用于产生坐标测量仪的所定位传感器数据的方法和装置与流程

本发明涉及一种用于产生坐标测量仪的所定位传感器数据的方法和装置。

背景技术：

出于测量对象的目的，尤其使用所谓的坐标测量仪，所述坐标测量仪能够相对于所述对象来移动传感器。这种测量范围内的对象在于将位置(具体为传感器的位置或坐标测量仪的可移动部分的位置)分配至传感器数据以便随后能够评估期望应用的范围内的传感器数据，例如以用于测量对象。此分配亦被称为同步。

存在多种方法，在所述方法中，图像捕获设备产生所谓的触发信号，其中，在接收所述触发信号之时或之后确定传感器已经紧固至其的坐标测量仪的可移动部分的位置，并且所述位置被分配至传感器数据，在产生所述传感器数据时产生所述触发信号。

进一步已知的是用于对产生触发信号与实际确定位置之间的恒定时间偏差进行校正的方法。

因此，ep1754951b1描述了一种用于对定位设备上的非接触式探针进行同步校准和限定的改进方法，其中，对单独的加工品进行使用，其中，对非接触式探针的值以及定位设备的值进行同步，其中，对与校准和限定同时确定的参数进行使用。

进一步地，已知多种方法，所述方法在图像捕获设备以可变频率产生传感器数据时用于同步目的。

然而，所述已知的方法具有不准确性(具体为在产生触发信号左右的时间处对传感器进行加速的情况下)，因为捕获位置然后与所有图元的实际位置不对应。而且，所述已知的方法不利地假设图像捕获设备的所有图元同时出现。进一步地，情况可能是：用于同步的单独信息项(例如，所谓的时间戳)缺失，其结果导致分配质量同样地被降低。

技术实现要素：

出现了研发一种用于产生坐标测量仪的所定位传感器数据的方法和装置的技术问题，所述方法和装置提高将位置分配至传感器数据的质量和/或促进对传感器数据的改进评估。

从具有权利要求1和16的特征的主题来看，对所述技术问题的解决方案是明显的。从从属权利要求来看，本发明的进一步有利配置是明显的。

提出了一种用于产生坐标测量仪的所定位传感器数据的方法。此处，所定位传感器数据可以指示至少一个数据点，所述至少一个数据点由传感器产生并且已经向其分配了至少一个位置信息项(例如，以位置数据的形式)。此处，所述传感器可以被紧固至坐标测量仪或者为所述坐标测量仪的一部分(具体为所述坐标测量仪的可移动部分)。借助于坐标测量仪，可以相对于待测量的对象来移动传感器。

传感器产生传感器数据点。通过示例的方式，传感器数据点可以表示由所述传感器产生的信号的特性(具体为强度)。

具体地，所述传感器可以为光学传感器。通过示例的方式，所述传感器可以是激光扫描设备(具体为所谓的行扫描仪)或者不同的图像捕获设备。

传感器数据点可以具有例如可以由一比特或多比特编码的值。如果所述传感器为光学传感器，则传感器数据点可以是由所述光学传感器产生的图像的图元。

此处，数据点的值可以是由数据点编码的信息或者由数据点编码的内容。

进一步地，产生传感器数据记录，其中，所述传感器数据记录包括至少一个传感器数据点以及至少一个传感器数据时间。所述传感器数据时间表示产生所述至少一个传感器数据点的时间或者产生所述传感器数据记录的所有(即多个)传感器数据点的时间。具体地，所述传感器可以以传感器数据记录频率产生传感器数据记录，所述传感器数据记录频率还可以被称为数据记录频率。此处，所述传感器数据频率可以是恒定的或者可被修改。

此处，传感器数据记录可以包括恰好一个传感器数据点以及恰好一个传感器数据时间。然而，所述传感器数据记录优选地包括多个传感器数据点。在此情况下，相同的传感器数据时间可以被分配至传感器数据点中的每个传感器数据点并且因此分配至传感器数据记录。然而，传感器数据记录还可能包括多个传感器数据点，所述多个传感器数据点分别被分配有不同的数据点特定的传感器数据时间。

此处，可在传感器的时间系统中产生传感器数据时间。

进一步地，传感器数据记录还可能包括传感器数据记录数。此数表示在设定开始时间(例如，在激活传感器之后)或任何其他预定时间之后产生的传感器数据记录的数量。此处，传感器数据记录数可以是对传感器数据记录计数器的计数器读数。

进一步地，传感器以触发频率产生触发信号。此处，触发频率可以不同于数据频率，具体为小于数据频率。触发信号被传送至用于确定传感器位置的设备。此处，可以例如根据坐标测量仪的位置(具体地根据坐标测量仪的可移位轴线的位置)来确定传感器位置。为此，可以对坐标测量仪进行校准，其结果导致将坐标测量仪的位置分配至传感器的位置是已知的。此处，传感器位置可以指示传感器的位置。而且，传感器位置可以指示传感器的位置和取向。

可以根据或者通过轴线位置来提供坐标测量仪(具体为坐标测量仪的可移动部分)的位置，其中，所述可移动部分和/或测试对象可绕着和/或沿着所述轴线移动。通过示例的方式，坐标测量仪可以包括一个或多个线性轴线和/或一个或多个旋转轴线。通过示例的方式，所述坐标测量仪可以包括旋转回转联结件，通过所述旋转回转联结件所述传感器可绕一个或多个旋转轴线回转。而且，所述坐标测量仪可以包括转台，通过所述转台所述测试对象可绕一个或多个旋转轴线扭绞。而且，所述坐标测量仪可以包括具有线性轴线的线性驱动器，沿着所述线性轴线所述传感器和/或所述测试对象可以是可移动的。

针对坐标测量仪的每种类型的轴线安排，可以以所谓的传感器pose的形式来描述传感器位置。其可对所述传感器的位置和/或取向进行编码。进一步地，传感器pose可对具有6个移动自由度的位置和取向进行编码。通过示例的方式，所述传感器pose可以包括6个值，其中三个值分别对平移部分进行编码，并且剩余三个值中的每个值分别对沿着/绕着三条相互独立的轴线的旋转部分进行编码。可以以3×1位置向量的形式和/或3×3旋转矩阵或以4×4矩阵的形式来提供所述传感器pose。

因此，还可能根据坐标测量仪(具体为坐标测量仪的可移动部分)的位置来确定传感器位置。

进一步地，在接收触发信号之时或之后确定位置数据记录。位置数据记录包括至少一个位置数据点和一个位置数据时间。此处，位置数据点表示传感器或坐标测量仪在位置数据时间的时间处的位置或对所述位置进行编码。通过示例的方式，位置数据点可以表示或编码一个或多个轴线位置或传感器pose。

具体地，位置数据时间可以是接收触发信号的时间。

此处，可在用于确定传感器位置的设备的时间系统中确定位置数据时间。此时间系统可以不同于传感器的时间系统。

位置数据记录还可以包括位置数据记录数，所述数表示在预定开始时间或任何其他预定时间之后产生的位置数据记录的数量。因此，位置数据记录数也可以是对位置数据记录计数器的计数器读数。

传感器数据时间可以被转换成位置数据时间的时间系统，或反之亦然。而且，传感器数据时间和位置数据时间两者均可以被转换成公共参考时间系统。通过示例的方式，这可以通过调零来实现，在其范围内从各自的数据时间中减去获取位置数据时间和传感器数据时间的公共开始时间。具体地，这可以在初始化期间实施。

进一步地，根据传感器数据时间和位置数据时间来确定将位置数据分配至传感器数据(具体地，将位置数据点分配至传感器数据记录的传感器数据点)。而且，可以确定将传感器数据点或多个传感器数据点分配至位置数据点。进一步地，产生所定位传感器数据记录，所述所定位传感器数据记录包括至少一个传感器数据点以及被分配至此传感器数据点的位置数据点。因此，位置数据因此被分配至传感器数据。

通过示例的方式，位置数据记录的位置数据点(所述位置数据记录的位置数据时间对应于传感器数据记录的传感器数据时间、或者不偏离传感器数据记录的传感器数据时间达一预定度量)可以被分配至传感器数据记录的至少一个传感器数据点。

通过示例的方式，为了将位置数据点分配至传感器数据点，还可以确定位置数据记录，所述位置数据记录的位置数据时间在时间上位于所选择的传感器数据记录的传感器数据时间之前和之后并且具有距所述传感器数据时间的最小时间距离。然后，可以根据这些位置数据记录的位置数据点来确定传感器的内插位置数据点。此处，出于确定内插位置数据点的目的，可以使用合适的内插(例如，线性内插)或者本领域技术人员已知的另一种内插方法。于是，所定位传感器数据记录可以包括传感器数据和位置数据点。

自然地，逆向过程也是可能的，其中，确定传感器数据记录，所述传感器数据记录的传感器数据时间在时间上位于所选择的位置数据记录的位置数据时间之后和之前并且具有距其的最小时间距离。然后，可以确定一个内插传感器数据点或多个内插传感器数据点，其中，所述所定位传感器数据记录于是包括位置数据点和(多个)内插传感器数据点。

这有利地促进了传感器数据与位置数据之间的准确分配，其结果导致提高了所定位传感器数据的质量。这进而有利地促进了对所定位传感器数据的改进评估。通过示例的方式，通过传感器可以具有对测试对象的更准确的光学测量。

在进一步实施例中，传感器数据记录包括多个传感器数据点，其中，数据点特定的传感器数据时间被分配至每个传感器数据点。在此情况下，传感器数据时间的数量可以等于数据点的数量。此处，可能的是彼此不同的传感器数据时间被分配至不同的传感器数据点。然而，这不是强制性的。重要的是具有将数据点特定的传感器数据时间分配至每个传感器数据点的选项。

此处，可能的是不仅将公共传感器数据时间分配至预定数量的传感器数据点(例如，图像的所有图元)，而且将数据点特定的传感器数据时间分配至每个传感器数据点(具体为图像的每个图元)。

可替代地，子集特定的传感器数据时间被分配至所述多个传感器数据点的子集。在此情况下，被分配至子集的传感器数据点的数据点特定的传感器数据时间可以相同。因此，可以将子集特定的传感器数据时间分配至传感器数据点子集的所有传感器数据点。

在光学传感器的情况下，数据点特定的传感器数据时间可以具体为读取所述光学传感器的像素的时间。子集特定的传感器数据时间可以为读取多个像素的向量或多个像素的矩阵的时间。

因此，子集可以包括例如图像的一列或多列的所有或预定数量的像素。可替代地或累积地，子集可以包括例如图像的一行或多行的所有或预定数量的像素。

具体地，在所谓的hdr传感器(高动态范围传感器)的情况下，可能的是，针对不同的列设置不同的曝光时间并且也因此针对所述列提供不同的读出时间。因此，也可能将由这种传感器产生的传感器数据记录细分成多个传感器数据部分记录，这种传感器数据部分记录的传感器数据点(像素)各自分配有相同的读出时间。具体地，传感器数据部分记录的数量可以对应于在相同时间处读取的像素的数量。通过示例的方式，传感器数据部分记录的数量可以对应于列或行的数量。

通常，作出假设：光学传感器(具体为cmos或ccd传感器)与所谓的全局快门一起使用。这意味着在相同时间处读取传感器的所有像素，例如以包括所有像素的矩阵的形式。

然而，具体通过适当试验的方式，针对一些光学传感器可能示出的是，光学传感器的一些像素在时间上早于光学传感器的其他像素被读取，即使存在全局快门。不同像素的读出时间之间的这个时间偏差可以是恒定的。此时间偏差还可以取决于曝光时间，其中，所述曝光时间可以由用户预先确定。所述时间偏差还可以取决于环境亮度。

进一步地，所述时间偏差还可以取决于例如可以由用户设定的光学传感器的操作状态。通过示例的方式，所谓的hdr模式(高动态范围模式)可以为操作状态。在这种操作模式下，读出时间可以根据光强度而变化。曝光时间也可能针对光学传感器的不同列像素而发生变化，并且因此读出时间也可能针对这些列而发生变化。

然而，可以确定不同像素的不同读出时间之间的时间偏差，具体通过合适的校准方法的方式。

相同的传感器数据时间还可能分别被分配至所述多个传感器数据点的一部分，其中，所述部分包括至少两个传感器数据点。相同的传感器数据时间可以进而被分配至传感器数据点的另一部分，其中，此传感器数据时间不同于第一传感器数据时间。具体地，如果在相同时间处分别读取光学传感器的不同像素列或行的像素，则情况可能是这样。

此处，读出可以意指根据物理变量(具体为电压)产生的定量值(具体为数字化值)。

因此，从所述方法有利地显现的是：可对各传感器数据点的读出时间之间的时间偏差进行补偿，所述时间偏差可导致对所产生的图像的后续评估的不准确性。具体地，如以下将又更详细解释的，可以产生参考时间的传感器数据记录，其中，所有传感器数据点被分配至相同的传感器数据时间，即使像素值在不同的时间处被读取。如果传感器为光学传感器，则因此可能产生参考时间的图像，其中，所有的图元被分配至相同的传感器数据时间。此参考时间的图像因此在使用所谓的全局快门时形成理想的图像。

在进一步实施例中确定参考时间的传感器数据记录，其中，参考时间被分配至在此参考时间的传感器数据记录中的每个传感器数据点。进一步地，根据参考时间来确定(具体地修改)参考时间的传感器数据记录的传感器数据点的值或内容。通过示例的方式，参考时间可以是所述多个传感器数据时间中的最早的传感器数据时间。参考时间在时间上优选地位于所述多个传感器数据时间中的最早传感器数据时间与最新传感器数据时间之间，具体优选地，参考时间为所述多个传感器数据时间的时间均值。还可能的是：参考时间对应于产生触发信号的时间。

此处，参考时间可以形成数据记录特定的传感器数据时间。换言之，参考时间可以作为传感器数据时间被分配至参考时间的传感器数据记录的所有传感器数据点。根据参考时间来确定传感器数据点的值的事实可以具体地意指：根据对应的数据点特定的传感器数据时间与参考时间之间的时间偏差来修改传感器数据点的值。为此可以使用合适的修改方法。

以有利方式整体显现的是：可能产生传感器数据记录(具体地也是表示图像的传感器数据记录)，其中，在单独传感器数据点之间没有时间偏差，并且因此在其中模拟在相同时间(即参考时间)处产生所有传感器数据点。这进而有利地促进了对参考时间的传感器数据记录的改进评估(例如，对对象的改进光学测量)，因为由单独传感器数据点的时间偏移引起的不准确性能够被最小化。

在进一步实施例中确定所述传感器的移动信息项。具体地，移动信息项可以为加速度信息项(例如，加速度值)、和/或速度信息项(例如，速度值)。

可以根据传感器或坐标测量仪的时间上连续的位置信息项来确定移动信息项。具体地，出于确定所述移动信息项的目的，可以将时间上连续的轴线位置评估作为位置信息项。可以优选地对这些位置信息项进行筛选。此处，具体地实施相位校正低通滤波。有利地，此滤波使得信号形式可以不被篡改或者仅最低程度地被篡改。

进一步地，根据移动信息项以及数据点特定的传感器数据时间与参考时间之差(时间偏差)来确定参考时间的传感器数据记录的传感器数据点的值。如果传感器在产生传感器数据点期间移动，则可能以取决于所解释的差以及移动信息项(具体为速度信息项)的方式来计算参考时间处传感器数据点的位置。然后可以产生参考时间的传感器数据记录，其方式为使得最新确定的、位置正确的值分别被分配至传感器数据点。

这也可以被称为所谓的失真校正。通过示例的方式，如果由光学传感器利用多个图元来产生图像，则可以根据时间偏差和移动信息项来确定图元的新图元坐标(所述新图元坐标不同于所述图元的原始图元坐标)。然而，可能的是，此图元坐标未精确地对应于所述图像的现有(实际)坐标，具体地其可以位于两个现有图元坐标之间。在此情况下应当应用合适的失真校正方法。通过示例的方式，以此校正的图元的值可以分布在相邻的现有坐标当中，例如通过合适的内插方法的方式。

当存在于产生传感器数据点期间的移动参数被考虑在内时，这有利地引起进一步提高了所定位传感器数据的质量。

进一步地，在优选实施例中，至少一个质量因子被分配至所定位传感器数据记录，其中，根据将位置数据分配至传感器数据的质量来确定质量因子(具体为其值)。所定位传感器数据记录可以包括质量因子。因此，质量因子可以被称为位置特定的质量因子。

可能的是，传感器数据记录包括传感器数据记录特定的质量因子。通过示例的方式，其可以表示传感器数据点的质量。通过示例的方式，如果已知传感器在特定操作模式下产生不准确的传感器数据点，则因此在这些操作模式下产生的传感器数据记录可以分配有表示这种较低质量的质量因子。

可替代地或累积地，位置数据记录可以包括位置数据记录特定的质量因子。通过示例的方式，其可以表示位置数据点的质量。通过示例的方式，如果已知在特定温度区域中以比在其他温度区域中更低的准确性来确定位置，则可能将表示这种较低质量的质量因子分配至在相应温度区域中产生的位置数据记录。

因此，质量因子可以是对传感器数据点或位置数据点的不准确性的度量。

可能的是，前述质量因子之一或两者均通过位置特定的质量因子来进行加权。具体地，因此可能从所有质量因子中来确定所产生的质量因子，所述所产生的质量因子然后被分配至所定位传感器数据记录。

可替代地，位置特定的质量因子可以独立自然地被确定并且可以被分配至所定位传感器数据记录。

以下，较低的质量因子可以指示表示较低质量的质量因子，而较高质量因子表示代表高质量的质量因子。

对表示分配质量的质量因子进行分配有利地促进了对所定位传感器数据的改进评估。通过示例的方式，在评估期间，具有较低质量因子(具体为小于预定阈值的质量因子)的所定位传感器数据记录的传感器数据可以不被考虑在内或者仅很小程度地被考虑在内。通过示例的方式，如果所定位传感器数据记录用于对在光学测量期间待测量对象的空间尺寸进行基于图像的判定，则具有低质量因子的所定位传感器数据记录在相应的图像处理期间可以不被考虑在内。可替代地，从这种传感器数据记录中确定的图像特征在评估期间可以不被考虑在内，或者可以仅在比具有较高质量因子的传感器数据记录的图像特征更低的程度上被考虑在内。

还可能的是，其质量因子小于预定阈值的所定位传感器数据记录被删除并且因此针对后续评估不可用。

在进一步实施例中，位置数据记录包括质量因子。这可能意味着质量因子在确定位置数据记录(具体为位置数据点)期间或者时间上在其之后被确定并且被添加至位置数据记录。

可能的是，用于确定传感器位置的设备由坐标测量仪的控制设备来提供或者对应于所述坐标测量仪的控制设备。此控制器可以以预定频率(例如，20khz)确定坐标测量仪的位置(具体为以上所解释的轴线位置)和/或传感器位置。进一步地，此控制设备可以控制坐标测量仪的移动以及因此还有传感器的移动。此处，可以例如以更低的频率(例如，以1khz的频率)产生控制信号。如果用于确定位置的设备(即，例如，所解释的控制设备)接收触发信号，则坐标测量仪的当前位置或传感器位置可以被复制或被写入位置存储器中。通过示例的方式，位置存储器可以被实施为寄存器。此寄存器还可以被称为所谓的锁存器寄存器。进一步地，位置存储器可以包括针对位置以及针对位置数据时间并且可选地针对位置数据数的存储器位置。

此处，位置存储器可能具有有限的存储器空间。通过示例的方式，仅一个位置数据点、一个位置数据时间并且可选地一个位置数据数可以存储在位置存储器中。如果新的位置数据记录被复制或存储到位置存储器中，则可以对当前存储的内容进行覆写。

此处，位置存储器可以信号连接和/或数据连接至缓冲存储器，其中，存储在位置存储器中的位置数据记录以另一频率(例如，1khz的频率)被传送至缓冲存储器并且存储在其中。此处，缓冲存储器可以存储多个位置数据记录。自然地，还可以存在多个这种缓冲器存储器。

具体地如果从计算角度来看以上所解释的控制设备非常忙，则有可能使得当前存储在位置存储器中的位置数据记录在控制设备接收下一触发信号之前不能以及时的方式被传送至缓冲存储器中。在此情况下，在时间上连续的位置数据记录的序列中缺失一个或多个位置数据记录。可以在位置数据记录的位置数据时间的基础上或者根据位置数据记录数检测到此不存在。如果检测到这种缺失的位置数据记录，则可能产生替换位置数据记录，并且所述替换位置数据记录可以被插入所述序列中以替代所述缺失的位置数据记录。此处，可以例如通过内插来确定替换位置数据点，其中，时间上在所述缺失的位置数据记录之前和之后产生的位置数据记录可以用于所述内插。进一步地，质量因子可以被分配至这种替换位置数据记录，其中，所述质量因子表示低质量。

产生触发信号越频繁(即，触发频率越高)，这种缺失的位置数据记录将发生得更频繁。

由于位置数据记录包括质量因子，因此以有利的方式可以能够在确定位置时以时间上快速且计算上简单的方式将不准确性考虑在内。

在进一步实施例中确定传感器的移动信息项。以上已经解释了这一点。进一步地，根据移动信息项来确定质量因子。

优选地，确定所述传感器的加速度(加速度值)，由质量因子表示的质量随着加速度的绝对值的增大而减小。此处，具体地，加速度可以为在位置数据时间或传感器数据时间处的加速度。由于这个而有利地显现的是以高加速度捕获的传感器数据在所定位传感器数据记录中被分配有更低的质量因子。这可以有利地展示：具体地，以高加速度的多个传感器数据点中的传感器数据点并非或不必正好在接收触发信号时确定的位置处被捕获。

可替代地或累积地，确定传感器的速度(速度值)(具体为传感器数据时间或触发时间处的速度)，其中，由质量因子表示的质量随着速度的绝对值的增大而减小。因此，可以以高速度向所定位传感器数据记录分配低质量，并且可以以低速度向其分配更高的质量。发现的是，捕获时间根据速度变得嘈杂，噪声随速度增加而增大。这也可以被称为非定向抖动。因此，存在对位置数据时间的与速度有关的篡改。因此，以有利的方式显现的是，所定位传感器数据(所述所定位传感器数据的位置数据点以更高的速度被捕获)分配有更低的质量因子，其结果导致在随后的评估过程中这些可以不被考虑在内或者仅在降低的程度上被考虑在内。

可能的是，基于在接收触发信号之时或之后确定的位置数据点仅确定移动信息项(具体为加速度和/或速度)。

此处，质量因子与移动信息项(具体为加速度和/或速度)之间可以存在预定的函数关系(具体为线性关系或指数关系)。

在进一步实施例中，针对无位置数据记录可分配至其的传感器数据记录来确定评估的位置数据点，其中，所述所定位传感器数据记录至少包括所述(多个)传感器数据点以及所述评估的位置数据点。此处，所述评估指示通过计算来确定位置数据点或者由位置数据点表示或编码的传感器位置。通过示例的方式，位置数据点可以通过内插来确定，其中，可以根据传感器数据时间并且根据时间上在传感器数据记录之前以及时间上在所述传感器数据记录之后产生的位置数据记录来执行内插。

具体地，如果传感器数据记录的传感器数据时间不与任何位置数据时间相对应或者如果位置数据时间与现有位置数据时间偏离超过预定度量，则无位置数据记录可分配至传感器数据记录。

可以将质量因子分配至因此确定的所定位传感器数据记录，其中，最大质量由表示更低质量的这种质量因子(即，例如，其小于最大质量因子)来表示。可替代地或累积地，可能的是，根据内插的准确性(例如，根据传感器数据时间与时间上最接近于传感器数据时间的位置数据时间之间的时间偏差的水平)来确定质量因子。

以有利的方式由此显现的是，还可能针对传感器数据记录来确定所定位传感器数据记录，所述传感器数据记录无法直接被分配至一个位置数据记录，其中，可能还附加地具有其质量评估。

在进一步实施例中，以位置数据记录序列来检测缺失的位置数据记录。通过示例的方式，如果位置数据记录的位置数据记录数与直接在其之前产生的位置数据记录的位置数据记录数之差大于1或大于用于位置数据记录数的增量，则可以检测到缺失的位置数据记录。可替代地或累积地，如果位置数据记录时间与直接在其之前产生的位置数据记录时间之间的时间差大于预定阈值，则可检测到缺失的位置数据记录，其中，所述阈值可以取决于当前频率(具体为触发频率)。

进一步地，产生替换位置数据记录并且将其插入所述序列中以替代缺失的位置数据记录。此处，具体地，替换位置数据记录可以具体不包括位置数据点并且不包括位置数据时间。通过示例的方式，然而，替换位置数据记录可以包括位置数据记录数。

然而，优选的是具体地通过内插的方式对替换位置数据记录的位置数据点进行评估。还可能对位置数据时间进行评估，具体也通过内插。为此，可以使用时间上在缺失的位置数据记录之前以及时间上在所述缺失的位置数据记录之后产生的位置数据记录的位置数据点和位置数据时间。然后，评估的位置数据点和位置数据时间可以是替换位置数据记录的一部分。

由于其而有利地显现的是，可以甚至在“丢失的”触发信号的情况下产生对应的位置数据记录，其中，此替换位置数据记录然后可以用于后续的定位过程。原则上，可在此处作出假设：以此方式确定的替换位置数据记录促进了比在可分配至其的缺失位置数据记录以及因此传感器数据被考虑在内的情况下更高质量的所定位传感器数据。

在进一步实施例中，预定义质量因子被分配至所述替换位置数据记录，其中，所述预定义的质量因子表示低质量。此处，具体地，所述低质量可以小于最大质量。换言之，设定的低质量因子被分配至替换位置数据记录，所述低质量因子表示比最大质量更低的质量。

由于此，所述替换位置数据记录可以以有利的方式进一步用于产生所定位传感器数据记录，其中，然而，同时产生信息项以达到这样的效果：所述替换位置数据记录包含与实际获取的位置数据记录相比相对更低的质量。

如以上所解释的，这允许在后续评估期间这种所定位传感器数据记录不被考虑在内、或者仅较小程度地被考虑在内。

在进一步实施例中针对所述替换位置数据记录来确定评估的位置数据点。以上已经解释了这一点以及相应优点。

在进一步实施例中，对传感器数据记录频率进行修改，其中，所述触发频率保持恒定。如果传感器为光学传感器，则具体有可能改变图像生成的频率。通过示例的方式，如果对所产生的传感器数据记录进行预处理(例如，由传感器自身或者由适当的评估设备)，则这是可能的。因此，在此情况下，所述传感器数据记录可以包括预处理的传感器数据点。通过示例的方式，如果无需对传感器数据记录的所有传感器数据点进行预处理(例如，由于操作情景)，则传感器数据记录频率可以比在必须对传感器数据记录的所有传感器数据点进行预处理的情况下更高。通过示例的方式，如果仅对所产生的图像的一部分进行评估和预处理，则相应的传感器数据记录频率可以比在需要对所有传感器数据点进行预处理的情况下更高。

此处，所提出的方法有利地促进了产生具有高质量的所定位传感器数据的可能性，甚至在改变传感器数据记录频率的情况下。

在进一步实施例中，确定并补偿传感器数据时间与位置数据时间之间的时间差的恒定分量和/或所述时间差的变化。这也可以被称为漂移校正。具体地，可以通过将传感器数据时间和位置数据时间调零来确定恒定分量，其中，所述调零可以指示对在设定开始时间处的时间的比较。在运行所述方法时，传感器数据时间和位置数据时间可能以不同的速率流逝，例如由于所采用的时钟(例如，石英元件)的不准确性。

此处，可以在传感器的时间系统中确定传感器数据时间。相应地，可以在用于确定传感器位置的设备的时间系统中确定位置数据时间。此处，适当的转换可以根据调零并且可选地还根据时间差的变化而发生。

这有利地进一步提高了所定位传感器数据的质量，因为当将位置数据分配至传感器数据时恒定分量相关的不准确性和漂移相关的不准确性也被最小化。

在进一步实施例中，确定并补偿产生传感器数据的时间与接收触发信号的时间之间的时间偏差。通过示例的方式，位置数据时间可以对与接收触发信号的时间与预定持续时间之和相对应的时间进行编码。所述预定持续时间可以包括一部分或者等于取决于在曝光持续时间期间产生触发信号的时间的值。通过示例的方式，如果在曝光持续时间开始时产生触发信号，则所述预定持续时间可以对应于曝光持续时间的一半。另外，所述预定持续时间可以包括一个或多个另外的分量，所述一个或多个进一步分量例如取决于传感器的处理时间和/或用于确定位置的设备的处理时间。此处，可以通过校准来确定所述分量。此处，可以在中心评估设备中实现所述补偿。所述补偿也可以被称为对所谓定向抖动的补偿。

由于此，有利地具有对分配准确性的进一步提高。

在进一步实施例中，多个传感器数据记录依序存储在传感器数据缓存中。可替代地或累积地，多个传感器数据记录存储在位置数据缓存中。以上已经解释了这一点。具体地，在时间上紧接着连续产生的预定数量的数据记录可以存储在对应的缓存中。

在缓存中的存储有利地促进了对缺失的传感器数据记录和/或缺失的位置数据记录进行简化检测。而且，简化了内插(例如，用于评估替换位置数据点)。通过示例的方式，数据记录可以存储在缓存中，其方式为使得如果检测到缺失的数据位置记录，则时间上在所述缺失的数据记录之前产生的预定数量个(例如，至少两个)位置数据记录被存储在缓存中。

进一步地，提出了一种用于产生坐标测量仪的所定位传感器数据的装置。所述装置包括至少一个传感器，优选地光学传感器。进一步地，所述装置包括用于确定传感器位置的至少一个设备以及至少一个评估设备。可由所述传感器来产生传感器数据点。进一步地，可例如由传感器或传感器评估设备产生至少一个传感器数据记录。具体地，可以以传感器数据记录频率来产生所述传感器数据记录，所述传感器数据记录频率可以是恒定的或可变的。进一步地，传感器数据记录包括至少一个传感器数据点以及至少一个传感器数据时间。进一步地，可以以触发频率(具体地通过传感器)来产生触发信号，其中，触发信号可被传送至用于确定传感器位置的设备。此外，可在接收触发信号之时或之后确定位置数据记录，其中，所述位置数据记录包括至少一个位置数据点以及一个位置数据时间。进一步地，可由评估设备根据传感器数据时间和位置数据时间来确定将位置数据点分配至传感器数据点，其中，可产生所定位传感器数据记录，所述所定位传感器数据记录包括至少一个传感器数据点以及被分配至此传感器数据点的位置数据点。

优选地，至少一个质量因子可进一步被分配至所定位传感器数据记录，可根据所述分配的质量来确定质量因子。这还可以通过评估设备来实现。

此处，所述装置可以包括传感器评估设备，其中，所述传感器评估设备信号连接和/或数据连接至传感器。进一步地，传感器评估设备可以评估(例如，预处理)传感器数据。通过示例的方式，传感器评估设备可以被实施为一个或多个微控制器，例如pc。通过示例的方式，可以由传感器评估设备来实施对传感器数据的预处理。进一步地，在传感器评估设备中可以存在对传感器数据记录的缓冲存储。

进一步地，所述装置可以包括坐标测量仪的控制和评估设备，所述控制和评估设备被信号连接和/或数据连接至坐标测量仪。此处，所述用于确定位置的设备可以是此控制和评估设备的一部分。

此处，所述控制和评估设备可以包括或提供位置数据记录存储器以及用于位置数据记录的缓存。

所述提及的坐标测量仪的传感器数据评估设备和/或控制和评估设备可以被数据连接和/或信号连接至评估设备。此处，所有的设备都可以包括一个或多个微控制器。而且，所述设备可以各自包括一个或多个存储器或存储器设备。

此处，所述评估设备可以包括或提供用于传感器数据记录的缓存以及用于位置数据记录的缓存。进一步地，所述评估设备可以包括或提供用于所定位传感器数据记录的缓存。

此处，所述装置有利地促进实施根据在本公开中解释的实施例之一的方法。此处，所述装置被实施的方式为使得可由所述装置来实施方法。

附图说明

将在示例性实施例的基础上更加详细地解释本发明。在附图中：

图1示出了根据本发明的装置的示意性框图，

图2示出了根据本发明的方法的示意性流程图，并且

图3示出了根据本发明的方法的另一示意性流程图。

下文中的完全相同的参考标记指定具有完全相同或类似技术特征的要素。

具体实施方式

图1描绘了根据本发明的装置1的示意性框图。装置1包括具有传感器3的坐标测量仪2，所述传感器具体地可以被实施为光学传感器。进一步描绘的是测量台4，所述测量台的表面上安排有通过传感器3所测量的作为测试对象5。传感器3可沿着三个空间方向x，y，z(具体沿着线性轴线)移动，所述三个空间方向垂直于彼此而被定向。此处，竖直方向z可以平行于重力加速度的方向而被定向并且与重力相反。

以下描述了传感器3为光学传感器(具体为图像捕获设备或激光扫描仪)的示例性实施例。然而，所述解释当然还可以被传送至非接触式或基于触觉进行操作的其他传感器。

传感器2产生传感器数据点sdp。通过示例的方式，传感器数据点sdp可以表示强度值。此处，传感器数据点sdp可以包括预定数量的位。进一步地，产生了传感器数据记录sds、sds_0、……、sds_5。在本示例性实施例中由传感器3产生传感器数据记录sds、sds_0、……、sds_5。然而，还可能由传感器评估设备6产生传感器数据记录sds、sds_0、……、sds_5。可以以恒定或可变频率来产生传感器数据记录sds、sds_0、……、sds_5。传感器数据记录sds、sds_0、……、sds_5包括恰好一个传感器数据点或多个传感器数据点sdp。进一步地，传感器数据记录sds、sds_0、……、sds_5包括传感器数据记录计数器sdsz和传感器数据时间sdz。传感器数据时间sdz是产生所述一个传感器数据点sdp或所述多个传感器数据点sdp的时间。图1描绘了如包括仅一个传感器数据点sdp的传感器数据记录sds、sds_0、……、sds_5。然而，传感器数据记录sds、sds_0、……、sds_5可以自然地包括多个传感器数据点sdp。

传感器数据记录sds、sds_0、……、sds_5然后被传送至传感器评估设备6，所述传感器评估设备被信号连接和/或数据连接至传感器3。传感器评估设备6可以包括或提供用于传感器数据记录sds_0、……、sds_5的缓存7，其中，在时间上正好连续产生的传感器数据记录sds_0、sds_1、sds_2、sds_3、sds_4、sds_5可以被存储。此处，缓存指示用于多个数据记录的存储器。自然，比在示例性实施例中描绘的这六个传感器数据记录sds_0、……、sds_5更多或更少的传感器数据记录可以存储在缓存7中。

进一步地，传感器评估设备6可以实施对传感器数据记录sds_0、……、sds_5(具体为传感器数据点sdp)的预处理。然而，这并不是强制性的。

传感器评估设备6被信号连接和/或数据连接至中心评估设备8。中心评估设备8包括用于传感器数据记录sds_0、……、sds_5的另一缓存9或者提供所述缓存。此处，可以将传感器数据记录sds_0、……、sds_5从传感器评估设备6传送至中心评估设备8的另一缓存9，例如通过tcp连接。

自然地，还可能想到的是将传感器数据记录sds直接从传感器3传送至中心评估设备8并且例如传送到其缓存9中。

进一步地，示出了传感器3产生触发信号ts的事实。可以以预定的触发频率来产生触发信号ts。进一步地，触发信号ts被传送至坐标测量仪2的控制和评估设备10。控制和评估设备10用于控制坐标测量仪2，具体地用于控制移动。

所示出的是坐标测量仪2的控制和评估设备10被信号连接和/或数据连接至坐标测量仪2。具体地，关于坐标测量仪2的可移动轴线的位置信息项(例如，采用轴线位置的形式)可以从中被传送至坐标测量仪2的控制和评估设备10。在接收到触发信号ts时或者在时间上在接收触发信号ts之后的预定时间偏差处产生位置数据记录pds。所述位置数据记录包括位置数据点pdp、位置数据记录计数器pdsz和位置数据时间pdz。此处，位置数据点pdp表示坐标测量仪2的位置(但优选地为传感器位置)，其中，所述传感器位置可以指示传感器3的空间位置和空间取向。

图1示出了位置数据记录pdz被存储在位置寄存器存储器prs中，其中，位置寄存器存储器prs中仅可存储单个位置数据记录pdz。如果接收到新的触发信号ts，则由新的位置数据记录pds来覆写当前存储的位置数据记录pdz

进一步地，控制和评估设备10包括用于位置数据记录pds_0、……、pds_3的第一缓存11或者使其可用。在时间上正好连续地从位置寄存器存储器prs中读取的位置数据记录pds_0、pds_1、pds_3被存储在此第一缓存11中。此处，可以以预定读出频率(例如，1khz)来实施读取。

根据触发频率以及控制和评估设备10的计算负荷，所谓的丢失触发信号事件可能在此处发生。在这种情况下，存储在位置寄存器存储器prs中的位置数据记录pdz在其被传送到缓存11中之前被覆写。

进一步地，坐标测量仪2的控制和评估设备10被信号连接和/或数据连接(例如，通过tcp连接的方式)至中心评估设备8。其可以包括或提供用于位置数据记录pds_0、……、pds_3的另一缓存12，存储在坐标测量仪2的控制和评估设备10的缓存11中的位置数据记录pds_0、……、pds_3被传送到所述另一缓存中。

可以根据存储在缓存9、12中的传感器数据记录sds_0、……、sds_5和位置数据记录pds_0、……、pds_3的传感器数据时间和位置数据时间来产生所定位传感器数据记录vsds_0、vsds_1、vsds_2、vsds_3、vsds_4、vsds_5，这种所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5包括传感器数据点sdp以及被分配至这些传感器数据点sdp的位置数据点pdp。所定位传感器数据vsds_0、……、vsds_5可以存储在用于这些所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5的缓存14中。

这些所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5则可以被提供用于另外的应用。为此，中心评估设备8可以包括数据传送接口，通过所述数据传送接口可以将所定位传感器数据vsds_0、……、vsds_5传送至另外的设备，例如用于确定空间尺寸的设备。

此处，可以由中心评估设备4的计算机设备13来确定所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5。

在由传感器3产生的传感器数据记录sds仅包括单个传感器数据点sdp的情况下，传感器评估设备6可以例如确定包括多个传感器数据点sdp的参考时间的传感器数据记录，然而其中，与传感器数据时间sdz的公共参考时间可以被分配至此多个传感器数据点sdp的每个传感器数据点。自然地，还可想到的是由传感器3来产生这种参考时间的传感器数据记录。

如果传感器3为光学传感器，则传感器数据点sdp可以表示所产生的图像的图元。此处，在传感器数据记录sds中可以包含恰好一个图元以及一个图元特定的传感器数据时间。

在此情况下，可以产生具有预定数量的图元的参考时间的图像，其中，为每个图元分配参考时间。进一步地，根据所述参考时间(具体地根据产生相应值的时间(读出时间)与参考时间之间的时间差)来确定参考时间的图像的图元的值。具体地，可以根据移动信息项以及图元特定的传感器数据时间与参考时间之差来确定参考时间的图像的图元的值。

通过示例的方式，可以由坐标测量仪2的控制和评估设备10来确定移动信息项。具体地，可以根据位置信息项来确定坐标测量仪2(具体为可移动部分)以及因此传感器3的加速度和速度信息项或值。通过示例的方式，这些可以通过信号连接和/或数据连接(在此处未描绘)而被传送至传感器3和/或通过相应的信号连接和/或数据连接(在此处未描绘)而被传送至传感器评估设备6。自然地，移动信息项还可以被传送至中心评估单元8。

图1中同样未描绘出用于对所捕获或传送的位置信息项进行滤波的滤波设备，其中，所述滤波设备具体地可进行对所述位置信息项的相位校正低通滤波。通过示例的方式，可以由中心评估单元8来提供滤波设备。

根据移动信息项，具体可能的是计算传感器平面中(具体地在图像平面中)的速度信息项(例如，以速度向量的形式)。这可以通过(例如，通过试验预先确定的)固定变换来实现。然后，可能的是根据速度向量以及数据点特定的传感器数据时间与参考时间之间的时间偏差来确定每个传感器数据点sdp的位置偏移(例如，以图像位置偏移的形式)。为了确定参考时间的传感器数据记录(具体为参考时间的图像)，然后可能需要实施失真校正(例如，通过内插)，以便从位置偏移的传感器数据点获得栅格显示。

进一步地，所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5可能包括质量因子qf(参见图2)，所述质量因子qf根据分配质量而被确定并且被分配(具体为添加)至相应的所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5。此处，高质量因子qf可表示高质量，并且低质量因子qf可表示所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5的低质量。

此处，可以根据移动信息项(具体地根据加速度信息项和/或速度信息项)来确定质量因子qf。所述移动信息项可以是关于移动的信息项，具体为加速度和/或速度，传感器3以所述加速度和/或速度在相应的传感器数据时间sdz或位置数据时间pdz进行移动。

此处，可以将所述移动信息项从坐标测量仪2的控制和评估设备10传送至中心评估设备8。中心评估设备8也能够根据存储在缓存12中的位置数据点sdp来确定移动信息项。

具体地，低质量因子qf可以在传感器3在相应的所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5的传感器数据时间时的高加速度而被分配至所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5，所述相应的所定位传感器数据记录vsds_0、……、vsds_5在更低加速度的情况下分配有更高的质量因子qf。相应的陈述适用于速度。因此，质量因子qf可以与加速度和速度成反比。

图2示出了根据本发明的方法的示意性流程图或其一部分。描绘了中心评估设备8的用于传感器数据记录sdz_0、……、sdz_7的缓存9。八个传感器数据记录sdz_0、……、sdz_7存储在此缓存9中，每个传感器数据记录sdz_0、……、sdz_7包括传感器数据记录计数器sdsz、传感器数据记录时间sdz以及一个或多个传感器数据点sdp_0、……、sdp_7。此处，参考号sdp_0、……、sdp_7可以指示恰好一个或预定数量的传感器数据点sdp。

进一步地，描绘了中心评估设备8的用于位置数据记录pds_1、……、pds_5的缓存12。五个位置数据记录pds_1、pds_2、pds_3、pds_4、pds_5存储在缓存12中，所述位置数据记录pds_1、……、pds_5中的每个位置数据记录包括位置数据记录计数器pdsz、位置数据时间pdz、质量因子qf以及位置数据点pdp。进一步描绘的是每个位置数据记录pds_1、……、pds_5包括触发丢失指示器lt，其中，所述触发丢失指示器可假设值为1或0，值一指示触发丢失。

此处描绘的是在公共时间系统中捕获或确定传感器数据时间sdz和位置数据时间pdz。这可以通过对传感器3和坐标测量仪2的控制和评估设备10的时间系统进行合适的校准来实现。进一步地，还可能捕获并补偿或校正时间系统之间的不断变化的时间差(漂移校正)。

可以例如以秒来指定特定时间。进一步地，可以以毫米来指定位置数据点pdp。此处描绘的是仅坐标测量仪2的z轴的位置被存储在位置数据记录缓存12中。自然地，位置数据记录pds_1、……、pds_5还可以仍包括坐标测量仪2的另外可移动轴线的位置值。

通过计算机设备13来确定所定位传感器数据记录vsdz_0、……、vsdz_7，所述计算机设备例如可以被实施为微控制器或者可以包括所述微控制器。此处，所定位传感器数据记录vsdz_0、……、vsdz_7的数量等于存储在传感器数据记录缓存9中的传感器数据记录sdz_0、……、sdz_7的数量。然而，这不是强制性的。

此处描绘的是第一位置数据记录pds_1的位置数据点pdp和质量因子qf被分配至第一传感器数据记录sdz_0，其中，所述相应产生的所定位传感器数据记录vsdz_0包括此第一传感器数据记录sdz_0的传感器数据记录计数器sdsz、传感器数据时间sdz和(多个)传感器数据点、以及相应的质量因子qf和相应的位置数据点pdp。

相应地，第二位置数据记录pds_2被分配至第三传感器数据记录sdz_2，第三位置数据记录pds_3被分配至第五传感器数据记录sdz_4，并且第四位置数据记录pds_4被分配至第七传感器数据记录sdz_6。

分别针对第二、第四、第六和第八传感器数据记录sdz_1、sdz_3、sdz_5、sdz_7来评估(具体地通过内插来确定)位置数据点pdp。此处，线性内插具体是可能的。其他类型的内插(例如，二次内插或对数内插)在此处也是可想到的。出于内插目的，在每种情况下，时间上紧接着在之前以及紧接着在之后产生的所定位传感器数据记录vsdz_0、vsdz_2、vsdz_4、vsdz_6的位置数据点pdp被考虑在内。通过示例的方式，针对第二传感器数据记录sdz_1来确定0.05mm的位置数据点(因为第一所定位传感器数据记录vsdz_0的位置数据点pdp具有值0mm，并且第三所定位传感器数据记录vsdz_2的位置数据点pdp具有值0.1mm)并且第二传感器数据记录sdz_1的传感器数据时间sdz在时间上处于第一所定位传感器数据记录vsdz_0和第三所定位传感器数据记录vsdz_2的位置数据时间pdz之间的中间。

更低的质量因子qf(例如，质量因子qf0.8)可以被分配至所定位传感器数据记录vsdz_1、vsdz_3、vsdz_5、vsdz_7(其位置数据点pdp在每种情况下被评估)，而不是被分配至所定位传感器数据记录vsdz_0、vsdz_2、vsdz_4、vsdz_6(实际捕获的位置数据点pdp可在每种情况下被分配至所述所定位传感器数据记录)，这些传感器数据记录能够分配有最大质量因子。此处，质量因子1表示最大质量因子。质量因子0可以对应于最小质量因子。

图3描绘了根据本发明的方法或其一部分的进一步示意性流程图。再次描绘的是针对传感器数据记录sdz_8、……、sdz_15的缓存9，传感器数据记录sdz_8、……、sdz_15存储在所述缓存中。进一步描绘的是针对位置数据记录pds_4、……、pds_8的缓存12，位置数据记录pds_4、……、pds_8存储在所述缓存中。通过示例的方式，缓存12可以包括预定数量的存储位置，其中，当添加当前位置数据记录pds_4、……、pds_8时删除就时间而言最旧的位置数据记录。相应的陈述可以应用于缓存9。

根据关于图2作出的解释，出于产生所定位传感器数据记录vsdz_8、vsdz_12、vsdz_14的目的，第五位置数据记录pds_5可以被分配至第八传感器数据记录sdz_8，第七位置数据记录pds_7可以被分配至第十二传感器数据记录sdz_12，并且第八位置数据记录pds_8可以被分配至第十四传感器数据记录sdz_14。

进一步描绘的是缺失的位置数据记录，即第六位置数据记录pds_6。通过示例的方式，其可能已经由在图1中描绘的位置寄存器存储器prs产生，但可能在传送至缓存11中之前已经被新的位置数据记录pds(即第七位置数据记录pds_7)覆写。当将位置数据记录pds_4、……、pds_8存储到缓存12中时，可能检测到(例如，通过评估设备13)缺失了第六位置数据记录pds_6。所述第六位置数据记录可以由替换位置数据记录来代替，其中，在所述替换位置数据记录中，可以分配位置数据记录计数器的值以及低质量因子qf(在此0的情况下，例如为最小质量因子qf)。

通过示例的方式，可以针对此替换位置数据记录由计算机设备13来进一步评估位置数据点pdp，具体地通过内插来确定。通过示例的方式，这可以通过将时间上紧接着在之前以及在之后产生的位置数据记录pds_4、pds_5、pds_7、pds_8考虑在内来实施。在图3中描绘的示例性实施例中，可以通过内插将例如0.2mm的位置数据点分配至替换位置数据记录。

根据关于在图2中描绘的示例性实施例的解释，出于产生所定位传感器数据记录vsdz_9、vsdz_11、vsdz_13的目的，可以对相应的位置数据点pdp进行评估(具体通过内插来确定)，其中，除第四位置数据点pds_4、第五位置数据点pds_5、第七位置数据点pds_7和第八位置数据点pds_8的实际确定的位置数据点pdp之外，替换位置数据记录的已评估的位置数据点pdp也可以被考虑在内。然而，在此情况下，与在图2中描绘的示例性实施例相反，所定位传感器数据记录vsdz_9、vsdz_11(其位置数据点pdp根据替换位置数据记录而被评估)可以分配有比所定位传感器数据记录vsdz_13(其位置数据点根据实际确定的以及因此未被评估的位置数据记录pds而被评估)更低的质量因子qf。

进一步地，可想到的是，至少一个或两个或多于两个的位置数据记录pds总是存储在缓存12中，所述位置数据记录的位置数据点pdp实际上已经被捕获但未被评估。有利地，这简化了内插。

参考号列表

1装置

2坐标测量仪

3传感器

4测量台

5测试对象

6传感器评估设备

7用于传感器数据记录的缓存

8中心评估设备

9用于传感器数据记录的缓存

10坐标测量仪的控制和评估设备

11用于位置数据记录的缓存

12用于位置数据记录的缓存

13计算机设备

14用于所定位传感器数据记录的缓存

ts触发信号

sdp传感器数据点

sdz传感器数据时间

sdsz传感器数据记录计数器

sds、sds_0、……、sds_15传感器数据记录

x，y，z空间方向

pdz位置数据时间

pdp位置数据点

pdsz位置数据记录计数器

prs位置寄存器存储器

pds、pds_0、……、pds_8位置数据记录

vsds_0、……、vsds_14所定位传感器数据记录