技术特征：
技术总结
本发明提供一种用于测量被测装置(DUT)的方法和系统。根据一个方面，系统包含具有第一天线的第一定位器和具有第二天线的第二定位器。所述系统还包含配置成使所述第一天线向所述DUT辐射测试信号并实施探测模式和干扰模式之一的电路。所述探测模式针对第一天线的至少一个位置中的每个位置，使所述第二天线在其第二组位置中的每个位置处从所述DUT接收信号。所述干扰模式针对第一天线的至少一个位置中的每个位置，使第二天线在其第二组位置中的每个位置处向所述DUT传输干扰信号。
技术研发人员：M·福格利
受保护的技术使用者：美国电磁兼容测试系统公司
技术研发日：2017.07.21
技术公布日：2018.01.30