位功能使用，解除复位状态后，直接进入用户模式。

另外，当清除测试模式设置后，只要不再次输入进入测试模式的特定的码流，都将进入用户模式。

请参阅图2，图2为本发明芯片测试模式的进入方法的时序示意图。芯片的普通输入端子输入组合为测试模式辨别码和测试模式类型码的码流，当测试模式辨别码匹配芯片中用于进入测试模式的预设值时，确定芯片要进入测试模式。此时，将测试模式类型码保存，在普通输入端子输入的码流输入结束后，普通输入端子保持高电平，复位端子解除复位状态后，即复位端子由低电平转换为高电平时，芯片进入测试模式。当芯片的复位端子由高电平转换为低电平时，芯片退出测试模式，进入复位状态，当芯片的复位端子再次解除复位状态，即复位端子由低电平转换为高电平，且芯片的普通输入端子保持低电平时，清除测试模式设置。此时，只要不再次输入进入测试模式的特定的码流，都将进入用户模式。

本发明芯片测试模式的进入方法与现有技术相比，利用芯片的复位端子和一个普通输入端子，产生特殊组合使得芯片进入测试模式，减少了芯片的端子的使用，且不易产生误操作，同时也增加了故意破解模式的难度。

综上所述，本发明芯片测试模式的进入方法，使得用户不会由于误操作而使芯片进入测试模式，减少了芯片的端子的使用，同时也增加了故意破解模式的难度。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种芯片测试模式的进入方法，包括以下步骤：将芯片的复位端子作为时钟信号输入端，将芯片的普通输入端子作为数据信号输入端；所述普通输入端子输入组合为测试模式辨别码和测试模式类型码的输入码流；当所述测试模式辨别码匹配所述芯片中用于进入测试模式的预设值时，确定所述芯片要进入测试模式；保存所述测试模式类型码，在码流输入结束后，所述普通输入端子保持高电平；以及在所述复位端子解除复位状态后，进入所述芯片的测试模式。本发明减少了芯片端子的使用，不易产生误操作，且增加了故意破解模式的难度。

技术研发人员：孔欣
受保护的技术使用者：成都锐成芯微科技股份有限公司
技术研发日：2017.04.21
技术公布日：2017.07.04