技术特征：
技术总结
本发明涉及一种裂结法测量单分子电学性能的系统及其使用方法，该系统包括控制模块、直线位移驱动器、升降台、压电陶瓷管、金探针电极、样品台、数据采集模块、数据显示模块、数据导出模块；所述控制模块为PC机；所述样品台呈水平矩形薄板状；该系统的使用方法包括将样品用待测性能的分子溶液进行修饰后固定在样品台上的样品槽中，并搭建测试电路；通过控制模块控制直线位移驱动器带动升降台下降，直至数据采集模块收集到的反馈电流超过预先设定的数值，控制模块控制直线位移驱动器使升降台停止下降。它构造简单、成本低廉，操作简便，各个组成器件之间连接紧密，系统性强，能高效、准确的测量出单分子的电学性能。
技术研发人员：常帅;黄明柱;陈海舰;何劲;梁峰
受保护的技术使用者：武汉科技大学
技术研发日：2017.05.15
技术公布日：2017.08.18