技术特征：
技术总结
本发明公开一种集成电路测试系统中直流测量单元的在线校准系统及方法，其基于现有的集成电路测试系统对负载芯片的直流参数测试程序，通过集成电路测试系统对稳定负载芯片运行直流参数测试程序，并采用外接直流参数测量仪表对测试过程中稳定负载芯片的直流参数与集成电路测试系统对该稳定负载芯片设定的相关直流参数进行比较，根据比较结果实现对集成电路测试系统中直流测量单元的在线校准，从而无需针对每一个不同的待校准集成电路测试系统分别设计校准程序，且直流参数测量仪表是在真实模拟测试过程中采集的直流参数，因此校准数据更加贴合实际操作应用，进而使得校准结果更加精确。
技术研发人员：周厚平
受保护的技术使用者：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
技术研发日：2017.08.28
技术公布日：2018.03.09